「Test method」を含む例文一覧(8057)

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  • To provide a test device and a test method for a pneumatic tire which can make a determination in a short period of time without making a vehicle actually travel.
    実車走行させることなく短期間で判断することができる空気入りタイヤの試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a dust explosion test apparatus and a dust explosion test method which can evaluate dust explosibility in a fluid bed.
    流動層の粉塵爆発性を評価することが可能な粉塵爆発試験装置および粉塵爆発試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test tool and a test method for efficiently testing basic software corresponding to the difference of the specifications of hardware.
    ハードウェアの仕様の違いに対応した基本ソフトウェアを効率的にテストする、テストツール及びテスト方法を提供することができる。 - 特許庁
  • To obtain a photographing condition and to set it without test exposure to a test object and independently of a method for radioscopic control.
    被検体に対しテスト曝射を行うことなく、また、透視制御の方法に依存することなく撮影条件を求めて設定する。 - 特許庁
  • To provide a mobile communication terminal test device and mobile communication terminal test method capable of displaying EVM for each slot.
    ＥＶＭをスロットごとに表示することができる移動通信端末試験装置及び移動通信端末試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To realize shortening of testing time in a burn-in acceleration test in a burn-in test method by shortening the burn-in time.
    本発明は、バーンインテスト方法に関し、バーンイン時間の短縮を図り、バーンイン加速試験の試験時間の短縮を実現するものである。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device, a test method, and a program capable of performing a test within a short period of time.
    本発明は、短い時間でテストを行うことが出来る半導体装置、試験方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁
  • Irradiation is detected in a method of exposing the sample to irradiation by a test module monitoring a weathering test process from an improved position.
    改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁
  • To provide a tire abrasion test method capable of setting easily and properly a travel mode to test precisely abrasion of a tire.
    走行モードを簡易且つ適切に設定して、タイヤ摩耗を精度良く試験することができるタイヤ摩耗試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a test planning method capable of saving effort and time to plan a performing schedule of a test and capable of preventing planning errors.
    試験の実施日程の計画にかかる手間と時間の節約並びに計画ミスの防止が可能な試験計画方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a system for testing a semiconductor device, capable of reflecting a result of a sample test to another test, and to provide a method of testing.
    サンプルテストの結果を他のテストに反映させることができる半導体装置のテストシステムおよびテスト方法に関するものである。 - 特許庁
  • To provide a memory test device and a memory test method which determines a memory to be faulty, only when an error exists in confidential information data.
    機密情報データに誤りがある場合にのみメモリが不良と判定するメモリ検査装置及びメモリ検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • To acquire sure contact between a terminal and a probe at the probing test time, while arranging the terminals highly densely, in a probing test method.
    プロービングテスト方法において、端子を高密度に配置しながら、プロービングテスト時に端子とプローブの確実な接触が得られるようにする。 - 特許庁
  • To provide a simple inspecting method of an organic thin film capable of enlarging a test area and conducting a test speedily; and to provide a device for the inspection.
    検査面積の大型化が可能で、検査速度の速い簡便な有機薄膜の検査方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a test-bench creation method and equipment which decreases jobs of creating test-bench that treats network packets and efficiently reuse.
    ネットワークパケットを扱うテストベンチの作成にかかる手間を低減し、流用を効率化するテストベンチ作成方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test configuration capable of rapidly and perfectly executing a test of a tire; its device; and its method.
    タイヤの試験を素早くかつ完全に実施可能にする、タイヤを試験するための試験配置並びに装置及び方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a videophone test method whereby one terminal can realize a videophone so as to be able to test its own videophone function without the need for an opposite terminal.
    対向端末を必要とせず、１台の端末でのテレビ電話を実現し、被試験端末のテレビ電話機能の試験を可能にする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor storage device and its test method improving reliability of the operation test while suppressing the increase of a chip size.
