「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 25 26 27 28 29 30 31 32 33 .... 58 59 次へ＞- To obtain a semiconductor device and a test method wherein different kinds of chips can be properly tested by using a jig for test which is constituted of a common probe card.
異なる品種のチップを共通のプローブカードからなるテスト用治工具により適切にテストできる半導体装置およびテスト方法を得る。 - 特許庁 - To provide a method for absolutely calibrating a tested surface (spherical surface) by obtaining measured interference data of the surface in a vertically erected state.
垂直方向に立てた状態の被検面（球面）について、その状態で干渉測定データを求め、これを絶対校正する方法を提供する。 - 特許庁 - The β-type zeolite for the SCR catalyst is used in the SCR catalyst which exhibits high NOx reducibility at low temperature after tested for hydrothermal endurance and hardly discharges pungent ammonia to exhaust gas.
水熱耐久処理後における低温ＮＯｘ還元性が高く、排ガスへの刺激性のアンモニア排出を小さくすることができる。 - 特許庁 - To detect a specimen in a sample to be tested obtained by diluting a biological sample with a specimen extract with high sensitivity by an immunity measurement method.
生体試料を検体抽出液で希釈して得られた被験試料中の検体を免疫測定法によって高感度に検出できるようにする。 - 特許庁 - A currently and unused signal line is used for the test connector, and served for exchanging indicated contents and the results between the card throttle of tested object and the external tester.
テスト・コネクタは、既存の未使用バス信号ラインを使用して、テスト対象のカード・スロットと外部テスタとの間でテストの指示内容と結果をやりとりする。 - 特許庁 - Hence, a through current is not made to flow between the power source and ground even if the fuse is not a cut off state when necessity of relieving the defect is tested.
従って、欠陥救済の要否を検査する際にヒューズが未切断状態であっても、電源と接地との間に貫通電流が流れない。 - 特許庁 - In this address converting circuit 23, a memory array is divided into a test program region 32 and a memory region 31 to be tested in accordance with the control signal for test.
このアドレス変換回路２３は、テスト用制御信号に応じて、メモリアレイがテストプログラム領域３２とテスト対象メモリ領域３１とに分割される。 - 特許庁 - The maximum analyzing voltage and the minimum analyzing voltage when the electronic component 12 is tested may be used as the first analyzing voltage and the second analyzing voltage.
第１の分析電圧及び第２の分析電圧は、電気部品を試験する際の最高分析電圧及び最低分析電圧であってもよい。 - 特許庁 - The caps 100 held by the first and the second rotatable turret 10, 20 are tested by using first and second test cameras 31, 32 and 33.
第１及び第２の回転ターレット１０、２０に保持されたキャップ１００は第１及び第２の検査カメラ３１、３２、３３によってそれぞれ検査する。 - 特許庁 - A characteristic obtaining means 40b determines a characteristic between an input and an output of the optical switch 10 to be tested from the information of the result of the analysis and the connection pattern.
特性取得手段４０ｂは、その解析結果の情報と接続パターンとから被試験光スイッチ１０の入出力間の特性を求める。 - 特許庁 - An IC tester for testing an object to be tested is improved by pattern data being outputted from a pattern memory based on an address.
本発明は、アドレスに基いてパターンメモリが出力するパターンデータにより、被試験対象を試験するＩＣ試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - To provide a test method for a non-volatile semiconductor memory by which quantity of disturbance and margin of disturbance can be tested and evaluated surely and in a short time.
ディスターブ量及びディスターブマージンを正確に短時間で試験評価することができる半導体不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile memory device wherein the burning-in of a device easily and efficiently tested by using a driver circuit which is a peripheral circuit.
周辺回路であるドライバ回路を用いて、簡易かつ効率的にデバイスのバーンイン試験を実行することが可能な不揮発性記憶装置を提供する。 - 特許庁 - A test-only wiring pattern 5 is arranged on a base board 1 for every tested pair chip 6 so as to be connected to a testing terminal 10.
基板１に、各被試験ベアチップ６毎にテスト用の専用パターン配線５を設け、これらの専用パターン配線５をテスト用端子１０に接続する。 - 特許庁 - To measure a current by removing a malfunction during a test, while changing each level of a variable voltage and an input voltage of a circuit to be tested, and to thereby detect a failure.
被テスト回路の可変電圧と入力電圧のレベルを可変して、テスト時の誤動作をなくして電流を測定し、故障を検出する。 - 特許庁 - The test result of the optical fiber to be tested is transmitted to the communication device 30 from the communication device 50 via the optical switch 71 and the optical fiber 18 for communication.
被試験光ファイバの試験結果は、通信装置５０から光スイッチ７１および通信用光ファイバ１８を経て通信装置３０へ送信される。 - 特許庁 - To provide a means capable of easily carrying out the inspection of the waterproof performance of a plurality of instruments to be tested simultaneously by a comparatively simple constitution and work.
