「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 71 72 73 74 75 76 77 78 79 .... 161 162 次へ＞- CONTROL METHOD AND CONTROL SYSTEM FOR AUTOMATIC TEST AS WELL AS INFORMATION RECORDING MEDIUM FOR RECORDING AUTOMATIC TEST CONTROL PROGRAM
自動試験制御方法および自動試験制御システムならびに自動試験制御プログラムを記録した情報記録媒体 - 特許庁 - The bias between the evaluation method or equipment and the standard test method or equipment is compared with the fluctuating level in the standard test method and a report including the conclusion about the clinical equivalence between the evaluation method or equipment and the standard test method or equipment is prepared.
評価方法または機器と基準方法または機器との間の偏りが、基準方法における変動レベルに対して比較され、評価方法または機器が基準方法または機器と臨床的に等価であるかどうかに関する結果を含むレポートが生成される。 - 特許庁 - Selective test data log method related to one embodiment includes a step for monitoring test data generated by a plurality of devices to prepare statistics on test data, and a step for selectively adjusting tester which generated test data, in response to the statistics on test data to correct test data logged by the tester on a plurality of devices.
一実施形態に係る選択的テストデータログ方法は、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成することと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正することとを含む。 - 特許庁 - To provide an ATM unit and a cell continuity test method mounting an SAR function that can attain a cell continuity test so as to extend and application route range of the cell continuity test and to increase the transmission band of cells for continuity test without employing an exclusive test unit to send/receive the continuity test cells.
ＳＡＲ機能を搭載したＡＴＭ装置及びセル導通試験方法に関し、導通試験用セルを送受信する専用の試験装置を用いることなく、セル導通試験を可能とし、セル導通試験の適用ルート範囲の拡大化、導通試験用セルの伝送帯域の増大化を可能にする。 - 特許庁 - In this mutagenesis test method, an ATP measurement method is used as a method for measuring the number of cells or a method for measuring a cell proliferation ratio.
１．細胞数の測定法または細胞増殖率の測定法として、ＡＴＰ測定法を用いる変異原性試験法。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR WAFER HAVING TEST PATTERN, METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER, METHOD FOR MANAGING MANUFACTURING PROCESS, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR
テストパターンを有する半導体ウェハ、半導体ウェハの検査方法、製造プロセス管理方法及び半導体の製造方法 - 特許庁 - In generating the source code, a setting method configuring a program for setting the test data of input items is generated as well as the source code, and before the test, the setting method is called, and test data are set, and during the test, the setting method is called, and the display screen is displayed with the test data set in the input items.
このテスト方法において、ソースコード生成時に、ソースコードと共に入力項目のテストデータを設定するためのプログラムとなる設定メソッドを生成し、テスト実行前に、設定メソッドを呼び出してテストデータを設定し、テスト実行時に、設定メソッドを呼び出して入力項目内にテストデータが設定された状態で表示画面を表示する。 - 特許庁 - INDOOR MIXING TEST METHOD FOR DEEP-LAYER MIXING PROCESSING CONSTRUCTION OF SANDY SOIL
砂質系地盤の深層混合処理工法のための室内配合試験法 - 特許庁 - MOUNTED BOARD TESTING JIG AND TEST PIN INSERTION METHOD THEREFOR
実装基板試験用治具とこの実装基板試験用治具のテストピン挿入方法 - 特許庁 - One indicated embodiment is related to a method to test a substrate (106).
開示された一実施形態は、基板(106)を検査するための方法に関係する。 - 特許庁 - TEST SYSTEM FOR DETERMINING PERFORMANCE OF AIR BAG INHIBITING SYSTEM SENSOR AND METHOD THEREFOR
エアバッグ抑制システムセンサの性能を決定する試験システムおよびその方法 - 特許庁 - TEST SPECIMEN, ITS PREPARATION, DEVICE THEREFOR, AND ITS READING METHOD AND DEVICE THEREFOR
試験片、その製造方法および装置並びにその読取方法および装置 - 特許庁 - TEST APPARATUS FOR EVALUATING DURABILITY OF CONCRETE, AND DURABILITY EVALUATING METHOD OF CONCRETE
コンクリ—ト等の耐久性評価試験装置及びその耐久性評価方法 - 特許庁 - To provide a circuit and a method for reducing consumption power for module-type scan test.
