To provide a simple method for knowing an amount of radical irradiation onto a surface of a test object. 試験対象物表面へのラジカルが照射量を簡便に知る方法を提供すること。 - 特許庁
Also, the kit and system comprising this test specimen can be provided, and are used for the method of the present invention. また、この試験片を含むキットおよび系も提供され、本発明の方法に使用される。 - 特許庁
To provide a method for testing a gas leak alarm capable of performing a test easily and speedily. 試験を容易且つ迅速に行うことができるガス漏れ警報器の試験方法の提供。 - 特許庁
To provide a new drug evaluation method that can conduct a screening test on an efficient white hair control agent. 有効な白毛制御剤をスクリーニングできる新たな薬剤評価方法を提供する。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PROVIDING TEST LOOPS BETWEEN WRITE CHANNEL PROCESSOR AND READ CHANNEL PROCESSOR 書込みチャネルプロセッサと読出しチャネルプロセッサとの間に試験ル—プを設けるための方法並びに装置 - 特許庁
SWITCH LIQUID CRYSTAL PANEL, MOBILE TELEPHONE WITH OPENING AND CLOSING MECHANISM, AND DEVICE AND METHOD FOR KEYING TEST スイッチ液晶パネル、開閉機構付携帯電話、打鍵試験装置、および打鍵試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING MATERIAL-TESTING MACHINE FOR FATIGUE CRACK GROWTH TEST 疲労き裂進展試験のための材料試験機制御方法及び材料試験機制御装置 - 特許庁
To provide a measuring method of a human parvovirus B19 antigen in a test body such as serum, plasma. 血清、血漿などの検体中のヒトパルボウイルスB19抗原の測定法を提供する。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR PERFORMING TENSILE TEST OF OPTICAL FIBER IN FIBER DRAWING AND REINSERTING FIBER ファイバ線引き時に光ファイバの引張試験を行い、再挿通するための方法および装置 - 特許庁
CAPILLARY IMPLEMENT PROVIDED WITH ENZYME TEST PAPER USED FOR ANALYSIS OF VERY SMALL AMOUNT SPECIMEN AND METHOD OF MEASUREMENT 微量検体の分析に用いる酵素試験紙を配設したキャピラリー用具、および測定方法 - 特許庁
The present invention provides the test strip and the detecting method thereof. 本発明は、ヘリコバクター・ピロリ菌の検出に用いられるテストストリップ、及び、検出方法を提供する。 - 特許庁
VIBRATION TESTING DEVICE FOR STRUCTURE, DIGITAL COMPUTER USED THEREFOR, AND METHOD FOR VIBRATION TEST 構造物の振動試験装置及びそれに用いるデジタル計算機ならびに振動試験方法 - 特許庁
TESTMETHOD OF BULLET CORE CONSUMPTION CHARACTERISTIC AND OPTIMIZATION TECHNIQUE USING THE SAME FOR COMPOSITE ARMORING STRUCTURE 弾芯消耗特性試験法及びこれを用いた複合装甲構造の最適化手法 - 特許庁
ALTERNATIVE EVALUATION METHOD OF SCRATCH HARDNESS IN PLACE OF PENCIL HARDNESS TEST PRESCRIBED BY JIS K 5600 JISK5600で規定される鉛筆硬度試験に代わる引っかき硬度の代替評価方法 - 特許庁
STRUCTURE AND METHOD FOR PREVENTING NEGATIVE PRESSURE GENERATION TO BE USED IN WATER-FILLED PRESSURE TEST OF STORAGE TANK 貯槽の水張耐圧試験時に使用する負圧発生防止構造及び負圧発生防止方法 - 特許庁
MEMORY DEVICE HAVING OUTPUT CIRCUIT SELECTIVELY ENABLED FOR TEST MODE AND ITS TESTING METHOD テストモードのために選択的にイネーブルされる出力回路を有するメモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁
SIMPLE TEST REAGENT FOR MITE ANTIGEN, AND METHOD AND KIT FOR DETECTING MITE ANTIGEN ダニ抗原簡易検査試薬、ダニ抗原検出方法およびダニ抗原を検出するためのキット - 特許庁
METHOD FOR DETECTING CHOLINE ESTERASE INHIBITOR CONTAINED IN SPECIMEN AND TEST KIT USED THEREIN 検体中に含まれるコリンエステラーゼ阻害物質を検出する方法及びそれに用いるテストキット - 特許庁
EMULATION DEVICE, SYSTEM AND METHOD WITH DISTRIBUTED CONTROL OF TEST INTERFACE IN CLOCK DOMAIN クロックドメインにおける試験インターフェースの分散制御を備えるエミュレーション装置、システムおよび方法 - 特許庁
PRINTING METHOD WITH TEST PATTERN INSERTED IN MASS PRINTING JOB, AND PRINTER USING THE SAME 大量印刷ジョブにおけるテストパターンを挿入する印刷方法及びそれを用いたプリンタ - 特許庁
RADIO COMMUNICATION EQUIPMENT AND IMAGE FORMING DEVICE MANAGEMENT SYSTEM USING IT AND RADIO CHANNEL TESTMETHOD 無線通信装置とそれを用いた画像形成装置管理システムおよび無線チャネルテスト方法 - 特許庁
PATTERN TEST DEVICE USING ELECTRON BEAM, AS WELL AS MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME 電子ビームを用いたパターン検査装置、並びに、それを用いた半導体デバイス製造方法 - 特許庁
