「Test pattern」を含む例文一覧(2179)
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半導体集積回路のテストパターンファイルにおける双方向信号の出力イベントのマスキング方法と修正方法および双方向信号の出力イベントのマスキングプログラムと修正プログラムとを記録したコンピュータ読みとり可能な記録媒体 - 特許庁 - The servo information writing device includes a testing device 10 for performing test processing to select a proper servo pattern as servo information among the plurality of types of servo patterns recorded beforehand on a disk medium 2 incorporated in a disk drive 1.
サーボ情報書込み装置は、ディスクドライブ１に組み込まれたディスク媒体２上に予め記録された複数種類のサーボパターンから、適正なサーボパターンをサーボ情報として選択するための検査処理輪実行する検査装置１０を含む。 - 特許庁 - To provide an Ethernet (R)-HSD (High Speed digital) converter that can loop back a random pattern at its Ethernet side (a remotest end at a switching maintenance point) so as to accurately test the normality, and to provide a capsulating loop method for the converter.
ループ試験時にランダムパターンをイーサネット−ＨＳＤ変換装置のイーサネット側（切り分け保守地点の最遠端）で折り返し、正常性を正確に試験することができるイーサネット−ＨＳＤ変換装置及びそのカプセリングループ方法を提供する。 - 特許庁 - According to test pattern data, an identical and uniform colored image is recorded in a reference region 930 and comparison regions 931-934, and uniform clear images of different dot density are recorded on the uniform colored image in the comparison regions 931-934.
テストパターンデータに従って、基準領域９３０および比較領域９３１〜９３４に同一の均一有色画像が記録され、比較領域９３１〜９３４の均一有色画像上に、ドット密度が異なる均一クリア画像が記録される。 - 特許庁 - Preferably, the size of the medium is automatically decided by a printer, and when the test pattern is printed, the printer automatically interprets it and sets or adjusts operation parameters such as a color calibration parameter.
好ましくは、媒体のサイズはプリント装置によって自動的に判定され、テストパターンのプリントがプリントされるとプリント装置によって自動的に解釈されてプリント装置の、例えば色校正パラメータのような動作パラメータを設定あるいは調節する。 - 特許庁 - To economically and simply conduct adjustment and inspection of an optical module without the need for using an expensive exclusive measure ment instrument such as a multi-channel generator by providing a clock generat ing section generating a test pattern in an optical subscriber line terminating unit (ONU).
光加入者線終端装置（ＯＮＵ）内にテストパターンを発生するクロック発生部を設けることで、マルチチャネルジェネレータ等の高価な専用測定器を用いることなく光モジュールの調整検査を経済的に、かつ簡易に行なう。 - 特許庁 - The semiconductor random access memory having a complex shape is provided with a ROM device storing an all latent row data pattern to be input to a memory cell array during test procedure, a variable step address generator, a comparing device, and a control device.
複雑な形状を持つ半導体ランダムアクセス・メモリが、試験手順の間に記憶セル・アレイに入力すべき悉くの潜在的な行データ・パターンを記憶するＲＯＭ装置、可変ステップ・アドレス発生器、比較装置及び制御装置を備えている。 - 特許庁 - Wiring 105 to be measured is placed at the center, and wiring width W, wiring interval S, wiring formation region X/Y, and data ratio D of wiring to be actually wired in the wiring formation region X×Y are variably changed so that the test pattern of wiring can be prepared.
被測定配線１０５を中心に置き、配線幅Ｗ、配線間隔Ｓ、配線の形成領域Ｘ、Ｙ、配線形成領域Ｘ×Ｙに実際に配線される配線のデータ率Ｄを種々変えた配線のテストパターンを作成する。 - 特許庁 - In the optical communication system, a light transmitter 1s of a master station 1 becomes an error measuring mode after starting, transmits a test pattern signal memorized in a mode slave station 3 side by the maximum output, and repeatedly transmits decreasing the transmission output step by step by a predetermined level difference.
親局１の光送信器１ｓは、起動後、エラー測定モードになり、モード子局３側が記憶したテストパターン信号を最大出力から送信し、所定のレベル差で１段ずつ送信出力を下げて繰り返して送信する。 - 特許庁 - The standard test piece is subjected to a preparatory treatment for carrying out immersion into a vessel containing an emulsifier, the first rinse under pressurization, drying, an application of the expression agent in the position of the pattern, and the second rinse under pressurization, before being passed through the installation device.
