「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • To provide a fundus camera for easily obtaining a photographing image in a desired state without caring about the holding state of the fundus camera to an eye to be tested.
    被検眼に対する眼底カメラの保持状態を気にすること無く、所望する状態の撮影画像を容易に得ることができる眼底カメラを提供する。 - 特許庁
  • In order to guide an endoscope, a virtual endoscope image of a subject to be tested and information on the position and attitude of the distal end of the endoscope are stored in a database.
    内視鏡の誘導のため、検査対象の仮想内視鏡画像と内視鏡先端の位置および姿勢の情報をデータベースに記憶しておく。 - 特許庁
  • A test program 8 is not only downloaded from a PC2 for downloading connected to the device 1 to be tested to an embedded memory 5 but also booted.
    試験対象装置１に接続されたダウンロード用ＰＣ２から、内蔵メモリ５にテストプログラム８をダウンロードすると共にテストプログラム８を起動する。 - 特許庁
  • To generate a circuit description for testing a circuit to be tested through simple processing without requiring large-scaled work, such as the table-type database generating work.
    テーブル形式のデータベース作成等の大がかりな作業を必要とすることなく、簡単な処理で、対象回路のテスト用回路記述を生成する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device capable of enhancing test efficiency and convenience by reducing the time required to preparation for testing of tested devices.
    被試験デバイスの試験の準備に要する時間を削減することにより、試験効率及び利便性を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Nitrogen gas N2 or dry air pressurized in the object 1 to be tested is applied by closing a valve V1 to open valves V3, V5 after testing the helium leakage.
    ヘリウムリークテスト終了後、バルブＶ１を閉にし、バルブＶ３、Ｖ５を開にして、被試験体１の内部に加圧された窒素ガスＮ２または乾燥空気を加える。 - 特許庁
  • An operating clock of the semiconductor circuits 101 to be tested is created by the PLL circuit 103 and supplied for the semiconductor circuits 101.
    そして、ＰＬＬ回路１０３によって、試験対象となる半導体回路１０１の動作クロックを生成して、半導体回路１０１に供給する。 - 特許庁
  • When the magnification of the tested optical system is β, the pattern period of the first diffraction grating pattern is equal to 3β times that of the second diffraction grating pattern.
    被検光学系の倍率をβとするとき、第１回折格子パターンのパターン周期が第２回折格子パターンのパターン周期の３β倍である。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing circuit capable of testing the operation of a semiconductor testing circuit (BIST circuit) itself and also testing the operation of a circuit to be tested directly.
    外部端子数を増やすことなく、半導体テスト回路（ＢＩＳＴ回路）自体の動作テストと、被テスト回路に対してダイレクトに動作テストを可能にする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor element and a semiconductor device for which reliability of the semiconductor element having a power supply electrode at a center portion can be easily tested.
    中央部に電源電極を備えた半導体素子の信頼性テストを容易に行うことができる半導体素子及び半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • To realize high fault propagation with the addition of a small amount of hardware, and to generate the expectation value of a circuit to be tested using a modulo circuit.
    少ないハードウェア追加で高い故障伝播を実現することができ、テスト対象回路の期待値生成をモジュロ回路を使用して行うこと。 - 特許庁
  • The strobe source 10 triggers the pattern source so that signals consisting of a series of logic '0' and '1' are output to the input terminal of a device (DUT) 4 to be tested.
    ストローブ源（１０）は、パターン源をトリガして論理「０」および「１」の系列から成る信号を被試験デバイス（ＤＵＴ）（４）の入力端子に出力させる。 - 特許庁
  • This multi-strobe circuit 10 latches a signal S2 to be tested, being an evaluation object at each edge timing of a multi-strobe signal MSTRB' having a plurality of edges.
    マルチストローブ回路１０は、複数のエッジを有するマルチストローブ信号ＭＳＴＲＢ’のそれぞれエッジのタイミングで、評価対象の被試験信号Ｓ２をラッチする。 - 特許庁
  • An arithmetic and logic unit(ALU) 970 selectively adds/subtracts the coordinate of a second input vector corresponding to the tested result and calculates the respective coordinates of output vectors.
    算術演算装置９７０は、テスト結果に応じて第２の入力ベクトルの座標を選択的に加減算して出力ベクトルの各座標を計算する。 - 特許庁
  • A taking-in circuit 210 takes in each waveform sample of M signals from a circuit to be tested, and a controller 230 generates mask pixel data defining the mask.
