「Test pattern」を含む例文一覧(2179)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 43 44 次へ＞- The semiconductor data processing device is provided with: test circuits (7, 8) for generating a test pattern in a CPU and internal circuits, testing them and maintaining the test results; a test control circuit (6) for activating the test circuits; a test start register (9); a test status register (10); and a test general register (11).
ＣＰＵ及び内部回路にテストパターンを発生してテストを行って結果を保持するテスト回路(７，８)と、テスト回路を起動するテスト制御回路（６）と共に、テスト起動レジスタ（９）、テスト状態レジスタ(１０)、及びテスト汎用レジスタ(１１)を備える。 - 特許庁 - To appropriately control a suction section, considering test-pattern recording.
テストパターンの記録を考慮して吸引部を適切に制御する。 - 特許庁 - SIGNAL GENERATOR, TEST PATTERN, AND EVALUATION METHOD OF VIDEO APPARATUS
信号発生装置、テストパターン及び映像機器の評価方法 - 特許庁 - DISPLAY METHOD OF TEST PATTERN, AND MEDICAL IMAGE DISPLAYING APPARATUS AND ITS PROGRAM
テストパターンの表示方法、医用画像表示装置及びプログラム - 特許庁 - DEVICE TEST SYSTEM, SERVER, DEVICE TESTER, AND PATTERN DATA SETTING METHOD
デバイス試験システム、サーバ、デバイステスタ、およびパターンデータ設定方法 - 特許庁 - SPEED MONITORING DEVICE, PATTERN GENERATOR, AND SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS
速度監視装置、パターン発生装置、及び半導体試験装置 - 特許庁 - PARTIAL EXTENDED SCANNING METHOD REDUCING QUANTITY OF DELAY TEST PATTERN
遅延テストパターンの量を削減する部分的拡張スキャン方法 - 特許庁 - A gray pattern 31 is test printed by each print engine 12-15.
各プリントエンジン１２〜１５によりグレーパターン３１をテストプリントする。 - 特許庁 - TEST PATTERN, SIGNAL GENERATOR AND METHOD OF EVALUATING VIDEO DEVICE
テストパターン、信号発生装置及び映像機器の評価方法 - 特許庁 - A non-ejecting nozzle is detected by reading out the test pattern by a read out device.
テストパターンを読取器で読み取って不吐ノズルを検出する。 - 特許庁 - The image recording means records the test pattern on a recording medium according to the test pattern signal processed by the image processing means.
画像記録手段は、画像処理手段で処理されたテストパターン信号にしたがって記録媒体上にテストパターンを記録する。 - 特許庁 - Density data of a test pattern formed by a test pattern formation part 100 are outputted from a print head and recorded on the recording paper.
テストパターン発生部１００により発生された、テストパターンの濃度データは、印字ヘッドに出力されて記録紙に印字される。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR SELECTING TEST PATTERN AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN SELECTION PROGRAM STORED THEREON
テストパターン選別装置、テストパターン選別方法およびテストパターン選別プログラムを格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁 - After that, generates a test pattern A again (S7 and S8), and measures and stores the image density Da1 to Da4 of the test pattern A (S9).
その後、再度テストパターンＡを生成し（Ｓ７、Ｓ８）、テストパターンＡの画像濃度Ｄａ１〜Ｄａ４を測定し記憶する（Ｓ９）。 - 特許庁 - A test pattern generating device 2 reads and writes a test pattern with regard to each address of semiconductor memories to be tested.
テストパターン発生装置２は、試験対象とする半導体メモリの各アドレスに対してテストパターンの書き込み，読み出しを行う。 - 特許庁 - The test pattern image forming part 91 forms a test pattern image as a toner image by the developing roller 342 in predetermined timing.
テストパターン像形成部９１は、所定のタイミングで現像ローラ３４２によりトナー像としてのテストパターン像を形成させる。 - 特許庁 - When receiving a memory test pattern for a pattern input period, the flash ROM 40 latches the memory test pattern in its inside, and the latched data of memory test pattern are written in a memory cell array for a nonvolatile program period after a lapse of the pattern input period.