据付装置に通過される前に、標準テストピースは、乳化剤を含む槽内への浸漬と、加圧下での最初のすすぎと、乾燥と、パターンの位置への発現剤の塗布と、加圧下での二回目のすすぎとを備える準備処理を受ける。 - 特許庁 - In this semiconductor testing device equipped with the sequence control circuit for controlling sequence of a pattern generation command described in a program, the sequence control circuit decodes a part of a sequence control command just before execution of a test.
プログラムに記述されたパターン発生命令のシーケンスを制御するシーケンス制御回路を備えた半導体試験装置において、前記シーケンス制御回路は、シーケンス制御命令の一部のデコードをテスト実行直前に行うことを特徴とするもの。 - 特許庁 - By this constitution, an address signal is generated inside a semiconductor memory, a test pattern used for a test of a semiconductor memory can be realized with address control of input terminals of numbers being less than the number of address input terminals used in the normal operation by realizing this address control by the address increment function, the address decrement function, and the address holding function.
この構成によれば、半導体記憶装置の内部でアドレス信号が発生され、このアドレスの制御が、アドレスインクリメント機能、アドレスデクリメント機能およびアドレス保持機能により実現されることにより、通常動作時に用いるアドレス入力端子数よりも少ない数の入力端子のアドレス制御で半導体記憶装置のテストで用いるテストパターンを実現できる。 - 特許庁 - A digital virtual test system including a semiconductor simulation model and an LSI tester simulation model includes a determination means for comparing and determining whether an address signal for accessing a memory function model in the semiconductor simulation model accesses a predetermined address in an address range of the memory function model or not to detect a defect of a test pattern using the LSI tester or the LSI tester simulation model.
半導体シミュレーションモデルとＬＳＩテスタシミュレーションモデルを含むデジタルヴァーチャルテストシステムにおいて、半導体シミュレーションモデルのメモリ機能モデルをアクセスするアドレス信号が、メモリ機能モデルのアドレス範囲のうち所定のアドレスをアクセスしたかどうかを比較判定する判定手段を設けてＬＳＩテスタまたはＬＳＩテスタシミュレーションモデルを使用したテストパターンの不備を検出する。 - 特許庁 - A data inserting part 4 outputs the arbitrary test data from the base frame part in an arbitrary data output mode, exchanges predetermined bits in the base frame data from the base frame part with the ID counter value in a fixed pattern output mode, exchanges bits in the base frame data designated by the data inserting position information from the commutation register with the inserting data and outputs the result as fixed test data.
データ挿入部４は、任意データ出力モードではベースフレーム部からの任意試験データを出力し、固定パターン出力モードではベースフレーム部からのベースフレームデータの内の所定のビットをＩＤカウンタ値と入れ替え、コミュテーションレジスタからのデータ挿入位置情報で指定されるベースフレームデータの内のビットを挿入データと入れ替え固定試験データとして出力する。 - 特許庁 - A test pattern is formed by forming a plurality of dot trains by first printing to a first printing region and a second printing region, by conveying a medium by a predetermined conveyance amount, and by forming a plurality of dot trains by second printing to the second printing region.
第１印刷領域及び第２印刷領域に第１印刷にて複数のドット列を形成し、所定搬送量にて媒体を搬送し、第２印刷領域に第２印刷にて複数のドット列を形成することによって、テストパターンを形成する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit eliminating the need for the input of a test pattern from the outside and preventing the increase of a TAT while preventing the generation of a region incapable of detecting a malfunction caused by the voltage drop of a power-supply voltage.
外部からテストパターンを入力することを不要とし、ＴＡＴの増加を防止するとともに、電源電圧の電圧降下による動作不具合を検出することができない領域が発生しないようにする半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - Furthermore, a signal propagation time difference among the plural lines is detected based on a reception timing of the test pattern PB received through each of the plural lines and signals received via the plural lines are synchronized with each other according to the time difference.
