「Test method」を含む例文一覧(8057)

＜前へ 1 2 .... 73 74 75 76 77 78 79 80 81 .... 161 162 次へ＞
  • The bias between the evaluation method or equipment and the standard test method or equipment is calculated.
    評価方法または機器と基準方法または機器との間で観察される偏りが算出される。 - 特許庁
  • TEST PIECE FORMING SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING CONE INDEX, AND SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING CONE INDEX
    コーン指数計測用の供試体生成システムおよび方法並びにコーン指数計測システムおよび方法 - 特許庁
  • To provide a probe card which can test characteristics of a TEG by the test equipment for an electronic circuit of a semiconductor chip, and a test method using the same.
    半導体チップの電子回路の特性をテストする設備環境において、ＴＥＧの特性テストを行うことが可能なプローブカードおよびそれを用いた試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To implement a test wave generating method capable of generating test waves for insertion at the time when a request for the insertion of test waves for insertion is inputted during steady operation.
    定常運転中において、挿入用試験波の挿入要求が入力されたときに、挿入用試験波を発生させることができる試験波の発生方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test program inspection method and device for checking the consistency of a test program itself with required specifications to improve the quality of the test program.
    本発明は、テストプログラムの検査方法及び検査装置に関し、テストプログラム自体の要求仕様に対する整合性をチェックすることでテストプログラムの品質向上を図ることを目的とする。 - 特許庁
  • The logic verification method is provided with: a means of determining whether the output of a functional block test is an input to another functional block test; and a means of making the output be the input to the other functional block test.
    機能ブロックテストの出力が他の機能ブロックテストの入力となるかどうかを判定する手段と、出力を他の機能ブロックテストの入力とする手段を設ける。 - 特許庁
  • To provide a frame relay line test method by which a test of a frame relay line is conducted under a condition close to an actual operating state, even missing of a test packet can be detected and no error due to an intermingled packet from other line is caused.
    実際の使用状態に近い条件で試験が行え、試験用パケットの紛失も検知でき、他回線からのパケット混入によるエラーが発生しないようにする。 - 特許庁
  • To provide a test implementation method in which the test is efficiently carried out with few human resources and scoring of the test is promptly performed with a fair rule.
    少ない人材で効率的に試験を実施することができ、且つ試験の採点を公平な基準で迅速に行うことができる試験の実施方法を提供することである。 - 特許庁
  • The test handler has a method of opening an insert which is arranged at the other part of area, by moving a test tray after opening the insert which is arranged at one part of area of the test tray.
    テストトレイの一部面積に配列されたインサートを開放した後、テストトレイを移動させて他の一部面積に配列されたインサートを開放する方式を有するテストハンドラーを提供する。 - 特許庁
  • To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.
    半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test apparatus, a semiconductor test apparatus control method, a program, and a storage medium which generate a large-current load with high precision only by functions of a test apparatus.
    テスト装置の機能のみで大電流負荷を高精度に生成することができる半導体試験装置、半導体試験装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供する。 - 特許庁
  • To provide a program of improving a failure detection rate without increasing the number of diagnostic test patterns in a semiconductor integrated circuit having a test mechanism by an incorporated self-test method.
    組込み自己試験法によるテスト機構を備えた半導体集積回路において、診断テストパターン数を増加させずに故障検出率を向上させることができるプログラムを提供する。 - 特許庁
  • To provide the test circuit of a semiconductor device capable of dispensing with a specific test terminal or a specific circuit and a manufacturing method for setting the mode of the test circuit of a mounted function core.
    搭載された機能コアのテスト回路のモード設定のために特別なテスト端子、もしくは特殊な回路や製造方法を必要としない半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for detecting a test pattern capable of easily detecting the test pattern itself even for the test pattern recorded with ink with poor visibility, and an inkjet printer.
