「Test pattern」を含む例文一覧(2179)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 43 44 次へ＞- LOGIC CIRCUIT TEST PATTERN GENERATING DEVICE
論理回路テストパタン生成装置 - 特許庁 - A plurality of test pattern groups (A-E) composed of a first test pattern 101 and a second test pattern 102 are formed.
第１のテストパターン101と、第２のテストパターン102と、で構成された複数のテストパターン群（A〜E）を形成する。 - 特許庁 - IMAGE FORMING APPARATUS AND TEST PATTERN
画像形成装置及びテストパターン - 特許庁 - SCAN TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATION METHOD AND TEST PATTERN GENERATION METHOD
スキャンテスト回路、テスト回路生成方法およびテストパタン生成方法 - 特許庁 - The test aid device comprises a test pattern memory memorizing a plurality of test pattern data corresponding to a plurality of test items, and a test pattern signal generator which writes test pattern data selected from among a plurality of the test pattern data.
テスト補助装置は、複数のテスト項目に対応した複数のテストパターンデータを記憶するテストパターンメモリと、複数のテストパターンデータの中から選択されたテストパターンデータを書き込テストパターン信号発生器を有する。 - 特許庁 - PRINTER, TEST PATTERN FORMING METHOD IN PRINTER, AND TEST PATTERN FORMING PROGRAM
プリンタ、プリンタにおけるテストパターン形成方法、及びテストパターン形成プログラム - 特許庁 - Test pattern supplying units 42 and 52 supply a test pattern to the projector.
テストパターン供給部４２、５２はテストパターンをプロジェクタに供給する。 - 特許庁 - A test pattern generation part 210 generates a test pattern 301 including the test pattern and the test data from a program specification for a Web system 100.
テストパターン生成部２１０は、Ｗｅｂシステム１００のプログラム仕様からテストパターンとテストデータを含むテストパターン３０１を生成する。 - 特許庁 - TEST PATTERN SUBSTRATE FOR MANUFACTURING COLOR FILTER
カラーフィルタ製造用テストパターン基板 - 特許庁 - TEST PATTERN BOARD FOR MANUFACTURING COLOR FILTER
カラーフィルタ製造用テストパターン基板 - 特許庁 - PATTERN GENERATING CIRCUIT AND TEST DEVICE
パターン発生回路及び試験装置 - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATING APPARATUS AND METHOD
テスト・パターン発生装置及び方法 - 特許庁 - Based on image data for forming a test pattern (A), the test pattern is printed (first test pattern output).
テストパターン（Ａ）を形成するための画像データに基づいて、テストパターンを印刷する（第１のテストパターン出力）。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL
半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁 - TEST PATTERN, TEST PATTERNING METHOD, RECORDER AND PROGRAM
テストパターン、テストパターン作成方法、記録装置及びプログラム - 特許庁 - OFFSET TEST PATTERN DEVICE AND METHOD
オフセット・テスト・パターン装置および方法 - 特許庁 - INK JET PRINTER, PROGRAM, AND TEST PATTERN
インクジェットプリンタ、プログラム、及びテストパターン - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATION METHOD AND PROGRAM
テストパターン作成方法およびプログラム - 特許庁 - TEST PATTERN-FORMING APPARATUS FOR LOGIC CIRCUIT
論理回路のテストパタ—ン作成装置 - 特許庁 - To reduce the test pattern length to allow the test pattern data quantity to be saved.
テストパターン長を短縮して、テストパターンデータ量の削減を可能にする。 - 特許庁 - SEQUENCE CIRCUIT AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION SYSTEM REUSING TEST PATTERN DATA BASE
テストパターンデータベースを再利用する順序回路自動テストパターン生成システム - 特許庁 - TEST CIRCUIT, PATTERN GENERATION SYSTEM, AND PATTERN GENERATION METHOD
テスト回路、パタン生成装置、及びパタン生成方法 - 特許庁 - A test pattern generation circuit 1 to generate a test pattern for disturbance test is provided within on SDRAM.
