「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 72 73 74 75 76 77 78 79 80 .... 161 162 次へ＞- METHOD AND DEVICE FOR RETRIEVING TEST BLOCK FROM BLOCKWISE STORED REFERENCE IMAGE
ブロックで保存された参照画像からテストブロックを取得する方法及び装置 - 特許庁 - TEST PIECE AND METHOD FOR MEASURING INTERNAL STRESS OF COATING
被膜の内部応力測定用試験片および被膜の内部応力測定方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TEST CASE RELATED TO FUNCTION COMPETITION AND PROGRAM THEREFOR
機能競合に関するテストケース生成方法とその装置、そのためのプログラム - 特許庁 - TEST CHART FOR SOLID-STATE IMAGING APPARATUS, METHOD OF USING THE SAME, CHART BOARD, AND TESTING APPARATUS
固体撮像装置用テストチャート及びその使用方法、チャート盤、テスト装置 - 特許庁 - TEST SITE FOR MEASURING ELECTRIC WAVE HAVING MULTIPLE FENCE AND STANDARD DESIGN METHOD THEREOF
多重フェンスのある電波計測用テストサイト及びその標準設計方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE, AND GENERATING METHOD FOR TEST PATTERN
半導体集積回路、半導体集積装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁 - QUALITY JUDGING BOARD FOR BURN-IN TEST SYSTEM AND QUALITY JUDGMENT RESULT MEMORY METHOD
バーンインテストシステムの良否判定ボードおよびその良否判定結果記憶方法 - 特許庁 - COMMUNICATION METHOD, COMMUNICATION PROTOCOL INTERFACE, REMOTE TEST DEVICE AND SERVICE DIAGNOSTIC SYSTEM
通信方法、通信プロトコルインタフェース、遠隔試験装置及びサービス診断システム - 特許庁 - TEST RESERVATION SYSTEM AND METHOD INCORPORATED WITH AUTOMATIC TESTING DATE DECISION FUNCTION
検査日時自動決定機能組み込み検査予約システム及び検査予約方法 - 特許庁 - VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TESTING DEVICE, AND VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TEST METHOD
気液二相流模擬試験装置および気液二相流模擬試験方法 - 特許庁 - DEVICE TEST SYSTEM, SETTING STATE DISPLAY DEVICE AND SETTING STATE DISPLAY METHOD
デバイス試験システム、設定状態表示装置および設定状態表示方法 - 特許庁 - MONITORING TEST PIECE OF REACTOR PRESSURE VESSEL AND METHOD FOR MONITORING/EVALUATING DEGRADATION STATUS
原子炉圧力容器の監視試験片及び劣化状態監視・評価方法 - 特許庁 - When the test environment is not found in advance, a heuristic method is used.
テスト環境が予め見つからない場合には、発見的手法を利用する。 - 特許庁 - TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE CIRCUIT, AND READOUT CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR STORAGE CIRCUIT
半導体記憶回路のテスト方法及び半導体記憶回路の読み出し回路 - 特許庁 - FATIGUE STRENGTH TESTING DEVICE AND FATIGUE STRENGTH TEST METHOD FOR BRAKE PISTON MADE OF RESIN
樹脂製ブレーキピストンの疲労強度試験装置および疲労強度試験方法 - 特許庁 - TEST MODE SETTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路のテストモード設定方法及び半導体集積回路 - 特許庁 - AGING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR LASER ELEMENT AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR LASER ELEMENT
半導体レーザ素子用エージング装置および半導体レーザ素子の試験方法 - 特許庁 - HUMIDIFICATION CIRCUIT CONTROL DEVICE OF ENVIRONMENTAL TEST INSTRUMENT AND CONTROL METHOD OF THE HUMIDIFICATION CIRCUIT
環境試験器の加湿回路制御装置及びその加湿回路制御方法 - 特許庁 - THIN FILM COATING SHEET TEST PIECE CUT OUT METHOD AND THIN FILM COATING SHEET MANUFACTURING DEVICE
