「Test pattern」を含む例文一覧(2179)

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  • The user feeds into the input scanner a special test pattern sheet.
    入力スキャナには特別のテストパターンシートが付与される。 - 特許庁
  • A test pattern signal is generated by a test pattern image generating means 11, and the signal is transmitted to a writing means 12.
    テストパターン像発生手段１１ではテストパターン信号が生成され、その信号が書き込み手段１２へ送られる。 - 特許庁
  • METHOD FOR RECORDING TEST PATTERN, INFORMATION- PROCESSING APPARATUS, AND RECORDING APPARATUS
    テストパターン記録方法、情報処理装置、及び記録装置 - 特許庁
  • CORE LIBRARY TEST PATTERN EDITOR AND METHOD OF DESIGNING LSI
    コアライブラリテストパターン編集装置およびＬＳＩ設計方法 - 特許庁
  • METHOD FOR RECORDING TEST PATTERN, INFORMATION- PROCESSING APPARATUS AND RECORDING APPARATUS
    テストパターン記録方法、情報処理装置および記録装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN EVALUATING DEVICE AND METHOD, AND SEMICONDUCTOR INSPECTING DEVICE
    テストパターン評価装置及びその方法、半導体検査装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR GENERATING TEST PATTERN
    半導体集積回路およびそのテストパターン生成方法 - 特許庁
  • After that, the same test pattern as the test pattern described above is sequentially recorded using the second and the subsequent line recording heads 203-205.
    ついで、第２以降のライン記録ヘッド２０３〜２０５の各々により、順次、前記テストパターンと同じテストパターンを記録する。 - 特許庁
  • To effectively utilize a memory region for storing a test pattern.
    テストパターンを格納するメモリ領域を有効に活用する。 - 特許庁
  • METHOD FOR MEASURING POSITION GAP, EXPOSURE METHOD AND TEST PATTERN
    位置ずれ測定方法および露光方法ならびにテストパターン - 特許庁
  • SETTING METHOD OF CORRECTION VALUE, AND TEST PATTERN FOR DENSITY CORRECTION
    補正値の設定方法、及び濃度補正用のテストパターン - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR ACQUIRING PROFILE DATA OF MACRO- GRATING TEST PATTERN
    マクロ格子テストパターンプロファイルデータ取得システムおよび方法 - 特許庁
  • IMAGE PROCESSOR AND IMAGE PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND TEST PATTERN
    画像処理装置、画像処理方法、プログラムおよびテストパターン - 特許庁
  • To reduce the time required for executing test pattern, and to reduce the time required for generating a test pattern.
    試験パターンの実行に要する時間を削減するとともに、試験パターンの作成に要する時間を削減すること。 - 特許庁
  • A test pad addition part 2 adds a test pad for sampling and applying electrical signal to the layout pattern to form an additional layout pattern.
    テストパッド付加部２は、上記レイアウトパターンに、電気信号サンプリング／印加するテストパッドを付加し、付加レイアウトパターンとする。 - 特許庁
  • JITTER APPLICATION CIRCUIT, PATTERN GENERATOR, TEST APPARATUS, AND ELECTRONIC DEVICE
    ジッタ印加回路、パターン発生器、試験装置、および、電子デバイス - 特許庁
  • TEST PATTERN HARDLY-PERCEPTIBLE TO HUMAN OBSERVATION, AND METHOD FOR ANALYZING IMAGE DATA CORRESPONDING TO TEST PATTERN OF INKJET PRINTER
    人間観察に知覚されにくいテストパターン、およびインクジェットプリンタのテストパターンに対応する画像データの分析方法 - 特許庁
  • METHOD FOR RECORDING TEST PATTERN, INFORMATION PROCESSING APPARATUS AND RECORDING APPARATUS
    テストパターン記録方法、情報処理装置および記録装置 - 特許庁
  • Then, the image of the recorded test pattern is read and the width of each fine line is determined from the image of the read test pattern.
    そして、記録されたテストパターンの画像を読み取り、読み取ったテストパターンの画像から各細線の幅を求める。 - 特許庁
  • TEST PATTERN FOR MEASURING CONTACT RESISTANCE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME
    コンタクト抵抗測定用テストパターン及びその製造方法 - 特許庁
  • PATH DELAY FAILURE SIMULATOR AND AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATING SYSTEM
    パス遅延故障シミュレータおよび自動テストパターン生成装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD AND PROGRAM
    テストパターン自動生成方法およびテストパターン自動生成プログラム - 特許庁
  • A first test pattern 10 and a second test pattern 20 are formed together with a fixed contact 2 by printing the conductive paste.