フラッシュＲＯＭ４０は、メモリテストパターンをパターン入力期間に入力すると、これが内部でラッチされ、パターン入力期間経過後の不揮発性プログラム期間において、ラッチされたメモリテストパターンのデータがメモリセルアレイに書き込まれていく。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SCANNING CIRCUIT DESIGNING METHOD,TEST PATTERN CREATION METHODS AND SCAN TEST METHOD
半導体集積回路、スキャン回路設計方法、テストパターン生成方法、および、スキャンテスト方法 - 特許庁 - A test pattern conversion part 7 converts the test patterns and test vectors selected by the selection part 5 into test patterns for the LSI tester.
そして、テストパターン変換部７は、変換テストパターン選択部５によって選択されたテストパターンおよびテストベクタをＬＳＩテスタ用テストパターンに変換する。 - 特許庁 - A corrected part activating pattern merging means 112 produces a test pattern 114 by merging the 1chipATPG test pattern 111 with the corrected part activating pattern 109.
修正箇所活性化パタンマージ手段１１２は、上記１ｃｈｉｐＡＴＰＧテストパタン１１１と上記修正箇所活性化パタン１０９とをマージし、テストパタン１１４を生成する。 - 特許庁 - Also in one embodiment, the device comprises the conductor which conveys the test pattern which has the embedded test characteristics, and a receiver test circuit which judges whether the test pattern signal is received, and test characteristics are extracted, and extracted test characteristics adapt a predetermined test characteristics.
一部の実施形態では、装置は、埋め込み試験特性を有する試験パターン信号を搬送する導体と、試験パターン信号を受信して試験特性を抽出しかつ抽出試験特性が予想試験特性に適合するか否かを判断する受信機試験回路と、を含む。 - 特許庁 - When photographing a pattern of a photomask to measure the pattern size, a pattern size conversion formula for converting the number of pixels of a pattern image into a pattern size is obtained from a size measuring value of a test pattern and the number of pixels of a test pattern, and the number of pixels of the pattern image is converted into a pattern size by the pattern size conversion formula so as to measure the pattern size of the photomask.
フォトマスクのパターンを撮像してパターン寸法を測定する際に、パターン画像の画素数をパターン寸法に変換するパターン寸法変換式をテストパターンの寸法計測値とテストパターン画像の画素数とから求めておき、パターン画像の画素数をパターン寸法変換式によりパターン寸法に変換してフォトマスクのパターン寸法を測定する。 - 特許庁 - A test code generator reads out test procedure names in test procedure pattern information according to a test order and reads out test code information pieces each containing a test code fragment ID associated with the read-out test procedure name.
実施形態のテストコード生成装置は、テスト手順パターン情報内のテスト手順名をテスト順番に沿って読み出し、当該読み出したテスト手順名に関連付けられたテストコード断片ＩＤを含むテストコード情報を読み出す。 - 特許庁 - A program is set by using the setters 1A, 1B, 1D as test patterns, and when the noise test is started, the test pattern is generated automatically.
設定器１Ａ，１Ｂ，１Ｄを試験パターンとしてプログラム設定し、ノイズ試験開始には試験パターンを自動的に発生する。 - 特許庁 - Therefore, a common test pattern can be used in order to test a regular memory cell and a parity memory cell, and the test cost can be reduced.
このため、レギュラーメモリセルおよびパリティメモリセルを試験するために共通の試験パターンを使用でき、試験コストを削減できる。 - 特許庁 - To provide a test pattern selection apparatus which has a reduction in costs for testing and provides a constant test quality by a small number of test patterns.
少ないテストパターンで一定のテスト品質を得ることができ、テストコストを削減できるテストパターン選択装置を提供する。 - 特許庁 - To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test.