    取り込み回路210が被試験回路からのＭ個の信号の各々の波形サンプルを取り込み、制御器230がマスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生する。 - 特許庁
  • Aerosol liquids or propellants, when the GHS classification criteria are applicable, shall be categorized and tested as needed, based on the classification system of GHS 2.3.4.1.
    噴射液およびプロペラントガスについて、ＧＨＳ判定基準に該当する場合はGHS2.3.4.1 の判定論理に従って、必要なときは試験をして、区分を決める。 - 経済産業省
  • the ingredients thought to be in cantron have been tested, and none of them has been shown to be effective in treating any form of cancer.
    cantronに含有されると考えられている各種成分について検証が行われてきたが、何らかのがんに対する治療効果が示された成分は1つもない。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • the ingredients thought to be in js？114 have been tested, and none of them has been shown to be effective in treating any form of cancer.
    js-114に含有されると考えられている各種成分について検証が行われてきたが、何らかのがんに対する治療効果が示された成分は1つもない。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • the ingredients thought to be in 126？f have been tested, and none of them has been shown to be effective in treating any form of cancer.
    126-fに含有されると考えられている各種成分について検証が行われてきたが、何らかのがんに対する治療効果が示された成分は1つもない。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • the ingredients thought to be in js？101 have been tested, and none of them has been shown to be effective in treating any form of cancer.
    js-101に含有されると考えられている各種成分について検証が行われてきたが、何らかのがんに対する治療効果が示された成分は1つもない。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • the ingredients thought to be in cancell have been tested, and none of them has been shown to be effective in treating any form of cancer.
    cancellに含有されると考えられている各種の成分について検証が行われてきたが、何らかのがんに対する治療効果が示された成分は1つもない。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • the ingredients thought to be in protocel have been tested, and none of them has been shown to be effective in treating any form of cancer.
    protocelに含有されると考えられている各種成分について検証が行われてきたが、何らかのがんに対する治療効果が示された成分は1つもない。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • cancer cells removed from the body may be tested for the presence of human egf receptor 2 to help decide the best type of treatment.
    体から摘出したがん細胞についてヒトegf受容体2の有無を調べる検査を行うことで、最適な治療法の決定に役立てることができる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • The phoneNumber method takes two parameters: the first is the phone number to be tested and the second is a flag indicating whether the number should be checked for a valid prefix.
    phoneNumber メソッドのパラメータは 2 つです。 最初のパラメータが調べたい電話番号で、2 番目のパラメータがプレフィックスのチェックを行うかどうかのフラグとなります。 - PEAR
  • As a developer,your responsibilities (apart from writing solid, well-documented and well-tested code, of course!) are:
    開発者側のやるべきことは (もちろん、しっかりした実装で、詳しく文書化され、よくテストされたコードを書くことは別として!) 以下の項目になります: - Python
  • The ignore, echo, printEvent, sound,and shell actions do what you would expect commands named ignore, echo, printEvent, sound, and shell to do, except that the sound command has only been implemented and tested for SGI machines.
    ignore, echo, printEvent, sound, shell アクションは、ignore, echo, printEvent, sound,shell という名前のコマンドに期待される通りの動作を行う。 ただし、sound コマンドは SGI のマシンでしか実装・テストされていない。 - XFree86
  • A coaxial detecting head 1 is provided on the same axis as the conveying direction of a tested body W, and an opposed type detecting head 2 is provided opposite to the conveying direction.
    被検査体Ｗの搬送方向と同軸上に同軸型検出ヘッド１を、また、搬送方向に対向して対向型検出ヘッド２が設けられる。 - 特許庁
  • To provide a composite type ophthalmic apparatus with a plurality of measurement functions by which a tester may easily open a subject eyelid to be tested upon intraocular pressure measurement.
    複数の測定機能を有した複合型の眼科装置における検者による眼圧測定時の被検眼の開瞼作業が行いやすくする。 - 特許庁
  • A vent section 18 which prevents water to be tested from leaking during the priming test and can discharge air from the pipe 5, is arranged near the bottom wall section 16.
    底壁部１６付近には、満水試験時の試験水Ｗの漏れを防止し、配管５内のエア抜きを可能とするエア抜き部１８が、配設されている。 - 特許庁
  • To provide a test apparatus and a test method with a simple configuration for testing a device to be tested which outputs a plurality of modulation signals modulated by carrier signals with one and the same frequency.
    同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを簡単な構成により試験する。 - 特許庁
  • In interference fringes at that time, fine waviness component of the tested face (22a) is amplified relatively and reflected comparing with waviness components other than this component.