比較的簡単な構成および作業によって、同時に複数の被試験機器の防水性能の検査を容易に実施可能にする手段を提供する。 - 特許庁 - The kit for CEA analysis is used with a cut off value being set in the range of 5 to 30 ng in terms of CEA content in an extract of tested tissue.
カットオフ値が被検組織の抽出液中のＣＥＡの含有量として５〜３０ｎｇの範囲に設定されたＣＥＡの分析用キットを用いる。 - 特許庁 - A dummy data generation portion 12a is provided corresponding to a node link of a tested device as a node device and generates dummy data of a simple meaningless data pattern.
ダミーデータ生成部12aは、ノード装置である被試験装置のノードリンクに対応して設けられ、意味を持たない単純なデータパターンのダミーデータを生成する。 - 特許庁 - To provide an electronic circuit system inspection method, capable of surely and in a short time detecting malfunctioning of an electronic circuit to be tested in an electronic circuit system.
電子回路システム内の被試験電子回路の動作不良の検出を確実に、かつ、短時間で行える電子回路システムの検査方法を提供する。 - 特許庁 - A test pattern is generated by a test pattern generator 230 and supplied to a semiconductor device to be tested, and the semiconductor device is operated.
テストパターン発生部２３０によりテストパターンを発生して被試験デバイスである半導体装置に供給し、この半導体装置を動作状態とする。 - 特許庁 - To facilitate the generation of test specifications for testing the operations of a system to be tested and enhance the reliability of the test by reducing test leakage.
試験対象システムの動作を試験する試験仕様の生成を容易にするとともに、試験漏れを少なくして、試験の信頼性を向上する。 - 特許庁 - To obtain a considerable cost reduction effect in a chip test by making an expensive chip tester unnecessary and shortening the inspection time of a chip to be tested by simultaneous parallel inspection.
高価なチップテスターを不用とし、また同時並列検査による被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果を得る。 - 特許庁 - The pump recycled is conveyed to a reverse factory 5, tested, and demolished, with its non-reusable parts replaced with reuse parts or new parts.
回収されたポンプは、逆工場５に搬送されて試験され、分解され、再使用不可能な部品が再使用部品又は新品と取り替えられる。 - 特許庁 - By this tester, a plurality of semiconductor integrated circuits can be tested in parallel using a test data stored in a set of memories.
本発明よるテスト装置は、１つのメモリセットに蓄積されたテストデータを使用して複数の半導体集積回路を並列にテストすることができる。 - 特許庁 - In a fault simulation, a pattern input part 14 inputs a test pattern to a tested circuit whose fault generation is supposed by a fault supposing part 12.
開示される故障シミュレーションでは、故障仮定部１２により故障が仮定された被テスト回路にパターン入力部１４からテストパターンが入力される。 - 特許庁 - At the Tobishima plant of Mitsubishi Heavy Industries' Nagoya Aerospace Systems Works, rocket components are assembled and tested.
三(みつ)菱(びし)重工業株式会社名古屋航空宇宙システム製作所の飛(とび)島(しま)工場では，ロケット部品の組み立てや試験が行われています。 - 浜島書店 Catch a Wave - Variations in the lift-off separation between a probe 1 and the surface of a structure 2 to be tested often mask the detection of defects in the structure.
探触子（１）とテスト対象構造（２）の表面の間のリフトオフ分離のバラツキによって構造内の欠陥の検出がマスクされることが多い。 - 特許庁 - A host computer is provided with at least two serial communication ports connected to a power card for supplying operation power to each hard disk drive to be tested.
テストされる各ハードディスクドライブに動作電源を提供するパワーカードに接続される少なくとも二つの直列通信ポートを有するホストコンピュータである。 - 特許庁 - To realize an IC tester which can test objects to be tested at high speeds without setting an A/D converter and a digital signal-processing part.
Ａ／Ｄコンバータやデジタル信号処理部を設けることなく、高速に被試験対象の試験を行うことができるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁 - When there is little optical aberration in the eye E to be tested, two images on fundus by a primary sensor overlap to become a sensor image Sab as is shown in (a).
被検眼Ｅに光学的な収差が少なければ、（ａ）のように一次元センサによる眼底上の２つの像は重なってセンサ像Ｓａｂとなる。 - 特許庁 - As a result of this, the memory control device 100 rejects the bit of the memory 200 to be tested, when the memory does not pass the test at the second determination level.
この結果、メモリ制御装置１００は、第二判定レベルでの試験をパスしなかった場合には、試験対象のメモリ２００のビットをリジェクトする。 - 特許庁 - Since a test can be performed without installing a device for exclusive use inside a vehicle, when only the breaker is tested, the device is very useful.
