「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 18 19 20 21 22 23 24 25 26 .... 58 59 次へ＞- The HC adsorbent has high heat resistance and keeps high XRD (X-ray diffraction) intensity after tested for heat resistance and durability.
当該ＨＣ吸着剤は、耐熱性が高く耐熱耐久処理後におけるＸＲＤ回折強度が高く維持される。 - 特許庁 - An ANA spokesperson says, "We have tested the Internet system and found it doesn't interfere with the navigation systems on our planes."
全日空の代表者は，「インターネットのシステムを検査し，飛行機の航行システムを妨(さまた)げないということがわかった。」と話す。 - 浜島書店 Catch a Wave - Consequently, the mask function of input/output data can be tested or evaluated efficiently at read-out in a test mode.
結果として、テストモードでの読み出し時においても入出力データのマスク機能を効率良く検査または評価することができる。 - 特許庁 - To provide a testing device which can shorten a testing time of a memory to be tested having a repair block for each area domain.
リペアブロックをエリア領域毎に有する被試験メモリの試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。 - 特許庁 - A low level voltage is fed to the terminals test1, test2 normally and a high level voltage is applied to the terminals test1, test2 when a function of the selector is tested.
ｔｅｓｔ1 ，ｔｅｓｔ2 には、通常時にはローレベル電圧が、セレクタの機能試験時にはハイレベル電圧が印加される。 - 特許庁 - To efficiently perform an operation verify test required and enough for detecting the error of a specification latent in an object to be tested.
被テスト対象物に潜在する仕様の誤りを検出するのに必要十分な動作検証テストを効率よく行う。 - 特許庁 - To allow a wire state of a bonding wire to be tested, where the bonding wire connects a chip terminal for grounding to a grounding plate or a grounding terminal.
接地プレート或いは接地端子と接地用チップ端子を接続するボンディングワイヤのワイヤ状態をテスト可能にする。 - 特許庁 - The engine testing apparatus 1 is connected to one of a plurality of engines distinct from one another, where the engine connected is to be tested.
エンジン試験装置１は、互いに異なる複数のエンジンのうちの１つが接続されて、この接続されたエンジンを試験する。 - 特許庁 - Thereby, it can be tested whether read and write of data for the RAM is performed for a correct address or not.
これによってＲＡＭに対するデータの読み書きが正しいアドレスに対して行われているか否かを検査することができる。 - 特許庁 - To provide a testing method by which presence/absence of defects of current copy type pixels is tested in the state where an EL element is not enclosed.
ＥＬ素子未封入の状態でカレントコピー型の画素の欠陥の有無を試験することができる試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test apparatus for a power device, which is capable of suppressing damage to an electrode of the power device to be tested and is easy to maintain.
テスト対象のパワーデバイスの電極の損傷を抑制できかつメインテナンスが容易な、パワーデバイスのテスト装置を提供する。 - 特許庁 - To keep the order of voltage application and eliminate unnecessary loss of time, when applying a voltage to a device to be tested.
被試験デバイスに電圧を印加するときに、不要なタイムロスをなくし、電圧印加の順番を遵守させることを目的とする。 - 特許庁 - The lever body 26 includes a thermocouple 29 on the edge, and contacts on the battery 5 to be tested on the board when the lever body is lowered.
杆体２６は先端に熱電対２９を備え、これが、杆体が降下したとき、基板上の被験電池５に当接する。 - 特許庁 - To minimize the frequency of movement of a probe and to shorten a test time when semiconductor chips formed on a wafer are tested.
ウエハ上に形成された半導体チップを試験するときに、プローブの移動回数を最小限にし、試験時間を短縮する。 - 特許庁 - A switching circuit 26 is connected in series to reactors 22, 24 between positive and negative terminals 20P, 20N of the apparatus 20 to be tested.
被試験装置２０の正負の端子２０Ｐ、２０Ｎ間に、リアクトル２２、２４と直列にスイッチング回路２６が接続されている。 - 特許庁 - CHIP FOR MICROBEAD ARRAY USING MICRO-CHANNEL ORGANIZER, MICROBEAD ARRAY AND METHOD FOR DETECTING MATERIAL TO BE TESTED USING THE SAME
マイクロ流路形成体を利用したマイクロビーズアレイ用チップ、マイクロビーズアレイ及びこれらを用いた被検物質を検出する方法。 - 特許庁 - The close end of the optical fiber to be tested is connected with the test port of a device having a light source, a detector and a directional coupler.
