「Test method」を含む例文一覧(8060)
＜前へ 1 2 .... 86 87 88 89 90 91 92 93 94 .... 161 162 次へ＞- To provide a sample test system and a sample test method that can simply and reliably batch-change the setting conditions of a plurality of test apparatuses to the same setting conditions, in facilities, such as a testing center having a plurality of test apparatuses of the same type.
検査センターなどの同一種類の検査装置を複数台有する施設において、複数の検査装置の設定条件を労することなく確実に、かつ一括してその設定条件を同一設定条件に変更できる検体検査システムおよび検体検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a software test support device, a software test support method and a program, for extracting information on a GUI (Graphical User Interface) such as a direct button from an application and determining a factor or a level so as to create a test item of the application having the GUI, and automatically executing a test.
ＧＵＩを持つアプリケーションのテスト項目作成のため、当該アプリケーションから直接ボタン等のＧＵＩに関する情報を抽出して因子・水準を決定し、テストの実行を自動的に行うソフトウェアテスト支援装置、ソフトウェアテスト支援方法、及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a test method of side slip or the like of a vehicle and its testing device having a simple formation and a small size, capable of improving test precision by releasing before the test an initial stress of wheels loaded on a test roller, being manufactured inexpensively, and improving its service life.
テスト用ローラに乗り込んだ車輪の初期応力を試験前に解放し、試験精度の向上を図るとともに、構成が簡単で小形かつ安価に製作でき、その寿命の向上を図れるようにした、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁 - To provide a test circuit for hysteresis voltage width measurement and a measuring method of the hysteresis voltage width capable of simplifying the test circuit by dispensing with installation of a mode decoder for test signal selection, and suppressing to the minimum the increase of a chip area for the test circuit.
テスト信号選択用のモードデコーダを設けなくて済んでテスト回路を簡略化することができるとともに、テスト回路のためのチップ面積の増加を最小限に抑えることができるヒステリシス電圧幅測定用のテスト回路およびそのヒステリシス電圧幅の測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory test pattern forming method by which an accurate semiconductor memory test pattern can be made based on semiconductor memory designer's semiconductor memory test specifications and its verification is facilitated and the semiconductor memory test specifications can also be formed.
半導体メモリ設計者の半導体メモリ試験仕様にもとづいて正確な半導体メモリ試験パターンを作成することができ、その検証を容易になし得ると共に、半導体メモリ試験仕様書も生成することができる半導体メモリ試験パターンの作成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive semiconductor testing device which saves a test pattern storage memory by generating a fast clock while generating a test pattern in slow test cycles and is further slow and small in the storage capacity of a test pattern storage circuit, and a semiconductor testing method using the device.
低速なテスト周期でテストパターンを作成しながら高速なクロックを発生させることでテストパターン格納メモリの節約を実現し、さらに低速かつテストパターン記憶回路の記憶容量が少ない安価な半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a tester and a test method for a semiconductor device to obtain appropriate test results on respective electrical characteristics, without providing equipment for obtaining a constant temperature state or expending time in measuring temperature characteristics on a huge number of test items or in changing test details.
恒温状態のための設備を設けたり、膨大な試験項目の温度特性の測定や試験内容の変更に時間を費やすことなく、各電気的特性に対し適切な試験結果が得られる半導体装置の試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To obtain an expiration test reagent which is safe for human bodies, shortens a time from the administration of the expiration test reagent to the collection of exhaled air, and can clearly discriminate a patient having a liver disease and a healthy person, to provide an expiration test reagent kit, and to provide an expiration test method.
人体に安全であり、呼気検査試薬の投与から呼気の採取までの時間が短く、健常人と肝臓疾患を有する患者とを明確に判定できる呼気検査用試薬、呼気検査用試薬キット、及び呼気検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - In the bending property evaluation method for a flexible wiring board, one end of a test piece of the flexible wiring board is loosely held, the other end of the test piece is held with a gap in a thickness direction, and the test piece is oscillated in both directions in the thickness direction about a center where no load is applied to the test piece.
フレキシブル配線板の試験片の一端側を緩く保持し、かつ該試験片の他端側を厚み方向に隙間を開けつつ保持し、負荷のかからない状態を中心として該厚み方向に両方向に振幅させるフレキシブル配線板の曲げ性評価方法である。 - 特許庁 - To provide a test method for testing a servo area of a magnetic recording medium, which tests a servo area of a magnetic recording medium with an electric test device and, in particular, is suitable to test a servo area of a magnetic recording medium formed by stamping from a master disk, and a test device therefor.