To provide a method for testing the mitogenic activity a test sample a keratin cell. ケラチン細胞に対する被検のサンプルのマイトジェン活性を試験する方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a degradation testmethod capable of performing degradation tests precisely in a short time. 短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験方法を提供する。 - 特許庁
ALWAYS ENABLED TESTMETHOD FOR MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE モノリシックな集積回路装置の常に可能化されたテストのための方法および集積回路装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CONNECTING MANUFACTURE TEST INTERFACE TO GLOBAL SERIAL BUS INCLUDING I2C BUS I2Cバスを含むグローバル・シリアル・バスに製造テスト・インタフェースを接続するための方法および装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MEMORY MODULE IN TRANSPARENT TRANSMISSION MODE AND HUB OF MEMORY MODULE FOR EXECUTING TEST 透過伝送モードでメモリモジュールをテストする方法及びこれを実行するためのメモリモジュールのハブ。 - 特許庁
The method comprises scheduling of a CPU register diagnostic test depending on the situation (508). この方法は、CPUレジスタの診断テストを状況に応じてスケジューリングすること(508)を含む。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CALIBRATING PULSE WIDTH TIMING ERROR CORRECTION IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST 半導体集積回路試験におけるパルス幅タイミング誤差補正のための較正方法および装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR STORING TEST NUMBER USING MAP OF LINKED DATA NODE, AND DATABASE リンクされたデータノードのマップを使用してテスト番号を記憶するための方法、装置およびデータベース - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTMETHOD, AND RECORDING DEVICE AND COMMUNICATION EQUIPMENT HAVING IT 半導体集積回路およびその検査方法並びにそれを有する記録装置および通信機器 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM WITH LOG FUNCTION, LOG INFORMATION ANALYSIS METHOD AND LOG INFORMATION ANALYSIS PROGRAM ログ機能付き集積回路試験システム、ログ情報解析方法及びログ情報解析プログラム - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT HAVING FUNCTION TESTING MEMORY USING VOLTAGE FOR STRESS AND ITS MEMORY TESTMETHOD ストレス用電圧を用いてメモリをテストする機能を有する集積回路及びそのメモリテスト方法 - 特許庁
LEVEL SHIFTER CIRCUIT, DRIVE CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE, DISPLAY DEVICE AND STRESS TESTMETHOD OF GRADATION SELECTION CIRCUIT レベルシフタ回路、表示装置の駆動回路、表示装置、及び階調選択回路のストレステスト方法 - 特許庁
TESTMETHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT CONTAINING HARDWARE AND/OR SOFTWARE PART HAVING SECRET CHARACTERISTIC 機密特性を有するハードウェアおよび/またはソフトウェア部分を含む集積回路の試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTMETHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING DEVICE 半導体集積回路の試験装置およびそれを用いた半導体集積回路の試験方法 - 特許庁
To provide a serial access memory and a data write/read method in which a test time is reduced. テスト時間を短縮することが可能なシリアルアクセスメモリおよびデータライト/リード方法を提供する。 - 特許庁
METHOD AND TEST STAND FOR SIMULATING OPERATING BEHAVIOR OF VEHICLE 車両の運転挙動をシミュレートする方法並びに車両の運転挙動をシミュレートするテストスタンド - 特許庁
To provide a method for producing a refined alcohol having good result of acid wash color test. 硫酸着色試験の結果の良好な精製アルコールを製造する方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a system and method for immobilizing nucleic acid amplicons on a test device. 試験装置上に核酸単位複製配列を固定するための系および方法を提供する。 - 特許庁
To provide test equipment and a testing method for a signal processor for shortening of the amount of testing time. テスト時間を短縮するための信号処理装置のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
SUCTION PRESSURIZING METHOD OF MEASUREMENT OBJECT IN CHARACTERISTIC TEST FOR IT AND SUCTION PRESSURIZING PAD 被測定物の特性試験時におけ被測定物の吸着加圧方法及びその吸着加圧パット - 特許庁