薄膜塗工シート検査片切出方法、及び薄膜塗工シート製造装置 - 特許庁 - PATTERN GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
パターン発生回路及び半導体装置並びに半導体装置の試験方法 - 特許庁 - ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TEST CIRCUIT, TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT DEVICE
スキャンテスト回路の解析方法、テスト装置、および半導体集積回路装置 - 特許庁 - SCAN TEST CIRCUIT DEVICE AND FLIP-FLOP GROUP INITIALIZATION METHOD INSIDE INTEGRATED CIRCUIT
スキャンテスト回路装置および集積回路内部のフリップフロップ群初期化方法 - 特許庁 - REAGENT AND TEST MATERIAL AND METHOD FOR DETECTING COBALT
コバルトの検出用試薬及び検出用試験材、並びにコバルトの検出方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DESIGNING LAYOUT OF TEST- FACILITATED SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
テスト容易化半導体集積回路のレイアウト設計方法および設計装置 - 特許庁 - TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
半導体集積回路装置のテスト方法及び半導体集積回路装置 - 特許庁 - TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体記憶装置のテスト方法、半導体記憶装置及び半導体装置 - 特許庁 - SCAN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND SCAN TESTING METHOD THEREFOR
スキャンテスト回路およびそれを備えた半導体装置ならびにスキャンテスト方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE TESTING METHOD, TEST CONTROL DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE
半導体記憶装置のテスト方法、テスト制御装置および半導体記憶装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING ANALOG CIRCUIT, DIGITAL CIRCUIT AND TEST METHOD THEREFOR
アナログ回路とディジタル回路を持つ半導体集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁 - SIGNAL INTERRUPTION DEVICE AND TEST METHOD OF RADIO BASE STATION DEVICE USING THE SAME
信号遮断装置及びこれを用いた無線基地局装置の試験方法 - 特許庁 - DIFFERENTIAL SIGNAL OUTPUT DEVICE, TEST METHOD OF DIFFERENTIAL SIGNAL OUTPUT DEVICE, AND TESTER
差動信号出力装置、差動信号出力装置のテスト方法、および、テスタ - 特許庁 - LEAK TEST METHOD OF TESTPIECE GENERATING DEFORMATION IN SHAPE WITH CHANGE IN PRESSURE
圧力変化に伴って形状変形を生じる試験体のリークテスト方法 - 特許庁 - EVALUATION METHOD FOR GLOGGING STATE OF OPEN END PILE TIP USING CONE PENETRATION TEST
コーン貫入試験を用いた開端杭先端閉塞状況の評価手法 - 特許庁 - TEST CHART OF LENS PROPERTY EVALUATING DEVICE AND MEASURING METHOD OF IMAGE MAGNIFICATION
レンズの性能評価装置におけるテストチャート及び結像倍率の測定方法 - 特許庁 - METHOD OF ENSURING DATE AND TIME ON TEST METER ARE ACCURATE
検査測定器の日付および時刻が正確であることを確実にする方法 - 特許庁 - TESTING SYSTEM AND TEST METHOD FOR MOBILE COMMUNICATION SYSTEM
移動体通信システムの試験システムおよび移動体通信システムの試験方法 - 特許庁 - ELECTRO-OPTIC MODULATOR ASSEMBLY FOR CONTACTLESS TEST OF FLAT PANEL DISPLAY, DEVICE AND METHOD FOR CONTACTLESS TEST OF FLAT PANEL DISPLAY USING THE SAME AND METHOD FOR MANUFACTURING FLAT PANEL DISPLAY USING THE METHOD
平面表示装置非接触式検査用電気光学モジュレータ組立体、これを用いた検査装置及び検査方法、並びにこの検査方法を用いた平板表示装置の製造方法 - 特許庁 - To perform a monitor burn-in test method with a simple device requiring no external refresh circuit without reducing memory access speed of an element, in the monitor burn-in test method, and a monitor burn-in test device.
