「Test method」を含む例文一覧(8057)

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  • PROCESSOR AND METHOD FOR EXECUTING HARDWARE TEST DURING INSTRUCTION EXECUTION IN ORDINARY MODE
    通常モードでの命令実行中にハードウェア・テストを実行するプロセッサおよび方法 - 特許庁
  • METHOD FOR RECOVERING FROM GROUNDING BOUNCE DURING BOUNDARY SCAN TEST AND BOUNDARY SCAN APPARATUS
    バウンダリ・スキャン・テスト中に接地バウンスから回復する方法及びバウンダリ・スキャン装置 - 特許庁
  • TEST METHOD FOR ESTIMATING UNIT WATER AMOUNT OF CONCRETE AND TESTING MACHINE USING IT
    コンクリートの単位水量推定試験方法および同方法に用いる試験装置 - 特許庁
  • MOTION VECTOR DETECTOR AND SELF-TEST METHOD FOR THE MOTION VECTOR DETECTOR
    動きベクトル検出装置および動きベクトル検出装置における自己テスト方法 - 特許庁
  • TEST METHOD FOR VIBRATION RESISTANCE OF PHOTO SPACER AND LIGHT CURING RESIN FOR PHOTO SPACER
    フォトスペーサの耐振動性試験方法及びフォトスペーサ用光硬化性樹脂組成物 - 特許庁
  • To provide a rapid continuous test for glycated hemoglobin which uses nonequilibrium affinity bonding method.
    非平衡親和性結合法を用いるグリコヘモグロビンの迅速連続試験に関する。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SELF-TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
    半導体集積回路装置、及び半導体集積回路装置の自己テスト方法 - 特許庁
  • MEASURING METHOD BY USING IMMUNO-CHROMATOGRAPHY AND TEST BODY ANALYTICAL TOOL USED THEREIN
    免疫クロマトグラフィーを用いた測定方法およびそれに用いる検体分析用具 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATING CIRCUIT, SCAN PATH INITIALIZING METHOD, TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, AND PROGRAM
    半導体集積回路、スキャンパス初期化方法、テストパターン生成システム、及びプログラム - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING DATA CACHE AND AT-SPEED TEST METHOD THEREOF
    データキャッシュが内蔵された半導体集積回路およびそれの実速度テスト方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, DELAY TEST CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路、ディレイテスト回路、及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
  • Use this method to test the validity of a version number string.
    このメソッドを使用して、バージョン番号を表す文字列の妥当性を検証します。 - PEAR
  • To provide a test facilitation design method of shortening the design period of an LSI.
    ＬＳＩの設計期間を短縮するテスト容易化設計方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a built-in data access device and method in a boundary scanning test interface.
    境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法の提供。 - 特許庁
  • TEST CHIP, APPARATUS FOR DETECTING TARGET SUBSTANCE AND METHOD FOR SPECIFICALLY DETECTING TARGET SUBSTANCE
    検査チップ、被検物質検出装置および被検物質の特異的検出方法 - 特許庁
  • TESTING DEVICE FOR FILE DEVICE, AND TEST METHOD IN THE TESTING DEVICE FOR FILE DEVICE
    ファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法 - 特許庁
  • DEVICE MANUFACTURING PROCESSING SYSTEM, EXPOSURE DEVICE AND EXPOSURE METHOD, MEASURING TEST EQUIPMENT, MEASURING INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE DEVICE
    デバイス製造処理システム、露光装置及び露光方法、測定検査装置及び測定検査方法、並びにデバイス製造方法 - 特許庁
  • TEST CENTER SYSTEM, TERMINAL DEVICE, AUDITION COMPENSATION METHOD, AUDITION COMPENSATION METHOD PROGRAM RECORDING MEDIUM, AND PROGRAM FOR AUDITION COMPENSATION METHOD
    検査センター装置、端末装置、聴力補償方法、聴力補償方法プログラム記録媒体、聴力補償方法のプログラム - 特許庁
  • To provide a formation method of a dynamic test pattern, a diagnostic method of image quality base in which document processing system is automated, and a system of the diagnostic method.