また、前記複数の回線各々を介して受信したテストパターンＰBの受信タイミングに基づいて、前記複数の回線間の信号伝搬時間差を検出し、この時間差にしたがい、前記複数の回線各々を介して受信した信号を互いに同期させる。 - 特許庁 - In this method, a test pattern for color gamut confirmation is generated by configuring setting so that the signal levels of a luminance signal Y and a single color difference signal Cb may gradually change in a horizontal direction and a residual color difference signal Cr may gradually change in a vertical direction.
本発明は、輝度信号Ｙ及び１つの色差信号Ｃｂの信号レベルが水平方向に順次変化するように、また残る色差信号Ｃｒが垂直方向に順次変化するように設定等して色再現領域確認用のテストパターンを生成する。 - 特許庁 - To obtain a built-in circuit for self-test in which increase of occupancy area in an integrated circuit can be suppressed by sharing a data generator generating a diagonal pattern even when RAMs having different shape are arranged in an integrated circuit.
集積回路内にシェイプの異なるＲＡＭが配置されている場合においても、ダイアゴナルパターンを生成するデータ生成器を共有できるようにすることによって、集積回路内に占める面積増加を減少させることができる組込み自己試験用回路を得る。 - 特許庁 - The clutch device detects an abnormality of the hydraulic circuit based on whether or not an indication current value to the motor is within a predetermined range, by tentatively stroking an output rod according to a test pattern corresponding to the state of a vehicle or utilizing the stroke during changing gears.
本発明に係るクラッチ装置は、車両状態に応じた検査パターンで前記出力ロッドをテスト・ストロークし、あるいは、変速中のストロークを利用して、前記モータへの指示電流値が所定の範囲内であるか否かにより油圧回路の異常を検出する。 - 特許庁 - In the device, when a toner image for a test pattern that is formed on recording paper 6 is fixed by having it exposed by a flash type fixing device 7, reflected light is detected by an optical sensor 8, a density value is obtained and the image forming condition is controlled based on the density value above.
記録紙６上に形成されたテストパターンのトナー像を、フラッシュ式定着器７で露光することによって定着する際に、その反射光を光学センサ８によって検出して濃度値を得、該濃度値に基づいて画像形成条件を制御する。 - 特許庁 - To provide a recorder which can set a correction amount of the conveyance amount of a recording medium optimally by recording a test pattern used for setting a correction amount of the conveyance amount of a recording medium accurately, and to provide a method for correcting the conveyance amount of a recording medium.
記録媒体の搬送量の補正量を設定するために用いるテストパターンを適確に記録して、記録媒体の搬送量の補正量を最適に設定することができる記録装置、および記録媒体の搬送量補正方法を提供すること。 - 特許庁 - Also, based on the reception timing of the test pattern PB received through the plurality of lines, respectively a signal propagation time difference between the plurality of lines is detected and the signals received through the respective plural lines are synchronized with each other corresponding to the time difference.
また、前記複数の回線各々を介して受信したテストパターンＰBの受信タイミングに基づいて、前記複数の回線間の信号伝搬時間差を検出し、この時間差にしたがい、前記複数の回線各々を介して受信した信号を互いに同期させる。 - 特許庁 - To obtain a recording system for recording a desired user document and an advertisement of a sponsor on the same recording medium in which waste of the recording medium is minimized when a test pattern for detecting poor recording quality is outputted.
ユーザが印刷を所望するユーザドキュメントとスポンサーによる広告とを同一の記録媒体に記録する記録システムにおいて、記録の品質不良を検出する為のテストパターン出力に対し、記録媒体の浪費を極力抑えることが可能な記録システムを提供する。 - 特許庁 - To provide an inkjet recording apparatus which can determine whether detection of poor ejecting nozzles taking place at other than poor ejecting nozzles intentionally given on a test pattern is normal, and to provide an inkjet recording system, a printing monitoring device, a printing monitoring method and a program.
テストパターン上に意図的に与えた不良吐出ノズル以外で生じた不良吐出ノズルの検出が正常どうかを判定することができるインクジェット記録装置、インクジェット記録システム、印刷監視装置、印刷監視方法およびプログラムを提供する。 - 特許庁 - The camera moving mechanism control part decides the change amounts of a distance from each of those line sensor cameras to the imaging medium for test from the point for correcting the synthesized image supplied from the pattern recognition part, and supplies a control signal to a camera moving mechanism 14.
