「Tested」を含む例文一覧(2940)
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ゴムなどの材料からなる試験片４は試験されたのちに試験機本体のチャック５にきれはしが残る。 - 特許庁 - To provide an automatic testing apparatus that makes it possible to efficiently test a plurality of kinds of devices to be tested.
複数種類の被試験器の試験を効率的に行うことを可能とする自動試験装置を提供する。 - 特許庁 - It has a simple structure and is inexpensive, since only the current flowing in the motor 28 is tested.
モータ２８に流れる電流を検出するだけだから、簡易な構成であり低価格なものとすることができる。 - 特許庁 - Consequently, Japan can export lithium-ion batteries tested in Japan and the problem was solved.
その結果、日本国内での試験によりリチウムイオン電池を輸出することが可能となり、問題は解決された。 - 経済産業省 - 1) Mean value of Draize Score (for each animal) is ? 2.3 to 4.0 for erythematic/eschew or edema in 2 of 3 tested animals)
1) 試験動物３匹中２匹以上で紅斑/痂皮または浮腫の Draize Score 平均スコア値（個体毎の）が≧2.3 ･ ＜4.0 - 経済産業省 - 1) Mean value of Draize Score (for single animal) is ? 1.5 to 2.3 for erythema/eschar or edema in 2 of 3 tested animals.
1) 試験動物３匹中２匹以上で紅斑/痂皮または浮腫の Draize Score 平均スコア値（個体毎の）が≧1.5 ･ ＜2.3 - 経済産業省 - The testing equipment 1 of the load applied repeatedly to the floor body of a building has a placing stand 3 on which the floor body 2 to be tested is placed and an air cylinder mechanism 4 becoming the load imparting means arranged above the floor body 2 to be tested which is placed on the placing stand 3 that imparts the repeated load to the floor body 2 to be tested.
建物の床体に繰り返しかかる荷重の試験装置１であって、被試験床体２を載置する載置台３と、該載置台３上に載置された被試験床体２の上部に配置され、該被試験床体２に対して繰り返し荷重を付与する荷重付与手段となるエアーシリンダ機構４とを有する構成したことを特徴とする。 - 特許庁 - The device has signal generators for outputting signal to the object to be tested, a semiconductor relay provided on the signal path between the signal generator and the object to be tested for turning on and off, and a controller for making the signal generator output a voltage which is different from the output of the object to be tested.
本装置は、被検査対象に信号を出力する信号発生器と、この信号発生器と被検査対象との信号経路上に設けられ、オン、オフを行う半導体リレーと、この半導体リレーのオフ時に、信号発生器に被検査対象の出力と異なる電圧を出力させる制御部とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁 - Each common testing electrode Y is formed, such that the shape and size do not corresponding to the individually tested electrodes X, and one common testing electrode Y corresponds to a tested electrode group formed by two or more tested electrodes X in common.
本発明の検査用治具基板は、被検査電極に対応する位置に検査用電極を備え、その少なくとも１つは、２個以上の被検査電極に共通に対応する共通検査用電極であり、共通検査用電極は、被検査基板における独立の配線ネットワークが互いに電気的な閉回路を形成することがない状態に形成されている。 - 特許庁 - To solve problems in a characteristic test for the PM motor wherein connection work between a testing machine and a tested machine takes much time, a large number of PM motors is tested with great inconvenience and that a controller for drive of the testing machine is required.
ＰＭモータの特性試験を実施する場合、試験機と被試験機との接続作業に時間がかかり、多数のＰＭモータの試験を行うのは大変であると共に、試験機の駆動用制御装置が必要となっている。 - 特許庁 - The relay node device (1) generates a first call for a test telephone, generates a second call for a telephone to be tested, and performs a connection test between the test telephone and the telephone to be tested by connecting the first call and the second call.
中継ノード装置（１）は、試験電話機との間の第１の呼の生成と、被試験電話機との間の第２の呼の生成とを行い、第１の呼と第２の呼とを結んで試験電話機と被試験電話機との接続試験を行う。 - 特許庁 - The control circuit 38, if the voltage of the apparatus 20 to be tested is smaller than the predetermined voltage, generates a control signal for repeating conduction and no-conduction so that a period for conducting FET28, 30 at the same time may exist if the voltage of the apparatus 20 to be tested is smaller than the predetermined voltage.
