「Test pattern」を含む例文一覧(2179)
＜前へ 1 2 .... 6 7 8 9 10 11 12 13 14 .... 43 44 次へ＞- For each combination extracted in s2, the test pattern creating part 13 extracts the entrance stations and the exit stations corresponding to each route pattern determined in s3, and creates a test pattern (s4).
テストパターン生成部１３は、ｓ２で抽出した組み合わせ毎に、ｓ３で決定した各経路パターンに対応する入場駅、出場駅を抽出し、テストパターンを生成する（ｓ４）。 - 特許庁 - To provide a test pattern with which a circuit pattern can be inspected for defects with high sensitivity in a semiconductor manufacturing process, a method for detecting defect, and a method for managing manufacturing process both of which use the test pattern.
半導体製造プロセスにおける回路パターンの不良を高感度に検査可能なテストパターンと、これを用いた不良検出方法および製造プロセス管理方法を提供する。 - 特許庁 - The test pattern generated by the test pattern generator 10 is input in the tested LSI2 and the output pattern output from the tested LSI2 is input in a comparator 12.
テストパターン発生部１０によって発生されたテストパターンは被試験ＬＳＩ２に入力され、被試験ＬＳＩ２から出力された出力パターンは比較部１２に入力される。 - 特許庁 - On a surface Sa of a sheet S, a solid image test pattern TPa is formed.
シートＳの一方面Ｓａに、ベタ画像テストパターンＴＰａを形成する。 - 特許庁 - To make the time required to read a test pattern as short as possible in the case of reading the test pattern several times in the case of calibration of an image forming device.
画像形成装置のキャリブレーションに際してテストパターンを複数回にわたって読取る場合にできるだけそれに要する時間を抑制する。 - 特許庁 - As a result, a testing time can be shortened by shortening a test pattern.
この結果、テストパターンを短くしてテスト時間を短縮させることができる。 - 特許庁 - METHOD FOR PRINTING TEST PATTERN, METHOD FOR ACQUIRING CORRECTION VALUE, AND APPARATUS FOR ACQUIRING CORRECTION VALUE
テストパターンの印刷方法、補正値の取得方法、補正値の取得装置 - 特許庁 - ALGORITHM PATTERN GENERATOR FOR MEMORY ELEMENT TEST, AND MEMORY TESTER USING SAME
メモリ素子テストのためのアルゴリズムパターン生成器及びこれを用いたメモリテスタ - 特許庁 - The image display device is provided with a memory part 19 for holding a test pattern image and superimposes the device setting screen signal on a test pattern image signal and performs video processing of the device setting screen signal.
テストパターン画像を保持するメモリ部１９を備え、機器設定画面信号をテストパターン画像信号に重畳し映像処理される。 - 特許庁 - When a register 1 or the like is not operated, an instruction is sent to a test pattern generator 2 from a BIST controller 3, and the test pattern is sent to a circuit of the part that is not used.
レジスタ１等が動作していない場合、ＢＩＳＴコントローラ３からテストパタン生成器２に指示を送り、テストパタンを未使用部回路に送出する。 - 特許庁 - TEST PATTERN IMAGE FOR PROJECTOR ADJUSTMENT, METHOD FOR PROJECTOR ADJUSTMENT, AND PROJECTOR
プロジェクタの調整用テストパターン画像、プロジェクタの調整方法、及びプロジェクタ - 特許庁 - To provide a test pattern forming system, where the test pattern can be immediately used for the simulation by carrying out simulation, in an environment which approximates actual operation.
実際の運用に近い環境でのシミュレーションを行い、シミュレーションのテストパターンとしてすぐに使用可能なテストパターン作成システムを提供する。 - 特許庁 - To properly adjust voltage applied to a head based on a test pattern.
テストパターンに基づいてヘッドに印加される電圧を適切に調整する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device provided with a pattern having a shared test channel.