磁気記録媒体のサーボエリアの適否を電気的な検査装置において検査することが可能で、特に、原盤からスタンプされて形成された磁気記録媒体のサーボエリアの検査に適した磁気記録媒体のサーボエリアの検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a method for testing communication transmission line which can efficiently execute a test or test control while reliably preventing the malfunction of an information processor connected to an active communication transmission line being a communication path to be tested, and to provide a test controlling method.
被試験通信路である現用中の通信伝送路に接続されている情報処理装置の誤動作を確実に防止して、効率よく試験または試験制御を実行できる通信伝送路の試験方法及び試験制御方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an operation method of a menu selectable test program tool for allowing even an inexperienced engineer to make a test pattern program in a short period in a generating method and the device of the menu selectable test program tool, and a device thereof.
本発明はメニュー選択型試験プログラムツールの生成方法及び装置に関し、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができるメニュー選択型試験プログラムツールの動作方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁 - The method for obtaining the optimal power (electric power) (10) for writing in an optical disk (40) includes a method for executing a power calibration test in which writing test data (30) in a user data area (25) on the optical disc (40) and reading the test data (30) are included.
光ディスク（４０）に書き込むための最適パワー(電力)を求める方法（１０）であって、前記光ディスク（４０）上のユーザデータエリア（２５）にテストデータ（３０）を書き込むこと、および前記テストデータ（３０）を読み取ることを含むパワー校正テストを実施することを含む方法。 - 特許庁 - To provide an accelerated surface deterioration test method capable of reproducing the surface deterioration sufficiently in a short time, and a accelerated surface deterioration test device capable of performing the test method with a simple device configuration.
試料の劣化状態を短期間で十分に再現可能な表面状態劣化促進試験方法、並びに、簡単な装置構成で前記表面状態劣化促進試験方法を実施可能な表面状態劣化促進試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a forming method of a developable test program tool for allowing even an inexperienced engineer to make a test pattern program in a short period in the forming method and the device of the developable test program tool, and a device thereof.
本発明は展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置に関し、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁 - To provide a test data processing apparatus and a test data processing method for simply determining defects of foreign matter deposited on a surface using a conventional test method and to process data so as not to treat the foreign matter deposited on the surface as defects.
本発明の目的は、従来の検査方法を用いて、簡単に表面付着異物の欠点を判定し、表面付着異物は欠点として扱わないようにデータ処理する検査データ処理装置及び検査データ処理方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a bioassay apparatus for testing an adhered organism-preventing method using chlorine, which can improve repeatability in the adhesion test, is inexpensive, and can easily be handled, and to provide a test method.
塩素を利用した付着生物防止方法を試験する装置において、該付着試験における再現性を向上させ、安価にかつ取り扱い容易な試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁 - O.) are performed between the DC stress test method of the simple body TEG and an aging test method.
本発明は、単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法とエージング試験法との間にＣＭＯＳ動作を想定したＡＣストレス試験とリングオシュレータ（Ｒ．Ｏ．）を用いたＡＣストレス試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁 - To provide an inspecting method of a semiconductor integrated circuit capable of easily detecting disconnection failure, capable of reducing input test patterns and capable of reducing test time in the inspecting method of the semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路の検査方法において、断線不良を容易に検出でき、かつ、入力テストパターンを削減し、テスト時間を低減できる半導体集積回路の検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method capable of automatically forming a test schedule using an orthogonal table for an optional software function that is a test object, and a computer program for achieving the method.
テスト対象となる任意のソフトウェア機能に対して、直交表を利用したテスト計画表を自動的に作成することができる方法及びその方法を実現するためのコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁 - To enhance a thin-film transistor array substrate in test efficiency by a method wherein test patterns are checked to screen out defective chips before a drive circuit and pixel transistors are tested through a pulse response method.