制御回路３８は、被試験装置２０の電圧が予め定めた電圧以下の時、ＦＥＴ２８、３０を、同時に導通する期間が存在するように、導通、非導通を繰り返す制御信号を発生する。 - 特許庁 - This IC tester is an improved IC tester, having both a digital test part for performing digital test on an object to be tested on the basis of a digital clock and an analog test part for performing analog tests on the object to be tested on the basis of an analog clock.
本発明は、デジタルクロックに基づいて、被試験対象のデジタル試験を行うデジタル試験部と、アナログクロックに基づいて、被試験対象のアナログ試験を行うアナログ試験部とを有するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁 - This method for screening the mitochondria function-activating substance is characterized by bringing a substance to be tested in contact with sperm collected from a mouse having a deleted type mitochondria DNA and selecting the tested substance recovering the kinetic ability of the sperm.
欠失型ミトコンドリアDNAを有するマウスから採取した精子に被験物質を接触させ、該精子の運動能を回復させた被験物質を選択することを特徴とする、ミトコンドリア機能活性化物質のスクリーニング方法。 - 特許庁 - To provide a fire detector for not needing a maintenance person to check a model of a fire detector to be tested and for performing simple setting work of light-emission conditions for the detector to be tested.
試験しようとする火災検知器の機種を保守員が調べる必要がなく、また、試験しようとする火災検知器についての発光条件を設定する作業が簡素である火災検知器を提供することを目的とするものである。 - 特許庁 - To provide a parts testing device and a parts holder preventing the dew condensation of tested parts, shortening an normal temperature return time, enhancing the control accuracy of the temperature of parts to be tested and achieving the enhancement of throughput.
供試験済部品の結露防止、常温復帰時間の短縮または試験前部品の温度制御の精度向上を図り、しかもスループットの向上を図ることができる部品試験装置および部品保持装置を提供するすること。 - 特許庁 - The helium gas in a helium gas cylinder 21 is blown against the tested point of a tested object 10 via a probe 15; after measurement for a prescribed time, the residual helium gas is sucked in by a diaphragm pump via the probe 15 to be removed.
被試験体１０の試験箇所にプローブ１５を介してヘリウムガスボンベ２１のヘリウムガスを吹き付け、所定時間の測定を行なった後、プローブ１５を介してダイヤフラムポンプ２３で残留ヘリウムガスを吸引して排除する。 - 特許庁 - A diffraction grating 42 receives the calibration signal and the tested signal reflected by the mirror 12, and separates the tested signal into spectral components while it returns spectral lines of second order or higher in the calibration signal to the mirror 12.
回折格子４２は、放物面境１２で反射された校正光信号及び試験光信号を受け、試験光信号のスペクトル成分を分離すると共に、校正光信号の２次以上のスペクトル線を放物面境１２に戻す。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic flaw detector, capable of specifying an exact position of an ultrasonic testing section in relation to an object to be tested, when scanning the ultrasonic testing section on the surface of a suspected body on which the object to be tested is disposed.
検査対象物が配された被検体の表面上で超音波探傷部を走査する際、検査対象物に対する超音波探傷部の正確な位置を特定することができる超音波探傷装置を提供すること。 - 特許庁 - Also, an opposite element 5 for converting a signal outputted by the IC 7 to be tested into an electric signal 23 which is homogenous with an electric signal 21 inputted to the IC 7 to be tested is held by the clip main body 1.
クリップ本体１に保持され被試験用ＩＣ７に入力される電気信号２１と同質の電気信号２３に被試験用ＩＣ７が出力する信号を変換するための対向素子５がクリップ本体１の保持されている。 - 特許庁 - To provide a method and device for testing gear wherein the strain of a tooth space of the gear which is to be tested is measured without affected by the strain of diameter or shape of the center hole of the gear which is to be tested.