DEVICE STATE INFORMATION EXTRACTION METHOD, DEVICE STATE TEST UNIT, NETWORK DEVICE AND SERVICE DIAGNOSTIC SYSTEM 機器状態情報抽出方法、機器状態試験装置、ネットワーク機器及びサービス診断システム - 特許庁
To provide an identification method for concrete test pieces simply and accurately even if the characters inscribed on the concrete test piece put in a curing water tank are rubbed out or become invisible due to accumulation and adhesion of deposits when conducting a concrete test, and to provide a concrete testmethod for identifying and taking out the desired concrete test piece from among many concrete test pieces simply and accurately. コンクリート試験を行う際に、養生水槽内に置かれたコンクリート供試体に記載した文字が擦れたり、この文字が沈殿物の堆積や付着等により見えなくなった場合においても、このコンクリート供試体を簡易かつ正確に識別することができるコンクリート供試体の識別方法、及び、多数のコンクリート供試体から目的とするコンクリート供試体を簡易かつ正確に識別し取り出すことができるコンクリート試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a RAID (Redundant Arrays of Inexpensive Disks) test system with which a disk controller of a RAID device is substituted with a conventional testing computer to perform a test of another RAID device about a shipping test of RAID devices, a RAID test program and a RAID testing method. RAID装置の出荷試験に関し、より詳細にはRAID装置のディスクコントローラを従来の試験用コンピュータと代替し、他のRAID装置に対して試験の実施を行うRAID試験システム、RAID試験プログラムおよびRAID試験方法に関する。 - 特許庁
To provide a magnetic disk testmethod or a certifier which reduces a write connecting region of test burst signals in a test track, which become non-test areas, and also reduces error of defect detection of the write connecting region when errors of a magnetic disk are detected. 未検査エリアとなる検査トラックにおけるテストバースト信号の書きつなぎ領域を低減しかつ磁気ディスクのエラー検出をする際に書きつなぎ領域の欠陥誤検出を低減することができる磁気ディスクの検査方法あるいはサーテファイアを提供することにある。 - 特許庁
Based on a testmethod D102 specified from the outside, data of an unnecessary test point is deleted from the design data stored in the storage device 700 by a test point delete section K104, and design data D103 including no unnecessary test point is output by a data output section K105. そして、外部から指定されたテスト手法D102に基づいて、記憶装置700に格納された設計データから、不要なテストポイントのデータがテストポイント削除部K104により削除され、不要なテストポイントを含まない設計データD103が、データ出力部K105により出力される。 - 特許庁
In this method, a test tube group with bar codes stored in the test tube rack is photographed as it is from the oblique upside by a plurality of cameras, relative to each test tube without being interfered by adjacent test tubes, and a plurality of data are synthesized and corrected, to thereby read the bar codes. 本発明は試験管ラックに収められたバーコード付の試験管群をそのままの状態で、隣接する試験管に妨害されず、斜め上方から試験管一本毎複数のカメラで撮影し、その複数のデータを合成ないし補正して正確に読取る方法である。 - 特許庁
To provide a sample test system and a sample testmethod that can simply and reliably batch-change the setting conditions of a plurality of test apparatuses to the same setting conditions, in facilities, such as a testing center having a plurality of test apparatuses of the same type. 検査センターなどの同一種類の検査装置を複数台有する施設において、複数の検査装置の設定条件を労することなく確実に、かつ一括してその設定条件を同一設定条件に変更できる検体検査システムおよび検体検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a software test support device, a software test support method and a program, for extracting information on a GUI (Graphical User Interface) such as a direct button from an application and determining a factor or a level so as to create a test item of the application having the GUI, and automatically executing a test. GUIを持つアプリケーションのテスト項目作成のため、当該アプリケーションから直接ボタン等のGUIに関する情報を抽出して因子・水準を決定し、テストの実行を自動的に行うソフトウェアテスト支援装置、ソフトウェアテスト支援方法、及びプログラムを提供する。 - 特許庁