    チップサイズの増加を抑制しつつ動作テストの信頼性を向上出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁
  • To obtain a radio communication terminal testing method, a radio communication terminal test system and a radio communication terminal which enhance efficiency of a field test.
    フィールド試験の効率性を高めた無線通信端末試験方法、無線通信端末試験システム、および無線通信端末を得る。 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING FOCUS VARIATION IN PHOTOLITHOGRAPHY PROCESS USING TEST FEATURE PRINTED FROM PHOTOMASK TEST PATTERN IMAGE
    フォトマスクのテストパターンイメージから印刷されたテストフィーチャーを用いるフォトリソグラフィ工程における焦点変化を測定するシステム及び方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CONTROL PROGRAM, READABLE RECORDING MEDIUM
    半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体 - 特許庁
  • The test substance measurement method includes using a polynucleotide that contains the recognition site of the zinc finger region and is specifically combined with a test substance.
    被検物質測定方法では、ジンクフィンガー領域の認識部位を含み被検物質に特異的に結合するポリヌクレオチドを用いる。 - 特許庁
  • TEST DEVICE FOR TESTING CABLE UNDER TEST, APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING ETHERNET(R) NETWORK CABLE
    検査中のケーブルを検査するための検査器、イーサネット（Ｒ）ネットワークケーブルを検査するための装置およびネットワークケーブルを検査するための方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD OF REMOVING OXIDE FILM ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR ELECTRODE PAD TO BE INSPECTED IN SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM
    半導体テストシステムおよび半導体テストシステムにおける検査対象となる半導の電極パッド表面の酸化被膜除去方法 - 特許庁
  • When loading from a module, it considers all TestCase-derived classes. For each such class, it creates an instance for each method with a name beginning with the string"test".
    モジュールからテストをロードする場合、全てのTestCase派生クラスを抽出し、名前が"test"で始まる全てのメソッドのインスタンスを作成します。 - Python
  • To provide a method for an external appearance test of a semiconductor chip and a probing test in a state of a wafer.
    ウエハの状態で半導体チップの外観検査とプロービングテストを行う方法において、外観検査が適切に行われるようにする。 - 特許庁
  • To provide a method for predicting the time of deterioration of a paint film occurring after a long-term weathering test from the result of a short-time weathering test.
    長期間の耐候性試験の後に起こる塗膜劣化の時期を、短時間の耐候性試験の結果から予測する方法の提供。 - 特許庁
  • TEST DEVICE AND METHOD FOR NON-DESTRUCTIVE TEST IN MEMBRANE/ELECTRODE JUNCTION BODY CAPABLE OF BEING INCORPORATED INTO PRODUCTION, ESPECIALLY USED FOR FUEL CELL
    製造に組み込まれ得る、特に燃料電池に用いられる膜・電極接合体の非破壊試験のための試験装置及び試験方法 - 特許庁
  • HEARING TEST METHOD USING AUTOMATIC VOICE RESPONSE SYSTEM OPERATED BY COMPUTER AND NOISE INTERRUPTOR USED FOR HEARING TEST
    コンピュ—タにより運用される自動音声応答システムを利用した聴力検査方法及び聴力検査に使用する騒音遮断具。 - 特許庁
  • To provide a hydraulic test method for pipe joint section easy to fixing and good in workability and a hydraulic test method using the same.
    全体をコンパクトに構成でき、管継手部に対して取り付けが容易であり、作業性がよい管継手部の水圧試験装置とこれを用いた水圧試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a simply executable wall magnification simplified test method capable of calculating accurately, based on high correlation data with wall magnification by an in-plane shear test method.
    簡易に実施でき、面内せん断試験方法による壁倍率との相関性の高いデータに基づいて、精度良く算定できる壁倍率簡易試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit, a semiconductor integrated circuit design method, a scanning test pattern generation method, and a program capable of reducing cost in a scanning test.