被試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する。 - 特許庁 - BUILT-IN TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF INITIALIZATION TEST OF SYNCHRONOUS CIRCUIT HAVING SCAN FUNCTION, AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN DATA
ビルトインテスト回路、集積回路装置、スキャン機能付き同期回路の初期化テスト方法、およびテストパターンデータの生成方法 - 特許庁 - To provide a test information management server for refining a necessary test pattern, in a test of a large-scale software component.
大規模なソフトウェア部品のテストにおいて、必要なテストパターンを絞り込むことができるテスト情報管理サーバを提供する。 - 特許庁 - This test system has many test channels, applies a test pattern to the device pins of a device under test(DUT) via the test channels, and verifies the response output of the DUT.
本テストシステムは多数のテストチャンネルを有し、そのテストチャンネルを経由して被試験デバイス（ＤＵＴ）のデバイスピンにテストパターンを印加して、そのＤＵＴの応答出力を検証する。 - 特許庁 - The ejection operation of the ink by the recording head 202 is controlled on the basis of the test pattern of the first test pattern and the second test pattern which has a smaller placement amount of the ink per unit area.
そして、第一のテストパターンと第二のテストパターンとのうち、単位面積当たりのインクの打ち込み量の少ない方のテストパターンに基いて記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。 - 特許庁 - A test pattern TPa and a comparing pattern CPa are outputted from a test circuit 50 to the integrated circuit 63, and CPU 67 or the like of the integrated circuit 63 operates based upon the test pattern TPa.
テストパターンＴＰａと比較用パターンＣＰａとがテスト回路５０から集積回路６３に出力され、集積回路６３のＣＰＵ６７等でテストパターンＴＰａに基づいて動作が行われる。 - 特許庁 - A transmitter 3 inserts a prescribed test pattern into an undefined area of a transmission frame, compensates difference of parity by insertion of the test pattern and transmits the test pattern to the respective transmission lines with the redundancy configuration.
送信装置３は、送信フレームの未定義領域に所定のテストパターンを挿入すると共に、テストパターンの挿入によるパリティの差分を補償し、冗長構成の各伝送路に送信する。 - 特許庁 - The frequency characteristics of the respective test pattern groups (A-E) are compared, and a test pattern group (C) for adjustment is then specified from among the respective test pattern groups (A-E) on the basis of an output value of a predetermined standard frequency.
そして、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を比較し、予め定めた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群（A〜E）の中から調整用テストパターン群（C）を特定する。 - 特許庁 - To provide a test pattern preparation device, a test pattern preparation method, a failure detection rate calculation device, and a failure detection rate calculation method for preparing a test pattern for highly precisely detecting the bridge failure of an LSI.
ＬＳＩのブリッジ故障を高精度に検出するテストパターンを作成できるテストパターン作成装置、テストパターン作成方法、故障検出率算出装置故障検出率算出方法を提供する。 - 特許庁 - The layout of the test pattern is optimized such that the print medium may be consumed at the minimum when printing the test pattern or the maximal measurement precision may be obtained from the test pattern.
テストパターンのレイアウトはテストパターンのプリントで可能な限り少ない量のプリント媒体しか消費しないように、あるいはテストパターンから得られる測定結果の精度を最大にするように最適化する。 - 特許庁 - The test procedure management part 43 creates a file for indicating stop of output of the test pattern A and start of output of a test pattern B, and outputs to the programmable remote controller 3.
テスト手順管理部４３は、テストパターンＡの出力の停止と、テストパターンＢの出力の開始を指示するファイルを作成し、プログラマブルリモコン３に出力する。 - 特許庁 - Next, on the basis of the test patterns 100 recorded on the recording medium 16, a discharge timing adjustment value of ink in a recorded position of a test pattern 100 is determined per test pattern 100 (A2, A3).
次に、記録媒体16上に記録されたテストパターン100を基に、当該テストパターン100が記録された位置でのインクの吐出タイミング調整値をテストパターン100毎に決定する（A2、A3）。 - 特許庁 - At first, the pickup 24 is moved to the test recording area of a disk 22, with the test pattern signal recorded on the disk 22 by switching to the test pattern generating circuit with a switching circuit.
