「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • A plurality of check points are tested in order to handle concurrency issues and to ensure quality of service.
    並列性の問題を処理し、サービス品質を保証するために、複数のチェックポイントをテストする。 - 特許庁
  • To satisfactorily scrub an electrode being a specimen to be tested while an interference with its passivation is being prevented.
    パッシベーションとの干渉を回避しつつ被検査物の電極のスクラブを良好に行う。 - 特許庁
  • To facilitate the test evaluation of an internal system of a device such as a copying machine to be tested.
    試験評価の対象となる複写機等の装置の内部システムの試験評価を容易にする。 - 特許庁
  • In one embodiment, the testing device is a glucose meter and the analyte being tested is glucose.
    一実施形態では、試験装置は、ブドウ糖メータであり、試験される検体は、ブドウ糖である。 - 特許庁
  • The IC tester for simultaneously testing two or more tested objects is improved.
    本発明は、２以上被試験対象を同時に試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • To photograph an ocular fundus picture of a wide view angle though an eye to be tested has the pupil of a small diameter.
    瞳孔径が小さい被検眼においても広い画角の眼底画像を撮影可能とする。 - 特許庁
  • To detect a surface position of a tested surface with high precision without being affected by fluctuation in an optical member.
    光学部材の変動に影響されずに被検面の面位置を高精度に検出する。 - 特許庁
  • In this manner, the transient voltage protective device may be highly reliably tested during its lifetime.
    それにより過渡電圧保護デバイスは、稼働寿命の間に信頼性良くテストすることができる。 - 特許庁
  • a test performed at home in which you collect specimens of your stool that are tested for traces of blood
    血液の痕跡が見られる排せつ物の検査サンプルを収集するために実行される試験 - 日本語WordNet
  • To provide a test apparatus which accurately tests a device to be tested outputting data with clock.
    データをクロックと共に出力する被試験デバイスを正確に試験する試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To display a waveform by piling up the waveforms based on signals to be tested taken in by a plurality of take-in devices.
    複数の取り込み装置で取り込んだ被試験信号に基づく波形を重ねて表示する。 - 特許庁
  • PROBE NEEDLE FOR WAFER TEST AND ITS PRODUCTION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTED WITH THE PROBE NEEDLE
    ウエハテスト用プロ—ブ針とその製造方法およびそのプロ—ブ針によってテストした半導体装置 - 特許庁
  • To write data into a plurality of semiconductor memories in a short period of time after the semiconductor memories are tested.
    半導体メモリの試験後に、複数の半導体メモリへのデータの書込みを短時間で行う。 - 特許庁
  • Each electric characteristic of Ref lot wherein a test is not performed and tested Try lot is measured.
    試験を行わないＲｅｆロットと、試験済みのＴｒｙロットとの電気特性を測定する。 - 特許庁
  • Each manufactured product should be tested in accordance with the GHS classification criteria.
    製作された個々の製品について、ＧＨＳの基準に従った試験を行なう必要がある。 - 経済産業省
  • The age calculation accuracy will be tested by the IT department and verified by the Quality Assurance of the establishment.
    月齢計算の精は施設のIT部門により検査され、QAにより検証されることとなる。 - 厚生労働省
  • Every cigarette butt or stray hair, shard of plastic, fingernail, toenail, piece of skin has to be tested.
    煙草の吸殻 ほつれ毛 プラスチックの破片 手足の爪 皮膚片まで すべてが検査対象です - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • The young would have to be tested, even sacrificed... inside harsh environments... where their brain activity could be studied.
    若者は実験され 厳しい環境の中で... 犠牲にもなる 脳の活動を研究するため - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • The range of inhibition concentrations tested was chosen arbitrarily, depending upon the effect of each.
    それぞれの影響に基づいて，この試験での阻害濃度の範囲が恣意的に選択された。 - 英語論文検索例文集
  • The range of inhibition concentrations tested was chosen arbitrarily, depending upon the effect of each.