モニターバーンイン試験方法およびモニターバーンイン試験装置に関し、素子のメモリアクセス速度を低下させることなく、かつ外部リフレッシュ回路を不要とした簡単な装置でモニターバーンイン試験を行うことを目的とする。 - 特許庁 - BONDING STATE EVALUATION METHOD AND DEVICE, TEST PIECE FOR BONDING STATE EVALUATION, MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR BONDING STATE EVALUATION, AND SEMICONDUCTOR ELEMENT HAVING TEST PIECE FOR BONDING STATE EVALUATION
接合状態評価方法、接合状態評価用試験片、接合状態評価用試験片の製造方法及び接合状態評価用試験片を有した半導体素子並びに接合状態評価装置 - 特許庁 - To provide a test method for a semiconductor test device realizing an efficient device test method without testing doubly an address region already tested, in simultaneous measurement of plural DUT(device to be tested) utilizing a matched mode function.
マッチモード機能を利用した複数ＤＵＴの同時測定において、試験済のアドレス領域を重複試験しないで効率的なデバイス試験方法を実現する半導体試験装置の試験方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING PROTECTION AGAINST DUST AND RESISTANCE TO WATER OF BODY STRUCTURE, AND POWDER FOR TEST PROTECTION AGAINST DUST USED FOR THE METHOD
可動構体の防塵・防水試験方法およびその方法に用いられる防塵試験用粉体 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR CONTROL OF GAME DEVICE, AND INTERFACE DEVICE FOR TEST AND ITS METHOD
遊技装置の制御装置及びその制御方法並びに試験用インタ—フェ—ス装置及びその制御方法 - 特許庁 - METHOD FOR PREVENTING ADHESION OF RESIST TO BACKSIDE OF TEST SAMPLE AND CHUCKING DEVICE OF SAMPLE USED FOR SAME METHOD
試料裏面に対するレジストの付着防止方法及び同方法に使用する試料のチャック装置 - 特許庁 - TEST ELEMENT GROUP FOR DETECTING SHORT CIRCUITING BETWEEN WIRINGS, ITS MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR DETECTING THE SHORT CIRCUITING BETWEEN WIRINGS
配線間ショート検出用テストエレメントグループ、その製造方法及び配線間ショート検出方法 - 特許庁 - COMPUTATIONAL METHOD FOR SUPPORT FORCE OF SPLICED PILE, LOADING TESTER FOR PILE. AND TEST METHOD FOR PERIPHERAL FACE FRICTION FORCE OF PILE
継ぎ杭の支持力算定方法、杭の載荷試験装置、杭の周面摩擦力の試験方法 - 特許庁 - ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF DETECTION SUBSTANCE, ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF TEST SUBSTANCE AND DETECTION SET
検出物質の電気化学的検出方法、被検物質の電気化学的検出方法及び検出セット - 特許庁 - TEST CONDITION DETERMINATION METHOD OF ADHESIVE CAPACITY TO TITANIUM TYPE HARD COAT LENS BASE MATERIAL, AND TESTING METHOD
チタン系ハードコ−トのレンズ基材との密着性能の試験条件決定方法及び試験方法 - 特許庁 - PRETREATMENT METHOD IN PERFORMING EVALUATION TEST FOR REGENERATED AGGREGATE AND TESTING METHOD FOR REGENERATED AGGREGATE
再生骨材に対する評価試験を行う際の前処理方法、および再生骨材の試験方法 - 特許庁 - TEST PATTERN PRINTING METHOD AND MAINTENANCE METHOD IN DROPLET DISCHARGE DEVICE, AND DROPLET DISCHARGE DEVICE
液滴吐出装置におけるテストパターン印刷方法及びメンテナンス方法並びに液滴吐出装置 - 特許庁 - METHOD OF PERFORMING FUNCTIONAL TEST OF POSITION MEASURING DEVICE, AND POSITION MEASURING DEVICE FOR PERFORMING THIS METHOD
位置測定装置の機能テストを実施する方法およびこの方法を実施するための位置測定装置 - 特許庁
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