「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 91 92 93 94 95 96 97 98 99 .... 161 162 次へ＞- To provide a novel method for a performance test determining fine particle removal performance of a membrane and for a non-destructive integrity test confirming that the membrane after use is within a preset range in terms of the fine particle removal performance, a test reagent applied to the tests, and a method for producing the reagent.
膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a luminescent BOD measuring method capable of quickly and sensitively measuring the BOD of test water with an easy method requiring no skill even if a hardly decomposable material is present in the test water or even in the case of test water having a low concentration of BOD of 5 mg/l or less.
検水中に難分解物質が存在しても、またＢＯＤが５ｍｇ／ｌ以下のような低濃度の検水であっても、熟練を要しない簡単な操作で、迅速にかつ高感度で検水のＢＯＤを測定できる発光式ＢＯＤ測定方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a primer, probe, microarray for detecting mutation of c.4957-4958InsA, a novel genetic mutation of a gene EYS responsible for retinitis pigmentosa (RP), a test kit having the same, a test method for genetic mutation responsible for RP, and a test method for genetic sensitivity to RP.
網膜色素変性原因遺伝子ＥＹＳの新規遺伝子変異であるｃ．４９５７＿４９５８ＩｎｓＡ変異を検出するためのプライマー、プローブ、マイクロアレイ、及び、これらを備える検出キット、並びに、ＲＰ原因遺伝子変異の検査方法、ＲＰへの遺伝的感受性の検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an automatic generating method for a LSI test pattern program which can generate automatically a test pattern program easily when capacity, the number of I/O, and the like are changed, its device, and a LSI test method, in a semiconductor memory such as a DRAM, a SRAM, a FLASH, or the like.
ＤＲＡＭやＳＲＡＭやＦＬＡＳＨなどの半導体メモリにおいて、容量やＩ／Ｏ数などが変更されたとき容易にテストパターンプログラムを自動生成できるようにしたＬＳＩテストパターンプログラム自動生成方法およびその装置並びにＬＳＩテスト方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and its test method for preventing the deterioration of reliability due to any pad crack, by changing a test method for testing a wafer and the layers of pads to be connected at the time of test and the layers of pads to be used at the time of completing all processes in the middle of a metal diffusion process.
メタル拡散工程の途中段階で、ウェハを試験するテスト手法及びテスト時に接続するパッドと全ての工程完了時に使用するパッドの層を変更し、パッドクラックによる信頼性劣化を防ぐ半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method of a control program, which is capable of easily checking whether the control program mounted on a control model or an electronic control unit is abnormal or not when performing model base development and to provide a test device and a test program for use in this method.
モデルベース開発を行うにあたって、制御モデルや電子制御装置に実装された制御プログラムの異常の有無を簡易に検査することのできる制御プログラムの検査方法、及び該制御プログラムの検査に用いる検査装置及び検査プログラムを提供する。 - 特許庁 - METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR IDENTIFYING SURFACE PROFILE OF ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST BODY, AND METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST, INCORPORATED WITH IDENTIFICATION OF SURFACE PROFILE OF ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST BODY
超音波探傷試験体の表面形状同定方法、表面形状同定装置及び表面形状同定プログラム、並びに、超音波探傷試験体の表面形状同定処理を組み込んだ超音波探傷試験方法、超音波探傷試験装置及び超音波探傷試験プログラム - 特許庁 - To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.
ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁 - In the hub, memory module, memory system and reading method and writing method, test writing and test reading can be carried out on all the memory modules, memory devices and memory units by bypassing identification information on the memory modules, memory devices and memory units in a test mode.