まず、ピックアップ２４をディスク２２のテスト記録領域へ移動し、切り換え回路６２でテストパターン発生回路６４に切り換えて、テストパターン信号をディスク２２に記録する。 - 特許庁 - On the basis of the result of selecting the test mode, the test pattern is emitted from a pattern producing circuit 60 synchronously with the external clock exck, and the test for the semiconductor memory 20 is conducted.
このテストモード選択結果に基づき、パターン生成回路６０から、外部クロックｅｘｃｋに同期してテストパターンが出力され、半導体メモリ２０のテストが行われる。 - 特許庁 - At least one characteristic of the captured test pattern is then compared with the corresponding characteristic of the test pattern of the test chart, to determine the OTF of this lens.
そのとき、撮像テストパターンの少なくとも１つの特性をテストチャートのテストパターンの対応する特性と比較することによってこのレンズのＯＴＦを決定する。 - 特許庁 - On the basis of clock for test from the input terminal, the test pattern generating means generates the digital signal for test which is based on the test pattern, and supplies the signal to an input side of the DAC.
テストパターン発生手段は、テスト用クロック信号入力端子からのテスト用クロックに基づいて、前記テストパターンに従ったテスト用ディジタル信号を発生し、ＤＡＣの入力側に供給する。 - 特許庁 - The test pattern compression method performs compression on a plurality of test patterns for testing a circuit and is configured so as to simultaneously test the logic paths which cross each other activated by each test pattern.
回路をテストする複数のテストパターンに対して圧縮を行うテストパターンの圧縮方法であって、前記各テストパターンで活性化された論理パスが交差するものを同時にテストするように構成する。 - 特許庁 - This test pattern generator 10 for generating a test pattern for scan-testing the semiconductor integrated circuit is provided with a risky portion extracting part 110, and an ATPG 150 of a pattern generation executing part for executing the generation of the test pattern.
半導体集積回路をスキャンテストするためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置１００は、危険箇所抽出部１１０と、テストパターンの生成を実行するパターン生成実行部であるＡＴＰＧ１５０を備える。 - 特許庁 - It also comprises a memory means (for example, RAM6)for storing reference data in which test pattern data of the vibration test of the test body and a reference transmission characteristics data of the vibrator in vibration test in accordance with the test pattern data are correlated.
供試体の振動試験の試験パターンデータと、当該試験パターンデータに応じた振動試験における加振部の基準伝達特性データとが対応付けられた基準データを記憶する記憶手段（例えば、ＲＡＭ６）を備える。 - 特許庁 - The writing test of test pattern data on a track boundary is added besides the writing of a test pattern in a SAT test at the track center conventionally performed and the inspection of burst patterns (A, B patterns) by the writing test at that time.
従来行っていたトラック中心へのＳＡＴ試験におけるテストパターンの書き込みとその際の書き込みテストによるバーストパターン（Ａ，Ｂパターン）の検査に加え、トラック境界へのテストパターンデータの書込みテストを追加する。 - 特許庁 - The measured data of a new test pattern for a testing mask are obtained by measuring the line width of each gate pattern.
テスト用マスクの新規テストパターンの実測データは、各ゲートパターンの線幅について測定される。 - 特許庁 - A pattern, produced automatically by an ATPG, is used as a test pattern to enhance the inspection accuracy.
テストパターンとして、ＡＴＰＧにより自動生成されたパターンを利用し、検査精度を高める。 - 特許庁 - When a user etc. instructs test pattern printing, a control section 10 prints a gradation patch pattern X.
ユーザ等がテストパターン印刷を指示すると、制御部１０は階調パッチパターンＸを印刷する。 - 特許庁 - In the case of a printing processing, the test pattern is formed using a dither pattern corresponding to the printing processing.
印刷処理の場合は、印刷処理に対応したディザパターンを用いてテストパターンを形成する。 - 特許庁
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