「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • The system is provided with plural kinds of test modules for improving a test system that tests an object to be tested.
    本発明は、複数種類の試験モジュールにより、被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • The second end 32 includes a platform 44 configured to position the fixing jig 14 for the body to be tested.
    第２の端部３２は、固定治具１４を被検体に対して位置決めするように構成されたプラットフォーム４４を含む。 - 特許庁
  • METHOD FOR RESTORING THE STATE OF THE ALGORITHM CONTROL WHEN ERROR OCCURS DURING TESTING DEVICE TO BE TESTED
    被試験デバイスの試験中にエラーが生じた場合にテストプログラムのアルゴリズム制御のその時点の状態を回復する方法 - 特許庁
  • When the roller device 13 is moved according to the wheel base of a tested vehicle, the movable support is moved interlocking therewith.
    ローラ装置１３を被試験車両のホイールベースに合わせて移動させると可動支柱がこれに連動して移動する。 - 特許庁
  • When the model to be tested is selected, data for the tag corresponding to the model are set in the emulator body 12.
    そして、検査対象の機種を選択すると、その機種に応じたタグのデータをエミュレータ本体１２に設定する。 - 特許庁
  • The acquired identification data is tested, and output of rendering operation of the document is controlled according to the test result.
    取得された識別データはテストされ、このテスト結果にしたがってドキュメントのレンダリング動作の出力が制御される。 - 特許庁
  • During the navigation, the ordered collection of the correlation values produced while the second filter is in use is tested.
    該ナビゲートの間に、第２のフィルタを使用中の間に生成された相関値の順序付けされたコレクションが調べられる。 - 特許庁
  • It receives only well-tested bug fixes and other small incremental enhancements. FreeBSD-CURRENT , on the other hand, has been one unbroken line since 2.0 was released, leading towards 7.0-RELEASE and beyond.
    もう一方のブランチは -CURRENT で、2.0がリリースされて以来 5.0-RELEASE (そしてその後も) へ向けて脈々と続いているものです。 - FreeBSD
  • The IDE is no longer runs on v. 1.3.1 of the JavaTM2 SDK, Standard Edition and is no longer tested on v. 1.4.0 and 1.4.1.The recommended JDK version is 1.4.2.
    Java[tm] 2 SDK, Standard Edition v.1.3.1 での IDE の実行が不可能になり、v.1.4.0 および 1.4.1 でのテストも中止されました。 JDK の推奨バージョンは 1.4.2 です。 - NetBeans
  • NetBeans C/C++ Development Pack 5.5.1 update 1 runs on operating systems that support the Java VM.NetBeans C/C++ Development Pack 5.5.1 update 1 has been tested on the followingoperating systems:
    NetBeans C/C++ Development Pack 5.5.1 update 1 は、Java VM をサポートしているオペレーティングシステムで動作します。 NetBeans C/C++ Development Pack 5.5.1 update 1 は、次のオペレーティングシステムでテスト済みです。 - NetBeans
  • The short-wavelength laser (20) and the long- wavelength laser (30) can be separately manufactured, optimized, and tested by the optical sub assembly (40).
    光学サブアセンブリ(40)により、短波長レーザー(20)と長波長レーザー(30)の別個の製造、最適化、及びテストを可能にする。 - 特許庁
  • In one aspect, the sample substrate may be filled with one or more samples to be tested in a testing device.
    １つの局面において、サンプル基板は、試験デバイス中で試験されるべき１つ以上のサンプルで充填され得る。 - 特許庁
  • To provide a remote automatic test device capable of testing the functions of a facility to be tested by remote control.
    試験対象設備の機能試験を遠隔操作にて行うことが可能な遠隔自動試験装置を提供する。 - 特許庁
  • In general, the information processor includes a speech recognition device, and when testing, the existence of a keyword is tested.
    一般的に、情報処理周辺装置は音声認識装置を含み、テストに際しては、キーワードの存在をテストする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory in which a defective cell can be efficiently tested during test operation.
    本発明は、テスト動作中に効率的に不良セルを検査可能な半導体記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To accurately measure an upper-limit value of load performance while taking the maximum traffic intensity of a telephone set to be tested.