    スキャンテストにおけるコストを低減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法、スキャンテストパタン生成方法及びそのプログラムを提供すること - 特許庁
  • METHOD FOR ESTIMATING TEST YIELD TO SEMICONDUCTOR PRODUCT AND PROGRAM FOR EXECUTING METHOD (ESTIMATION OF TEST YIELD TO SEMICONDUCTOR PRODUCT PREPARED FROM LIBRARY)
    半導体製品に対するテスト歩留まりを推定する方法及び方法を実行するためのプログラム（ライブラリから作製される半導体製品に対するテスト歩留まりの推定） - 特許庁
  • To make a shift to a test mode by using another method even when there is no method for access to a main control board by providing a plurality of methods for shifting to the test mode.
    テストモードへの移行方法を複数備えることにより、メイン制御基板へのアクセス方法がない場合でも他の方法を用いて移行できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory device and a test pattern data generating method for the device.
    半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法を提供する。 - 特許庁
  • METHOD FOR INITIALLY ADJUSTING AND INSPECTING DAMPING FORCE ADJUSTMENT MECHANISM AND DAMPING FORCE TEST APPARATUS
    減衰力調整機構の初期調整、検査方法および減衰力テスト装置 - 特許庁
  • To provide a method and apparatus for analog to digital conversion suitable to an automatic test device.
    自動試験装置に適したアナログ・ディジタル変換方法および装置の提供 - 特許庁
  • TEST SPECIMEN FOR EVALUATION OF BUILT-IN PASSIVE ELEMENT IN SUBSTRATE AND INSPECTION METHOD USING IT
    基板内蔵受動素子の評価用試験片およびそれを用いた検査方法 - 特許庁
  • CUTTING TOOL AND METHOD OF FORMING CUT LINE FOR USE IN PAINT FILM ADHESION TEST
    塗膜付着試験用切り込み線形成刃具および切り込み線形成方法 - 特許庁
  • CONTACT FOR ELECTRICAL TEST OF ELECTRONIC DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND PROBE ASSEMBLY
    電子デバイスの電気的試験用接触子、その製造方法及びプローブ組立体 - 特許庁
  • To provide a test method of semiconductor device which can enhance an efficiency of a tester.
    テスタの効率を向上させ得る半導体素子の検査方法を提供する。 - 特許庁
  • ROTATION BALANCE TEST APPARATS AND ROTATION BALANCE CORRECTING METHOD FOR SUPERCHARGER WITH MOTOR
    電動機付過給機の回転バランス修正方法および回転バランス試験装置 - 特許庁
  • MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST METHOD, AND JIG USED THEREFOR
    半導体装置の製造方法とその検査方法、及び、それらの方法に用いる冶具 - 特許庁
  • To provide a test method capable of exactly judging good or bad of a plasma display panel.
    プラズマディスプレイパネルの正確な良否判定ができる検査方法を提供する。 - 特許庁
  • MULTIFUNCTIONAL LARGE SCALE INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD OF MULTIFUNCTIONAL LARGE SCALE INTEGRATED CIRCUIT
    多機能大規模集積回路および多機能大規模集積回路のテスト方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR PROCESSING USER-DEFINED EVENT GENERATED DURING TEST OF DEVICE
    デバイスのテスト中に生成されたユーザ定義イベントの処理方法および処理装置 - 特許庁
  • LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD
    無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁
  • CONSTRUCTION METHOD OF COMBINATORIAL SWITCHING MATRIX AND TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE THEREOF
    組合せ型スイッチングマトリクスの構築方法およびその半導体装置の試験システム - 特許庁
  • MEMORY TEST DEVICE, AND DEVICE AND METHOD FOR ACQUIRING FAIL INFORMATION
    メモリ試験装置及びフェイル情報取得装置並びにフェイル情報取得方法 - 特許庁
  • TEST PIECE FOR EVALUATING IMPREGNATION PERFORMANCE, AND METHOD FOR EVALUATING IMPREGNATION PERFORMANCE USING THE SAME
    含浸性能評価用のテストピース及びこれを用いた含浸性能評価方法 - 特許庁
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