被試験歯車の中心の孔の形状や径の歪みの影響を受けることなく、被試験歯車の歯溝の歪みを測定する歯車試験方法と、この歯車試験方法を実現する歯車試験装置とを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing a characteristic of a magnetic head in which a characteristic of a read element can be tested exactly in the form of a wafer, especially the characteristic of the read element under heating and under cooling can be exactly tested.
ウエハ段階においてリード素子の特性を的確に試験することを可能とし、とくに加熱下、冷却下におけるリード素子の特性を的確に試験することを可能にする磁気ヘッドの特性試験方法を提供する。 - 特許庁 - When optical pulses which are radiated from the optical- pulse generation part 110 are incident on an optical fiber 160 to be tested, backscattered light which corresponds to the optical pulses is incident on the optical-pulse generation part 110 from the optical fiber 160 to be tested.
光パルス発生部１１０から出射された光パルスが被試験光ファイバ１６０に入射されると、この光パルスに対応する後方散乱光が被試験光ファイバ１６０から光パルス発生部１１０に入射される。 - 特許庁 - At processing after the test, only the measured values in the predicted range are included in a tested measured value group to be used for the condition decision of processing to be operated afterwards, so that the measured values beyond the predicted range are not included in the tested measured value group (S29).
検定後の処置では、予想範囲内の測定値のみを、その後の処理条件決定に用いる検定済み測定値群に含ませ、予想範囲外の測定値を検定済み測定値群に含ませないようにする（Ｓ２９）。 - 特許庁 - To measure a tilt of outer diameter of a body tube in an optical system to be tested, in order to carry out a speedy and precise eccentricity measurement using a measured result as a reference axis, even when it is difficult to hold the body tube in the optical system to be tested, while preventing it from tilting.
被検レンズ系の鏡筒を傾くことなく保持することが困難な場合でも、被検レンズ系の鏡筒の外径の傾きを測定し、これを基準軸として速やかで高精度な偏心測定を行う。 - 特許庁 - To execute in a short time a test for measuring a response characteristic of an IC to be tested by measuring the operable shortest period by changing the application period of a test pattern applied to the IC to be tested, so as to be gradually shortened.
被試験ＩＣに印加する試験パターンの印加周期を漸次短くなる方向に変化させ動作可能な最短周期を測定し、被試験ＩＣの応答特性を測定する試験を短時間に実行できるようにする。 - 特許庁 - Alcohol concentration of breathing is measured when the person to be tested breathes from a mouthpiece 24 directly attached to an alcohol detector 22, and the face image of the person to be tested with an alcohol detector 22 is photographed by the digital camera 28 including alcohol detector 22.
被験者がアルコール検知器２２に直接取り付けられたマウスピース２４から呼気を吹き付けた時に呼気のアルコール濃度の測定を行い、被験者の顔画像をアルコール検知器２２を含めてデジタルカメラ２８で撮影する。 - 特許庁 - An image of a tested object S is photographed by means of an imaging device 6 in the inspection unit 2 so as to be processed by means of an image processor 7, and if a colored part is detected in the tested object S, it is determined as being a defective item.
被検査物Ｓの映像は検査部２において撮像装置６により撮像されて画像処理装置７によって処理され、被検査物Ｓに着色部分が検出されると欠陥品であると判断される。 - 特許庁 - Then, the test instruction device 10 displays the test result of the test target software tested by the test execution device 20.
そして、試験指示装置１０が、試験実行装置２０における試験対象ソフトウェアの試験結果を表示する。 - 特許庁 - To perform absolute calibration for profile irregularity error inherent to a tested surface without any influence of measuring attitude to the gravity.
重力に対する測定姿勢に影響されない、被検面に固有の面精度誤差の絶対校正を可能とする。 - 特許庁 - In an LSI 100, the I/O section 110, which is an object to be diagnosed/tested, is provided outside a local clock section 101.
ＬＳＩ１００において、ローカルクロック部１０１の外部に、診断・テスト対象となるＩ/Ｏ部１１０を有する。 - 特許庁 - This is an improvement over a tester simulation apparatus used for simulating a test for a tested object by using a tester.
本発明は、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - The etching of a DBC substrate formed by etching a copper plate which is bonded to a ceramic substrate is tested.
