「Test method」を含む例文一覧(8060)
＜前へ 1 2 .... 88 89 90 91 92 93 94 95 96 .... 161 162 次へ＞- ALIGNMENT APPARATUS FOR ALIGNING MULTIPLE LIGHT SOURCE OUTPUTS OF OPTICAL SERVO SYSTEM, ALIGNMENT TEST TAPE, ALIGNMENT TEST TARGET AND METHOD FOR ALIGNING OPTICAL SERVO SYSTEM
光サーボシステムの複数の光源出力を整列させるための整列機器、整列検査テープおよび整列検査対象、ならびに光サーボシステムを整列させる方法 - 特許庁 - To provide a test device and a test method for a carbon dioxide recovery system, by which more useful data are acquired for the practical application of a carbon dioxide recovery system.
二酸化炭素回収システムの実用化に向けてより有用なデータを取得することができる二酸化炭素回収システムの試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a buckling resistance evaluation method of a conveyor belt constituted so as to simply evaluate the buckling resistance of the conveyor belt without performing the bending test or the like of a test sample.
試験サンプルの屈曲試験等を行なうことなく、簡便にコンベヤベルトの耐座屈性を評価できるようにしたコンベヤベルトの耐座屈性評価方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of automatically providing lab test results in the format optimal for the office having ordered the lab test using communications between document processing devices.
文書処理装置間の通信を用いて、臨床検査結果を、臨床検査を命じたオフィスにとって最適なフォーマットで自動的に提供する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method of a Coriolis mass flowmeter capable of performing a functional test regardless of a medium flowing through a measuring tube.
本発明の目的は、測定チューブを流れる媒体に無関係に、機能的テストを実行することできるコリオリ質量流量計のテスト方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device having a plurality of test modes, in which a set test mode is reliably determined, and to provide a method for testing the semiconductor device.
複数のテストモードを有する半導体装置において、設定されたテストモードを確実に判定できる半導体装置及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁 - This method also includes a step of performing a test among the domains and implementing a second subset of the domain of the plurality of circuits provided with the dynamic defect detection test pattern.
本方法はまた、ドメイン間テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第２サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁 - In this disintegration test method, a tablet 1 is put on a mesh 2 and a disintegration test liquid 3 is dropped from above the tablet 1 onto the tablet 1, to make the tablet 1 disintegrate.
錠剤１をメッシュ２上に置き、錠剤１の上方から崩壊試験液３を錠剤１へ落下させることで錠剤１を崩壊させる崩壊試験方法。 - 特許庁 - To provide a testing device and a test method of a semiconductor integrated circuit capable of improving operability and convenience of a BOST device, and shortening a test time.
ＢＯＳＴ装置の操作性、利便性を向上すると共に、試験時間を短縮することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - The calcined dolomite preferably has high activity of 280 mL/10 min or more according to coarse grain titration test (standard test method according to JAPAN LIME ASSOCIATION).
軽焼ドロマイトは、粗粒滴定試験（日本石灰協会標準試験方法）による活性度が１０分値で２８０ｍＬ以上の高活性のものが好ましい。 - 特許庁 - The method evaluates the effect of the test substance against biofunctions by breeding a nematode in a culture medium containing a microcapsule with the test substance sealed thereinto.
本発明は、被検物質を封入したマイクロカプセルを含有する培地中で線虫を飼育することで、経口摂取した被検物質の生物機能に対する効果を評価する。 - 特許庁 - CONNECTION TESTING APPARATUS FOR COMMUNICATION DEVICE, CONNECTION TEST SOFTWARE, COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM WITH THE SOFTWARE STORED THEREON, CONNECTION TESTING METHOD AND CONNECTION TEST COMPUTER SYSTEM
通信装置の接続試験装置、接続試験ソフトウエア、該ソフトウエアを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、接続試験方法及び接続試験コンピュータシステム - 特許庁 - To provide a medium for a bioburden or sterility test of antibiotic substances or an environment test in an antibiotic substance production area and provide a method for using the medium.
抗生物質のバイオバーデンもしくは無菌テスト用又は抗生物質製造区域における環境試験用の培地及びこのような培地を用いる方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit device and its test method permitting timing control at high accuracy and improving failure detection rate by fewer test patterns.
高い精度でのタイミング制御を可能にしつつ、少ないテストパタンにより故障検出率の改善を図った半導体集積回路装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test system, a semiconductor integrated circuit, and a test method, capable of easily performing failure analysis of a semiconductor integrated circuit based on a signature.
シグネチャに基づいて、半導体集積回路の故障解析を容易に行うことができるテストシステム、半導体集積回路及びテスト方法を提供すること - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit in which power consumption is low and a sure operation margin test can be performed and a test method for semiconductor integrated circuit.
