「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 13 14 15 16 17 18 19 20 21 .... 58 59 次へ＞- The moving rack 4 fixes the body 5 of which corrosion is tested, and moves itself to the salt water discharge mechanism 2, thus adhering, in a dot shape, the salt water discharged from the salt water discharge mechanism 2 to the body 5 of which corrosion is tested.
移動架台４は、被腐食試験体５を固定し、自身を塩水吐出機構２に対して移動させることにより、塩水吐出機構２から吐出された塩水を被腐食試験体５に点状に付着させる。 - 特許庁 - After a substance to be tested is administered to a three-dimensional culture skin (skin model), air is blown to dry the substance to be tested to turn the lower alcohol speedily transpired, so that its effects are reduced to an negligible degree to perform evaluation.
三次元培養皮膚（皮膚モデル）上に被検物質を投与した後に送風乾燥して低級アルコールを速やかに蒸散させることにより、その影響を無視できるまでに低減して評価を行う。 - 特許庁 - After transmitting the imitation packets to each of the IP telephone terminals to be tested, the monitor 100 determines whether or not an abnormality has occurred in the tested IP telephone terminals.
そして、監視装置１００は、試験対象となる各ＩＰ電話端末１０ａ〜１０ｄに模倣パケットを送信した後に、試験対象となるＩＰ電話端末１０ａ〜１０ｄに異常が発生したか否かを判定する。 - 特許庁 - This lubricating function evaluating device is provided with a control means, a driving control device controlled by the control means, a driving-detecting device for detecting the torque of a tested body, and a testing machine for enclosing the tested body.
制御手段と、同制御手段によって制御される駆動制御装置と、被試験体のトルクを検出する駆動・検出装置と、被試験体を収納する試験機とを備えてなる潤滑機能評価装置。 - 特許庁 - In a monitor display, a pace car-displaying area displaying a vehicle driving in front of a car to be tested and a decision-displaying area deciding a distance between the vehicle displayed in the pace car-displaying area and the car to be tested are provided.
モニタディスプレイに、被試験車の前方を走行する車両が表示されるペースカー表示エリアと、ペースカー表示エリアに表示された車両と試験車両間の距離を判定する判定表示エリアを設ける。 - 特許庁 - When reference stimulation is loaded to the subject, a substance A to be tested is applied onto the left forearm of the subject, then a substance B to be tested is applied onto the right forearm, thereafter ECG (electrocardiogram) and GSR (galvanic skin response) data are obtained from each of the right/left forearms.
被験者に基準刺激を負荷したとき、被験者の左前膊に被験物質Ａを塗布した後、被験者の右前膊に被験物質Ｂを塗布し後のそれぞれに、ＥＣＧとＧＳＲのデータを取得した。 - 特許庁 - To provide a surface defect detector capable of reducing cost of the device, simplifying the system constitution and quickly judging good or bad of a body to be tested by shortening the processing time of the whole surface of the body to be tested.
装置のコストダウン及びシステム構成のシンプル化を図り、かつ被検体表面全体の処理時間を短縮して被検体表面の良否判定を迅速に行える表面欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - In the tested object 1, an incident and reflecting region KA where light from the light source 5 enters and is reflected is set in the center PC of rotation of the tested object holding part 3, or near the center PC of rotation.
被検査物１のうち光源５からの光を入射させると共に反射させる入射反射部位ＫＡは、被検査物保持部３の回動中心ＰＣまたは回動中心ＰＣ付近に設定されている。 - 特許庁 - To accurately and easily measure a solution concentration, even when a sample is contaminated, even when a tested solution is suspended, and even when a disturbance factor such as a suspended particle exists, in measurement of a specified component in the tested solution.
被検溶液中の特定成分の計測において、サンプルセルの汚れ、被検溶液の懸濁、浮遊粒子などの阻害要因がある場合でも、正確な溶液濃度を簡便に測定できる手段を提供する。 - 特許庁 - A BIST circuit 13A performs read-out of background data from an address to be tested, also, performs write-in/read-out of reversed data in which the background data are reversed for at least one part of the address to be tested.