遮断機のみの試験を実施する場合においては、車両内部に専用の装置を設置せずに試験を実施することができるので、非常に有用である。 - 特許庁 - To obtain a wavefront aberration measuring device which allows for high-precision measurement of the wavefront aberration of a tested optical system by suppressing the impact of interference pattern due to noise light.
ノイズ光による干渉縞の影響を抑えて被検光学系の波面収差を高精度に計測することのできる波面収差計測装置。 - 特許庁 - To provide a measuring apparatus capable of measuring the absolute distance between a reference plane and a surface to be tested with high accuracy, even with a simple configuration.
簡易な構成でありながら、参照面と被検面との間の絶対距離を高精度に計測することができる計測装置を提供する。 - 特許庁 - When performing a test, the RF test port is connected via the probe to test equipment, and the portable electronic device is tested.
テストを行う場合には、前記無線周波数テストポートは前記プローブを介してテスト機器に接続されて、前記携帯式電子装置に対してテストを行う。 - 特許庁 - To accurately measure the surface position of an object to be tested by independently adjusting the relative position and the optical path-length difference between reference light and test light.
参照光と被検光との相対位置及び光路長差を独立して調整することにより、被検物の面位置を高精度に計測する。 - 特許庁 - Based on the magnitude and pattern of warping of the sample to be tested and the known critical application voltage, a voltage to be applied to the electrostatic chuck is set up.
検査対象の試料の反りの大きさ及び反りのパターンと、既知の臨界印加電圧に基づいて、静電チャックへの印加電圧を設定する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for giving a test framework where multimedia APIs are exercised and tested independently of multimedia applications in a wireless device, and a method.
無線デバイスにおいて、マルチメディアＡＰＩがマルチメディア・アプリケーションとは独立にテスト使用されるテスト基本構造を与える装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - The testing device 2 tests a signal S1 to be tested which is output from DUT 1 and makes the voltage level vary according to the value thereof.
試験装置２は、ＤＵＴ１から出力される被試験信号Ｓ１であって、その値に応じて電圧レベルが変化する被試験信号Ｓ１を試験する。 - 特許庁 - To provide a method for generating a perturbation signal applicable for the exciting of input variables of a system when the system is tested for the purpose of obtaining a model.
モデルを得る目的でシステムをテストする時のシステムの入力変数を励起するのに適用可能な摂動信号を生成する方法の実現。 - 特許庁 - The region corresponding to each region on the image to be tested among respective regions is specified based on the order of layout of the respective specified regions (S1311).
特定した各領域の並び順に基づいて、各領域のうち、被験画像上における各領域に対応する領域を特定する（Ｓ１３１１）。 - 特許庁 - To provide a micro-reactor and an inspection device each for inspecting a biosubstance that has a pretreatment means and enables multi-testing items to be tested on the biosubstance with high reliability.
前処理手段を有し、多項目同時検査を高い信頼性で可能とする生体物質検査用マイクロリアクタおよび検査デバイスを提供すること。 - 特許庁 - To provide an antioxidant property evaluation method for more accurately evaluating antioxidant power exhibited by a tested substance in an vegetable cell.
被検物質が植物細胞内において発揮する抗酸化能を、より正確に評価することが可能な抗酸化能評価方法を提供すること。 - 特許庁 - In this diagnostic method for three-dimensional imaging, especially in mammography, a projection image of a subject to be a tested is prepared and stored in an electronic form.
３次元画像化、特にマンモグラフィにおける診断方法において、検査対象の投射撮影が作成されて電子的な形で記憶される。 - 特許庁 - Each multi-chip module 102 has a plurality of fine electric mechanical switches between a connector 106 set to the tester and a connector 108 set to the devices to be tested.
各マルチチップモジュール１０２は、テスターへのコネクタ１０６のセットと被試験デバイスへのコネクタ１０８のセットとの間に複数の微小電気機械スイッチを有する。 - 特許庁 - By connecting the terminals 13A, 13B to an external test device, the ROM 11 having an error correction function can be tested.
この端子１３Ａおよび１３Ｂを外部テスト装置に接続することにより、誤り訂正機能付きＲＯＭ１１に対するテストを行うことができる。 - 特許庁 - This invention is acquired by improving a test system for testing objects to be tested which have a plurality of output pins and output a multi-level current.
本発明は、複数の出力ピンを有し、多階調電流を出力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁 - To recover from a trouble in a short time even if a hinge mechanism 3 fails in an IC socket used when an IC is tested and inspected electrically.
ＩＣを電気的試験および検査するときに使用するＩＣソケットにおいて、ヒンジ機構３が故障しても極めて短時間で修復できる。 - 特許庁 - For an integrated circuit containing a plurality of functional macros, the function macros are tested concurrently after constituting as described above.
集積回路が複数の機能マクロを内蔵する場合には、上述のように構成した上で各機能マクロの試験を同時並列的に行うようにする。 - 特許庁
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