低消費電力で、かつ確実な動作マージン試験が可能な半導体集積回路及び半導体集積回路のテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The method includes selecting the execution behavior for executing a step or action in the test case and sending the execution behavior to the test case for execution.
この方法は、テストケース中のステップまたはアクションを実行する実行挙動を選択すること、および実行挙動を実行のためにテストケースに送ることを含む。 - 特許庁 - To provide a disk device which can perform test writing at high recording linear velocity surely to a disk on which a test writing area is provided even at an outer peripheral side, a method and a disk.
外周側にも試し書領域を設けたディスクに、高記録線速度での試し書きを確実に行なえるディスク装置と方法及びディスクを提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for an automatic permeability test, wherein a change in a water level coming into contact with a fluctuating negative-pressure space can be measured precisely in a constant water level-type permeability test.
定水位式の透水試験において変動負圧空間と接する水位の変動を正確に測定できる自動透水試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a circuit switching device for a CT primary test and its switching method that shortens a working time for the CT primary test and prevent an electric shock to a worker.
ＣＴ１次試験の作業時間の短縮及び作業員の感電防止を図ることができるＣＴ１次試験用回路切替装置及び切替方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test device and a test method for simulating a dynamic pressure to an article exposed to caustic/corrosive fluid during actual use.
本発明は、物品の実際の用途において苛性又は腐食性流体に暴露される物品に動的圧力をシミュレートする試験装置及び方法に関する。 - 特許庁 - To provide a method of dispensing a test strip in which a dispensed test strip remains stationary while an inner housing moves within an outer housing.
試験片を供給する方法であって、内部ハウジングが外部ハウジング内で移動する間、供給される試験片は固定した状態である方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device in which shortening and optimization of a write time are realized, and area can be reduced, and to provide a test board, and a test method.
書き込み時間の短縮及び最適化を実現し、電源回路の面積縮小を図ることができる半導体記憶装置、検査ボード、検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an extraction method capable of optimizing a test pattern by increasing the number of don't care values included in an external input value in the test pattern for a logic circuit.
論理回路に対するテストパターンにおける外部入力値に含まれるドントケア値の数を多くし、テストパターンの最適化を図ることが可能な抽出方法を提供する。 - 特許庁 - TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION PROGRAM, MODEL BASE DEVELOPMENT PROGRAM, DEVICE AND PROGRAM FOR DIAGNOSING VALIDITY OF SOURCE CODE GENERATION, AND METHOD FOR DEVELOPING MODEL BASE
テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、モデルベース開発プログラム、ソースコード生成妥当性診断装置、ソースコード生成妥当性診断プログラム、およびモデルベース開発方法。 - 特許庁 - This method includes a step in which a reinitialization mode is performed while examining the recorder/player by using a disk for test having test reference information and a physical defect and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted form the test reference information and the physical defect is compared with the test information and verification results about the test information are provided.
テスト基準情報と物理的な欠陥を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検定をしながら再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報と物理的な欠陥により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.
半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.
単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an image processor and its method which takes into consideration printing of a color test chart solving the problem that although the color test chart has many signals of ≥300% in the sum of density signals that a printer do not guarantee, simple toner reduction results in that a color test chart which is effective in grasping device colors can not be obtained.
カラーテストチャートにはプリンタが保証しない、濃度信号の和が３００％以上の信号も多数存在するが、単純にトナーリダクションすると、デバイス色を把握するために有効なカラーテストチャートは得られない。 - 特許庁 - In the colorimetric method of a test print TP, concentration of the test print TP is measured (S2) and with colorimetric values, obtained as the result of measurement, in both terminal portions of the test print TP as a reference, colorimetric positions of the respective colorimetric values are corrected, respectively (S5).
テストプリントＴＰの測色方法では、テストプリントＴＰの濃度測定を行なって、その結果得られたテストプリントＴＰの両端部における測色値を基準にして各測色値の測色位置をそれぞれ補正する。 - 特許庁 - To provide a method for supporting the confirmation of a sales test result of an automatic vending machine for easily and surely confirming the sales test result by confirming a selected selecting means even after the selection even if a commodity is dispensed in a sales test mode.
販売テストモードにおいて、商品が払い出されても、選択した選択手段を後からでも確認でき、販売テストの確認動作を容易かつ確実に行える自動販売機の販売テスト確認支援方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a memory device in which data stored in a memory cell array are compared with test data stored in the memory device or inverted data of the test data to detect defect of the memory device and to provide a parallel bit test method of the memory device.