ハブ、メモリモジュール、メモリシステム、及びこれについての読み込み方法及び書き込み方法は、テストモードである時には、メモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニット識別情報を無視することにより、全てのメモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニットにテスト書き込み又はテスト読み込みを行うことができる。 - 特許庁 - INPUT/OUTPUT TRANSFORMER, TEST METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE, AND ELECTRICAL QUANTITY INPUT/OUTPUT METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE
入出力変成器、電力用保護制御装置の試験方法、並びに電力用保護制御装置の電気量入出力方法。 - 特許庁 - DURABILITY JUDGMENT METHOD OF EXISTING METAL PIPING BY RADIATION TRANSMISSION INSPECTION METHOD AND TEST PIECE FOR IT
放射線透過検査方法を用いて行う既設金属配管の耐用度判定方法及びこの方法の実施に用いられる試験体 - 特許庁 - CORBA CLIENT SYSTEM AND PROGRAM AND METHOD FOR CONFIGURING CORBA TEST SYSTEM AND METHOD FOR CALLING OBJECT OPERATION OF CORBA CLIENT
ＣＯＲＢＡクライアントシステムとプログラムおよびＣＯＲＢＡ試験システムの構成方法とＣＯＲＢＡクライアントのオブジェクトオペレーション呼出方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING TEST VECTOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD AND APPARATUS FOR VERIFYING SAME
半導体集積回路のテストベクタ評価方法、検証方法、並びに半導体集積回路のテストベクタ評価装置及び検証装置 - 特許庁 - To reduce the test time period by a convenient testing method about a method of testing the durability of exhaust purification devices for vehicles.
車両用排気浄化装置の耐久試験方法に関し、簡便な試験方法によって試験期間を短縮できるようにする。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING ENVIRONMENTAL HORMONE TOXICITY INDUCED BY METABOLISM OF TEST SUBSTANCE AND APPARATUS AND KIT FOR PERFORMING THE METHOD
被検物質の代謝により誘導される環境ホルモン毒性を検出する方法、並びにその方法を行うための装置およびキット - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING ALUMINUM TITANATE BASED SINTERED COMPACT AND POROUS CERAMICS SHAPED BODY, AND TEST METHOD OF POROUS CERAMICS SHAPED BODY
チタン酸アルミニウム系焼成体の製造方法および多孔質セラミックス成形体、ならびに多孔質セラミックス成形体の試験方法 - 特許庁 - SOFTWARE TEST SYSTEM, METHOD, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM HAVING PROGRAM STORED FOR EXECUTING THIS METHOD
ソフトウェアテストシステム、ソフトウェアのテスト方法、および、そのテスト方法を実行するためのプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH TEMPERATURE DETECTION FUNCTION AND TEST METHOD, AND CONTROL METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY PROVIDED WITH TEMPERATURE DETECTION FUNCTION
温度検出機能を備えた半導体装置、試験方法、及び温度検出機能を備えた半導体記憶装置のリフレッシュ制御方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF ELECTROSTATIC DISCHARGE RESISTANCE CHARACTERISTIC, ELECTROSTATIC DESTRUCTION TEST METHOD, AND PULSE VOLTAGE APPLICATION CIRCUIT ATTAINING THEIR METHODS
静電気放電耐性特性の測定方法並びに静電気破壊試験方法及びこれらの方法を実現するパルス電圧印加回路 - 特許庁 - TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE RESCUE-ANALYZED BY THE METHOD, AND GENERATING METHOD FOR RESCUE COMBINATION TABLE USED FOR THE METHOD AND ITS DEVICE
半導体装置試験方法とその装置、その方法によって救済解析が行われた半導体装置、およびその方法に使用する救済組み合わせテーブル生成方法とその装置 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING CORROSIVE ENVIRONMENT OF MOBILE BODY, DESIGN METHOD, METHOD FOR CORROSION TEST OF MATERIAL OF MOBILE BODY, SELECTION METHOD, SURFACE TREATED STEEL SHEET, AND ANTI-CORROSION STEEL PRODUCT
移動体の腐食環境計測方法および設計方法ならびに移動体材料の腐食試験方法および選定方法ならびに表面処理鋼板および耐食鋼材。 - 特許庁 - To provide a visual acuity chart to objectively evaluate a human being's ability to see, incorporating anew an examination of the quality of sight into a visual acuity test method in which there is only a test method based on decimal visual acuity.
小数視力による検査方法しかなかった視力検査方法に、新たに見え方の質の検査を取り入れ、人間の視る能力をより客観的に評価する検査表を提供することである。 - 特許庁 - To provide a system and method which are useful at the time of determining whether evaluation and test methods or equipment is clinically equivalent to a standard test method or equipment, and to provide a computer-readable medium for instruction.
評価試験方法または機器が基準試験方法または機器と臨床的に等価であるかどうかを判定する際に役立つ、システム、方法、および命令のコンピュータ読取り可能媒体を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card and a test method of a device to be inspected, wherein bumps which do not join a package substrate during a reflow time are not generated, even when each height of an electrode group of a device has a difference, and to provide a test method for a device to be inspected.