テストされるべき光ファイバの近端は、光源と検出器と方向性カプラとを有する装置のテストポートに接続される。 - 特許庁 - Then, for the whole surface of the tested surface 108a, interference fringe of reflection test wave L3 and a reference wave L4 is collectively measured.
そして、被検面１０８ａの全面について、一括して反射試験波Ｌ３と参照波Ｌ４との干渉縞を計測する。 - 特許庁 - A paraboloidal mirror 12 receives the calibration light signal 39 from a fiber 24 and the tested light signal 34 from a fiber 26.
放物面境１２は、ファイバ２４からの校正光信号３９及びファイバ２６からの被試験光信号３４を受ける。 - 特許庁 - To realizes a device and method for testing a memory capable of shortening a testing time of a memory to be tested.
被試験メモリの試験時間を短縮することができるメモリ試験装置及びメモリ試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁 - The server computer 104 has a JTAG scan program 103 and capable of issuing a scan test to a desired device to be tested.
該サーバコンピュータ104は、JTAGスキャンプログラム103を備えており、所望の被試験装置へスキャンテストを発行することが可能なものである。 - 特許庁 - For bit errors, bus segments, device interface, and connection between devices and device interface are tested.
実施形態によって、ビット・エラーに対して、バス・セグメント、デバイス・インターフェース、デバイスとデバイス・インターフェースとの間の結合、をテストすることができる。 - 特許庁 - To provide a method for determining whether or not a protein to be tested is capable of interacting with a retinoid X receptor protein.
被験タンパク質がレチノイドX受容体タンパク質と相互作用する能力を有するか否かを判定する方法を提供する。 - 特許庁 - A test pattern generating device 2 reads and writes a test pattern with regard to each address of semiconductor memories to be tested.
テストパターン発生装置２は、試験対象とする半導体メモリの各アドレスに対してテストパターンの書き込み，読み出しを行う。 - 特許庁 - To provide a technique for accurately determining the insulation resistance of an object to be tested in a thunder impulse withstand voltage test.
雷インパルス耐電圧試験において対象物の絶縁耐性を正確に判定することが可能な技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a burn-in board capable of supplying a low and sufficiently precise voltage to a device to be tested.
試験対象デバイスに低電圧且つ十分な精度の電圧を供給することができるようにしたバーンインボードを提供する。 - 特許庁 - To provide an electronic component handling device for testing an electronic component to be tested having input/output terminals provided on both sides.
両面に入出力端子が配置された被試験電子部品を試験するための電子部品ハンドリング装置を提供する。 - 特許庁 - An actual system 200 is an actually operating computer system, and a test system 400 is a computer system to be tested.
実システム２００は実際に稼働している計算機システムであり、試験システム４００は試験対象の計算機システムである。 - 特許庁 - To provide a method for detecting surface defects, in which dead zone existing around the tail tip end of a material being tested, such as, plate is minimized.
厚板等被検材の先尾端付近に存在する不感帯を最小にした表面欠陥検出方法を提案する。 - 特許庁 - This can test the device 1 to be tested incapable of writing a program 8 to the nonvolatile memory 4.
これにより不揮発メモリ４にプログラムを書き込むことができない試験対象装置１に対して試験を行なうことが出来る。 - 特許庁 - Spherical refractivity SPH_0, the cylindrical refractivity CLY_0 and astimatic-axial direction AX_0 of the tested lens L held in a reference eye position are measured (S1, S2).
基準眼位に保持された被検眼鏡レンズＬの球面屈折力SPHo、円柱屈折力CYLo、乱視軸方向AXoを測定する(S1,S2)。 - 特許庁 - To facilitate the fitting of the spline section between a torque converter and a testing device, to increase the number of torque converters to be tested, and to improve productivity.
トルクコンバータと試験装置とのスプライン部の嵌合を容易にし、トルクコンバータの試験台数を増加し、生産性を高める。 - 特許庁 - To enable many semiconductor devices to be tested at a time, and enable programs and data to be written therein collectively, in order to improve efficiency.
一度に多くの半導体デバイスに一括でテストやプログラムやデータの書き込みなどを可能にし効率を上げる事である。 - 特許庁 - To provide a testing arrangement supplying test signal of proper voltage accordingly to the specification of the input terminal of a tested device.
