「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • To provide a device for processing a signal between a tester and a plurality of devices to be tested by one-time touchdown of a probe at a high temperature.
    高温かつプローブの１回のタッチダウンで、テスターと複数の被試験デバイスとの間で信号を処理するための装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an airtightness testing machine in which a plurality of types of airtight container can be tested using a single airtightness testing machine.
    複数種類の気密容器の気密試験を一台の気密試験機で効率良く行うことができる気密試験機を提供する。 - 特許庁
  • Then a high-temperature heating is performed for a specified time while a first frequency signal is inputted to the tested circuit 1401.
    その後、被試験回路１４０１に対して第１の周波数信号を入力した状態において一定時間高温加熱する。 - 特許庁
  • To provide an inexpensive fundus camera with excellent operability capable of setting an optimum illumination light quantity corresponding to the visibility of an eye to be tested.
    被検眼の視度に応じて最適な照明光量に設定することができ、安価で操作性に優れた眼底カメラを提供する。 - 特許庁
  • The test circuit 100 performs the test of the circuit to be tested, and outputs the test result for a tester.
    本発明におけるテスト回路１００は、テスト対象回路のテストを行ってテスタに対してテスト結果を出力するテスト回路である。 - 特許庁
  • The exit status is the exit status of the last command executed, or zero if no condition tested true.
    終了ステータスは最後に実行されたコマンドの終了ステータスですが、真と評価された条件が全く無い場合には 0 となります。 - JM
  • However, with system or library calls the situation is rather different, and error returns can happen, and will happen, and should be tested for.
    しかしながら、システムコールやライブラリコールの場合、状況がかなり違っていて、エラーが返されることがありえるし、実際あるだろう。 - JM
  • In this exercise, you built the CustomerBook application using Java EE 5 technology.You then deployed the project and tested the web application.
    この課題では、Java EE 5 テクノロジを使用して CustomerBook アプリケーションを構築しました。 そのあとで、プロジェクトの配備と Web アプリケーションのテストを行いました。 - NetBeans
  • In this exercise, you built the ZooApp web application you developed for the Java EE 5 platform.You then deployed and tested the ZooApp web application.
    この課題では、Java EE 5 プラットフォームで開発した ZooApp Web アプリケーションの構築を行いました。 続いて、ZooApp Web アプリケーションの配備とテストを行いました。 - NetBeans
  • The practical and interview examinations are commissioned to the union of each production area because highly specialized experience and personal qualities are tested in these examinations.
    実技試験と面接試験については極めて専門的な技術や個人的な資質を問われるため､産地組合に委託される。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • The tool 1 as a substitute for a torque box hole is attached to the vehicle to be tested having no torque box hole is substituted for the torque box hole.
    トルクボックス穴を有しない被試験車両に取り付けてトルクボックス穴の代わりをさせるトルクボックス穴代用治具１である。 - 特許庁
  • In addition, the station numbering which had been tested on the Kitano Line and the Japan railway line color list were formally introduced on all routes, including this one.
    また、北野線で試用されていた駅ナンバリングと日本の鉄道ラインカラー一覧が当路線を含む全線で正式導入された。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • If there is a failure caused by severance of wire in the circuit 22 to be tested, the power supply current fluctuates, even if a transistor is in a stationary condition.
    被試験回路２２に断線故障がある場合には、トランジスタの静止状態であっても、電源電流に変動が生じる。 - 特許庁
  • An input and output terminal part 6 is held by a clip main body 1 in which a clipping part 2 for clipping an IC 7 to be tested is formed.
    被試験用ＩＣ７を挟むための挟み部分２が形成されたクリップ本体１に入出力端子部６が保持されている。 - 特許庁
  • Thereby, the drug metabolism activity can be tested by using the polymorphism of the CYP3A4 gene producing the T185S as an index.
    従って、Ｔ１８５ＳをもたらすＣＹＰ３Ａ４遺伝子の多型を指標とすることで薬物代謝活性の検査が可能となった。 - 特許庁
  • This retrieving mechanism reduces the storage space of a node by using only a forward pointer together with a next bit or bit group to be tested next.
    本検索機構は、テストすべき次のビットまたはビット・グループとともに前方ポインタのみを使用し、ノードの記憶スペースを減少させる。 - 特許庁
  • To reduce measurement time in GHz band by eliminating movement of an antenna such as height scan even if equipment to be tested is large-sized.