    このときの干渉縞には、被検面（２２ａ）の微細なうねり成分が、それ以外のうねり成分と比較して相対的に増幅されて反映される。 - 特許庁
  • When a disk of the same model number with a tested disk is set, the test results are read from the test result storage area 107 and writing of the data is performed.
    テスト済みディスクと同型番のディスクがセットされた場合、テスト結果格納領域１０７からテスト結果を読み出して、データの書き込みを行う。 - 特許庁
  • A general range of the object to be tested is obtained by filtering out an X ray not irradiation region and a freely passing region from an X-ray photographing image (S201 to S203).
    Ｘ線撮影画像から非Ｘ線照射領域と素抜け領域を除去して略被検査体領域を取得する（Ｓ２０１〜Ｓ２０３）。 - 特許庁
  • The address converting section 16 is a RAM, and stores an address of a memory to be tested and a comparison stop signal data indicating a value of a comparison stop signal 72.
    アドレス変換部１６は、ＲＡＭであって、被試験メモリ５２のアドレスと、比較停止信号７２の値を示す比較停止信号データを格納する。 - 特許庁
  • To correct the loading effect not by the presence or absence of a circuit pattern or by its shape, but only by one-time film formation testing, and per 25 sheets of tested wafers or fewer, at a time.
    回路パターンの有無や形状によらず、テスト成膜１回のみで、且つテストウエハの枚数を２５枚程度以下で、ローディング効果を補正可能とする。 - 特許庁
  • Consequently, even after the first chip and the second chip are bonded to each other, the first chip and the second chip can be individually operated and tested.
    このため、第１チップと第２チップとを互いに貼り合わせた後にも、第１チップおよび第２チップを個別に動作させ、テストすることが可能になる。 - 特許庁
  • Absolute assurance is never provided since 100 percent of the inputs to the GHG inventory cannot be tested due to practical limitations.
    絶対的アシュランスは、実施上の制限があることからＧＨＧインベントリへのインプットのすべてを検証することはできないため、与えられることはない。 - 経済産業省
  • To provide a semiconductor device capable of improving the measurement accuracy of a trace charge detecting circuit by suppressing the effects of stray capacitance, external noise, etc., when tested.
    テスト時に浮遊容量,外来ノイズ等の影響を抑えて、微小電荷検出回路の測定精度を向上できる半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • Further, a plurality of the wafers W are continuously tested, whereby the external appearance test of the wafer W is performed in a standby time of the probing test of a next process.
    また、複数枚のウエハＷを連続的に検査することで、ウエハＷの外観検査を次工程であるプロービングテストの待機時間に行う。 - 特許庁
  • The electro spray ionization mass spectrometer is provided with a low temperature bath 6 for cooling a tested sample solution before led into a sprayer 4, and a cooling gas lead-in pipe 8 structured independently of the sprayer 4 and cooling the sprayer 4 and the tested sample solution led into the sprayer 4.
    エレクトロスプレーイオン化質量分析装置に、スプレイヤー４に導入される前の上記被験試料溶液を冷却する低温浴６と、上記スプレイヤーおよび、上記スプレイヤー４に導入された上記被験試料溶液を冷却する、上記スプレイヤーとは独立した構造の冷却ガス導入管８とを備える。 - 特許庁
  • The power supply support device 100 allows a power supply destination to be determined in order to acquire correct test results in a macro test by extracting a group including elements to be tested from among groups 1 to 4 previously classified as power supply destinations in a circuit 110 to be tested.
    電源供給支援装置１００では、試験対象回路１１０内の電源供給先としてあらかじめ分類されているグループ１〜４のうち、試験対象となる素子を含むグループを抽出することによって、マクロ試験時に正しい試験結果を得るために電源供給先を特定することができる。 - 特許庁
  • A plurality of test patterns is set to a test device 6 of a semiconductor memory, a different test pattern is applied to a plurality of semiconductor memories 1 to be tested, while it is discriminated whether test result output of each semiconductor memory 1 to be tested is in the prescribed tolerance or not.
    半導体記憶装置の試験装置６に複数のテストパターンを設定し、試験装置に接続された複数個の被試験半導体記憶装置１に異なるテストパターンを適用すると共に、各被試験半導体記憶装置１の試験結果出力が所定の許容範囲内にあるか否かを判定するようにした方法。 - 特許庁
  • The improved IC tester comprises a first current apply section for outputting current to the tested object and a second current apply section that outputs small current more accurately than in the first current apply section, adds it to the output current of the first current apply section, and outputs it to the tested object.