テストチャンネルが共有されるパターンを備える半導体装置を提供する。 - 特許庁 - A test pattern is generated by a test pattern generator 230 and supplied to a semiconductor device to be tested, and the semiconductor device is operated.
テストパターン発生部２３０によりテストパターンを発生して被試験デバイスである半導体装置に供給し、この半導体装置を動作状態とする。 - 特許庁 - TEST PATTERN FORMING METHOD, ETCHING CHARACTERISTIC MEASURING METHOD, AND CIRCUIT USING SAME
テストパターン形成方法、それを用いたエッチング特性測定方法及び回路 - 特許庁 - On a TFT array substrate 10 of a liquid crystal device, an N-channel TFT test pattern 130 and a P-channel TFT test pattern 140 are formed.
液晶装置のＴＦＴアレイ基板１０上に、ＮチャネルＴＦＴテストパターン１３０とＰチャネルＴＦＴテストパターン１４０とが形成されている。 - 特許庁 - PATTERN GENERATING DEVICE AND METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST DEVICE
パターン発生装置及び方法並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁 - The input test pattern is inputted into the logic circuit prior to the replacement of the sequence circuit by the combination circuit, thereby generating an expectation value test pattern (step S3).
そして、順序回路を組み合わせ回路で置換する前の論理回路に上記入力テストパターンを入力して期待値テストパターンを生成する（ステップＳ３）。 - 特許庁 - To provide a test pattern-forming apparatus for logic circuits which has a means for enhancing a formation success rate for a test pattern enabling a plurality of target failures to be detected.
複数個のターゲット故障を検出できるテストパターンの作成の成功率を高める手段を備えた論理回路のテストパターン作成装置を提供する。 - 特許庁 - In this case, the end mark EM is larger than the test pattern TP, so that even when the test pattern TP is printed, the presence of the end mark EM can be detected.
エンドマークＥＭはテストパターンＴＰよりも大きいため、テストパターンＴＰが印刷されたとしても、エンドマークＥＭの有無を検出することが可能である。 - 特許庁 - Information regarding the tilt of a recording head is detected on the basis of the test pattern by recording the test pattern with a scanning rate slower than that in normal recording.
通常の記録よりも遅い走査速度によりテストパターンを記録し、このテストパターンに基づき記録ヘッドの傾きに関する情報を検出する。 - 特許庁 - A test pattern output processing section 109 uses the image data of the density patch in an HDD 105 and outputs a test pattern with the determined density patch arrangement.
テストパターン出力処理部１０９は、ＨＤＤ１０５にある濃度パッチの画像データを用いて、決定した濃度パッチ配置でテストパターンを出力する。 - 特許庁 - To provide a device for testing a semiconductor integrated circuit which generates test pattern data and writes the test pattern data into the semiconductor integrated circuit.
本発明の課題は、半導体集積回路の試験装置が試験パタンデータを生成して半導体集積回路へ書き込むことを目的とする。 - 特許庁 - One test pattern is divided into a plurality of blocks and deployed, optimal block layout is performed in accordance with a size of a recording medium, and the test pattern is deployed.
１つのテストパターンを複数ブロックに分割して展開し、記録媒体のサイズに応じて最適なブロックレイアウトを行い、テストパターンを展開する - 特許庁 - Density of the gray pattern 31 in a test print 30 is measured by means of a densitometer 24.
濃度計２４でテストプリント３０のグレーパターン３１を濃度測定する。 - 特許庁 - Different pieces of test pattern data are sequentially written to the print heads 2 and 3, and a plurality of different test pattern images 11 are sequentially formed on a photoreceptor drum 9.
プリントヘッド２、３に複数の異なるテストパターンデータを順次書き込み、感光体ドラム９上に複数の異なるテストパターン画像１１を順次形成する。 - 特許庁 - After a water-soluble film 15 is formed on the surface of the test resist pattern 14A, the size of the test resist pattern 14A is measured by using electron beams 16.
