「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 70 71 72 73 74 75 76 77 78 .... 161 162 次へ＞- TEST APPARATUS AND METHOD OF HOT PRESS-FIT FOR MUD MATERIAL
マッド材熱間圧入試験装置、及びマッド材熱間圧入試験方法 - 特許庁 - EYE TARGET PRESENTATION DEVICE, OPTOMETRIC APPARATUS, AND EYE TEST METHOD USING OPTOMETRIC APPARATUS
視標呈示装置、検眼装置及び該検眼装置を用いた検眼方法 - 特許庁 - To provide a test pattern for measuring line contact resistance and a method of manufacturing the same.
ラインコンタクト抵抗測定用テストパターン及びその製造方法の提供。 - 特許庁 - EVALUATION METHOD FOR PERITONEAL FUNCTION AND IMMUNOCHROMATO TEST PAPER FOR EVALUATING PERITONEAL FUNCTION
腹膜機能の評価方法および腹膜機能評価用イムノクロマト試験紙 - 特許庁 - To provide a method for determining Ii blood types by genetic test.
遺伝子検査によりＩｉ血液型を判定する方法を提供すること。 - 特許庁 - IC-MOUNTED ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING SUBSTRATE AND LEAKAGE CURRENT TEST METHOD THEREFOR
ＩＣ実装済み電子部品実装基板及びそのリーク電流試験方法 - 特許庁 - Kansai region Demonstration test for a new method of hydrogen use and the fuel cell system
関西圏 新たな水素利用形態と燃料電池システムの実証 - 経済産業省 - PAPER SHEET PROCESSOR, INSPECTION METHOD FOR PAPER SHEET PROCESSOR, AND TEST MEDIUM
紙葉類処理装置と紙葉類処理装置の点検方法とテスト媒体 - 特許庁 - In the test method for the LSI, the test pattern 25 is created from the source file 27 and a scramble format 28 and the right and wrong of a response signal from the LSI 23 relative to the test pattern is determined by the test plan 24.
またＬＳＩのテスト方法においては、ソースファイル２７とスクランブル書式２８とからテストパタン２５を作成し、ＬＳＩ２３からのテストパタンに対する応答信号の良否をテストプラン２４に基づいて判定する。 - 特許庁 - To provide an inter-station test performance method and system applied to ring network system, capable of reducing the test time of an inter-station test and continuing the present operating state of all the stations at the execution of the inter-station test.
局間テストのテスト時間の短縮を可能とし、また局間テスト実行時に全局の現状運転状態を継続可能とするリング状ネットワークシステムにおける局間テスト実施方法及びシステムを得ること。 - 特許庁 - To provide a friction test device and a friction test method advantageous for improving friction test accuracy, capable of forming a frozen surface similar to a frozen surface of an ordinary road or a test course which has been changed into a frozen road.
アイスバーンとなった一般道やテストコースの氷結表面に近似した氷結表面を形成でき、摩擦試験精度の向上を図る上で有利な摩擦試験装置及び摩擦試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for estimating a test process period in software development capable of accurately calculating a test process period based on the information of the number of finished test items and the number of discovered errors until a cretin point of time in a test process.
試験工程のある時点までの消化試験項目数と発見エラー数の情報に基づいて試験工程期間を適確に算出し得るソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method and a test device for a semiconductor wafer by which a test can be conducted in a state that the contact resistance of a probe and a test pad of the semiconductor wafer is reduced to a reference value and the test can be conducted with contact resistance which is always the same.
プローブ針と半導体ウェーハのテストパッドとの接触抵抗を基準値まで低減させた状態でテストすることが可能であり、常に同一の接触抵抗でテストをすることが可能となる半導体ウェーハのテスト方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.
試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁 - The test factor classification table generating part 12 analyzes design information of a class of software designed by object orientation and generates a test factor that affects the operation of a method of a test object and a model of a test factor classification table that enumerates conditions of the test factor.