    動的テストパターン生成方法、ドキュメント処理システムの自動化された画質ベースの診断方法、及びシステムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a creep test method that does not require an atmosphere controller and is not affected by oxidation or nitriding in the atmospheric air, a manufacturing method of a specimen using the test method, and a fixture or the like for fixing the specimen in order to perform the test method with a creep testing machine.
    雰囲気制御装置を必要とせず、大気中で酸化や窒化の影響を受けないクリープ試験方法、及び、その試験方法を適用する試験体の製造方法、及び、クリープ試験機で前記試験方法を行うために前記試験体を固定する固定具等を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a new method of a performance test for establishing the fine particle removing performance of a membrane and a nondestructive integrity test for preconfirming that the membrane after use is within setting in the fine particle removing performance, and to provide a test reagent to be applied to the test, and a method of manufacturing the reagent.
    膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a new method to apply to a non-aqueous system of performance test to establish fine particle removal ability of a film and an integrity test of a non-destructive method for checking that a used film is within a set range in the fine particle removal performance, a test reagent to be applied to the test, and a method for manufacturing the reagent.
    膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の非水系で実施する新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a highly accurate modeling for an adaptation method of a control parameter of an internal combustion engine even when a discrepancy exists between the test condition determined by the test planning method and the actual test condition.
    本発明は、内燃機関の制御パラメータの適合方法に関し、実験計画法により決定した試験条件と実際の試験条件との間にずれが生じた場合であっても高い精度でモデル化を行うことを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a protection method for a test program safely distributing the test program without depending on confidentiality and to provide a test method for LSI whose data analysis is difficult for a third party.
    守秘義務に頼る必要なく、安全にテストプログラムを流通させることの可能なテストプログラムの保護方法を提供すること及び第三者によるデータの解析が困難なＬＳＩのテスト方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a test method of a data processor capable of executing a determination test for quality of a plurality of modules in a relatively short time, in a test method of a data processor composed by mounting a plurality of modules having the same function.
    同一機能を有するモジュールが複数個搭載されたデータ処理装置の試験方法において、より短時間で該複数個のモジュールの良品、不良品の判定試験が実施可能なデータ処理装置の試験方法を得ること。 - 特許庁
  • To provide an automatic measuring device for a reagent adsorbing amount of powder capable of automatically measuring an MB adsorbing amount of coal ash by a test method of either a Cement Association Japan Standard method or a test method of Electric Power Development Company.
    セメント協会法と電発法のいずれの試験方法でも石炭灰のＭＢ吸着量を自動的に測定しうる粉体の試薬吸着量自動測定装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an EMC test estimation system capable of specifying each characteristic deterioration factor in an EMC test site, and to provide a method for improving the EMC test site by use of a result obtained by using the EMC test estimation system.
    ＥＭＣ試験サイトにおける個々の特性劣化要因を特定できるＥＭＣ試験評価システムを提供すると共に、このＥＭＣ試験評価システムを使用して得られた結果を用いてＥＭＣ試験サイトを改良する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an automatic software test device and an automatic software test method that securely conduct an automatic test in which an operation procedure by an operator on an operation window of man-machine software is reproduced to the end, and shorten the test time.
    マンマシンソフトウェアの操作画面におけるオペレータの操作手順を再現する自動試験を最後まで確実に実施すると共に、試験時間を短縮することが可能なソフトウェア自動試験装置及びソフトウェア自動試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an LSI test program generating method and system for realizing optimization by easily changing a series of LSI test programs to be used for an electrical function test, in an LSI tester (probe tester) in matching to a test environment.
    ＬＳＩテスタ（プローブテスタ）において電気機能試験に用いられる一連のＬＳＩテストプログラムをテスト環境に合わせて容易に変更でき、最適化を実現できるようにしたＬＳＩテストプログラム生成方法およびそのシステムを提供することにある。 - 特許庁
  • In this frame relay line test method, a test packet generated by an identification code, a sequence number, and test data by a different pattern is outputted to one end line 2a test data of this output packet and the sequence number are stored.
    試験用パケットであることを示す識別コード、シーケンス番号、異なるパターンの試験用データによって生成した試験用パケットを一方の末端回線２ａに出力するとともに、この出力パケットの試験用データとシーケンス番号とを記憶する。 - 特許庁
  • To provide a system and a method, assuming that a test subject is a subject of a question sentence to a plurality of questions to be answered by Yes or No, and performing personality test on the basis of a result obtained by the answer performed by the test subject oneself or another person except the test subject.