ＢＩＳＴ回路１３Ａは、テスト対象アドレスからバックグラウンドデータの読み出しを行い、かつ、テスト対象アドレスの少なくとも一部に対してバックグラウンドデータを反転させた反転データの書き込み／読み出しを行う。 - 特許庁 - If the relative change of the expression amount of the marker genes in the Bhas 42 cell treated with a substance to be tested is used as an index, the carcinogenesis promoting activity can be detected by treatment with the substance to be tested in a time shorter than before.
被検物質で処理したＢｈａｓ４２細胞におけるマーカー遺伝子の発現量の相対変化を指標とすれば、従来よりも短時間の被検物質処理で発がんプロモーション活性を検出できる。 - 特許庁 - An external semiconductor memory test device 5 provided with data holding circuits F/F11-14 and switching circuits MUX21-24 is connected to a semiconductor memory test device 6, and devices MUT1-MUT4 to be tested are tested.
半導体メモリ試験装置６にデータ保持回路（Ｆ／Ｆ１１〜１４）と切換回路（ＭＵＸ２１〜２４）とを備えた外付け半導体メモリ試験装置５を接続して、被試験デバイス（ＭＵＴ１〜４）の試験を行う。 - 特許庁 - To provide a torsion tester for a rotary body applying torsional moment to an object to be tested under rotation to be capable of detecting not only the torque acting on the object to be tested during rotation but also an angle of torsion.
供試体を回転させつつねじりモーメントを負荷し、これによって回転中の供試体に作用するトルクのみならず、ねじれ角度をも検出することのできる回転体用ねじり試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide an LSI test system in which a plurality of DUTs can be tested without lowering the use efficiency of the test system when the DUTs are tested while being mounted on frames and the throughput of test process can be enhanced.
複数のＤＵＴをフレームに搭載してテストする場合にテストシステムの使用効率を悪化させることなくテストを行うことができ、テスト工程のスループットも向上させることが可能になるを提供する - 特許庁 - Turning off the energization to the electromagnet causes the arm 2 to fall while the object 1 to be tested is being suspended, only the object 1 to be tested first collides with a collision surface, and then the arm 2 is subjected to buffer collision to an arm stopper.
電磁石への通電がＯＦＦされるとアーム２は試験対象物１を吊り下げた状態で落下し、試験対象物１のみがまず衝突面に衝突し、続いてアーム２がアームストッパーに緩衝衝突する。 - 特許庁 - To perform substitution washing of the inside of a reaction vessel having a binding substance fixed thereon with a material to be tested fixed on the inner wall without fluctuating the level of a liquid in the reaction vessel and exfoliating the material to be tested.
結合物質が固定された反応容器の内壁面に被検物質を固定した状態で、反応容器内の液面を変動させず、かつ被検物質を剥離することなく反応容器内を置換洗浄する。 - 特許庁 - To test a device to be tested for outputting a plurality of modulation signals modulated by carrier signals of one and the same frequency or a device to be tested for outputting a plurality of baseband signals with a simple configuration.
同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを、簡単な構成により試験する。 - 特許庁 - To provide a contactless continuity test apparatus and method, capable of checking continuity of a probe for insulation test and electrodes of a component to be tested with the probe attached to the component to be tested.
絶縁試験用のプローブと試験対象部品の電極との導通を、プローブを試験対象部品に装着した状態で確認することのできる非接触導通試験装置および方法を提供する。 - 特許庁 - The testing device having a plurality of replaceable test modules that supply test signals to devices to be tested is emulated to verify a testing environment without use of the real items such as the devices to be tested and the test modules.
試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する交換可能な複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートし、被試験デバイスや試験モジュール等の実物を用いることなく試験環境を検証する。 - 特許庁 - A method for reducing the amount of a branched amino acid in a tested sample includes converting at least a part of the branched amino acid that is often contained in the tested sample for the analysis of L-methionine into an oxo acid.
L-メチオニンを分析するための被検試料に含まれる可能性がある分岐鎖アミノ酸の少なくとも一部をオキソ酸に変換することを含む、分岐鎖アミノ酸の被検試料中の量を低減する方法。 - 特許庁 - To constitute a test kit by flexibly combining discriminating substances for discriminating objects to be tested use by use and to speedily and easily specify the objects to be tested through the use of discriminating substances.