モジュール型スキャンテストの消費電力を減らす回路と方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR REDUCING FLAW WHEN TESTING SMD TYPE PASSIVE ELEMENT AND TEST SYSTEM
ＳＭＤ型受動素子を試験する際の傷の減少方法及び試験システム - 特許庁 - COMPUTER MOUNTING METHOD, SYSTEM AND PROGRAM FOR MOUNTING CHALLENGE/RESPONSE TYPE TEST
チャレンジ−レスポンス型テストを実装するためのコンピュータ実装方法、システム、プログラム - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST ITEMS OF SEMICONDUCTOR WAFERS AND ITS SYSTEM
半導体ウエーハの電気的特性テスト項目の評価方法およびそのシステム - 特許庁 - VECTOR SET GENERATION METHOD, TESTING SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM FOR STORING TEST PROGRAM
ベクトル・セット生成方法、試験システム及び試験プログラムを格納する記録媒体 - 特許庁 - OIL RESISTANCE TEST METHOD OF RESIN MATERIAL OR RUBBER COMPOSITION, AND TESTING DEVICE THEREFOR
樹脂材料またはゴム組成物の耐油性試験方法およびその試験装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR CALIBRATING WEAK WRITE TEST MODE(WWTM)
弱い書き込みテストモード（ＷＷＴＭ）を較正するためのシステム及び方法 - 特許庁 - To provide a method for testing a semiconductor device, which can reduce test costs.
テストコストの低減を実現可能な半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁 - INSPECTION SYSTEM, TEST METHOD, INSPECTION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM
検査装置、検査方法、検査プログラムおよびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN ROM HAVING ERROR CORRECTION FUNCTION, AND TEST METHOD THEREOF
誤り訂正機能付きＲＯＭ内蔵集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁 - HYDRAULIC TESTER OF STEEL PIPE AND METHOD FOR MEASURING PIPE LENGTH AFTER STEEL PIPE HYDRAULIC TEST
鋼管の水圧試験機及び鋼管水圧試験後の管長計測方法 - 特許庁 - METHOD OF PURIFYING TEST BODY OR THE LIKE IN HIGH TEMPERATURE HIGH PRESSURE LOOP, AND APPARATUS FOR THE SAME
高温高圧ループにおける試験体等の純化方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD OF CONFIRMING WORKING POSITION OF ELEMENT CONVEYOR FOR TEST HANDLER OF SEMICONDUCTOR ELEMENT
半導体素子のテストハンドラの素子搬送装置の作業位置の認識方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PRESENTING SOFTWARE TEST PLACE AND RECORDING MEDIUM
ソフトウェア試験箇所提示方法、ソフトウェア試験箇所提示装置および記録媒体 - 特許庁 - To realize a method for a self-test of constitution elements of a semiconductor memory.