デバイスの電極群の高さに差が生じている場合であっても、リフロー時にパッケージ基板と接合しないバンプが発生することのない、プローブカード及び被検査装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a contact resistance measuring method of a probe and a test method of a semiconductor device capable of preventing decline of test efficiency, and measuring accurately a contact resistance value.
試験効率の低下を防ぐことができると共に、正確に接触抵抗値を測定することができるプローブの接触抵抗測定方法及び半導体デバイスの試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a test method for water spraying on two-wheeled vehicle and a test method for water spraying on gas sensor in which experiments of higher precision are conducted by generating condensed water by a suitable amount matching actual situations.
実際の状況にあった好適な量の凝縮水を発生させて、より精度の高い実験を行うことができる２輪車の被水試験方法及びガスセンサの被水試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of detecting undersupply of a test element to be analyzed and a method of compensating for undersupply thereof if needed, and to provide an analyzing apparatus and a test element suitable for detecting undersupply.
本発明は、分析テストエレメントの過少配量の検出および必要な場合は過少配量の補償のための方法と、過少配量の検出に好適である分析装置およびテストエレメントを提供することである。 - 特許庁 - To provide a ground test method for an aircraft allowing feeding a uniform air flow in an engine and an air intake straightening duct used for the method with a simple structure in a shed type aircraft ground test facility.
簡易な構成により格納型航空機地上試験設備において、一様な流れの空気をエンジンに供給できる航空機の地上試験方法およびそれに用いる吸気整流ダクトを提供する - 特許庁 - To provide a method for preventing a test mammalian animal subject from Neisseria meningitidis serogroup B (MenB), and/or a method for preventing the test mammalian animal subject from E. coli K1 disease.
哺乳動物被験体において、Ｎｅｉｓｓｅｒｉａ ｍｅｎｉｎｇｉｔｉｄｉｓ血清型Ｂを予防するための方法、および／または、哺乳動物被験体において、Ｅ．ｃｏｌｉ Ｋ１疾患を予防するための方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device and its test method which can perform a manufacturing test easily and surely by simple constitution and method in a semiconductor memory device making a latch circuit a storage element.
ラッチ回路を記憶素子とする半導体記憶装置であって、簡易な構成及び方法により容易かつ確実に製造テストを実施することのできる半導体記憶装置とその試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test piece preparing method capable of controlling a hydrogen concentration in metal and a deposit situation of a hydride, to some extent, and allowing easily hydrogenation, and a test piece prepared by the preparing method.
金属中水素濃度及び水素化物の析出形態をある程度制御可能で、かつ簡便な水素添加が可能な試験片作成方法、およびその作成方法で製作された試験片を得ること。 - 特許庁 - To provide a sheet for a color reproduction determination test capable of determining color reproduction on a determination object printed matter by a simple constitution, and to provide a method for manufacturing the sheet, and a color reproduction determination test method.
簡便な構成で、判定対象被印刷物の色再現を、判定することが可能な色再現判定試験用シート、その製造方法、及び色再現判定試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a test piece forming system and a method for measuring a cone index, and a system and a method for measuring the cone index capable of forming a test piece for measuring a cone index or measuring the cone index more effectively than a JIS method.
ＪＩＳの手法よりもより効率的にコーン指数計測用の供試体の生成やコーン指数の計測を行うことが可能なコーン指数計測用の供試体生成システムおよび方法並びにコーン指数計測システムおよび方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a forming method of an outgoing wiring, which effects the forming of leader wiring and connection to a substrate simultaneously while retaining collimation between a test piece and the substrate, and a manufacturing method of the test piece for scanning-type probe microscope to which this forming method is applied.
引出配線の形成と基板との接合を同時に行い、かつ試料と基板の平行性を保持する引出配線の形成方法及びこの形成方法を適用した走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁 - The line test method and line test apparatus are configured such that the line test apparatus 46 is provided between an Ethernet exchange 42 and a facility of a base end 44, the network management system of the base end 44 uses the line test apparatus 46 to apply 3-layer line tests to a housing complex network system.