パルス応答法を用いて駆動回路及び画素トランジスタの検査を行う前に、テストパターンの検査を行って不良品チップのスクリーニングを行い、検査効率を向上することを目的とする。 - 特許庁 - FAILURE LIST AND TEST PATTERN PREPARATION DEVICE, FAILURE LIST AND TEST PATTERN PREPARATION METHOD, FAILURE LIST PREPARATION AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION DEVICE, AND FAILURE LIST PREPARATION AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION METHOD
故障リスト及びテストパターン作成装置、故障リスト及びテストパターン作成方法、故障リスト作成及び故障検出率算出装置、及び故障リスト作成及び故障検出率算出方法 - 特許庁 - Furthermore, a corrosion resistance method evaluates the corrosion resistance of a mating structural part between metal plates, by using a test piece prepared by the test piece preparation method.
また、本発明に係る耐食性評価方法は、上記試験片の作製方法により作製された試験片を用いて、金属板同士の合わせ構造部における耐食性を評価するものである。 - 特許庁 - To provide a test method which improves a test method performed in an atmosphere in which siloxane gas gets mixed and enables a stable control even with respect to humidity, and testing equipment.
シロキサンガスが混入された雰囲気中で行う試験方法を改良し、湿度についても安定して制御することができる試験方法及び試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a new method for evaluating medicine effect and/or toxicity of a test article by analyzing expression of a specific gene in a cell or a microorganism based on a gene test method.
遺伝子検査法に基づくが、細胞又は微生物における特定遺伝子の発現を解析することによる、被検物質の薬効及び／又は毒性の新規な評価法を提供すること。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SAME, AND METHOD FOR FORMING TEST PATTERN
半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の検査回路および検査方法および検査パターンの生成方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING FUSION BONDING TEST PIECE, AND DEVICE AND METHOD FOR MEASURING FUSION BONDING FORCE
融着試験片製造装置および融着試験片製造方法、ならびに融着力測定装置および融着力測定方法 - 特許庁 - NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, ERASURE METHOD AND TEST METHOD THEREOF
不揮発性半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置の消去方法および不揮発性半導体記憶装置の試験方法 - 特許庁 - To provide a toner density estimating method and apparatus each using test patterns and toner supplying method and apparatus using them.
テストパターンを用いたトナー濃度推定方法及び装置、並びにそれを用いたトナー供給方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - MEASUREMENT METHOD AND AUTOMATIC MEASUREMENT APPARATUS OF ALUMINUM CONCENTRATION IN TEST WATER, AND CONTROL METHOD OF SILICA-BASED SCALE ADHESION INHIBITOR CONCENTRATION
検水中のアルミニウム濃度測定方法及び自動測定装置、並びにシリカ系スケール付着防止剤濃度の制御方法 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING OXYGEN ION AMOUNT IMPLANTED TO SIMOX SUBSTRATE, BOX LAYER THICKNESS ESTIMATING METHOD, AND SUBSTRATE FOR STANDARD TEST PIECE
ＳＩＭＯＸ基板の酸素イオン注入量測定方法及びＢＯＸ層厚み推定方法並びに標準試料用基板 - 特許庁 - RELIEVING AND ANALYZING METHOD FOR DEFECT OF MEMORY AND MEMORY TEST DEVICE INCORPORATING DEFECT RELIEVING AND ANALYZING DEVICE APPLYING THIS ANALYZING METHOD
メモリの不良救済解析方法及びこの解析方法を適用した不良救済解析器を搭載したメモリ試験装置 - 特許庁 - To provide a test piece analyzer which does not require exchange of the ion electrodes and utilizes the characteristics of both CI method and EI method.
イオン電極の交換を不要とし、ＣＩ法とＥＩ法の両者の特質を利用した試料分析装置を提供する。 - 特許庁 - SHORTEST DISTANCE CALCULATION METHOD, PEDESTRIAN PROTECTING TEST LINE GENERATION METHOD, PROGRAM, DESIGN SUPPORT DEVICE AND RECORDING MEDIUM
最短距離計算方法および歩行者保護用試験線作成方法およびプログラムおよび設計支援装置および記録媒体 - 特許庁 - TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
半導体集積回路のテスト方法、プローブカード、半導体集積回路装置と半導体集積回路装置の製造方法 - 特許庁 - METHOD AND BODY FOR SUPPORTING WEIGHT-DROPPING DEVICE, METHOD AND PILE HEAD BASE FOR PILE PUSH-IN TEST, AND CONSTRUCTION METHOD FOR BEARING PILE FOUNDATION
重錘落下装置の支持方法及びその支持体、杭の押込み試験方法及びその試験用の杭頭台座、並びに、支持杭基礎の施工方法 - 特許庁 - To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.