テスト因子分類表生成部１２は、オブジェクト指向により設計されたソフトウェアのクラスの設計情報を解析して、テスト対象のメソッドの動作に影響するテスト因子とその条件を列挙したテスト因子分類表の雛型を生成する。 - 特許庁 - To provide a test method and a test apparatus for a semiconductor device which test a high speed memory interface section at a low speed, dispenses with the mounting of a semiconductor memory device onto a test board and also dispenses with confirmation of operation of the semiconductor memory device itself thereby enabling the mounting area of the test board to be reduced.
低速で高速メモリインタフェース部の試験ができ、半導体記憶装置のテストボード上への実装が不要で半導体記憶装置自体の動作確認が不要でテストボード実装面積の低減が可能な半導体装置のテスト方法、装置を提供する。 - 特許庁 - To provide test progress management method and system by which the change of the transition relation of test items is suppressed to absolute minimum even in the case that the test items are changed during a test and a person easily performs the operations of increasing/decreasing the test items and changing a performance order or the like.
テスト中にテスト項目の変更が発生した場合でも、テスト項目の遷移関係の変更を最小限に抑え、かつ、人がテスト項目の増減や実施順序の変更などの操作を行いやすいテスト進捗管理方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - To perform a stable test of a test object by a suction method, even when the whole test object is covered with a cover or a cover is divided into those for a large number of leaking spots, like cases where leaking spots of the test object are not clear, or the test object has a large number of leaking spots.
検査対象物のどこから漏れか分らない場合や漏れ個所が多数ある場合のように、カバーで検査対象物全体を覆う場合やカバーを多数の漏れ個所に分ける場合でも、吸引法によって安定した検査を行える。 - 特許庁 - To provide a test data generation device and method that enable generation of test data capable of controlling processing branching by arriving at and solving a constraint satisfaction problem.
処理の分岐を制御できるようなテストデータを制約充足問題に帰着して解くテストデータの生成を可能にする。 - 特許庁 - To provide a test program inspection apparatus and method that easily grasps the relationship between a specific event and a test program.
特定の事象とテストプログラムとの関係を容易に把握できるテストプログラム検査装置およびテストプログラム検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method of a short-circuited pixel of an organic EL panel capable of easily and simply test the short-circuited pixel.
短絡画素を簡単かつ容易に検査することができる有機ＥＬ表示パネルの短絡画素検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test circuit capable of specifying a place generating a contact failure, and to provide a semiconductor wafer device and a test method.
コンタクト不良の発生場所を特定することができる試験回路、半導体ウエハ装置、及び試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method and means for holding a test script library to be used in executing the regression test of an application program.
アプリケーション・プログラムの回帰試験を実施する際に使われる、試験スクリプト・ライブラリを保持する方法と手段を提供する。 - 特許庁 - To reduce the cost of a substitute power supply device for a secondary battery to test on-vehicle motors, and of the control method of a secondary battery substitution test.
車載モータを試験する二次電池代替電源装置及び二次電池代替試験制御方法に関し、コストダウンを図る。 - 特許庁 - To provide a test frame composition device and a test frame composition method which can transmit arbitrary large capacity data.
本発明は、任意の大容量データを送信可能なテストフレーム構成装置及びテストフレーム構成方法の提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a sequence test device and a sequence test method capable of easily specifying log information beyond the range of expectations.
期待値範囲外のログ情報を容易に特定することができるシーケンス試験装置及びシーケンス試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a substrate test method with which a vivid image can be obtained and the reduction in test time is expected.
鮮明な画像を得ることができ、検査時間の短縮を期待できる基板検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a test method for a RAM by which a test time of a semiconductor device incorporating plural RAMs can be shortened.
複数のＲＡＭを搭載する半導体装置のテスト時間を短縮することができるＲＡＭのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR SELECTING TEST PATTERN AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN SELECTION PROGRAM STORED THEREON
テストパターン選別装置、テストパターン選別方法およびテストパターン選別プログラムを格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide a CPU board with the online test function of a peripheral device part, and to provide an online test method thereof.
周辺デバイス部のオンラインテスト機能を備えたＣＰＵボード、及びそのオンラインテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test device and semiconductor test a method capable of simultaneously and correctly inspecting a plurality of wafer dies.