ディスターブテスト用のテストパターンを生成するテストパターン発生回路１をＳＤＲＡＭ内に設ける。 - 特許庁 - To provide a memory test circuit in which a test employing an arbitrary test pattern is made possible.
任意のテストパタンによるテストが可能なメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁 - The test pattern formed at the test pattern formation part 25 is detected by a pattern detecting device 30.
テストパターン形成部２５に形成されたテストパターンは、パターン検出装置３０にて検出される。 - 特許庁 - PRINTER AND TEST PATTERN PRINTING METHOD
印字装置およびテストパタ—ン印字方法 - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATION SYSTEM AND METHOD THEREFOR
テストパターン生成装置及びその方法 - 特許庁 - PATTERN TEST METHOD AND DEVICE
パターン検査方法及びパターン検査装置 - 特許庁 - A test pattern is generated in a step S1.
ステップＳ_１ でテストパターンを作成する。 - 特許庁 - TEST PATTERN AND COLOR IMAGE FORMING DEVICE
テストパターン及びカラー画像形成装置 - 特許庁 - CYCLE DETERMINING METHOD FOR LSI TEST PATTERN
ＬＳＩテストパターンのサイクル決定方法 - 特許庁 - TEST TOOL USED FOR SKIN PATTERN READER
スキンパターン読み取り器に用いるテストツール - 特許庁 - RECORDER AND TEST PATTERN RECORDING METHOD
記録装置及びテストパターン記録方法 - 特許庁 - By correcting the image data of the test pattern by using the correction table, the test pattern is printed (second test pattern output).
補正テーブルを用いて上記テストパターンの画像データを補正してテストパターンを印刷する（第２のテストパターン出力）。 - 特許庁 - The dynamic defect detection test pattern can contain a last-shift-launch test pattern and a broad-side test pattern, for example.
動的欠陥検出テストパターンは、例えば、ラスト−シフト−ローンチテストパターン及びブロードサイドテストパターンを含むことができる。 - 特許庁 - TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD USING THE SAME
半導体素子のテストパターン及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁 - ENVIRONMENTAL TEST UNIT AND METHOD FOR SETTING TEST PATTERN
環境試験装置及びこれの試験パターンの設定方法 - 特許庁 - The test pattern generation method, test pattern generation system, and test pattern generation device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test pattern generation means for generating the test pattern.
テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁 - WIRING TEST PATTERN AND EVALUATION METHOD THEREFOR
配線テストパターン及びその評価方法 - 特許庁 - SERVICEABLE TEST PATTERN SYSTEM AND METHOD
活用的なテスト・パターン装置および方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PRINTING TEST PATTERN
テストパターンをプリントする方法及び装置 - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATION APPARATUS AND GENERATION METHOD
テストパターン作成装置及び作成方法 - 特許庁 - To form a test pattern high in visibility.
視認性の高いテストパターンを形成する。 - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATING FACILITY AND ITS METHOD
テストパターン生成設備およびその方法 - 特許庁 - IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN TEST DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN DEFECT TEST METHOD
画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁 - The test pattern generation means generates the test pattern through the use of the undetected failure list.
テストパターン生成手段は、未検出故障リストを用いてテストパターンを生成する。 - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATION DEVICE, CONTROL METHOD OF TEST PATTERN GENERATION DEVICE, AND FAILURE DETECTION DEVICE
テストパターン生成器、テストパターン生成器の制御方法、および、故障検出装置 - 特許庁 - A test device 50 tests the inspection product 20 by using the test pattern and expectation value pattern.
テスト装置５０は、テストパタン及び期待値パタンを用いて試験品２０をテストする。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING CIRCUIT PATTERN, AND TEST PATTERN
回路パターン検査装置および検査方法およびテストパターン - 特許庁 - TEST PATTERN PRODUCING APPARATUS, CIRCUIT DESIGN APPARATUS, TEST PATTERN PRODUCING METHOD, CIRCUIT DESIGN METHOD, TEST PATTERN PRODUCING PROGRAM, AND CIRCUIT DESIGN PROGRAM
テストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラム - 特許庁
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