    本装置は、被試験対象に電流を出力する第１の電流印加部と、この第１の電流印加部より高精度で、小電流を出力し、第１の電流印加部の出力電流に加算して、被試験対象に出力する第２の電流印加部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • Defective speed in the ROM depending upon the address can be tested even in the microcomputer with the built-in ROM having no data bus, in which the counter output signal and the inversion signal TOB are selected and input as the address of the ROM and a ROM data can be tested in the ascending order/the descending order of the address and connected to the outside, and having no up-down counter.
    カウンタ出力信号と該反転信号ＴＯＢとを選択しＲＯＭのアドレスとして入力してＲＯＭデータをアドレスの昇順／降順でテスト可能で外部に接続するデータバスを持たず、アップダウンカウンタを備えないＲＯＭ内蔵マイコンでも、アドレスに依存するＲＯＭでのスピード不良がテスト可能となる。 - 特許庁
  • In this in vitro evaluation method or screening method of the sensitive material, the tested material is mixed with amyloid P hexamer selected from a group of H-Phe-Thr-Leu-Cys-Phe-Arg-NH_2 and H-Phe-Thr-Leu-His-Phe-Arg-NH_2, then the existence of bonded material of the amyloid P hexamer and the tested material is measured.
    本発明は、H-Phe-Thr-Leu-Cys-Phe-Arg-NH_2及びH-Phe-Thr-Leu-His-Phe-Arg-NH_2から成る群から選ばれるアミロイドＰヘキサマーと被験物質とを混合した後、前記アミロイドＰヘキサマーと被験物質との結合物の有無を測定することを特徴とする感作性物質のインビトロ評価方法またはスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
  • The testing device for testing a device to be tested is provided, which includes: a testing board equipped with a programmable circuit and testing the device to be tested by operation of the programmable circuit; and a control board equipped with a configuration memory which stores configuration data for programming a circuit configuration of the programmable circuit.
    被試験デバイスを試験する試験装置であって、プログラマブル回路を搭載し、プログラマブル回路の動作により被試験デバイスを試験する試験ボードと、プログラマブル回路の回路構成をプログラムするためのコンフィギュレーションデータを記憶するコンフィギュレーションメモリを搭載する制御ボードと、を備える試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The tester comprises the formatter for outputting a test signal, a latch circuit that is disposed every tested object, inputs the output of the formatter, and outputs it through or outputs it while holding it, and a driver for inputting the output of the latch circuit and outputting it to the tested object.
    本装置は、試験信号を出力するフォーマッタと、被試験対象ごとに設けられ、フォーマッタの出力を入力し、スルーして出力または保持して出力するラッチ回路と、このラッチ回路の出力を入力し、被試験対象に出力するドライバとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • In a test head 18A provided for a test part 12 for testing semiconductor devices D in a state held at a prescribed temperature, semiconductor devices D in even-numbered rows and odd-number1ed columns among the semiconductor devices D mounted to a test board 1 are tested, and the semiconductor devices D in even-numbered rows and even-numbered columns are tested.
    半導体装置Ｄを所定温度に保持した状態で試験を行う試験部１２設けられるテストヘッド１８Ａにおいて、テストボード１に搭載されている半導体装置Ｄのうち偶数列奇数行の半導体装置Ｄの試験をした後に、偶数列偶数行の半導体装置Ｄの試験を行う。 - 特許庁
  • To provide a frequency characteristic measuring device capable of measuring a frequency of an apparatus to be tested having each different frequency of input and output signals, simplifying a constitution of a tracking generator and its peripheral circuit, and measuring simultaneously each characteristic of the input and output signals of the apparatus to be tested.
    入出力信号の周波数が異なる被試験器の周波数を測定することができ、トラッキングジェネレータおよびその周辺回路の構成を簡略化することができ、被試験器の入出力信号の特性を同時に測定することができる周波数特性測定装置を提供すること。 - 特許庁
  • Effectiveness of a tested substance on AD/HD is confirmed to screen AD/HD preventing agent or treating agent, and the effectiveness of a tested agent on AD/HD can be evaluated by using the epilepsy model non-human mammal as the attention-deficit/hyperactivity disorder (AD/HD) model non-human mammal.
    てんかんモデル非ヒト哺乳動物を注意欠陥／多動性障害 (AD/HD) モデル非ヒト哺乳動物を使用することによって、被験物質のAD/HDに対する有効性を確認してAD/HD予防薬または治療薬をスクリーニングするこができるとともに、被験薬剤のAD/HDに対する有効性を評価することもできる。 - 特許庁
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