    視認性の悪いインクで記録されたテストパターンでも、そのテストパターンそのものを容易に検出することのできるテストパターンの検出方法及びインクジェットプリンタを提供すること。 - 特許庁
  • To inexpensively provide a test device and method capable of sharply reducing adjustment time for performing a test wherein a test load exceeding an allowable range of a piezoelectric vibrator is applied.
    圧電振動子の許容範囲を超える試験荷重が加わる試験を行うための調整時間を大幅に短縮することができる試験装置及び試験方法を安価に提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method of a semiconductor device, a test system therefor, capable of supplying each proper test voltage to each semiconductor device respectively, and to provide the semiconductor device.
    個々の半導体装置にそれぞれ適切な試験電圧を供給できるようにした半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験システム、半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.
    スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁
  • To provide a falling weight type impact test apparatus and a falling weight type test method which make an impact load value of a collision head to be made to collide with a material test piece into an appropriate and fixed value.
    材料試験片に衝突させる衝突ヘッドの衝撃荷重値を適切かつ一定な値とする落錘式衝撃試験装置と落錘式試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide test equipment and a test method which can perform a dynamic test even on a sensor having a small detection sensitivity or a sensor with its sensing portion cut out from the outside world.
    検出感度の小さいセンサやセンサ部が外界から遮断された構成となっているセンサでも、動的試験を行うことができる検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method or the like capable of shortening the execution time and starting time of a test more when a multi-processor system performs a test of a main memory more than when one processor performs the test.
    マルチ・プロセッサ・システムでメイン・メモリのテストを行う場合に、１つのプロセッサが行う場合に比べてテストの実行時間や起動時間を短縮可能な方法等を提供する。 - 特許庁
  • To provide a control method in a material test apparatus to be posed at a targeted position as close as possible in a material test under cyclic loads, and the material test apparatus.
    繰り返し荷重の材料試験において、極力狙った位置でポーズさせることができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁
  • In JUnit 4 it is no longer necessary to use this test method naming syntax because you can use annotations to identify test methods and the test class is no longer required to extend TestCase.
    JUnit 4 では注釈を使用してテストメソッドを識別できるため、このテストメソッドの命名構文を使用する必要がなくなり、テストクラスは TestCase を拡張する必要がなくなりました。 - NetBeans
  • To provide a test method for a nonvolatile semiconductor memory enabling to shorten a test time without increasing layout area and without requiring an expensive test device.
    レイアウト面積を大きくすることなく、また高価な検査装置を必要とすることなく、検査時間の短縮を図ることを可能とする、不揮発性半導体記憶装置の検査方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a test circuit and test method for semiconductor devices capable of function tests and d-c tests and enable an LSI tester with a few of pins to test.
    機能試験と直流試験を行うことができるとともに、少ないピン数のＬＳＩテスタで試験することができる半導体装置のテスト回路及びテスト方法の提供を目的とする。 - 特許庁
  • To provide a drop tester and a drop test method capable of easily dropping test objects under fixed conditions and having high reproducibility of test environments without spending much labor.
    一定の条件下で試験対象物を落下させるのが容易で、かつ労力を費やすことなく、試験環境の再現性が高い落下試験装置および落下試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide fire-resistance test object structure and a fire-resistance testing method capable of executing a "buckling test", in a fire resistance qualification test for a steel beam provided along a fire-resistant wall.
    耐火壁に沿って設けられる鉄骨梁の耐火認定試験において、「座屈試験」を実施できるような耐火試験体構造および耐火試験方法を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide an air leakage test method and an air leakage test device capable of executing under the atmospheric pressure without putting the whole test object product into a vacuum container, and realizing the quantification and high accuracy of the leakage amount.
    検査対象物全体を真空容器に入れることなく大気圧下で行え、かつ漏れ量の定量化、高精度化が実現できる気密漏れ検査方法と装置を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a method for facilitating tests by a frequency divider circuit that verifies a timing, even at test operation by adding a test circuit to the frequency divider circuit so as to reduce a test pattern and to obtain the frequency divider circuit with the test circuit.