    試験の被対象となる電話装置の最大呼量を考慮しつつ、負荷性能の上限値を正確に計測する。 - 特許庁
  • A single piece of LSI for proximity IC card can be tested by using a socket for a proximity IC card LSI.
    非接触ＩＣカードＬＳＩ用ソケットを用いて非接触ＩＣカード用ＬＳＩを単体で試験することが出来る。 - 特許庁
  • To provide a highly reliable package for testing which enables simple exchange of chips to be tested and is fit for recycling.
    検査対象のチップを簡単に交換することができ、リサイクルに適した信頼性の高いテスト用パッケージを提供する。 - 特許庁
  • According to this method, each of capacitors 12 on an assembly to be tested is subjected to the same conditioning level during testing.
    この方法によって、試験されるアセンブリ上の各々のコンデンサ１２が試験中に同じ調整レベルにさらされる。 - 特許庁
  • The display behavior of the display can be thus tested by displaying the test picture on the display.
    このように表示器にテスト画像を表示させると、表示器の表示動作に関する試験を実施することができる。 - 特許庁
  • METHOD FOR DETERMINING AND EVALUATING DISPLAY OF EDDY CURRENT OF CRACK IN OBJECT TO BE TESTED COMPRISING CONDUCTIVE MATERIAL
    導電性材料からなる試験対象物における特に亀裂の渦電流表示を判定して評価する方法 - 特許庁
  • Thereby, the plurality of memory banks 102∼105 can be tested simultaneously by using an existing function of the processor core section 101.
    これにより、プロセッサコア部１０１の既存の機能を使用して複数のメモリバンク１０２〜１０５を同時にテストできる。 - 特許庁
  • Reaction is caused in the object 9 to be tested accompanying the irradiation with light and measured by a measuring part 60.
    光照射に伴って試験対象物９において反応が生じ、その反応は計測部６０により計測される。 - 特許庁
  • In this way, prior to the actual reception of a facsimile document, a set value can be tested and confirmed as to whether or not the value has an error.
    これにより、実際にファクシミリ文書を受信する前に、設定値に誤りがないかをテストして確認できる。 - 特許庁
  • Thus, the reflected light from the rear side surface of the object 71 to be tested is shielded, and only reflected light from a surface is detected.
    これにより、被検物体７１の裏面からの反射光を遮光し、表面からの反射光のみを検出する。 - 特許庁
  • To provide a burn-in device capable of uniformly removing heat from a device to be tested and keeping it in a narrow target temperature range.
    被験装置から熱を均一に除去して狭い目標温度範囲内に維持できるバーンイン装置の提供。 - 特許庁
  • The electric test system is equipped with: an electric test device; and an electronic device to be tested by the electric test device.
    電気的試験システムは、電気的試験装置と、電気的試験装置によって試験される電子装置と、を備える。 - 特許庁
  • In test of the device, first of all, only a single tested pair chip 6 is mounted for testing whether it is good or defective.
    装置の試験を行う場合、先ず、被試験ベアチップ６を一つだけ実装して、良品か否かの試験を行う。 - 特許庁
  • After the electronic equipment assembly is formed and tested, it is fitted into the outer housing of the sensor dispensing device.
    電気機器アセンブリが、形成され、試験されたのち、電子機器アセンブリはセンサ分与装置の外ハウジングに組み入れられる。 - 特許庁
  • For example, the internal circuit 300 can be operated and tested while using an inexpensive LSI tester of low clock frequency.
    例えば、クロック周波数が低い低コストのＬＳＩテスタを用いて、内部回路３００を高速で動作させ試験できる。 - 特許庁
  • The IC tester for testing an object to be tested for outputting a multi-stage voltage is added with improvements.
    本発明は、多段階電圧を出力する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • To test a device to be tested with accuracy, at high speed, while simplifying a circuit configuration and a circuit amount.
    回路構成および回路量を簡略化しつつ、高速且つ正確に被試験デバイスの試験を行うことを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a testing device capable of highly accurately and easily specifying a failure portion of an apparatus to be tested in a short time.
    被試験器の故障部位の特定を、短時間で精度高く容易に行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a balance-testing machine capable of easily removing a roller presser and securely pressing a rotor to be tested.