カメラ移動機構制御部は、パターン認識部より供給された合成画像補正のためのポイントとなる部分から、ラインセンサカメラそれぞれからのテスト用撮像媒体に対する距離の変化量を判断し、制御信号をカメラ移動機構１４に供給する。 - 特許庁 - A test pattern converter 26 reads data for conversion out of the conversion library for CPU series according to a CPU series name inputted from an operation part 25 and reads data for conversion out of the parameter file for product according to a type number inputted from the operation part 25.
テストパタンコンバータ２６は、操作部２５から入力されたＣＰＵシリーズ名に基づいてＣＰＵシリーズ用変換ライブラリから変換用データを読み出し、また、操作部２５から入力された型番に基づいて、製品用パラメータファイルから変換用データを読み出す。 - 特許庁 - Furthermore, the texture that is generated in an actual image by a test pattern image formed on an image carrier, is detected, thereby reducing or preventing the generation of texture without being affected by deterioration of a developer with time, an environmental change, machine type difference, and the like.
また、像担持体上に形成されたテストパターン像により実際の画像に発生するテクスチャを検出することにより、現像剤などの経時的劣化、環境変化、機種間の違いなどに左右されることなく、テクスチャの発生を低減・防止する。 - 特許庁 - Based on the recorded information on the color charts, image signals for displaying the test pattern in which the color charts of the respective specifications arranged with a predetermined array on a same screen are generated, and the color charts are displayed on the television receiver 30 by the image signals.
そして、記録されたカラーチャートの情報に基づいて、各規格のカラーチャートを同一画面上に所定の配列で並べたテストパターンを表示させる映像信号を生成させ、その映像信号によりテレビジョン受像機３０にカラーチャートを表示させる。 - 特許庁 - The image forming apparatus creates a LUT_2 for correcting a laser output signal value after the correction using a LUT_1 for a γ correction, depending on the density change amount from the reference density value of the density value measured from a test pattern image formed on a photosensitive drum.
本発明の画像形成装置は、γ補正用のＬＵＴ＿１を用いた補正後のレーザ出力信号値を補正するためのＬＵＴ＿２を、感光ドラムに形成したテストパターン画像から測定した濃度値の、基準濃度値からの濃度変化量に応じて作成する。 - 特許庁 - When the pulse signal is determined to be a signal having the specific pattern and a detection signal is outputted to a controller 17, the controller 17 executes test shutoff as prescribed internal processing set up correspondingly to the detection signal.
パターン判定回路１６で前記パルス信号が特定のパターンを有する信号と判定され、検出信号がコントローラ１７に出力されると、コントローラ１７では前記検出信号に対応して設定された所定の内部処理として、テスト遮断を実行する。 - 特許庁 - A semiconductor integrated circuit device DUT 640 is provided with probe light pulse and reference pulse during each repetition cycle of the electric test pattern signal applied repeatedly, for guiding the same optical path as to sample the electric waveform on the DUT.
半導体集積回路デバイス（ＤＵＴ６４０）に繰り返し印加する電気的テストパターン信号の各反復サイクル期間中に、プローブ光パルスおよび基準光パルスを供給して、ＤＵＴ上の電気的波形をサンプリングするように同一光路を導く。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device testing apparatus, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor devices, when the timing of a test pattern signal applied on a specied pin by each semiconductor device to be tested must be selected to timing which is suitable for each device.
被試験半導体デバイス毎に特定のピンに印加する試験パターン信号のタイミングを各デバイスに適したタイミングに選定しなければならない場合に、複数の半導体デバイスを同時に試験することを可能にした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁 - Waveform data 13 are prepared from the logical data 10 of a semiconductor integrated circuit prepared by a hardware description language and test pattern data 11 by using logical simulation and check item information 18 is prepared from the waveform data 13 and information inputted from a user specification part 15.