    供試機器が大型であってもハイトスキャンのようなアンテナの移動を無くし、ＧＨｚ帯における測定時間を短縮可能にする。 - 特許庁
  • To detect foreign matter with high sensitivity without any influence of the material quality, shape and mix-in direction in a tested body.
    異物の材質、形状、被検査体内での混入方向等に影響を受けず高感度にこの異物を検出することができること。 - 特許庁
  • To provide a magnetic measuring device tiltable corresponding to a tested region with little amount of evaporation of a refrigerant.
    被検査部位に対応して装置を傾斜させることができるとともに、冷媒の蒸発量の少ない磁気計測装置を提供する。 - 特許庁
  • To surely bring a probe pin into contact with a section to be tested while an assembled board remains as it is in a printed wiring board testing device.
    プリント配線板検査装置において、集合基板のままの状態で、プローブピンと被検査部位が確実に接触できること。 - 特許庁
  • To automatically generate a test scenario for test script to cover a transition pattern passing through a specified screen only by specifying a screen to be tested.
    テストしたい画面を指定するだけで、指定した画面を通る遷移パターンを網羅するテストスクリプト用のテストシナリオを自動生成する。 - 特許庁
  • To provide an optoelectronic circuit board which allows an optical element and an optical waveguide to be tested while the optical element is mounted on the board.
    光素子を基板に実装した状態で光素子及び光導波路の検査が可能な光電子回路基板を提案する。 - 特許庁
  • To provide a drunk driving prevention system capable of preventing a person other than a driver in a vehicle from being tested as a dummy and passing an alcohol test.
    運転者以外の他者によるアルコール検査の成り代わりを防止することができる飲酒運転防止システムを提供する。 - 特許庁
  • The completeness of the memory is tested to avoid reloading the data into the memory after the disconnection of electric power of the battery for a short time.
    バッテリの非常に短時間の電気的パワー切断後に、メモリへの再ローディングを回避するため、メモリの完全性が試験される。 - 特許庁
  • To provide a decision device and a decision method that can decide whether a signal output from a tested body is good or not.
    被試験体から出力される信号の良又は不良を判定することが可能な判定装置及び判定方法を提供する。 - 特許庁
  • The robustness of the landmarks is furthermore tested, and if the robustness is insufficient, a subdivision is made of the regular geometrical patterns.
    更にランドマークの堅牢性が試験され、堅牢性が不十分である場合には規則的な幾何学的パターンの細区画が行われる。 - 特許庁
  • For example, when a memory 1 is tested by a marching algorithm, the write data WDT of n-bit all "0" is outputted from a CPU 2.
    例えば、メモリ１をマーチング・アルゴリズムで試験する場合、ＣＰＵ２からｎビットのオール“０”の書き込みデータＷＤＴを出力する。 - 特許庁
  • To stably support a sample body to be tested in a predetermined attitude and to drop the element.
    本発明の落下試験に用いる吊上げ切離し装置の課題は、被試験体を一定な姿勢に安定して支持して落下させることにある。 - 特許庁
  • If a result of the communication quality test shows NO, each AP is tested as to whether handover should be performed at the period of about several hundred mm/sec.
    通話品質のテストがＮＯであったときに、各ＡＰに対して約数百ミリ秒周期でハンドオーバするべきかのテストをする。 - 特許庁
  • The least-recently-tested active node is swapped out from the HA cluster, and a stand-by node is swapped into the HA cluster.
    現在まで最も長い間テストされていないアクティブノードはＨＡクラスタからスワップアウトされ、スタンバイノードがＨＡクラスタにスワップインされる。 - 特許庁
  • To obtain an encoder analysis apparatus which is capable of improving accuracy in detecting the presence/absence of abnormality relating to a foreign substance or flaw in an encoder to be tested.
    被試験エンコーダにおける異物や傷に関連した異常の有無の検出精度を向上できるエンコーダ解析装置を得ること。 - 特許庁
  • To precisely discriminating a part representing a damaged part in a tested body from an eddy current test signal obtained by an eddy current test.
    渦電流検査により得られた渦電流検査信号から、被検査体に存在する損傷を表す部分を精度よく識別する。 - 特許庁
  • To provide a surface defect detection method capable of detecting a defect present on the surface of an object to be tested with high precision.
    被検査体の表面に存在する欠陥を高い精度で検出することができる表面欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁
  • Voltage and an electric current are measured by a peak holding detector, so that the peak holding detector is tested in order to verify right operation.