検査対象を識別するための識別物質を用途毎にフレキシブルに組み合わせて検査キットを構成できるようにすると共に、識別物質を用いて検査対象を迅速かつ容易に特定できるようにする。 - 特許庁 - To provide a device test equipment and a device test method which can secure stable thermal contact between a stage and a device to be tested, while being able to suppress a need for load and a contamination of the device to be tested.
荷重の必要性および被試験デバイスの汚染を抑制できるとともに、ステージと被試験デバイスとの熱的な安定接触を確保することができるデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁 - Furthermore, the substrate test-use jig unit is composed of: the substrate jig board 11; and a substrate holder having an aperture section which contacts with a portion area side to be tested this time in the substrate to be tested 101 and exposes it.
また、基板検査用治具ユニットは、上記基板治具ボード１１と、被検査基板１０１における今回検査分の部分領域側と当接してこれを表出させる開口部を有する基板ホルダとで構成した。 - 特許庁 - Eccentricity of the i-surface of a tested object 1 placed in an optical path of an interferometer is obtained from the interference fringe of the optical path including the i-surface obtained by passing luminous flux through the tested object 1, and data on eccentricity obtained by calculation.
干渉計光路中に置かれた被検物１に光束を通し得られたｉ面を含む光路の干渉縞と、計算で求めた偏心に関するデータとから被検物１のｉ面の偏心を求める。 - 特許庁 - To provide a test method for a semiconductor test device realizing an efficient device test method without testing doubly an address region already tested, in simultaneous measurement of plural DUT(device to be tested) utilizing a matched mode function.
マッチモード機能を利用した複数ＤＵＴの同時測定において、試験済のアドレス領域を重複試験しないで効率的なデバイス試験方法を実現する半導体試験装置の試験方法を提供する。 - 特許庁 - Since the driving wheel of the vehicle 20 to be tested is forcibly rotated by the rotation of the support rotating body 43, the vehicle speed of the vehicle 20 to be tested can be controlled, by controlling the rotation of the test machine-side power source 42.
この支持回転体４３の回転により試験車両２０の駆動輪は強制的に回転するから、試験機側動力源４２の回転を制御することで試験車両２０の車速を制御する。 - 特許庁 - This continuity inspection device includes open/short detection circuits (2_1 to 2_n) provided to each to-be-tested terminal (1_1 to 1_n), respectively, and configured to determine the presence or absence of at least of either an open-circuit failure or a short-circuit failure in to-be-tested terminals.
本発明にかかる導通検査装置は、検査対象端子（１_１〜１_ｎ）毎に、検査対象端子のオープン不良とショート不良の少なくとも一方を判定するオープン／ショート検出回路（２_１〜２_ｎ）を有する。 - 特許庁 - A special packet generating section 114 generates a special packet and transmits it to a network terminal 102 at a side to be tested.
特殊パケット生成部１１４は特殊パケットを生成して被試験側ネットワーク端末１０２へ送信する。 - 特許庁 - A computer 12 outputs test purpose encoded data E1 to a circuit 10 to be tested via a test circuit 18.
コンピュータ１２がテスト用符号化データＥ１を、テスト回路１８を介して被テスト回路１０に出力する。 - 特許庁 - The contact revolutions or the like ca be tested by measuring the shape of wave of the detected voltage using an oscilloscope 14.
かかる検出電圧の波形をオシロスコープ１４により測定することで、接触回転数等を検査できる。 - 特許庁 - To provide a method of identifying a risk category of a chemical product whose hazard has not been tested.
危険有害性試験データが得られていない化学品について危険度区分を特定する方法を提供する。 - 特許庁 - To make it possible to vary the crash angle of a vehicle to be tested in a test apparatus for vehicle crash.
車両衝突試験装置において、テスト車両の衝突角度を変えることができるようにすることである。 - 特許庁 - To provide a recognition device whose recognition accuracy is high even when an object to be tested being a recognition object moves.