    導電性ペーストの印刷により、固定接点部２と共に第１テストパターン１０と第２テストパターン２０を形成する。 - 特許庁
  • A test pattern storage part 32 stores the test pattern to be supplied to a semiconductor integrated circuit as an object to be tested.
    試験パターン記憶部３２は、被試験対象としての半導体集積回路に供給する試験パターンを記憶する。 - 特許庁
  • SCAN TEST PATTERN INPUT METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    スキャンテストパタン入力方法および半導体集積回路 - 特許庁
  • TEST PATTERN IMAGE, COLOR SHIFT CORRECTION METHOD, AND IMAGE FORMING APPARATUS
    テストパターン画像、色ずれ補正方法、及び画像形成装置 - 特許庁
  • To allow reusing a test pattern and a test sequence already generated when a sequence circuit having the already generated test pattern, is changed.
    テストパターンが既に生成されている順序回路に回路変更が行われた場合に、既に生成されたテストパターン、テストシーケンスを再利用することを可能にする。 - 特許庁
  • The semiconductor device having a DAC is equipped with a test pattern generating means having a storage part which stores a test pattern, and an input terminal of a clock signal for test.
    テストパターンを記憶している記憶部をもつテストパターン発生手段と、テスト用クロック信号入力端子とを、ＤＡＣを有する半導体装置に備える。 - 特許庁
  • To improve processing efficiency in a test of an LSI by enabling sharing of a test pattern, a test program and a test jig by different LSIs.
    テストパターン，テストプログラム，およびテスト治具を異なるＬＳＩで共用できるようにし、ＬＳＩのテストにおける処理効率の向上を図る。 - 特許庁
  • A conversion test pattern selection part 5 sequentially takes in test vectors included in test patterns stored in a function verification test pattern storage part 1 to select test patterns and test vectors causing the number of failures detectable by the taken in test vectors to equal the total number of failures.
    変換テストパターン選択部５は、機能検証用テストパターン記憶部１に記憶されたテストパターンに含まれるテストベクタを順次取込み、取込んだテストベクタによって検出できる故障数が全故障数と同じになるテストパターンおよびテストベクタを選択する。 - 特許庁
  • A test pattern generated with the test pattern generation circuit 1 is given to the related circuit of the selected bank and the test pattern given from a tester is given to the related circuit of the other banks.
    選択されたバンクの関連回路にテストパターン発生回路１で生成されたテストパターンを与えるとともに、他のバンクの関連回路にはテスタから与えられたテストパターンを与える。 - 特許庁
  • A test pattern area where a test pattern is formed is set on an intermediate transfer belt 4, and a reference area is set in an area where a test pattern is not formed.
    中間転写ベルト４上に、試験パターンが形成される試験パターン領域が設定されるとともに、試験パターンが形成されない領域において、基準領域が設定される。 - 特許庁
  • To provide a method for detecting a test pattern capable of easily detecting the test pattern itself even for the test pattern recorded with ink with poor visibility, and an inkjet printer.
    視認性の悪いインクで記録されたテストパターンでも、そのテストパターンそのものを容易に検出することのできるテストパターンの検出方法及びインクジェットプリンタを提供すること。 - 特許庁
  • A low-speed test pattern generated by an external low-speed LSI tester is input to be transmitted to an inner circuit by converting the input low-speed test pattern to a high-speed test pattern.
    外部の低速ＬＳＩテスタから発生された低速のテストパターンを入力し、この入力した低速のテストパターンを高速のテストパターンに変換して内部回路に与える。 - 特許庁
  • A test pattern order change means 103 changes the arrangement according to the order starting from least number of uncertain value for a plurality of test patterns included in an initial test pattern set generated by an initial test pattern generation means 102.
    初期テストパタン生成手段１０２によって生成された初期のテストパタンセットに含まれる複数テストパタンに対して、テストパタン順序変更手段１０３は、不確定値の数が少ない順番に並び替えを行う。 - 特許庁
  • A test pattern sequence modifying means 103 rearranges a plurality of test patterns included in an initial test pattern set generated by an initial test pattern generating means 102 in accordance with the number of indeterminate values.
    初期テストパタン生成手段１０２によって生成された初期のテストパタンセットに含まれる複数のテストパタンに対して、テストパタン順序変更手段１０３は、不確定値の数に従って並び替えを行う。 - 特許庁
  • In one embodiment, a device comprises a conductor, and a transmitter including a transmitter test circuit which embeds test characteristics in a test pattern signal and transmits the test pattern signal to the conductor.