本発明は、セラミック基板の上に接合された銅板をエッチングすることにより形成されるDBC基板のエッチングを試験する。 - 特許庁 - An object 15 to be tested can be directly suspended and supported on the lower surface of the table 13, dispensing with a suspending tool.
被試験物１５は振動台１３の下面に直接吊り下げて支持することができ、吊り治具が不要である。 - 特許庁 - This uniform magnetic density allows the BCI transformer 500 to excite only the common-mode current in the tested conductor.
この均一な磁束密度により、ＢＣＩトランス５００は、被試験導体にコモンモード電流のみを励起することができる。 - 特許庁 - IMPROVED DIRECT PATH, REFLECTIVE PATH, METHOD AND DEVICE OF MEASUREMENT OF DEVICE TO BE TESTED USING LINE MEASUREMENT CALIBRATION
改良された直通路・反射路・線路計測較正を用いて試験対象デバイスを計測する方法及び装置 - 特許庁 - To improve a memory device so that it can be tested, constituted, and operated with minimum cost and high reliability.
メモリ装置を最小コストで高い信頼度でテストし、構成し、作動することができるように、メモリ装置を改良すること。 - 特許庁 - Thereby, the HLA genes can be tested more quickly and accurately in worksites for organ transplantation or the like.
これらにより、臓器移植等の現場において、より迅速かつ精度の高いＨＬＡ遺伝子の検査が可能となる。 - 特許庁 - To enable the verification of whether a test of software to be tested is executed under a right environment or not after the test.
テスト対象のソフトウェアのテストが正しい環境下で実施されたのかをテスト後に検証する可能にすること。 - 特許庁 - The conduction of a wiring network of the wire harness including the harness elementary wires is tested every time when the harness elementary wire is connected.
ハーネス要素電線が接続されるたびに該ハーネス要素電線を含むワイヤーハーネスの回路網の導通を検査する。 - 特許庁 - To provide a testing device capable of testing the device to be tested such as a semiconductor memory with low cost and at high speed.
低コスト、且つ高速度で半導体メモリ等の被試験デバイスを試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁 - The battery packs 41 and 42 to be tested are connected by one set of two at an output node of the AC/DC power supply 2.
ＡＣ／ＤＣ電源装置２の出力側に検査対象となる電池パック４１，４２を２台１組で接続する。 - 特許庁 - Driving characteristics of a device under test (DUT) of the domain parts 23 of the array substrate 22 are electrically tested with an array tester body 47.
アレイテスタ本体47でアレイ基板22の表示領域部23の被検査対象デバイスの駆動特性を電気的に検査する。 - 特許庁 - To provide a force sensor testing device capable of performing a load test in 6-axis directions on a force sensor which is an object to be tested.
被試験体である力センサに対して６軸方向に加重試験できる力センサ試験装置を提供する。 - 特許庁 - To transmit data to a computer to be tested in the same order as the order of the data transmitted between existing computers.
既存のコンピュータ間で送信されるデータの順番と同じ順番で試験対象コンピュータにデータを送信する。 - 特許庁 - The condition of the brake test of the brake 4 to be tested is determined on the basis of information recorded in the type determination part 25.
そして、機種判別部２５に記録された情報を基に被試験ブレーキ４のブレーキ試験の条件が決定される。 - 特許庁 - Therefore, all wafers as a whole can be tested within a relatively short processing time, while the self-heating value is suppressed.
したがって、ウエハ全体として自己発熱を抑制しつつ比較的短い処理時間でテストを完了することができる。 - 特許庁 - To provide a testing device capable of preventing the test of a tested device using a false output data signal.
誤った出力データ信号を用いて被試験デバイスを試験することを防ぐことができる試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method, an apparatus, and a manufactured product concerning a safety relay having relay contact points that can be independently tested.
個々独立してテスト可能なリレー接点を有する安全リレーに関する方法、機器および製造品を提供する。 - 特許庁 - This system can be used easily, quickly, and handling, positioning, and orientation of the textiles to be tested has no significance.
このシステムは容易かつ迅速に使用でき、テスト対象の織物の取扱い、配置、および配向は重要ではない。 - 特許庁