    ロータ押さえの取り外しを容易に行え、かつ、確実に被試験回転体を押さえる釣合い試験機を提供する。 - 特許庁
  • A test signal is generated according to a test program 10 and transmitted 11 to a terminal 2 to be tested and a reference terminal 3.
    試験プログラム１０に従って試験信号を作成して被試験端末２及び基準端末３に送信１１する。 - 特許庁
  • The probe 6 of the contact probe 4 is brought into contact with an LSI chip 5 to be tested for performing an electric test.
    コンタクトプローブ４の接触子６を試験対象のＬＳＩチップ５に接触させて電気的な試験が行われる。 - 特許庁
  • To increase the efficiency of test work by eliminating the need for creating a stub program exclusively for a program to be tested or setting a testing environment.
    テスト対象プログラム専用のスタブプログラムの作成や、テスト環境の設定を不要とし、テスト作業を効率化する。 - 特許庁
  • In a preferred embodiment, a sample to be tested is brought to contact with the combination after the sample has been treated by a nuclease protection procedure.
    好適な態様では、被検サンプルにヌクレアーゼ保護処理を施した後に本発明のコンビネーションと接触させる。 - 特許庁
  • To reduce the amounts of a sample to be tested and a reagent to trace amounts, and to improve measurement accuracy, in a chemical analyzer.
    化学分析装置において、被検試料や試薬の使用量を微量化すると共に、測定精度を向上すること。 - 特許庁
  • To realize a test system capable of testing a tested object for decoding encode data with an IC testing device.
    エンコードデータをデコードする被試験対象を、ＩＣ試験装置で試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁
  • A plurality of logic comparators is provided in this instrument for testing the semiconductor circuit for receiving the output data from the tested semiconductor circuit.
    被試験半導体回路からの出力データを受ける半導体回路試験装置に複数の論理比較器を設ける。 - 特許庁
  • To provide a printed wiring board for transmitting and receiving a device to be tested, and ideal waveform via a through hole.
    スルーホールを介して、被試験デバイスと理想的な波形を送受することのできるプリント配線基板を提供する。 - 特許庁
  • In a pulsar with delays, the signals are fed through a multiplexer into a water wedge that is attached to a valve being tested.
    遅れをもつパルサーにおいて、この信号がマルチプレクサーを介して被試験弁に装着されたウォーターウエッジに送られる。 - 特許庁
  • A latch circuit 14 latches the signal S2 to be tested at an edge timing of an output signal MSTRB from the oscillator 12.
    ラッチ回路１４は、被試験信号Ｓ２を、発振器１２の出力信号ＭＳＴＲＢのエッジのタイミングでラッチする。 - 特許庁
  • A digital word comparison unit 220 compares a digital word expressing the reference value with a digital word fetched from the circuit to be tested.
    デジタル・ワード比較ユニット２２０は、基準値を表すデジタル・ワードと被試験回路から取り込んだデジタル・ワードとを比較する。 - 特許庁
  • A test pattern storage part 32 stores the test pattern to be supplied to a semiconductor integrated circuit as an object to be tested.
    試験パターン記憶部３２は、被試験対象としての半導体集積回路に供給する試験パターンを記憶する。 - 特許庁
  • For this metal electrode group 2, an electrode contact part 8 between the two metal electrode 6, 7 is exposed to the environment to be tested.
    この金属電極組２は、両金属電極６，７間の電極接触部８が被検出環境下に晒される。 - 特許庁
  • A semiconductor testing device 1 tests a semiconductor device 3, which is an object to be tested, for predetermined electric characteristics.
    半導体試験装置１は、試験対象物の半導体装置３について所定の電気的特性のテストを行う。 - 特許庁
  • To flexibly cope with various tested lenses, and to allow measurement under various conditions.
    様々な被検レンズにフレキシブルに対応でき、なおかつ、様々な条件での測定を可能とするレンズ測定装置を提供する。 - 特許庁
  • METHOD FOR PREPARING SPECIMEN TO BE TESTED FOR PCR EXAMINATION, COLLOIDAL GOLD ANTIBODY METHOD EXAMINATION, AND SURVIVAL CONFIRMATION EXAMINATION FROM EGG AND MAYONNAISE
    卵、マヨネーズからのＰＣＲ検査、コロイド金抗体法検査、生存確認検査対応の検体試料調製方法 - 特許庁
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