    それぞれの効果によって，この試験濃度内での抑制濃度範囲が恣意的に選択された。 - 英語論文検索例文集
  • The range of inhibition concentrations tested was chosen arbitrarily, depending upon the effect of each.
    それぞれの効果によって，この試験濃度内での抑制濃度範囲が恣意的に選択された。 - 英語論文検索例文集
  • Over a 2-year period, the criteria were tested, focusing on the following questions:（1）…,（2）….
    2年間にわたってクライテリアの検定が行われ，力点は，以下の諸問題に置かれていた。（1）…,（2）…. - 英語論文検索例文集
  • Over a 2-year period, the criteria were tested, focusing on the following questions:（1）…,（2）….
    2年間にわたってクライテリアの検定が行われ，以下の諸問題に焦点が置かれていた。（1）…,（2）…. - 英語論文検索例文集
  • Over a 2-year period, the criteria were tested, focusing on the following questions:（1）.....,（2）.....
    2年間にわたってクライテリアの検定が行われ，力点は，以下の諸問題に置かれていた。（1）…,（2）… - 英語論文検索例文集
  • To borrow an argument from Karl Popper, a hypothesis is only of value if it can be tested.
    カール・ポッパーの議論を借用するなら、仮説は実地に試みられて初めて価値を持つのである。 - Tatoeba例文
  • She tested high on the LSAT and was admitted to all the good law schools
    彼女は、司法試験で高得点を取り、すべての優良なロースクールに入ることを許可された - 日本語WordNet
  • The system to be tested is a combination of two stand-alone X/Open DTP (distributed transaction processing) subsystems.
    テストされるシステムは,2つのスタンドアロンX/Open分散トランザクション処理(DTP)サブシステムの組み合わせである． - コンピューター用語辞典
  • it may also infect humans, and was found in some polio vaccines tested in the early 1960s.
    人にも感染することがあり、1960年代初期に検査されたポリオワクチンの一部で検出された。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • it may also infect humans, and was found in some polio vaccines tested in the early 1960s.
    ヒトに感染することもあり、1960年代初頭には検査されたポリオワクチンの一部で検出された。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • A terminal 36 to be tested receives the quality deteriorated medium addressed thereto from the network 35 and reproduces it.
    被試験端末３６は、ネットワーク３５から自身宛の品質劣化メディアを受信して再生する。 - 特許庁
  • To perform normal operation quickly even after facilities are extended and renovated and are tested.
    設備が増改造され、試験が行われた後であっても、速やかに通常運転が行えること。 - 特許庁
  • To provide a tester for a body to be tested to enhance determination accuracy.
    本発明は、判定精度を高めることができる被試験体の試験装置を提供することにある。 - 特許庁
  • To improve test efficiency by sequentially and successively performing test operations of a plurality of brakes to be tested.
    複数の被試験ブレーキの試験運転を順次連続して行い、試験効率を向上させる。 - 特許庁
  • Thus, the IF section between the memory and the system logic is also tested.
    よって、上記メモリと上記システムロジックとの間のＩ／Ｆ部分についてもテストすることができる。 - 特許庁
  • To provide a vector network analyzer which can measure accurately a property of a device to be tested.
    試験対象デバイスの特性をより正確に測定可能なベクトルネットワークアナライザを提供する。 - 特許庁
  • When LSI 10 itself is to be tested, the up counter 12 and the down counter 13 are operated in parallel.
    ＬＳＩ１０自体をテストする場合は、アップカウンタ１２とダウンカウンタ１３を並列に動作させる。 - 特許庁
  • The following companies road-tested one or both of the standards:
    以下の企業がスコープ3 基準・プロトコル基準のロードテストには、一方または両方に参加しました。 - 経済産業省
  • Ensure that the software package developer has tested the quality of the software before implementing the package.
    パッケージソフトウェアを調達する場合、開発元が品質テストを実施したことを確認すること。 - 経済産業省
  • To remarkably reduce the manhours for preparing a test program used when a semiconductor memory is tested.