イーサーネット交換器４２と基地端４４との設備間に回線テスト装置４６を設け、それによって基地端４４のネットワーク管理システムはその回線テスト装置４６を使用し、団地ネットワークシステムに対する三層の回線テストを行うことができる回線テスト方法および回線テスト装置である。 - 特許庁 - The method further includes the reception of the vendor provision test module, the read-out of the module integration information from the vendor provision test module in accordance with the component category, and the integration of the vendor provision test module into the modular test system, based on the module integration information, using the C&D framework.
この方法は、ベンダ提供試験モジュールを受け取ること、コンポーネントカテゴリに従ってベンダ提供試験モジュールからモジュール統合情報を取り出すこと、及びＣ＆Ｄフレームワークを使用してモジュール統合情報に基づきベンダ提供試験モジュールをモジュール式試験システムに統合することをさらに含む。 - 特許庁 - The method for measuring impact absorption energy using the machine for testing impact of dropping weight, measures the impact absorption energy of a test specimen by using the kinetic energy when a dropping weight is freely fallen without colliding the weight to the test specimen and the kinetic energy after the weight is collided to the test specimen and the test specimen is broken.
落錘式衝撃試験機を用いた衝撃吸収エネルギーの測定方法であって、落錘を試験片に衝突させずに自由落下させた際の運動エネルギーと、落錘が試験片に衝突し、破断させた後の運動エネルギーを用いて、当該試験片の衝撃吸収エネルギーを測定する。 - 特許庁 - In this screen printing method, the actual results of printing to a production substrate are accumulated as templates and the templates are used or the results of test printing are analyzed using a test substrate, a test screen mask and a test paste, and the analytical results are registered as the templates; and the printing conditions are set up based on the template data, when the actual production is started.
実際の生産基板の印刷結果をテンプレートとして蓄積し、これを利用するかまたはテスト用基板とテストスクリーンマスクおよびテストペーストを使用しテスト印刷の結果を解析し、その結果をテンプレートとして登録し、実生産を始める際にはそのテンプレートデータをもとにして印刷条件を設定する。 - 特許庁 - In this burn-in test method for collectively testing two or more objects to be tested having test patterns, at least two objects to be tested are simultaneously designated during burn in, the test patterns are read from the parts to be tested, and the test patterns read after the burn in are compared with an expectation value pattern.
テストパターンを有する被試験対象物を複数個まとめてテストするバーンインテスト方法において、バーンインの間、少なくとも２以上の該被試験対象物を同時に指定し、当該被試験対象部品から該テストパターンを読み出し、該バーンイン後に読み出したテストパターンと、期待値パターンとの比較を行うよう、構成する。 - 特許庁 - The method includes (A) a step of inserting a test point into an object node in a designed circuit, (B) a step of specifying a delay time for a path (test point path) connecting with the test point, and (C) a step of laying out the designed circuit so that the delay time of the test point path is the specified delay time.
その設計方法は、（Ａ）設計回路中の対象ノードに対してテストポイントを挿入するステップと、（Ｂ）そのテストポイントにつながるパス（テストポイントパス）に対して遅延時間を指定するステップと、（Ｃ）そのテストポイントパスの遅延時間が上記指定された遅延時間になるように、設計回路のレイアウトを行なうステップと、を有する。 - 特許庁 - The degradation test method of this invention is employed for evaluation of light resistivity of an target to be tested, for irradiation of the test target region in the target to be tested with a laser beam for expediting degradation and for the direct drawing of test information in other region than the test target region in the target to be tested by using the laser beam.
本発明の劣化試験方法は、被検物の耐光性評価のための劣化試験方法であって、劣化促進用のレーザ光を被検物における試験対象領域に照射するとともに、被検物における試験対象領域とは別の領域に、レーザ光を用いて試験情報を直接描画する。 - 特許庁 - The chromatography analytical method includes the steps of: fixing a reactant (for example, a biomaterial such as a capture antibody 4, and the like) reacting to a test material 5 to a predetermined position; developing a test solution 6 containing the test material 5; and combining and detecting the test material 5 by a reaction to the reactant (for example, an antigen-antibody reaction to the capture antibody 4).