ハードウェア記述言語にて作成した半導体集積回路の論理データ１０とテストパターンデータ１１より論理シミュレーションにて波形データ１３を作成し、この波形データ１３とユーザ指定部１５にて与えた情報より、チェック項目情報１８を生成する。 - 特許庁 - Thus, an image is confirmed by performing addressing in conformity to the configuration of the mounted expansion memory, writing internally generated test pattern data to all the areas of the expansion memory, further reading all pieces of the written data in the expansion memory and printing them on paper.
このように、装着した増設メモリ構成にあわせたアドレッシングを行って、増設メモリの全ての領域に対して内部生成テストパターンデータを書き込み、さらに増設メモリへの書き込みデータを全て読み出して、紙に印刷することにより画像確認を行う。 - 特許庁 - To inspect an LVDS with high accuracy and easily even by using a low-speed tester and to reduce the costs of a semiconductor device by generating a high-speed test pattern at the inside of the semiconductor device when the semiconductor device with the built-in LVDS is inspected.
ＬＶＤＳ内蔵の半導体装置を検査する際に、高速テストパターンを半導体装置内部で生成することにより、低速テスタを用いても、高精度、かつ、容易にＬＶＤＳの検査を行うと共に、半導体装置のコストを削減することを目的とする。 - 特許庁 - The apparatus is provided with: a color image display panel 2 for displaying a test pattern imaged by a camera to which adjustment and inspection is to be applied; a personal computer 1; and an inspection unit 4 for generating imaged image information to the personal computer 1 on the basis of an output signal from the camera.
調整検査を行なうべきカメラで撮像するテストパターンを表示するカラー画像表示パネル２と、パーソナルコンピュータ１と、前記カメラの出力信号に基づきパーソナルコンピュータ１に提供する撮像画像情報を生成する検査機４を備える。 - 特許庁 - A data fetch control section 2 of this luminance characteristic measurement instrument changes the raster size to display a test pattern, consisting of a plurality of longitudinal or lateral stripes generated by a signal generator 4 onto a color CRT 6, in a way such that relative positions of phosphors in each stripe differs from each other.
データ取込制御部２はラスタサイズを変更して信号発生器４で発生した複数本の縦縞若しくは横縞の縞模様からなるテストパターンを、各縞内の発光螢光体の相対的な位置が異なるようにカラーＣＲＴ６に表示させる。 - 特許庁 - As for each fault candidate wiring pair, a comparison section 24 compares an XOR with a quantized IDDQ in each test pattern, finds the number of times of their coincidence, and performs output while considering that the larger the number of times of their coincidence of a fault candidate wiring pair is, the higher its fault possibility is.
比較部２４は、各故障候補配線対について、テストパタンそれぞれにおけるＸＯＲと量子化ＩＤＤＱとを比較し、一致する回数を求めてその回数が多い故障候補配線対ほど故障の可能性が高いものとして出力する。 - 特許庁 - The interface circuits 2a-2d are provided, corresponding to each of a plurality of function blocks 1a-1d, and a test pattern for measuring a power supply current can be set in all the function blocks 1a-1d from an LSI tester through a single input/output terminal.
複数の機能ブロック１ａ〜１ｄのそれぞれに対応してインターフェース回路２ａ〜２ｄを設け、ＬＳＩテスタから１つの入出力端子を介して全ての機能ブロック１ａ〜１ｄに電源電流を測定するためのテストパターンを設定できるようにした。 - 特許庁 - Then the line sensor is moved as shown by the arrow Y (step 122) to make a second scan (step 124), a test pattern read signal is analyzed to calculate the quantity of a position shift from the first scan (step 126), and the line sensor is finely adjusted and moved as shown by the arrow X (step 128).
続いて、ラインセンサを矢印Ｙ方向に移動し（ステップ１２２）、第２のスキャンを行い（ステップ１２４）、テストパターン読取信号を解析し、前第１のスキャンとの位置ズレ量を算出し（ステップ１２６）、ラインセンサを矢印Ｘ方向に微調整移動する（ステップ１２８）。 - 特許庁 - For the purpose, outlines of the test pattern image in picked-up images before and after the enlargement are compared and if there are matching parts, it is judged that the projection area projects from the object object, thereby putting the projection area back to the size before the enlargement.