テスト用レジストパターン１４Ａの表面に水溶性膜１５を形成した後、テスト用レジストパターン１４Ａのサイズを電子線１６を用いて測定する。 - 特許庁 - To flexibly form an arbitrary test pattern without requiring a memory area such as a memory medium when the test pattern is formed on a recording medium.
記録媒体にテストパターンを形成する際に、記憶装置などの記憶領域を必要とせず任意のテストパターンを柔軟に形成することができること。 - 特許庁 - To generate various test patterns from algorizm pattern data of a few bit numbers.
ビット数が少ないアルゴリズムパターンデータから多様な試験パターンを生成する。 - 特許庁 - METHOD FOR PRINTING TEST PATTERN, METHOD FOR ACQUIRING CORRECTION VALUE AND DEVICE FOR ACQUIRING CORRECTION VALUE
テストパターンの印刷方法、補正値の取得方法、補正値の取得装置 - 特許庁 - An image forming apparatus regards a start signal as a trigger, and writes the positioning test pattern between papers (Lb) when continuously writing a plurality of normal images, and reads the test pattern with a sensor on an intermediate transfer belt in order to regulate an image formation control condition to be fed back.
スタート信号をトリガとし、複数枚の通常画像を連続して書込む際の紙間（Lb）で位置合わせ用等のテストパターンを書込む。 - 特許庁 - An operator selects the color of the illumination light and the test pattern, the test pattern is projected on a screen through a lens to be inspected and performance evaluation of the lens to be inspected is performed.
オペレータは、照明光の色とテストパターンとを選択し、テストパターンを被検レンズを介してスクリーンに投映させて、被検レンズの性能評価を行う。 - 特許庁 - SEQUENTIAL TEST PATTERN GENERATION USING CLOCK CONTROL DESIGN FOR TESTABILITY STRUCTURE
クロック制御式テスト容易化デザイン構成を用いたシーケンシャルテストパターン生成 - 特許庁 - IMAGING APPARATUS, COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM STORING PROGRAM FOR IMAGING TEST PATTERN, METHOD FOR IMAGING TEST PATTERN, AND METHOD FOR CALCULATING AMOUNT OF SKEW
画像形成装置，テストパターン画像形成用プログラムを格納したコンピュータ読取可能な記録媒体，テストパターン画像形成方法及びスキュー量算出方法 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus capable of stably detecting a pair of line segments constituting a test pattern without increasing the number of parts, and the test pattern.
部品点数を増やすことなく、テストパターンを構成する一対の線分を安定して検出することのできる画像形成装置、及びそのテストパターンの提供。 - 特許庁 - A test pattern photographing apparatus 10 is provided with a plurality of lenses 12-1 to 12-4, and an imaging element 11 to photograph the test pattern image 31 on the screen 30.
テストパターン撮影装置１０は複数レンズ１２−１、〜、１２−４と撮像素子１１とを備え、スクリーン３０上のテストパターン画像３１を撮影する。 - 特許庁 - The test pattern 502 of the negative region includes a plurality of white bars extending in the longitudinal direction, and the test pattern 501 includes a plurality of white bars extending in the lateral direction.
ネガ領域のテストパターン５０２は、縦方向に伸びる複数の白バーを含み、テストパターン５０１は横方向に伸びる複数の白バーを含む。 - 特許庁 - The test pattern 402 of the positive region includes a plurality of black bars extending in the longitudinal direction, and the test pattern 401 includes a plurality of black bars extending in the lateral direction.
ポジ領域のテストパターン４０２は、縦方向に伸びる複数の黒バーを含み、テストパターン４０１は横方向に伸びる複数の黒バーを含む。 - 特許庁 - To ensure a sequence strategy for defining a set of limitation applicable to test rod pattern design and positioning a subset of the test rod pattern design.