    分周回路にテスト回路を追加することによりテストパタンを短縮化し、且つテスト動作時でもタイミング検証を可能にする分周回路によるテスト容易化方法及びテスト回路付き分周回路を提供する点にある。 - 特許庁
  • To provide: a printed circuit board test-assisting apparatus that can efficiently assist in conducting an actual measurement test after a high-density mounting printed board is manufactured; a printed circuit board test-assisting method; and a printed circuit board test-assisting program.
    高密度実装のプリント基板の製造後における実測試験を効率的に支援することのできるプリント基板試験支援装置、プリント基板試験支援方法、及びプリント基板試験支援プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test device, a semiconductor memory test device, and a semiconductor memory test method in which testing capability of a semiconductor device is maximized, and factors of rise of a device cost can be minimized, and test cost is reduced.
    半導体デバイスのテスト能力が極大化されると共に、装置価格の上昇要因を最小化し得、テストコストも削減される半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity.
    従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁
  • In this method for evaluating adhesive peel strength of test paper, the adhesive peel strength of test paper is evaluated by bonding test papers by an adhesive to measure the breaking strength of paper layers of the test papers.
    本発明の試験紙の接着剥離強度評価方法は、試験紙と試験紙とを接着によって貼り合わせ、試験紙の紙層の破壊強度を測定することにより、試験紙の接着剥離強度を評価することを特徴とする。 - 特許庁
  • The method of installing and configuring a test package for a unit under test in an automated assembly process uses an identifier of the unit under test to retrieve the test files and other files for the installation and configuration.
    自動化された組み立て工程においてテスト中のユニット装置に対してテスト・パッケージをインストールし設定する方法は、上記テスト中のユニットの識別子を用いてテスト・ファイルとインストール及び設定用の他のファイルとを検索する。 - 特許庁
  • To provide a test device and a test method for electronic devices, for detecting error-occurred spots and for preventing alarms, when power supply thereof is turned to ON or OFF, in a test program having test programs with several tens of thousands to several hundred thousand steps.
    電子デバイス用試験装置及び電子デバイスの試験方法に関し、数万〜数十万ステップの試験プログラムにおいて、異常が発生した箇所を検出するとともに、電源のＯＮ、ＯＦＦ時にアラームが出ないようにする。 - 特許庁
  • In this tire durability test method, after performing deterioration acceleration processing in the pneumatic tire T by oxygen, air is filled in the pneumatic tire T, and a drum durability test is performed at prescribed test speed, while applying a test load.
    空気入りタイヤＴ内を酸素により劣化促進処理した後、該空気入りタイヤＴ内に空気を充填し、試験荷重を加えながら所定の試験速度でドラム耐久試験を行うタイヤ耐久試験方法である。 - 特許庁
  • To provide a protocol test device that can efficiently perform the dynamic test of a communication protocol used for a communication device using a simple preparation and a method, without the need for using an independent opposed test device within a single test device.
    単独の試験装置内で通信機器に用いる通信プロトコルの動的な試験を、独立の対向試験装置を用いずに、簡単な準備および方法で行うことで作業を効率化するプロトコル試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Next, the room temperature test is performed, and a method of testing the semiconductor device accepts or reject the memory cell arrays 11a to 11n on the basis of the high temperature test result written on the memory cell arrays 11a to 11n and the room temperature test result of the room temperature test.
    次いで、常温試験を行い、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎに書き込まれた高温試験結果と、常温試験の常温試験結果とに基づいて、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの合否判定を行う。 - 特許庁
  • In an inventive rolling/sliding fatigue life testing method for steel materials, a test body 3b of a steel material is immersed in a lubricant 2 in a test oil tank 1, and a load causing rolling/sliding contact is applied to the test body 3b to test the rolling/sliding fatigue life of the test body 3b.