    肯定又は否定で回答する複数の質問に対し、被験者を質問文の主語と想定して、被験者本人または被験者以外の他人が回答した結果に基づいて性格診断を行うシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁
  • When the test signal is received (306), the noise reducing method used for the noisy training signal is used for this test signal (308).
    検査信号を受け取ると（３０６）、ノイズ含有訓練信号で用いたのと同じノイズ低減技法を、この検査信号に受けさせる（３０８）。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit in which a flash EEPROM capable of executing efficient burn-in test is built and provide its burn-in test method.
    効率のよいバーインテストを実施可能なフラッシュＥＥＰＲＯＭを内蔵する半導体集積回路、及び、そのバーインテスト方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a transmission reception test method and its device where much time is not required for the test and deterioration in service traffic is not caused.
    試験に多大な時間がかかることなく、サービス上のトラフィック低下をもたらすことのない送受信試験方法およぴ装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a scoring test device and a scoring test method capable of testing whether a screw scores in a vacuum environment.
    真空環境下において螺子がかじるかどうかの試験を行うことが可能なかじり試験装置及びかじり試験方法を提供する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TEST FACILITATING DESIGN OF LSI CIRCUIT AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WHERE TEST FACILITATING DESIGN PROCESSING PROGRAM IS RECORDED
    ＬＳＩ回路のテスト容易化設計方法および装置ならびにテスト容易化設計処理プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • To provide a nonvolatile memory card and a test method therefor that can shorten the time for test of a nonvolatile memory after the assembly of the memory card.
    メモリカードの組み立て後に不揮発性メモリのテストを短時間で行うことができる不揮発性メモリカードおよびそのテスト方法を実現する。 - 特許庁
  • To provide a stator coil insulation test device and a test method capable of detecting a stator coil layer short-circuit defect after assembling it into a motor.
    モータを組込んだ後において、ステータコイルのレアショート不良の検出が可能なステータコイル絶縁試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method and an inspection device of substrates capable of conducting detailed inspection, without installing test land.
    テストランドを設けることなく詳細な検査を行うことが可能な基板の検査方法及び検査装置を提供することをを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.
    衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device and a method for a jitter test which enable execution of a high-reliability jitter test, in a short time.
    本発明は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことのできるジッタ試験装置及びジッタ試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁
  • To provide a protocol test device capable of testing a network using an optional protocol and to provide a protocol test method.
    本発明は、任意のプロトコルを用いてネットワーク試験を行うことができるプロトコル試験装置又はプロトコル試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁
  • To provide a terminal device which performs test of an application which easily copes with a different format, and also to provide a test method of the application.
    容易に異なるフォーマットに対応することができるアプリケーションのテストを行う端末装置、及びアプリケーションのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.
    加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method to decide a system model to describe relation between a test applicable to a test object system (SUT) and its component.
    テスト対象システム(SUT)に適用可能なテストとその構成要素との間の関係を記述するシステムモデルを決定するための方法を提供する。 - 特許庁
  • A method for judging the sugar level in the urine by dipping the test strip in the collected urine sample, and comparing the color of the test strip with the colors on the color chart
    採取した尿に試験紙を浸漬し、呈色した試験紙の色と色調表とを比較し、尿糖の量を判定する方法。 - 特許庁
  • To provide a test method and a test device of terminal fittings wherein acceptability of mounting situation of terminal fittings on an insulator can be judged accurately.
    端子金具の絶縁体への取付状況の良否を正確に判定できる端子金具の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test device in which convenience in determining a short circuit in a motor is improved, and a test method therefor.
    モータの短絡を判定する際の利便性を向上させることができる試験装置及びその試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a control method and system for a controlling element in a vehicle that make an automatic test preannouncement prior to an automatic test of a controlling element.
    調節要素の自動テストの前に自動テストの予告が行われる、車両内の調節要素の制御方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method and a test circuit, which can improve a failure detection rate for a delayed failure or a defect caused by a short circuit across signal lines.
    試験方法及び試験回路に関し、信号線間のショートによる不良又は遅延故障に対する故障検出率を向上させる。 - 特許庁
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