「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • To keep the positional relation to an object to be tested of a portable probe constant in the eddy current flaw detection of the object to be tested having various unevennesses such as a welded part and the like.
    溶接部など多様な凹凸を有する被験体の渦流探傷において、携帯型のプローブの被験体に対する位置関係を一定に維持可能する。 - 特許庁
  • There are provided the improved IC tester for connecting the performance board connected electrically to a tested object electrically with a testing head to test the tested object.
    本発明は、被試験対象と電気的に接続するパフォーマンスボードとテストヘッドを電気的に接続し、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • The invention improves an IC tester for testing an object to be tested.
    本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • To provide a tester efficiently assigning pin resources to a memory to be tested.
    被試験メモリに対し効率良くピンリソースを割り当てる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a large-size tested object test device capable of measuring a maximum surface temperature of a large-size tested object, in an environment temperature test of an optical module.
    光モジュールの環境温度試験において、大型の被試験物の最高表面温度を測定できることができる大型の被試験物試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Furthermore, the image of the region of the object to be tested is obtained by obtaining the part corresponding to the region of the object to be tested obtained by the growth of the region from the X-ray photographing image.
    そして、領域成長によって得られた被検査体領域に対応する部分をＸ線撮影画像より取得して被検査体領域画像を得る。 - 特許庁
  • To start performance test of an engine to be tested quickly by raising inlet temperature of the engine to be tested to a predetermined temperature in a short period of time and simplify structure of a device.
    供試エンジンの入口温度を短時間に所定温度に昇温させて、その性能試験を速やかに開始させると共に、かつ装置の構成を簡単にする。 - 特許庁
  • The test state information on the machines to be tested, which is read into frames which represent the machines arranged according to the arrangement information, is displayed in the frames of the corresponding machines to be tested.
    配置情報に従って配置された被試験機を表した枠内に、読み込んだ被試験機の試験状況情報を、対応する被試験機の枠内に表示する。 - 特許庁
  • To provide an eddy current testing method capable of confirming adhesion when pressing a probe to a surface to be tested even if a curvature radius of the surface to be tested is unknown.
    被検査面の曲率半径が不明な場合でも、被検査面にプローブを押付けた際の密着性を確認できる渦電流探傷方法を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device which is assembled into a package that is so structured as to be tested as well as a wafer is tested even after a product is finished and a test method of the same.
    製品完成後もウェハ試験時と同等の試験が可能な構造を有するパッケージに組み立てられた半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • By serial communication between these two, the operation of the electronic unit 1 is tested.
    この両者間のシリアル通信により、電子ユニット１の動作検査が行われる。 - 特許庁
  • The pressing head 25 has a pressing surface 25a for pressing a semiconductor device to be tested, and positioning guides 25b for arranging the semiconductor device to be tested at a predetermined position in the recessed part.
    押圧ヘッド２５は、被試験半導体装置を押圧する押圧面２５ａと、被試験半導体装置を凹部内の所定位置に配置する位置決めガイド２５ｂとを有する。 - 特許庁
  • When a current is carried to an object to be tested (semiconductor device 3), the object is self-heated.
    被試験物（半導体装置３）に通電すると、被試験物は自己発熱する。 - 特許庁
  • To provide a synchronous semiconductor memory device for which many pieces thereof can be tested simultaneously.
    同時に多くの個数をテストできる同期型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • The defective candidate existing in an object 2 to be tested is extracted by photographing the second pattern 3a-2 transmitting/reflecting the object 2 to be tested and analyzing the photographed image.
    被検査物（２）を透過／反射した第２のパタン（３ａ−２）を撮像し、撮像した画像を解析することにより、被検査物（２）に存在する欠陥候補を抽出する。 - 特許庁
  • Each aerosol product is tested individually because factors such as the structure of the nozzle are related to combustibility/flammability.
    ノズルの構造なども影響するので、個々の製品サンプルについて試験する。 - 経済産業省
  • Doris had to babysit, I had to get down to the dmv, get my eyes tested.
    リス赤ちゃんにいた、私は降りていたに座る 私の目の検査を受けるのdmvへ。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • Doris had to babysit, I had to get down to the dmv, get my eyes tested.
    リス赤ちゃんにいた、私は降りていたに座る 私の目の検査を受けるのDMVへ。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • When tested, she consistently responds as our agent dunham would under similar circumstances.
    テストでも一貫して こちらのオリビアと 同様の状況下での 反応を示している - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • Well, I traced it to a rare colt semiautomatic pistol, and it's one from the prototype that the army tested in 1905, which became the famous 1911 pistol.
    そこから 銃は コルト・セミ・オートと 分かりました 1905年に軍がテストした - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • You tested positive for erudite so you must have the intellectual capacity.
    あなたは「博学」に 合格したから 知的な能力を持ってなければ いけないのよ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • The type of data required depends to a larger extent on the chemical being tested.
    必要とされるデータのタイプは，対象とする化学物質に大きく左右される。 - 英語論文検索例文集
  • You should have your head examined [tested, seen to].
    《口語》 (おかしなことをするから)頭を診てもらいなさいよ 《よくもそんなことができるな》. - 研究社 新英和中辞典
  • the group receiving the study agent that is being tested in a clinical trial or clinical study.
