「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 75 76 77 78 79 80 81 82 83 .... 161 162 次へ＞- TEST PIECE FOR STEEL SHEET HYDROGEN EMBRITTLEMENT EVALUATION, AND STEEL SHEET HYDROGEN EMBRITTLEMENT EVALUATION METHOD
薄鋼板水素脆化評価用試験片及び薄鋼板水素脆化評価方法 - 特許庁 - DIRECT TENSILE TESTING METHOD FOR CONTROLLING SECONDARY BENDING AND JIG FOR DIRECT TENSILE TEST
２次曲げを制御する直接引張試験法および直接引張試験用治具 - 特許庁 - To provide a method for easily predicting the carcinogenicity of a test substance in a short period.
短期間で容易に被検物質の発がん性を予測する方法を提供する。 - 特許庁 - LOAD IMPARTING METHOD AND DEVICE AT OPERATION TEST OF LIFEBOAT
救命艇作動試験時における積載荷重付与方法及び積載荷重付与装置 - 特許庁 - SOLUTION REMOVING METHOD AND SOLUTION ABSORBING TOOL IN LIVING BODY RELATED MATERIAL REACTION TEST
生体関連物質反応検査における溶液除去方法と溶液吸収具 - 特許庁 - The system and method for the efficient implementation of a complex exercise test is disclosed.
複雑なエクササイズテストを効率よく実施するためのシステム及び方法を開示する。 - 特許庁 - LAYOUT EXAMINATION METHOD OF CONTINUITY TEST UNIT AND DUMMY UNIT AND LAYOUT EXAMINATION BOARD
導通検査ユニットのレイアウト検討方法並びに擬似ユニット及びレイアウト検討台 - 特許庁 - SMOKE GENERATING DEVICE FOR SMOKE DETECTING TEST IN AIRPLANE CARGO ROOM AND SMOKE GENERATING METHOD
航空機荷物室の煙探知試験用煙発生装置及び煙発生方法 - 特許庁 - PROGRAM, APPARATUS AND METHOD FOR CREATING TEST SPECIFICATION
テスト仕様書作成プログラム、テスト仕様書作成装置、およびテスト仕様書作成方法 - 特許庁 - TESTER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME
半導体装置の試験装置およびそれを用いた半導体装置の試験方法 - 特許庁 - METHOD, MECHANISM, AND APPARATUS FOR CENTRIFUGING AND FILTERING SOIL CONTENT EXAMINATION TEST LIQUID
土壌含有量調査試験液を遠心濾過するための方法、機構及び装置 - 特許庁 - ORGANIC EL DRIVE CIRCUIT AND PROPRIETY TEST METHOD FOR DRIVE CURRENT OF THE DRIVE CIRCUIT
有機ＥＬ駆動回路およびこの駆動回路の駆動電流の適否検査方法 - 特許庁 - TEST METHOD FOR NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY
不揮発性半導体メモリ装置の検査方法および不揮発性半導体メモリ装置 - 特許庁 - ELECTRONIC PART TESTING TRAY CONVEYANCE DEVICE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART
電子部品試験用トレイ搬送装置、電子部品の試験装置および試験方法 - 特許庁 - INTEGRATED CIRCUIT FOR PERFORMING BURN-IN TEST OF AC STRESS AND TESTING METHOD USING THE SAME
交流ストレスのバーンインテスト可能な集積回路及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD
自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁 - METHOD FOR CORROSION TEST OF METALLIC TUBE CONTAINER AND METALLIC TUBE CONTAINER CONTAINING COMPOSITION
金属チューブ容器の腐食性試験方法及び組成物入り金属チューブ容器 - 特許庁 - METHOD AND STRUCTURE FOR DEVELOPING TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路のための試験プログラムを開発するための方法および構造 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING APPARATUS FOR COLLECTING PHYSIOLOGICAL SAMPLE AND A PLURALITY OF TEST STRIP DEVICES
生理学的サンプル採取装置および複数の検査細片装置の製造方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING CARBON COMPONENT IN STEEL BY IMAGE PROCESSING OF SPARK TEST
火花試験の画像処理による鋼の炭素成分分析装置及びその方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR AUDITING SERVICE LEVEL AGREEMENT BY TEST PACKET INSERTION
試験パケット挿入によってサービス・レベル協定を監査するための方法および装置 - 特許庁 - SIMULATOR FOR TEST FOR ELECTRONIC INTERLOCKING DEVICE, AND SIMULATION METHOD FOR ELECTRONIC INTERLOCKING DEVICE
電子連動装置の試験用シミュレータ及び電子連動装置のシミュレーション方法 - 特許庁 - FREQUENCY MODULATION TESTER FOR CRYSTAL OSCILLATOR AND FREQUENCY MODULATION TEST METHOD
水晶発振器の周波数変調試験装置および周波数変調試験方法 - 特許庁 - TEST SEQUENCE DETERMINATION METHOD, DEVICE, AND PROGRAM
試験順序決定方法、試験順序決定装置および試験順序決定プログラム - 特許庁 - ELECTROCHEMICAL TEST STRIP WITH INTEGRATED MICRO-NEEDLE, AND METHOD RELATED THERETO
微細針と一体化した電気化学的検査細片およびこれに関連した方法 - 特許庁 - PROCESSING METHOD AND SYSTEM OF INFORMATION ON MEDICAL TEST ELEMENT AS MEDIUM
医療検査素子を媒体とする情報の処理方法、及び情報の処理システム - 特許庁 - To provide an efficient method etc. for setting up a test instrument of an integrated circuit.