    この鋼製材料の転がりすべり疲労寿命試験方法は、試験油槽１内の潤滑油２に鋼製材料の被試験体３ｂを浸漬して、転がりすべり接触を生じる負荷を与え、被試験体３ｂの転がりすべり疲労寿命の試験を行う。 - 特許庁
  • In the ozone exposure test method, dry air is preliminarily passed through a test tank and the air circulating system annexed thereto to circulate ozone-containing air before an ozone exposure test and, thereafter, the ozone exposure test is carried out in the test tank 1 to which air passing treatment is applied.
    オゾン暴露試験方法であって、オゾン暴露試験前に予め試験槽１とそれに付随するオゾンを含む気体を循環させる気体循環系内に乾燥空気を通してから、この通気処理を施した試験槽１にてオゾン暴露試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁
  • A test method has plural test flows corresponding to an estimated result of a process in a post-process test after assembly of a semiconductor memory, and a test flow is selected in accordance with an estimated result of a process measured by an estimation pattern at the time of a post-process test.
    検査方法は、半導体記憶装置の組立後の後工程検査において、プロセスの出来ばえ評価結果に対応する複数の検査フローを有し、後工程検査時に評価パターンにて測定したプロセスの出来映え評価結果に応じて検査フローを選択している。 - 特許庁
  • To provide a method and device for generating a test bench, and a computer program, enabling simplifying description for generating the test bench.
    テストベンチ生成のための記述の簡略化を可能にするテストベンチ生成方法、テストベンチ生成装置、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a multi probe card unit, a probe test device including the same, their manufacturing methods and a method of using the probe test device.
    マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method and a test device capable of efficiently determining whether a tested machine performs the desired operation or not.
    被試験機が所望の動作をしているか否かを効率的に判定することができる試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a sequence test apparatus and a sequence test method capable of allowing a user to easily identify the latencies of terminals to be tested.
    被試験端末のレイテンシをユーザに容易に識別させることができるシーケンス試験装置及びシーケンス試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a system and method for measuring stray light in a lithographic apparatus using Radiometric Kirk Test (also known as scanning SAMOS test).
    放射キルクテスト（スキャンＳＡＭＯＳテストとしても知られる）を用いたリソグラフィ装置における迷光測定システムおよび方法を提供する。 - 特許庁
  • The method of generating the test data includes a first plane data generating step, a second plane data generating step, and a test layout data generating step.
    テストデータ生成方法は、第１平面データ生成工程と第２平面データ生成工程とテストレイアウトデータ生成工程とを備える。 - 特許庁
  • DEVICE FOR GENERATION OF TEST DATA, METHOD FOR GENERATING TEST DATA AND STORAGE MEDIUM WHICH STORES PROGRAM TO HAVE COMPUTER TO PROCESS ON THE SYSTEM
    テストデータ生成装置、テストデータ生成方法及びそのシステムでの処理をコンピュータに行なわせるためのプログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device, an electronic device, and a connection test method of the semiconductor device, performing easily a connection test between SoC and a memory.
    ＳｏＣとメモリの接続試験を容易に行う半導体装置、電子機器及び半導体装置の接続試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an automatic test program execution method for automatically and continuously downloading test programs by a portable terminal.
    携帯端末上で連続して複数のテストプログラムを自動的にダウンロードして実行するテストプログラムの自動実行方法を提供する。 - 特許庁
  • TEST PIECE FOR METALLIC MATERIAL COMBUSTION TEST, COMBUSTION TESTER, AND MEASUREMENT METHOD FOR COMBUSTION PROPAGATION TEMPERATURE AND COMBUSTION PROPAGATION RATE
    金属材料の燃焼試験用試験片、燃焼試験装置、および燃焼伝播温度並びに燃焼伝播速度の測定方法 - 特許庁
＜前へ 1 2 .... 73 74 75 76 77 78 79 80 81 .... 161 162 次へ＞

例文データの著作権について