    半導体メモリをテストする際に用いられるテストプログラムの作成工数を大幅に低減する。 - 特許庁
  • To provide a testing device for a semiconductor chip, capable of testing correctly an object to be tested, by simple regulation, even when a kind or state of the object to be tested varies, or even when one part of a contact unit develops trouble.
    被試験物の状態や種類が変化し、または、コンタクトユニットの一部が故障しても、簡単な調整で、被試験物を正しく試験することができる半導体チップの試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a low-pressure environment simulation device capable of appropriately performing the pressure control in a low-pressure chamber both when a subject is tested in the low-pressure chamber and when there is no subject tested in the chamber.
    低圧室内で被験者が試験をしている場合と、被験者がいない場合における低圧室の圧力制御適切に行うことができる低圧環境模擬装置を提供する。 - 特許庁
  • To accurately acquire various items of information on objects to be tested by a simple constitution in an object measuring apparatus for acquiring various items of information on objects to be tested through the use of spectral interference.
    スペクトル干渉を用いて被検物体の諸情報を取得する装置において、簡単な構成で精度よく被検物体の諸情報を取得可能な物体測定装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a new system for obtaining picture data by synthesizing noise data being an object to be tested which is obtained by noise visualization measurement simulating immunity test and design data being an object to be tested.
    イミュニティ試験を模擬したノイズ可視化測定によって得られた試験対象物のノイズデータと試験対象物の設計データとを合成して画像データを得るための新たなシステムを提供するものである。 - 特許庁
  • As for those semiconductor chips to be tested, contacts are electrically connected to a measuring unit, and as for those semiconductor chips not to be tested, contacts are electrically disconnected from the measuring unit, based on the signal.
    信号に基づいて、検査を行う半導体チップについては、接触部と測定部とを電気的に接続し、検査を行わない半導体チップについては、接触部と測定部とを電気的に切断する。 - 特許庁
  • In the contact part 12g, since damage caused by a spark, melting or the like is suppressed even when being tested repeatedly, the using lifetime is elongated, and deterioration of a commodity value of the device 13 to be tested can be prevented.
    コンタクト部１２ｇは、繰り返し試験されてもスパーク、溶融等による損傷が抑制されるため、使用寿命が延長し、被試験デバイス１３の商品価値の劣化を防止できる。 - 特許庁
  • To provide a testing device capable of supplying test signals to a plurality of tested devices formed on the same substrate to conduct tests, and capable of determining accurately the qualities of the plurality of tested devices.
    同一基板上に形成された複数の被試験デバイスに試験信号を供給して試験し、複数の被試験デバイスの良否判定を正確に行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a decoupling circuit capable of preventing a lightning surge over voltage applied to a device to be tested from flowing into an opposite device that is a communication apparatus such as an IT apparatus not to be tested.
    被試験装置に印加した雷サージ過電圧が試験の対象としていないＩＴ機器等の通信機器である対向装置へ流入するのを防止可能な減結合回路を提供する。 - 特許庁
  • The test result setting part 10 tests one code clone in the detected code clone set, and sets test case numbers to the tested source code lines to indicate that the entire code clone set has been tested.
    テスト結果設定処理部10は、検出したコードクローンセットの内１つのコードクローンをテストし、テストされたソースコード行にテストケース番号を設定してコードクローンセット全体がテストされたことを表示する。 - 特許庁
  • In particular, bacteria (cells) are brought into contact with a substance to be tested in solutions of the substance to be tested, having different degrees of dilution for ≤8 hours or 12 hours and the contact solutions are observed by a microscope.
    具体的には、細菌（細胞）と被験物質とを、希釈度の異なる被験物質の溶液中において８時間以下もしくは１２時間接触させ、当該接触液を顕微鏡観察する。 - 特許庁
  • To provide a temperature test system for an electronic apparatus by which a temperature test corresponding to each apparatus to be tested is executed regarding the temperature test of the electronic apparatus, and by which a temperature is tested and controlled by type and by apparatus.
    電子機器の温度試験に関し、個別の被試験装置に対応する温度試験を実行して機種別、号機別に温度試験管理を実現する電子機器の温度試験システムを提供する。 - 特許庁
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