従って、拡大の前後の撮像画像内に写ったテストパターン画像の輪郭を比較し、一致する部分がある場合には、投写領域が投写対象物からはみ出したと判断し、投写領域の大きさを拡大前の大きさに戻すようにする。 - 特許庁 - In this recording system, a test pattern to be used in the process to correct the color drift is constituted of a plurality of pieces of patch data showing the varying printing ratio of coloring materials maintained to a small size and each piece of the patch data is recorded so that it is arranged so as to allow the continuous variation of color casts.
色ずれを補正する処理に用いられるテストパターンを、小さいサイズで保持された色材の印字比率が異なる複数のパッチデータによって構成されるものとし、各パッチデータが連続的に色味が変動するように配置するよう記録する。 - 特許庁 - To provide a vapor deposition mask capable of reducing deviations of a test pattern by reducing changes in precision of a width of an opening to be possibly generated, by supporting the mask in a manner of applying tensile force thereto, and to provide a manufacturing method of the organic EL element and the organic EL element.
マスクに引張力を加えるように支持することによって発生する恐れがある開口部幅の精度変化を減らしてパターンの偏差を減らしうる蒸着マスク、これを利用した有機ＥＬ素子の製造方法及び有機ＥＬ素子を提供する。 - 特許庁 - This system includes a circuit for determining the places of synchronized word bits in the bit stream packets and this circuit includes a circuit which compares a bit test pattern vector 32 and the sample vector 34 of bits from the bit stream packets with each other several times.
このシステムはビットストリーム・パケットの中の複数の同期化ワード・ビットの場所を決定するための回路（３０）を含み該回路はビット・テスト・パターン・ベクトル（３２）と、ビットストリーム・パケットからのビットのサンプル・ベクトル（３４）との間で何回かの比較を実行するための回路（３６）を含む。 - 特許庁 - To prevent deformation of a metal layer due to expansion of a resin-based adhesive during heat cycle test in a wiring board where a conductive pattern is formed by bonding the metal layer onto a base substrate by the resin-based adhesive.
ベース基材上に樹脂系接着剤によって金属層が接着されることにより導電パターンが形成されてなる配線基板において、熱サイクル試験にかけられた場合に樹脂系接着剤が膨張することによる金属層の変形を防止する。 - 特許庁 - To overcome the problem that detecting accuracy as a whole is deteriorated by being affected by the worse detecting accuracy on the staining of a sensor and the staining of ground because of merely using the mean value of output from two sensors as the result of the detection of a test pattern for controlling density in the conventional density control.
従来の濃度制御においては単に２つのセンサ出力の平均値を濃度制御用のテストパターンの検知結果としていたため、センサ汚れ、下地汚れの悪い方の検知精度に引きずられ、全体の検知精度が悪化してしまう。 - 特許庁 - The inclination amount θ in the sub-scan direction of the carriage (5) which is obtained from a relationship between a measured distance LN' between the plurality of marks (101 and 102) obtained when the reading sensor (30) detects each test pattern (100) and a theoretical distance Ln between the plurality of marks (101 and 102) set beforehand is calculated.
そして、読取センサ（30）が各テストパターン（100）を検出して得られる複数のマーク（101,102）間の計測距離；Ln'と、予め定められた複数のマーク（101,102）間の理論上の距離；Lnと、の関係から得られるキャリッジ（5）の副走査方向の傾き量；θを算出する。 - 特許庁 - To conduct test and measuring/adjusting of the circuit characteristics of individual multilayer ceramic components in a state of a multilayer ceramic substrate for multiple pattern, and to increase the bonding area and strength between the conductor and the solder of castellation.
多数個取り多層セラミック基板の状態で個々の積層セラミック部品の電気検査や回路特性の測定・調整を行うことができると共に、キャスタレーションの導体と半田との接合面積ひいては接合強度を向上させることができるようにする。 - 特許庁 - This useful substance for the prevention and/or treatment of the ADHD can be screened by administering a test substance to an animal deficient in the function of the subunit p85α of PI3K and analyzing its action pattern by neuroscientific view points.
ＰＩ３Ｋのサブユニットｐ８５αの機能を欠損させた動物に被験物質を投与し、その行動パターンを神経科学的な観点で解析することで、注意欠陥多動性障害の予防および／または治療剤として有用な物質をスクリーニングすることができる。 - 特許庁
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