複数のウエハダイを同時に正確に検査することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁 - SYSTEM FOR PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION, CENTRAL DEVICE, ANIMAL ANALYZER, METHOD OF PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION AND COMPUTER PROGRAM
動物検査情報提供システム、中央装置、動物用分析装置、動物検査情報提供方法およびコンピュータプログラム - 特許庁 - To provide a test handler and a semiconductor element test method, capable of testing a semiconductor element under a high temperature environment and a low temperature environment.
半導体素子を高温環境及び低温環境でテストできるテストハンドラー及び半導体素子テスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for an operation test performing a running test including a load situation in commercially operating.
商用運転時の負荷状況を網羅したランニング試験を実施可能な動作試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.
簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for performing an LBIST test capable of determining the origin of an error occurring during the test.
テスト中に発生したエラーの根源を決定することが可能となるＬＢＩＳＴテストを行うための方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a design method for a scan test circuit allowing the inspection of a critical path of a semiconductor integrated circuit by a scan test.
スキャンテストによって半導体集積回路のクリティカルパスの検査を可能にするスキャンテスト回路の設計方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method which can switch multistage test states only by the use of a few external connection terminals.
僅かの外部接続端子の使用だけで多段のテスト状態の切り換えができるテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a software component test system and method for accurately performing the test of software components.
ソフトウェアコンポーネントのテストを正確に行うことが可能なソフトウェアコンポーネントテストシステム及びソフトウェアコンポーネントテスト方法を提供する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CIRCUIT DISPOSED IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD USED FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路、該半導体集積回路に設けられるテスト回路及び該半導体集積回路に用いられるテスト方法 - 特許庁 - ONE-SHOT PULSE GENERATING APPARATUS PROVIDED WITH CIRCUIT FOR TEST AND METHOD FOR TESTING ONE-SHOT PULSE GENERATING APPARATUS USING CIRCUIT FOR TEST
テスト用回路を備えたワンショットパルス発生装置及びそのテスト用回路を使用したワンショットパルス発生装置のテスト方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and its test method capable of performing a test having high reliability, while keeping performance of a multichip module.
マルチチップモジュールの性能を維持しつつ、信頼性の高い試験を可能にした半導体装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an irradiation test method capable of more efficiently performing an irradiation test for a semiconductor device.
より効率的に半導体装置の放射照射試験を実施することができる放射線照射試験方法を提供する。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR USING SINGLE eFUSE BANK TO PRESERVE TEST DATA CONTINUOUSLY FROM MULTIPLE TEST STAGE
多重テスト・ステージからテスト・データを連続的に保存するために単一のｅＦｕｓｅバンクを使用するための装置および方法 - 特許庁 - To provide a method and a system for scalability test, with which an effective and flexible test can be performed.
効果的かつ柔軟な試験を行うことのできるスケーラビリティ試験方法およびシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a test reagent and a test method for diagnosing cancer invasion and metastasis which are simple, and have excellent sensitivity and quantitative performance.
癌の浸潤と転移を診断する、簡便で感度と定量性に優れた検査用試薬および検査方法を提供する。 - 特許庁 - ASYNCHRONOUS CODE TEST METHOD, COMPUTER PROGRAM PRODUCT, COMPUTER SYSTEM, AND PROCESS (ASYNCHRONOUS CODE TEST IN INTEGRATED DEVELOPMENT ENVIRONMENT (IDE))
非同期コード・テスト方法、コンピュータ・プログラム製品、コンピュータ・システムおよびプロセス（統合開発環境（ＩＤＥ）における非同期コード・テスト） - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING TEST DATA OF FORM PROGRAM, FORM PROGRAM PREPARING DEVICE, AND STORAGE MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR PREPARING TEST DATA
帳票プログラムのテストデータ作成方法、帳票プログラム作成装置及びテストデータを作成するプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide a diagnostic test system and diagnostic test method bringing an accurate result even when low-concentration analysis object is contained.
低濃度の分析物が含まれる場合にも精確な結果をもたらす診断テストシステム及び診断テスト方法を提供する。 - 特許庁 - The advantages of this equilibrium dialytic device are cost saving, efficiency enhancement, test easiness, flexibility of a test method and the like.
この平衡透析装置の利点は、コストの低減、効率の向上、試験の容易さ、及び試験方法の柔軟性等である。 - 特許庁