メモリセルアレイに貯蔵されたデータをメモリ装置の内部に貯蔵されたテストデータまたはテストデータの反転データと比較してメモリ装置の不良を検出するメモリ装置及びこの装置の並列ビットテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To accurately measure pause times by simultaneously finishing a test sequence in a plurality of memories through a small scale circuit addition, in a memory pause test method and test circuit for a semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路のメモリポーズテスト方法およびテスト回路において、小規模な回路の増加で、複数のメモリのテストシーケンスを同時に完了させることが可能となり、正確にポーズタイム測定が可能となることを目的とする。 - 特許庁 - To provide a portable terminal device for confirming the normality of an electronic mail, regardless of the interposition of a test operator when automatically performing the communication test work of the portable terminal device, and also to provide a communication test system and the method thereof.
携帯端末装置の通信試験作業を自動で行う場合に試験操作者が介在しなくても、電子メールの正常性を確認することが可能な携帯端末装置及び通信試験システム及びその方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a link power control test method of a mobile communication system, enabling acquisition of an effect in a test room similar to an actual field test by replacing a radio path between a base station and a mobile station with an attenuator.
基地局と移動局との間の無線経路を減衰器に取り替えることにより、試験室内で実際にフィールドで試験するごとき効果を得るようにした移動通信システムのリンク電力制御試験法を提供する。 - 特許庁 - To provide an alternative test method by which the execution of an animal test in the development of medical device such as a wound dressing material is reduced as much as possible or evaded, or the support or opposition of requirement of the animal test can be determined.
創傷被覆材などの医療機器の開発における動物試験の実施を極力低減する若しくは回避する又は動物実験の必要性の可否判断ができる代替試験法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide electronic equipment, and a test device and a test method for the electronic equipment that can advance a test on a communication function or the like using a device ID even when the device ID to be read shows an abnormal value owing to an unwritten condition or the like.
読み出すべき装置ＩＤが未書込等により異常値を示す場合であっても、それを使用すべき通信機能等のテストを進めることができる電子機器並びに電子機器のテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR DETERMINING TEST TARGET, AND NETWORK MONITORING SYSTEM
試験対象決定装置、試験対象決定方法、試験対象決定プログラム及びネットワーク監視システム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR ACQUIRING IMAGE OF TEST SAMPLE OF BIOLOGICAL ORIGIN USING OPTICAL IMAGING MEANS
生物由来の被験試料の画像を、光学的結像手段を用いて取得する方法及び装置 - 特許庁 - To provide a sheet-mounted chip whose complete operation test is made in chip units, and also to provide a method for manufacturing the sheet-mounted chip.
チップ単位で完全な動作テストが可能なシートマウントチップおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - WATER-WASHABLE WATER-BASED PENETRANT FOR LIQUID PENETRANT TEST, AND LIQUID PENETRANT TESTING METHOD USING PENETRANT
浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法 - 特許庁 - To provide a method of testing an electric fuse capable of shortening test time, and to provide an electric fuse circuit.
テスト時間を短縮することのできる、電気ヒューズのテスト方法、及び電気ヒューズ回路を提供する。 - 特許庁 - To provide an integrated circuit chip including a test element group (TEG) circuit and then to provide its fabrication method.
テスト素子グループ（ＴＥＧ）回路を含む集積回路チップ及びそれの製造方法を提供する。 - 特許庁 - TEST OR INSPECTION METHOD FOR WATER SUPPLY PIPE FOR DRY TYPE FIRE EXTINGUISHING AND WATER SUPPLY AND SUCTION UNIT FOR USE IN IT
乾式消火用送水管の試験又は点検方法とその方法に用いる送吸水ユニット - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR IMPLEMENTING AT LEAST ONE OF TEST OF, DIAGNOSIS, AND OBSERVATION OF OPERATION OF ELECTRONIC CIRCUIT
電子回路の動作の試験、診断および観測の少なくとも１つを行う方法および装置 - 特許庁 - This method dispenses with an identification test, and it is easily applicable to a multi-degree-of-freedom manipulator.
この方法は同定試験などを必要とせず、また多自由度マニピュレータへの適用も容易である。 - 特許庁 - To provide a circuit block testing method in an integrated circuit capable of carrying out a test in a short time.
短時間でテストを行うことができる集積回路における回路ブロック試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide the test recording method capable of reproducing the information without error by reducing the influence of crosserase.
クロスイレーズの影響を小さくし、情報をエラーなく再生できるテスト記録方法を提供する。 - 特許庁 - EXCITATION APPARATUS FOR DOWNWARD ELASTIC WAVE TEST AND DOWNWARD ELASTIC WAVE TESTING METHOD USING THE SAME
下向き式弾性波試験のための加振装置及びこれを用いた下向き式弾性波試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING RESIDUAL PROPERTY OF TEST SUBSTANCE IN BODY, NUCLEIC ACID, PROTEIN, CELL AND PROBE-IMMOBILIZING CHIP
被検物質の体内残留性を検出する方法、核酸、蛋白質、細胞およびプローブ固定化チップ - 特許庁
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