「Test pattern」を含む例文一覧(2179)

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  • TEST PATTERN
    テストパターン - 特許庁
  • TEST CHART AND TEST PATTERN
    テストチャートおよびテストパターン - 特許庁
  • PATTERN TEST METHOD AND PATTERN TEST DEVICE
    パターン検査方法、及び、パターン検査装置 - 特許庁
  • PATTERN TEST DEVICE AND PATTERN TEST METHOD
    パターン検査装置およびパターン検査方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATOR
    テストパターン生成装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATOR
    テストパターン発生装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION DEVICE
    テストパターン生成装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATING DEVICE
    テストパターン発生装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION APPARATUS
    テストパターン生成装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN PHOTOGRAPHING APPARATUS
    テストパターン撮影装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN PREPARATION DEVICE
    テストパターン作成装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN FORMING APPARATUS
    テストパターン作成装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, AND TEST PATTERN GENERATION PROGRAM
    テストパタン生成システム、テストパタン生成方法、およびテストパタン生成プログラム - 特許庁
  • TEST PATTERN EDITING DEVICE
    テストパターン編集装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN FORMING METHOD
    テストパターン生成方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATING MEANS
    テストパターン発生手段 - 特許庁
  • METHOD FOR PRINTING TEST PATTERN
    テストパターン印刷方法 - 特許庁
  • PATTERN TEST APPARATUS, PATTERN TEST METHOD AND PROGRAM
    パターン検査装置、パターン検査方法及びプログラム - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
    テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁
  • TEST PATTERN SELECTION APPARATUS, TEST PATTERN SELECTION MEANS, AND TEST PATTERN SELECTING PROGRAM
    テストパターン選択装置、テストパターン選択方法、及びテストパターン選択プログラム - 特許庁
  • TEST PATTERN SELECTION DEVICE AND TEST PATTERN SELECTION METHOD
    テストパターン選別装置及びテストパターン選別方法 - 特許庁
  • PRINTER, TEST PATTERN, AND METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN
    印刷装置、テストパターン及びテストパターン製造方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATOR, AND TEST PATTERN GENERATION METHOD
    テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN PRINTING METHOD, PRINTING APPARATUS, AND TEST PATTERN
    テストパターン印刷方法、印刷装置、及びテストパターン - 特許庁
  • TEST PATTERN EDITING SYSTEM, TEST PATTERN EDITING PROGRAM, AND TEST PATTERN EDITING METHOD
    テストパターン編集装置、テストパターン編集プログラム及びテストパターン編集方法 - 特許庁
  • PRINTER, TEST PATTERN PRINTING METHOD, TEST PATTERN PRINTING PROGRAM, AND TEST PATTERN DATA
    印刷装置、テストパターン印刷方法、テストパターン印刷プログラムおよびテストパターンデータ - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATING CIRCUIT AND TEST CIRCUIT
    テストパターン生成回路及びテスト回路 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATING METHOD, AND TEST PATTERN GENERATING PROGRAM
    テストパターン生成方法およびテストパターン生成プログラム - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, AND TEST PATTERN GENERATION DEVICE
    テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置 - 特許庁
  • The test pattern is read by a test pattern imaging section 6.
    このテストパターンをテストパターン撮像部６により読み取る。 - 特許庁
  • TEST EJECTION METHOD AND TEST EJECTION PATTERN
    テスト吐出方法及びテスト吐出パターン - 特許庁
  • TEST PATTERN CREATING METHOD, TEST PATTERN CREATING SYSTEM, TEST METHOD AND TEST CIRCUIT FOR SYSTEM LSI
    システムＬＳＩのテストパターン作成方法，テストパターン作成装置，テスト方法及びテスト回路 - 特許庁
  • TEST-PATTERN FORMING METHOD, PRINTER AND TEST-PATTERN FORMING PROGRAM
    テストパターン形成方法、プリンタ、及びテストパターン形成プログラム - 特許庁
  • TEST PATTERN MANAGEMENT DEVICE, TEST PATTERN MANAGEMENT METHOD, AND PROGRAM
    テストパターン管理装置及びテストパターン管理方法及びプログラム - 特許庁
  • TEST RECORDING PATTERN DEPLOYMENT METHOD
    テスト記録パターン展開方法 - 特許庁
  • PARALLEL GENERATION METHOD FOR TEST PATTERN AND GENERATION APPARATUS FOR TEST PATTERN
    テストパターンの並列生成方法およびテストパターン生成装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION MANAGING SYSTEM AND TEST PATTERN GENERATION MANAGEMENT METHOD
    テストパターン生成管理システム及びテストパターン生成管理方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION DEVICE, TEST PATTERN CORRECTION DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
    テストパターン生成装置、テストパターン修正装置、テストパターン生成方法、プログラム、及び、記録媒体 - 特許庁
  • TEST DEVICE, PATTERN GENERATING DEVICE, TEST METHOD, AND PATTERN GENERATION METHOD
    テスト装置、パタン生成装置、テスト方法、及びパタン生成方法 - 特許庁
  • IMAGE RECORDER, TEST PATTERN AND TEST PATTERN FOR IMAGE RECORDER
    画像記録装置、テストパターン及び画像記録装置用テストパターン - 特許庁
  • TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION PROGRAM AND TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD
    テストパタン自動生成プログラムおよびテストパタン自動生成方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM
    半導体試験装置の試験パターン発生装置 - 特許庁
  • LSI SCAN TEST APPARATUS, TEST SYSTEM, TEST METHOD, AND TEST PATTERN CREATING METHOD
    ＬＳＩスキャンテスト装置、テストシステム、テスト方法、及びテストパターン作成方法 - 特許庁
  • A test pattern generator 24 reads a test pattern out of a test pattern storage 25 and prints out the pattern by using an output device.
    テストパターン発生装置２４がテストパターン記憶装置２５からパターンを読み出し、出力装置に印刷する。 - 特許庁
  • TEST PATTERN, TEST PATTERNING METHOD, AND PRINTER
    テストパターン、テストパターン作成方法及び印刷装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
    試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁
  • PRINTING DEVICE AND TEST PATTERN THEREOF
    印刷装置、及びそのテストパターン - 特許庁
  • A test pattern is output.
    テストパターン出力が行なわれる。 - 特許庁
  • QUALITY ASSESSMENT METHOD FOR TEST PATTERN
    テストパターンの品質評価方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN FORMING SYSTEM AND FORMING METHOD FOR TEST PATTERN USED THEREFOR
    テストパターン作成システム及びそれに用いるテストパターン作成方法 - 特許庁
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