製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁 - In the system for voluntary test for communication facility, a server 10 for voluntary testing the communication facility, generates a plan for the voluntary test by referring a selection table for testing items stored in a voluntary test database 20, a data for test team members stored in a tester name list database 30, and items, purposes, and method of the voluntary test and a desision criterion stored in a decision criterion database 40.
設備自主検査サーバ１０は、自主検査データベース２０に格納された検査項目選定表，検査実施者名簿データベース３０に格納された検査体制の構成員のデータおよび判定基準データベース４０に格納された自主検査の項目とその目的，方法および判定基準を参照して自主検査計画書を作成する。 - 特許庁 - To provide an accelerated drying method for a hydraulic material for dramatically shortening a test period having required a half year to one year in a conventional test method and to provide a length change testing method for a hydraulic material.
従来の試験方法で必要であった半年から１年の試験期間を飛躍的に短縮できる水硬性材料の促進乾燥方法および水硬性材料の長さ変化試験方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a method for predicting deterioration of a semiconductor device in a short period of time and and a method for predicting deterioration of a semiconductor device with high accuracy by finding a correlation between deterioration prediction of an actual semiconductor device and a DC (Direct Current) stress test method for a simple body TEG (Test Element Group).
本発明により、実際の半導体装置の劣化予測と単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法との相関を求めることにより、短時間で半導体装置における劣化予測を行う方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for an integrated circuit with a memory cell arranged in a circumference of a core that a conditional blocking in a test mode is applied to a clock input of the core.
テストモードにおける条件付き抑止がそのクロック入力に適用されるコアの周りに配列されたメモリセルを有する集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile semiconductor memory that makes it possible to reduce test time after manufacturing and reduces cost by using an inexpensive test system, and to provide a method of testing the same.
製造後のテスト時間を短縮し、また、安価なテストシステムを用いることにより、コストを低減できる不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a device and a method for fabrication of a semiconductor wafer test MAP chart which fabricates a MAP chart by which an user can recognize the test result of a chip on a wafer visually.
使用者がウエハ上のチップのテスト結果を視覚的に認識できるＭＡＰ図を作成する半導体ウエハテストＭＡＰ図作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for a program, allowing a test in error processing when a dynamic error occurs in the program, without depending on a type of an operating system.
オペレーティング・システムのタイプに依存することなくプログラムで動的なエラーが発生した場合のエラー処理のテストを行うことができるプログラムのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a leak test method for a metallic double-shell by filling a water tank enabling the leak test by filling water between inner and outer tanks without impairing the performance of a cold insulator.
保冷材の性能を損なうことなく内外槽間に水張り試験を行なうことのできる金属製二重殻タンクの水張り試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an adaptive test system and its method easy to carry out without losing the reliability even when using a small number of items for the adaptive test.
適応型テストを行う際のアイテムの数を小規模なものとしつつも、信頼性を損なわずに簡易に実施できる適応型テストシステムとその方法を提供することである。 - 特許庁 - To realize reduction of chip area, shortening of a test time, and reduction of a cost by a method for an embeded self-test of a memory by which a defective bit can be detected, analyzed, and restored.
欠陥ビットの検知、分析、修復可能な埋込型メモリーセルフテスト方法により、チップ面積の縮小化、テスト時間の短縮化、コスト削減を実現する。 - 特許庁 - To provide a bacteriological test method capable of simplifying the step from the suspension of bacteria in a specimen liquid to the test without using a separate suspension device.
懸濁装置を別途用いることなく、試料液中における細菌の懸濁から検査までの工程を簡素化することが可能な細菌検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for producing a high-strength cold-rolled steel sheet excellent in a corrosion resistance after coating, even under such severe atmosphere as a hot brine dipping test and a compound cycle corrosion test.
塩温水浸漬試験や複合サイクル腐食試験のような過酷な環境でも塗装後耐食性に優れる高強度冷延鋼板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for a fermentation test of yeast by which the amount of a volatile component formed by the yeast can properly be evaluated in a small scale, and to provide an apparatus for the fermentation test.
小スケールで酵母により生成された揮発性成分の量を適切に評価できる酵母の発酵試験方法及び発酵試験装置を提供する。 - 特許庁
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