    臨床試験または臨床研究で検証される薬剤を投与される群。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • The Mersenne Twister is one of the mostextensively tested random number generators in existence.
    Mersenne Twister は、現存する中で、最も大規模にテストされた乱数生成器のひとつです。 - Python
  • INTEGRATED CIRCUIT TESTER HAVING MULTI-PORT TESTING FUNCTION, AND METHOD OF TESTING DEVICE TO BE TESTED
    マルチポート試験機能を持つ集積回路テスタおよび被験デバイスの試験方法 - 特許庁
  • An apparatus for measuring radiation EMI comprises, a plurality of antennae placed at measurement points remote from the equipment to be tested longitudinally or transversely relative to a measurement surface of the equipment to be tested so that beam widths formed by the antennae cover the measurement surface of the equipment to be tested without clearance, and a synthesis means for synthesizing interfering waves from the equipment to be tested received by the plurality of antennae.
    供試機器から離れた測定位置に、それぞれが形成したビーム幅が連結して供試機器の測定面を隙間なく覆うように供試機器の測定面に対して縦列または横列に配置された複数個のアンテナと、複数個のアンテナで受信した供試機器からの妨害波を合成する合成手段を備える。 - 特許庁
  • To provide a circuit measuring device in which a communication circuit can be tested readily.
    容易に通信回線のテストを行うことができる回線測定装置を提供する。 - 特許庁
  • A sleep sensor 40 detects a signal relating to biological information on the person 90 being tested.
    睡眠センサ（40）によって被験者（90）の生体情報に関する信号が検出される。 - 特許庁
  • A random value x is generated that identifies a portion of the real page number bits to be tested.
    テスト対象の実ページ番号ビットの部分を特定するランダム値ｘが生成される。 - 特許庁
  • METHODS AND SYSTEMS FOR ENABLING COMMUNITY-TESTED SECURITY FEATURES FOR LEGACY APPLICATIONS
    レガシーアプリケーション用にコミュニティ検査済みセキュリティ機能を有効化するため方法およびシステム - 特許庁
  • To execute a loopback test for a device to be tested having a transmission part of a light signal.
    光信号の送受信部を有する被試験デバイスのループバック試験を実行する。 - 特許庁
  • To provide a test device which inhibits an object to be tested from being damaged for a long period of time.
    試験対象物の損傷を長期に抑制する試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • Then, the organic laminated membrane 31 is tested by using this signal intensity distribution Iout.
    そして、この信号強度分布Ｉoutを用いて有機積層膜３１の検査を行う。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit which can be tested in a state in which noise is serious.
    ノイズが厳しい状態でテストすることができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
  • SOCKET FOR TEST, ITS MANUFACTURE, TESTING METHOD USING SOCKET FOR TEST, AND MEMBER TO BE TESTED
    テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁
  • To provide a system and a method for compressing effectively a test data for testing a device to be tested (DUT).
    試験対象デバイス(DUT)をテストするためのテストデータをより効果的に圧縮する。 - 特許庁
  • To exactly align when a pattern is tested by using a scanned electron microscope.
    走査型電子顕微鏡を用いてパターンの検査を行う際に、正確なアライメントを行う。 - 特許庁
  • Toxicity of a material to be tested is evaluated by detecting expression of the reporter protein.
    レポータータンパク質の発現を検出することで被検物質の毒性を評価できる。 - 特許庁
  • A test control section 2 writes test data in a memory 1 to be tested through a control section 3.
    検査制御部２はメモリ制御部３を介して検査データを被検メモリ１に書込む。 - 特許庁
  • Date data are then received, and the received date data are tested against the code data.
    次いで、日付データが受信され、受信された日付データはコード・データに照らしてテストされる。 - 特許庁
  • An IC tester for testing objects to be tested is improved in the present invention.
    本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • A photographed image of an eye to be tested and time information in the case of photographing are obtained by a plurality of sheets.
    撮影された被検眼画像及び撮影時の時間情報を複数取得する。 - 特許庁
  • A semiconductor wafer (chip) is tested by bringing probes 11 into contact with the test pads 8.
    また、検査用パッド８にプローブ１１を接触して半導体ウェハ（チップ）をテストする。 - 特許庁
  • The generated test pattern signal is supplied to a semiconductor device 500 to be tested.
    生成されたテストパターン信号は、被試験対象の半導体デバイス５００に供給される。 - 特許庁
  • The dose of an imaging system is tested by using a signal from a detector array 18.
    検出器アレイ（１８）からの信号を利用してイメージング・システムの線量を検定する。 - 特許庁
  • To reduce the time needed for random-verifying a function of a circuit to be tested.
    試験対象回路の機能をランダム検証する時間を短縮することを課題とする。 - 特許庁
  • To generate a reference level corresponding to various types of tested devices with a simple configuration.
    簡易な構成で、多様な品種の被試験デバイスに対応する基準レベルを生成する。 - 特許庁
  • The CPU 101 operates the circuit 102 to be tested at a selected operating condition.
    ＣＰＵ１０１は、選択された動作条件で試験対象回路１０２を動作させる。 - 特許庁
  • A metal electrode 33 is vapor deposited to a semiconductor substrate 27 as a sample to be tested.
    被検試料としての半導体基板２７に金属電極３３を蒸着させる。 - 特許庁
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