半導体メモリー構成要素の自己試験のための方法を実現すること。 - 特許庁 - IMPROVED DURABILITY TEST METHOD OF CIS THIN FILM SOLAR CELL MODULE
ＣＩＳ系薄膜太陽電池モジュールの改良された耐久性試験方法 - 特許庁 - CALCULATION APPARATUS, CALCULATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, TEST SYSTEM, AND ELECTRONIC DEVICE
算出装置、算出方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING SCREEN TEST OF DEFECT LEAKAGE FOR MEMORY DEVICE
メモリ・デバイス用の欠陥漏れスクリーン・テストを実行するための装置および方法 - 特許庁 - PRESERVATION OF LILY IN TEST TUBE BY DARK CULTURE, GROWTH AND METHOD FOR CULTIVATING BULB
暗黒培養によるユリ類の試験管内保存，増殖，球根養成法 - 特許庁 - ELECTRON BEAM TYPE PATTERN INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR SETTING INSPECTION CONDITION OF TEST PIECE
電子線式パターン検査装置、及び、試料の検査条件の設定方法 - 特許庁 - INFORMATION PROCESSOR, TEST PATTERN DATA COMPRESSION METHOD FOR INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM
情報処理装置、情報処理装置のテストパターンデータ圧縮方法及びプログラム - 特許庁 - HIGH AND LOW TEMPERATURE IC WAFER TEST METHOD AND PROBE CARD HOLDER EQUIPPED WITH HEAT SHIELDING PLATE
ＩＣウェハの高低温検査方法および遮熱プレート付きプローブカードホルダ。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATIC TEST OF PORTABLE TELEPHONE SOFTWARE
携帯電話ソフトウエア自動試験方法および携帯電話ソフトウエア自動試験装置 - 特許庁 - TRAY FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE
電子部品基板用トレイ、電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR GENERATING TEST STREAM TO SUPPORT VARIOUS STANDARDS AND TESTING LEVELS AND APPARATUS
様々な標準やテストレベルを支援するテストストリームの作成方法及び装置 - 特許庁 - INSPECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER TEST PIECE WHICH USES CHARGED PARTICLE BEAM AND EQUIPMENT
荷電粒子ビームを用いた半導体ウェハ試料の検査方法および装置 - 特許庁 - STORAGE CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DESIGN METHOD DEALING WITH DELAY FAILURE TEST
記憶回路、半導体集積回路及び遅延故障テスト対応設計方法 - 特許庁 - MEDICAL TECHNOLOGY EQUIPMENT, TEST SPECIMEN AND CHECK METHOD OF POSITIONING ACCURACY OF PATIENT TABLE
医療技術機器、試験体、および患者テーブルの位置決め精度のチェック方法 - 特許庁 - TRANSCEIVER SYSTEM AS WELL AS SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD FOR COMMUNICATION
送受信システムおよび通信用半導体集積回路並びにテスト方法 - 特許庁 - VACUUM GAUGE APPARATUS ENABLING CALIBRATION AND TEST WITHOUT MOVING, AND UTILIZATION METHOD THEREFOR
移動なしに較正と試験とが可能な真空ゲージ装置及びその使用方法 - 特許庁 - INTERFACE APPARATUS, AND METHOD FOR CONDUCTINUITY TEST BETWEEN INTERFACE DEVICE PIN AND SUBSTRATE TERMINAL
インターフェース装置、及びインターフェースデバイスピンと基板端子間の導通試験方法 - 特許庁 - METHOD, DEVICE AND PROGRAM FOR CREATING TEST SCENARIO
テストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびテストシナリオ作成のためのプログラム - 特許庁 - INTERFERENCE-ELIMINATING MEMBRANE, TEST STRIP, KIT AND METHOD FOR USE IN URIC ACID ASSAY
尿酸アッセイに用いるための干渉除去膜、テストストリップ、キット及び方法 - 特許庁 - SIMPLIFIED TEST METHOD FOR ELUTION AMOUNT AND CONTENT OF TOXIC SUBSTANCE IN SOIL
土壌中有害物質の溶出量及び含有量の簡易試験方法 - 特許庁 - SYSTEM, METHOD AND APPARATUS FOR COMPLETING GENERATION OF TEST RECORD AFTER ABORT EVENT
中断イベント後に試験記録の生成を完成するシステム、方法、及び装置 - 特許庁 - TEST PIECE FOR EVALUATING INNER LAYER CIRCUIT OF PRINTED WIRING BOARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD
プリント配線板の内層回路評価用試験片及びその作成方法 - 特許庁 - Furthermore, a test kit and a means for implementing the method are included.
更に、該方法を実施するためのテストキットおよび具体的な手段を包含する。 - 特許庁
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