    ピーク保持検出器によって電圧および電流が測定され、ピーク保持検出器は正しい動作を検証すべく試験される。 - 特許庁
  • The instrument is equipped with a vacuum station receiving the carrier so as to load fluid samples to be tested in a batch to the test devices.
    器具は、試験装置に試験される流体試料を一括して装填するように担体を受け取る真空ステーションを備えている。 - 特許庁
  • A protrusion part 44 which can come into contact with a pad to be tested is formed at the tip of a contact pin 32a formed by a plating operation.
    めっきによって形成されるコンタクトピン３２ａの先端に、非検査物であるパッドに当接し得る突起部４４を設ける。 - 特許庁
  • These tests are repeated, and the D/A converter 10 is tested while shortening a testing time only by the tests of the switches.
    これらの試験を繰り返し行い、スイッチの試験のみによって、試験時間の短縮を図りつつ、Ｄ／Ａコンバータ１０の試験を行う。 - 特許庁
  • DEVICE, SYSTEM, AND METHOD FOR PROCESSING SIGNAL BETWEEN TESTER AND PLURALITY OF DEVICES TO BE TESTED BY ONE-TIME TOUCHDOWN OF PROBE AT HIGH TEMPERATURE
    高温かつプローブの１回のタッチダウンで、テスターと複数の被試験デバイスとの間で信号を処理するための装置、システム、及び方法 - 特許庁
  • When microcomputer development is evaluated and tested, the input terminal 2 and the output terminal 13 of a simulation device 1 are connected to a microcomputer 19.
    マイコン開発の評価・テスト時に、上記シミュレーション装置１の入力端子２と出力端子１３がマイコン１９と接続される。 - 特許庁
  • To highly accurately measure the squareness of apex angles in the case of an array-like tested object having a plurality of right-angled apex angle parts.
    複数の直角をなす頂角部を持ったアレイ状被検物において、その頂角の直角度を高精度に測定すること。 - 特許庁
  • In one embodiment, the method includes a step for connecting the tester to the devices to be tested by at least one multi-chip module.
    一実施形態では、この方法は、テスターと被試験デバイスとを少なくとも一つのマルチチップモジュールによって接続するステップを含む。 - 特許庁
  • If the condition is not satisfied in the normal rounds, power round values are tested for satisfaction of a power round condition.
    通常のラウンドにおいて条件が満足されない場合には、パワーラウンド値が、パワーラウンド条件を満足するかどうかについてテストされる。 - 特許庁
  • The burn-in counter 1 is provided for grasping the burn-in stress applied to the circuit 3 to be tested as a semiconductor storage device.
    バーインカウンタ１は、半導体記憶装置としての被テスト回路部３に印加されるバーインストレスを把握するために設けられたものである。 - 特許庁
  • To detect and measure a detection objective gas concentration in a tested gas, such as ozone without having to use reaction promoters, such as a catalyst.
    オゾン等被検ガス中の検知対象ガス濃度を、触媒等の反応促進物質を使用することなしに検知し測定する。 - 特許庁
  • Whether dial information for setting a call is requested from the information processing peripheral device is tested within the information processing peripheral device.
    情報処理周辺装置内で、呼を設定するダイヤル情報が情報処理周辺装置から要求されているか否かをテストする。 - 特許庁
  • Further, a circuit form of a test programmed in FPGA is tested by lower supply voltage than supply voltage of normal operation.
    更に、ＦＰＧＡ中にプログラムされたテストの回路形態は、通常動作の供給電圧より低い供給電圧でテストされる。 - 特許庁
  • A heating chamber includes a cylindrical evaporation boat 1 connected to a vacuum pump for receiving a tested sample, which is closed by a cover 2.
    加熱チャンバーは、真空ポンプに接続された蓋２で閉塞され試験される試料を受け入れる円筒状蒸発用ボート１を含む。 - 特許庁
  • In succession, the learner are provided over the Internet with such academic ability tests and questions and the learners' academic ability is tested within the limited time.
    続いて、インターネット上で、このような学力テスト問題を学習者に提供し、制限時間内に、学習者の学力をテストする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory module in which a semiconductor chip can be tested after the semiconductor chip is mounted on a module substrate.
    半導体チップがモジュール基板に搭載された後に、半導体チップのテストを実施することが可能な半導体メモリモジュールを提供する。 - 特許庁
  • To conduct a test without requiring authoring of additional test software every time a message exchange pattern application is tested.
    メッセージ交換パターンアプリケーションがテストされるたびに、追加のテストソフトウェアのオーサリングを必要とすることなく、このテストを実施可能とする。 - 特許庁
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