被試験デバイスの入力端子の仕様に応じて適切な電圧の試験信号を供給する試験装置を提供する。 - 特許庁 - Therefore, electrical properties can be tested, without using a high-precision, high-resolution, and expensive analog voltage- generating circuit.
このため、高精度、高分解かつ高価なアナログ電圧発生回路を用いることなく、電気的特性のテストを行うことができる。 - 特許庁 - To reload a significant value as a reference value into a word recognizer while a logic analyzer is fetching data from a circuit to be tested.
ロジック・アナライザが被試験回路からのデータ取り込み期間中に、意味のある値を基準値としてワード・レコグナイザに再ロードする。 - 特許庁 - A 2nd testing device receives only processing data as a result of processing of the tested device for the target data to evaluate the result.
第２の試験装置は、ターゲットデータに対する被試験装置における処理の結果である処理データのみを受信して評価する。 - 特許庁 - To provide a ferroelectric memory and its test method in which characteristics of a memory can be tested without performing bake-processing.
ベーク処理を行うことなく、メモリの特性をテストすることのできる強誘電体メモリ及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - Each opening part 58 is provided above the integrated circuit 44 or device to be tested on the burn-in board 20 under the valve tray 22 concerned.
各開口部58は、当該バルブトレイ22の下のバーンインボード20上の被テスト集積回路44または装置の上に設けられている。 - 特許庁 - A driver board 16 outputs an algorithmic pattern 41 constituted of the regular test pattern corresponding to a semiconductor device to be tested.
ドライバボード１６は、被試験半導体装置に対応した規則的なテストパターンで構成されるアルゴリズミックパターン４１を出力する。 - 特許庁 - The apparatus is further adapted to perform multi-modality testing in which more than one sensory modality of the subject is tested simultaneously.
この装置は更に、被験者の２つ以上の感覚モダリティを同時に検査するマルチモダリティ検査も実行するようになっている。 - 特許庁 - (a) An evaluation sample combined thermally with the tested semiconductor laser system and a semiconductor laser system for wavelength monitoring is prepared.
（ａ）被試験半導体レーザ装置と波長モニタ用半導体レーザ装置とが熱的に結合された評価試料を準備する。 - 特許庁 - The diffraction grating 3 is disposed near the front focal plane of the tested lens while the imaging element 4 is disposed near the rear focal plane thereof.
回折格子３は被検レンズの前側焦平面近傍に配置し、撮像素子４は後側焦平面近傍に配置する。 - 特許庁 - In such constitution, precharging and read/write access can be tested at an operating speed corresponding to the fast clock.
このような構成により、高速クロックに相当する動作速度でプリチャージ及びリード・ライトアクセスのテストを行うことが可能となる。 - 特許庁 - To provide an opening timing detecting device for an exhaust valve in an engine tested capable of improving work efficiency.
作業能率を向上させることが可能となるテスト対象エンジンにおける排気バルブの開タイミング検出装置を提供する。 - 特許庁 - An object to be tested 4 is mounted onto a holding part 17, which can be moved in the reciprocative directions along a rectilinear guide part 15.
直線状のガイド部１５に沿って往復方向に移動をすることができる保持部１７に被試験物４を取り付ける。 - 特許庁 - When the circuit 22 to be tested has a disconnection failure, fluctuation occurs in the supply current even in the static state of a transistor.
被試験回路２２に断線故障がある場合には、トランジスタの静止状態であっても、電源電流に変動が生じる。 - 特許庁 - The tester has parallel I/O interfaces 7 and 8 for test interfaces, and confirms an operation of a parallel I/O interface of a device to be tested.
テスト用インタフェースにパラレルＩ／Ｏインタフェース７，８を持ち、被試験器にあるパラレルＩ／Ｏインタフェースの動作確認を行う。 - 特許庁 - To efficiently prepare a test pattern for an updated program when contents of a program to be tested are changed.
テスト対象のプログラムの内容が更新された場合に、更新後のプログラム用のテストパターンを効率的に作成できるようにする。 - 特許庁 - Before high-temperature heating, delay time of a tested circuit 1401 is measured.
本発明にかかる半導体集積回路の試験方法では、まず、高温加熱前に、被試験回路１４０１の遅延時間を測定する。 - 特許庁
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