集積回路の効率的な試験装置をセットアップする方法等を提供する。 - 特許庁 - PATTERN SHAPE OF PRINTED CIRCUIT BOARD, AND INSULATION DETERIORATION TEST METHOD OF PRINTED CIRCUIT BOARD
プリント配線板のパターン形状及びプリント配線板の絶縁劣化試験方法 - 特許庁 - TOLL COLLECTION SYSTEM, PORTABLE TERMINAL, AND METHOD FOR MAINTENANCE TEST OF TOLL COLLECTION SYSTEM
料金収受システム、携帯端末、および料金収受システムの保守テスト方法 - 特許庁 - SAMPLE HEATER, PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR PROCESSING TEST PIECE USING SAME
試料加熱装置および処理装置ならびにそれを用いた試料の処理方法 - 特許庁 - ACCELERATED SURFACE DETERIORATION TEST METHOD AND DEVICE
表面状態劣化促進試験方法、並びに、表面状態劣化促進試験装置 - 特許庁 - PROGRAM, METHOD, AND DEVICE FOR CONTROLLING DB SEQUENCE BACKTRACKING IN PROGRAM MODEL TEST
プログラム・モデル検査におけるＤＢシーケンス・バックトラック制御プログラム、方法、及び装置 - 特許庁 - To provide an inspection method for a semiconductor device wirelessly receiving a test program.
無線によりテストプログラムを受信する半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁 - PRODUCT DEVELOPMENT SUPPORT SYSTEM AND METHOD, PRODUCT TEST SUPPORT SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM
製品開発支援システムおよび方法、製品テスト支援システム、およびコンピュータプログラム - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING BONDING AFFINITY OF PROBE TO TEST MATERIAL, AND ITS UTILIZATION
被験物質に対するプローブの結合親和性を測定する方法及びその利用 - 特許庁 - To develop a screening test method for the quality of a semiconductor device substrate during etching process.
半導体デバイス基板のエッチング過程の品質のスクリーニング試験法を開発する。 - 特許庁 - ELECTROCHEMICAL TEST PIECE HAVING MULTIPLE REACTION CHAMBER AND METHOD FOR USING THE SAME
複数の反応チャンバーを有する電気化学的試験片およびその使用方法 - 特許庁 - CLEANING DEVICE AND CLEANING METHOD FOR PROBE NEEDLE OF TEST PROBE DEVICE FOR INTEGRATED CIRCUIT
集積回路用テストプローブ装置のプローブニードルの洗浄装置および洗浄方法 - 特許庁 - WATER-ABSORBING FABRIC, PRODUCTION METHOD THEREOF, WATER ABSORPTION WICK AND ENVIRONMENTAL TEST DEVICE
吸水性布帛およびその製法、並びに吸水ウイックおよび環境試験装置 - 特許庁 - SELF ERASE/WRITE DEVICE OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND SELF BURN-IN TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリのセルフイレース・ライト装置および半導体メモリのセルフバーンインテスト方法 - 特許庁 - To provide an inspection device that enables effective utilization of a test body, and to provide a method therefor.
検体の有効な利用を可能とする検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - TAPE FOR AMMONIA LEAKAGE TEST USING THIN THICKNESS STACKING TAPE, AND LEAKAGE TESTING METHOD
薄厚積重テープを用いたアンモニア漏れ試験用テープ及び漏れ試験方法 - 特許庁 - FOOD FOR EVALUATION TEST OF CHOLESTEROL RESPONSIVENESS AND EVALUATION METHOD OF CHOLESTEROL RESPONSIVENESS
コレステロール応答性評価試験用食品及びコレステロール応答性の評価方法 - 特許庁 - BIOSENSOR USING NONENZYMATIC URIC ACID REAGENT, BIOSENSOR TEST STRIP AND MANUFACTURING METHOD
非酵素式尿酸試薬を用いたバイオセンサ、バイオセンサ試験片およびその製造方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY, AND WORD LINE MULTIPLE SELECTION TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体記憶装置及び半導体記憶装置のワード線多重選択試験方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING AUTOMATIC TEST OPERATION OF GAS CENTRAL HEATING SYSTEM
ガスセントラルヒーティングシステムの自動試運転モニター装置及び自動試運転モニター方法 - 特許庁 - CMIP PROTOCOL TEST AUTOMATING DEVICE AND CMIP PROTOCOL TESTING METHOD
ＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置及びそれに用いるＣＭＩＰプロトコル試験方法 - 特許庁 - NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND TEST METHOD OF NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE
不揮発性半導体記憶装置及び不揮発性半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁 - To provide a method for preparing a semiconductor wafer for conducting test from its backside.
背面からテストを実行するための半導体ウェハを準備する方法の提供。 - 特許庁 - TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路の試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁
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