試験ロッドパターンデザインに適用可能な限界のセットが定義され、試験ロッドパターンデザインのサブセットを位置決めするためのシーケンス戦略が確定される。 - 特許庁 - To provide a test pattern for measuring line contact resistance and a method of manufacturing the same.
ラインコンタクト抵抗測定用テストパターン及びその製造方法の提供。 - 特許庁 - After that a test pattern is recorded with the prescribed recording power (step A04), the test pattern is erased while varying stepwise erasing power (step A05).
その後、テストパターンを所定の記録パワーで記録し（ステップＡ０４）、そのテストパターンを、消去パワーを段階的に変化させながら消去する（ステップＡ０５）。 - 特許庁 - To prevent power consumption from increasing while reducing dependency of a test pattern.
データパターンの依存性を低減しつつ、消費電力の増加を抑制する。 - 特許庁 - The test device is operated corresponding to the input test signal group, and supplies a test pattern signal to the device to be tested corresponding to the first clock, the device to be tested is operated by the test pattern signal input corresponding to the first clock, while generates a test result.
テストデバイスは入力されたテスト信号群に対応して動作し、第１クロックに対応して被テストデバイスにテストパターン信号を供給し、被テストデバイスは第１クロックに対応して入力されたテストパターン信号で動作するとともにテスト結果を生成する。 - 特許庁 - Moreover, the inkjet printer 1 has a controller 4 which controls the belt conveying device 20 so that the test pattern and a reading surface 41 of the image sensor 40 may be opposed to each other after the test pattern is formed to the test pattern formation region.
さらに、インクジェットプリンタ１は、テストパターン形成領域にテストパターンが形成された後に、テストパターンと画像センサ４０の読取面４１とが対向するように、ベルト搬送装置２０を制御する制御装置４を有している。 - 特許庁 - Thus, the test pattern photographing apparatus 10 magnifies a plurality of particular parts of the test pattern image, in this case, four corner parts of the rectangular test pattern image by using each lens and uses the imaging element 11 to photograph them in parallel at the same time.
これにより、テストパターン撮影装置１０は、テストパターン画像の複数特定部分、ここでは４角形状のテストパターン画像の４隅域部を、各レンズで拡大して１つの撮像素子１１で並列して同時に撮影する。 - 特許庁 - The projector comprises a test pattern projection part for projecting a prescribed test pattern to the projection surface, a focus changing part for moving the focus of the projector, and an imaging part for imaging the projected test pattern and generating a photographic image.
プロジェクタは、所定のテストパターンを投写面上に投写するテストパターン投写部と、プロジェクタの焦点を移動させるフォーカス変更部と、投写されたテストパターンを撮像して撮影画像を生成する撮像部とを備えている。 - 特許庁 - In the read/write test, test lengths having the specified lengths for all of the laps are set, and a test pattern is written into the part of the test length, and further, the same pattern is read out to verify the existence of the trouble to the device or the tape.
リード・ライト試験ではすべてのラップについて所定の長さの試験長を設定し、当該試験長部分に対してテスト・パターンを書き込み、さらに同パターンを読み取って装置またはテープへのトラブルの有無を検証する。 - 特許庁 - A test program generation device 20 converts a test pattern TP in such a predetermined format as to test a circuit to be tested into specific test programs A-C used by testers 31A-31C.
テストプログラム生成装置２０は、被テスト回路をテストするための所定の形式のテストパタンＴＰをテスタ３１Ａ〜３１Ｃで使用される固有のテストプログラムＡ〜Ｃに変換する。 - 特許庁 - A test scenario describing an arbitrary parameter is imparted to the test bench 102, the input pattern and the output expected value are automatically generated within the test bench 102, and they are stored in the memory 104 within the test bench 102.
任意のパラメータを記述するテスト・シナリオをテストベンチ１０２に与えて、テストベンチ内で入力パターンおよび出力期待値を自動生成し、テストベンチ内メモリ１０４に蓄積する。 - 特許庁
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