    一部の実施形態では、装置は、導体と、試験特性を試験パターン信号に埋め込みかつ導体に試験パターン信号を送信する送信機試験回路を含む送信機と、を含む。 - 特許庁
  • To reduce test cost by using a simple test pattern to perform a test of a circuit operated upon receiving the output of a functional block.
    機能ブロックの出力を受けて動作する回路のテストを簡易なテストパターンを用いて実施し、テストコストを削減する。 - 特許庁
  • A pattern comparison part 103 determines whether the deserializer 106 regenerates the test pattern correctly or not.
    パターン比較部１０３はデシアライザ１０６が正しくテストパターンを再生できたか判定する。 - 特許庁
  • A test pattern for use in checking the performance of a television set (where a technical feature resides in the pattern per se).
    テレビ受像機用のテストチャート(テストチャートそれ自体に技術的特徴がある)。 - 特許庁
  • Test whether filename matches pattern, returning true or false; the comparison is case-sensitive.
    filename が pattern にマッチするかテストして、真、偽を返します。 比較は大文字、小文字を区別します。 - Python
  • The image forming apparatus forms a test pattern only on one side of a recording paper, outputs the recording paper after the test pattern is fixed once, then forms the test pattern only on one side of the recording paper and outputs the recording paper after the test pattern is fixed once.
    画像形成装置は、記録用紙の片面にのみテストパターンを形成して一回の定着を行った記録用紙を出力し、次に記録用紙の片面にのみテストパターンを形成して一回の定着を行った記録用紙を出力する。 - 特許庁
  • A pattern most approximate to the design pattern is selected from the finely processed test resist patterns, and the test pattern used for the formation of the selected pattern is adopted as a correction pattern (S4, S8).
    微細化されたテスト用レジストパターンの中から前記設計パターンに最も近いパターンを選択し、選択されたパターンの形成に用いたテスト用パターンを補正パターンとして採用する（Ｓ４，Ｓ８）。 - 特許庁
  • A test pattern generating means 40 generates a test pattern T with the same data value as the code pattern data based on the set range and the initial value I.
    試験パターン生成手段４０は、設定された範囲及び初期値Ｉにもとづいて、符号パターンデータと同一のデータ値を持つ試験パターンＴを生成する。 - 特許庁
  • To provide a test pattern for verification generating system that is capable of facilitating a pattern input and generating an easily understood test pattern having excellent visibility.
    容易にパタン入力ができ、視認性の良くて分かり易い検証用テストパタンを生成することができる検証用テストパタン生成システムを提供する。 - 特許庁
  • An original test pattern created by an automatic test pattern generating means (ATPG) is separated into a pattern for a scan chain and patterns except for the scan chain.
    自動テストパターン生成手段（ＡＴＰＧ）で生成されたオリジナルのテストパターンを、スキャンチェーン用のパターンとスキャンチェーン用以外のパターンとに分離する。 - 特許庁
  • A pattern generating circuit generates a plurality of the same continuous pattern data of test rate in the generation of a test waveform at a general test rate on the basis of the clock of the test rate generated in a rate generator, and generates a plurality of different continuous pattern data of test rate in the generation of high-speed test waveform.
    パターン発生回路は、レート発生器で発生したテストレートのクロックに基づいて、通常のテストレートでテスト波形を生成するときはテストレートの複数の同じ連続パターンデータを発生し、高速のテスト波形を生成するときはテストレートの複数の異なる連続パターンデータを発生する。 - 特許庁
  • Basic test pattern data Db, e.g. a basic dot pattern or a basic lattice pattern, is stored in a memory 402 and a CPU 320 generates a variety of developed test patterns from the basic test pattern data Db.
    メモリ４０２に基本網点パターン、基本格子パターン等の基本テストパターンデータＤｂを記憶しておき、ＣＰＵ３２０によりこの基本テストパターンデータＤｂから多種多様な展開済みのテストパターンを生成する。 - 特許庁
  • A test pattern data generating part 11 generates test pattern data based on the combination of simultaneously settable test items among test items stored in a test item matrix file 21.
    試験パターンデータ生成部１１は、試験項目マトリックスファイル２１に記憶されている試験項目の組合せのうち、同時に設定することが可能な試験項目の組合せに基づいて試験パターンデータを生成する。 - 特許庁
  • This device is provided with a compression means for forming only the change portion from the previous pattern, while paying attention to a test pattern file used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file, and a memory means for storing the test pattern file compressed by the compression means.
    また、半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化して上記テストパターンファイルの圧縮を行う圧縮手段と、該圧縮手段で圧縮されたテストパターンファイルを記憶する記憶手段とを備える。 - 特許庁
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