認識対象である被検査体が動いているときでも、認識精度が高い認識装置を提供する。 - 特許庁 - Under a high-temperature environment, the electrical characteristics of the semiconductor element are tested through the wiring (S105).
高温環境下において前記配線を介して前記半導体素子の電気的特性の試験を行う（Ｓ１０５）。 - 特許庁 - The operation of the internal synchronous control circuit is tested using the reference signal 29 and the conflict signal 20.
そして、基準信号２９と競合信号２０を用いて内部同期制御回路の動作テストを行なう。 - 特許庁 - The test circuit includes a subtest circuit 1a corresponding to each of a plurality of output buffers 11 to be tested.
テスト対象とされる複数の出力バッファ１１のそれぞれに対応してサブテスト回路１ａを備える。 - 特許庁 - The IP address setting part 14 sets the transferred IP address as an IP address of the apparatus 10 to be tested.
ＩＰアドレス設定部１４は、渡されたＩＰアドレスを試験対象装置１０のＩＰアドレスとして設定する。 - 特許庁 - Semiconductor devices 310-380 to be tested are disposed in a cascaded state on a burn-in board.
バーンインボード上にテスト対象の半導体装置３１０−３８０をカスケード接続した状態で配置する。 - 特許庁 - A block between an IC and an MG and a block between the MG and a router adjacent to the MG are tested so as to be overlapped.
ＩＣとＭＧとの区間およびＭＧとこのＭＧに隣接するルータとの区間を重複して試験する。 - 特許庁 - To increase the number of semiconductor devices which can be tested simultaneously without improving current supply capability of a tester.
テスタの電流供給能力を上げることなく、同時に試験できる半導体装置の数を増大する。 - 特許庁 - Input vectors in subsequent frames are tested if they correspond to the characteristic cluster for moving object tracking.
動物体追跡のために、後続のフレーム内の入力ベクトルが特徴クラスタに対応するかどうかテストされる。 - 特許庁 - The internal circuit is tested by the scan method on the basis of the test input data set in the storage cell.
内部回路は、この記憶素子に設定されるテスト入力データに基づいてスキャン方式で試験される。 - 特許庁 - To provide a surge test circuit that can realize the same testing condition regardless of consumption current of tested-equipment.
被試験機器の消費電流によらず、同一の試験条件を実現できるサージ試験回路を提供する。 - 特許庁 - To transmit data to a computer to be tested, in the same order as the order of data transmitted between existing computers.
既存のコンピュータ間で送信されるデータの順序と同じ順序で試験対象コンピュータにデータを送信する。 - 特許庁 - Thus, according to this memory test circuit, the real array section and the redundancy section can be tested separately.
このように、本発明のメモリテスト回路によれば、実アレイ部と冗長部とを区別してテストを行うことができる。 - 特許庁 - APPARATUS FOR GENERATING TEST STIMULATION SIGNAL WITH CURRENT SOURCE IRRELEVANT TO INTERNAL IMPEDANCE CHANGE OF DEVICE TO BE TESTED
被試験装置の内部インピーダンス変化に関係ない電流ソースを有するテスト刺激信号を発生させる装置 - 特許庁 - To provide a program test device for raising readability in a test scenario which is used in the test of a program to be tested.
被テストプログラムのテストに使用されるテストシナリオの可読性を向上したプログラムテスト装置を提供する。 - 特許庁 - By detecting secondary electrons emitted from the sample 10, defects of the sample 10 can be tested.
試料１０から放出される二次電子を検出することにより、試料１０の欠陥を検査することができる。 - 特許庁 - A latch element L_i at the i-th stage latches the tested signal S1_i at the timing of the strobe signal STRB_i.
ｉ段目のラッチ素子Ｌ_ｉは、被試験信号Ｓ１_ｉを、ストローブ信号ＳＴＲＢ_ｉのタイミングでラッチする。 - 特許庁 - The second selection circuit switches between the output signal and the calculation signal and outputs it when the internal circuit is tested.
第２選択回路は、内部回路を試験するとき出力信号と演算信号とを切り替えて出力する。 - 特許庁
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