所定の位置に被検物質５と反応する反応物質（例えば捕捉抗体４等の生体材料）が固定され、被検物質５を含む被験溶液６を展開し、反応物質との反応（例えば捕捉抗体４との抗原抗体反応）により被検物質５を結合し検出するクロマト分析法である。 - 特許庁 - This service providing method for providing a vessel filled with culture medium to a test institute 2 which tests the existence of a colon bacillus or the like is characterized by carrying out the sterilization/washing in the vessel, the filling of the culture medium in the vessel and the performance test of the culture medium, and shipping the vessel containing test reagent which has passed the performance test.
大腸菌等の存在を検査する試験機関２に培地を充填した容器を提供するサービス提供方法であって、容器内の減菌・洗浄、容器への培地の充填、その培地の性能試験を行い、その性能試験に合格した検査試薬入り容器を出荷することを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a method for testing airtightness performance capable of performing an accurate airtightness performance test even when leaking quantity increases under a minute pressure condition and a test pressure greatly drops, and in addition capable of rapidly and surely obtaining a test result even when conditions such as internal volume, detecting time, and a test pressure change.
微圧条件下で漏れ量が大きくなりテスト圧が大きく降下するような場合でも正確な気密性能試験を行うことが可能であり、加えて、内容積、検出時間、テスト圧等の条件が変わったとしても迅速かつ確実に試験結果を得ることのできる気密性能測定方法を提供すること。 - 特許庁 - The method for deciding the write current for the magnetic memory cell includes a step for supplying test write current for the test magnetic memory cell, a step for determining the response to the switching for the test magnetic memory cell by detecting a magnetization state for the test magnetic memory cell and a step for generating the write current having the quantity dependent on the switching response.
磁気メモリセルのための書込み電流を決定するための方法は、テスト磁気メモリセルにテスト書込み電流を供給するステップと、テスト磁気メモリセルの磁気状態を検知してテスト磁気メモリセルの切替え応答を判定するステップと、切替え応答に依存する量を有する書込み電流を生成するステップを含む。 - 特許庁 - In this turnover decision method, a vertical acceleration Ao of a trunk of a test subject is calculated on the basis of an angular velocity and an acceleration detected by sensors installed to the trunk of the test subject, and vertical displacement ΔZ of the trunk of the test subject is calculated on the basis of the vertical acceleration Ao of the trunk of the test subject.
本発明に係る転倒判定方法は、被験者の体幹に取り付けたセンサで検知された加速度及び角速度に基づいて被験者の体幹の鉛直加速度Ａｏを算出し、被験者の体幹の鉛直加速度Ａｏに基づいて被験者の体幹の鉛直変位ΔＺを算出する。 - 特許庁 - To provide an electric part test system and electric part test method, capable of presenting an electric part with high probability of defective to a user more quickly than before when the detected electric part is judged to be defective in a test for the electric part.
電気部品のテストにおいて不良と判断されたときに不良である確率が高い電気部品を従来よりも早く検出電気部品をユーザへ提示することができる電気部品テストシステムおよび電気部品テスト方法を提供する。 - 特許庁 - A test method has a step selecting a circuit form of a test so that the same tiles are programmed in the same way as much as possible, and a step programming simultaneously and erasing simultaneously plural memory rows corresponding to the tile in a circuit form of a test.
テスト方法は、同一のタイルはできるだけ同一にプログラムされるようにテストの回路形態を選択するステップと、該タイルに対応する複数のメモリ行を、該テストの回路形態に、同時にプログラム及び同時に消去するステップとを有する。 - 特許庁 - To enable to retrieve failure factors by automatically changing test conditions at a high speed, regarding a device test estimating system and its method which retrieve failure factors of a device to be measured like an LSI (large scale integrated circuit) and perform test estimation.
ＬＳＩデバイス等の被測定デバイスの不良要因を検索して試験評価を行うためのデバイス試験評価システムおよびその方法に関し、自動的にかつ高速に試験条件を可変にして不良要因を検索することを目的とする。 - 特許庁 - In the method for evaluating the corrosion fatigue damage, a load is repeatedly applied to a surface of the test strip having a corrosion medium introduced in a space formed inside the test strip, and a surface and/or a cross section of the inside space of the test strip is observed after applying the load.
内部に形成した空間に腐食媒体を導入した試験片の表面に、繰り返し荷重を掛け、該荷重を掛けた後の試験片の内部空間の表面および／または断面を観察する腐食疲労損傷の評価方法である。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
