「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • The test base 10 supports and fixes the inner magnet C_1 of a tested pump C to the inside circumferential side of the inspecting coupling unit A in a non-contact insertion state.
    前記テスト台１０にて被テストポンプＣのインナーマグネット部Ｃ_１ を前記検査用カップリング体Ａ内周側に非接触挿入状態で支持固定すること。 - 特許庁
  • The test mode control unit 22 notifies a diagnostic mode control unit 20 of a transmission condition under which ΔE becomes minimum, of a plurality of tested transmission conditions.
    テストモード制御部２２は、試した複数の送信条件の中でΔＥが最少となる送信条件を診断モード制御部２０に通知する。 - 特許庁
  • To easily change a driving voltage, which is generated by a voltage generating circuit, without changing a power supply voltage when a nonvolatile semiconductor memory is tested.
    不揮発性半導体メモリのテスト時に、電源電圧を変えることなく、電圧生成回路によって生成される駆動電圧を容易に変えること。 - 特許庁
  • An antenna elevator 7 moves an antenna for a near field irradiation 4 to a specific position overhead of a tested LSI2 based on the direction of a controller 15.
    アンテナ昇降部７は、制御部１５の指示に基づいて、近接照射用アンテナ４を被試験ＬＳＩ２の頭上の所定の位置に移動させる。 - 特許庁
  • To provide a scan testing method of a semiconductor integrated circuit of advanced integration, and the semi-conductor integrated circuit to be tested by the scan testing method.
    集積化の進んだ半導体集積回路に対するスキャンテスト方法、及び該スキャンテスト方法によりテストされる半導体集積回路を求める。 - 特許庁
  • To provide an intake valve closing timing detection device of a tested engine wherein a productivity in an engine assembly process is increased.
    エンジンの組み立て工程における生産性を向上させることが可能となるテスト対象エンジンにおける吸気バルブの閉タイミング検出装置を提供する。 - 特許庁
  • Data tested in the testing machine body 10 are stored in the storage part of a data processing device 30 via a measurement control device 20 at normal measurements.
    通常の測定時には、試験機本体１０で試験されたデータは計測制御装置２０を介してデータ処理装置３０の記憶部に保存される。 - 特許庁
  • Thus the functions of the service aid device are tested by simultaneously or time-differentially starting respective PCs through the batch control PC 19.
    一括制御用パソコンを介して各シミュレータ用パソコンを一斉起動または時間差起動させることにより、保守支援装置の機能試験を行う。 - 特許庁
  • The opposite side of the second piston is brought into contact with the caustic/corrosive fluid 30 touching it in the similar manner to the sensor face of the tested article 34.
    第２のピストンの反対側は、試験されている物品（３４）のセンサ面と同様に接触する苛性又は腐食性流体（３０）と接触する。 - 特許庁
  • In a communication line inspection method, by using a plurality of combinations of amplitude voltages and frequencies of communication signals, a communication line is tested.
    本発明に係る通信線検査方法では、通信信号の振幅電圧および周波数の組み合わせを複数用いて、通信線をテストする。 - 特許庁
  • A marker 14 indicating vehicle conditions is displayed at the intersection point of the terrain information 13 and a reference line 15 indicating the current position of the vehicle to be tested.
    この地形情報１３と被試験車両の現在位置を示す基準線１５との交点に、車両の状態を示すマーカ１４を表示する。 - 特許庁
  • To reduce the test cost of liquid to be tested, improve the preserving property and inspection precision thereof, and simplify the collection work and test work.
    検査対象液の検査コストの低減化や保存性及び検査精度の向上を図ると共に、採取作業及び検査作業の簡素化を図る。 - 特許庁
  • To provide a test system for easily changing connection states between measuring instruments and tested devices without requiring knowledge of hardware.
    ハードウエアの知識がなくても、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することを、容易に行うことができることのできる試験システムを提供する。 - 特許庁
  • An error rate measuring apparatus 1 includes one input end 1a to which a light signal is inputted from a device W to be tested following input of a test signal.
    誤り率測定装置１は、テスト信号の入力に伴う被試験デバイスＷから光信号が入力される１つの入力端１ａを有する。 - 特許庁
  • To provide an authentication device utilizing the vein pattern of a finger which can accurately read the vein pattern of the finger, the finer being an object to be tested.
    指を検査対象とし、その静脈パターンを正確に読み取ることができる、指の静脈パターンを利用した認証装置を提供する。 - 特許庁
  • To precisely test a device to be tested outputting a clock signal, clock inversion signal, and a data signal synchronizing to the clock signal or the clock inversion signal.
    クロック信号、クロック反転信号、並びにクロック信号及びクロック反転信号に同期したデータ信号を出力する被試験デバイスを精度よく試験する。 - 特許庁
  • To provide a test emulator which emulates the test device equipped with a plurality of the test modules supplying a test signal to the test device to be tested.
    試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートする試験エミュレート装置を提供する。 - 特許庁
  • In a test in which the same value is written in a plurality of memory cells and written data is read out again and it is tested whether the data is surely written and read out or not.
    複数のメモリセルに同じ値を書き込みその書き込んだデータを再び読み出して、正確に書き込まれ読み出されるかをテストする試験がある。 - 特許庁
  • To provide a method for testing a mutual authentication device in which operations of a pair of transmittable and receivable devices can be tested without binding the devices to each other in advance.
    一対の送受信可能なデバイスの動作試験を予め紐付けすることなく実施できる相互認証デバイスの試験方法を提供する - 特許庁
  • To accurately detect and specify an easy-to-occur scab by minimizing the dead zone existing near a front/rear end of a tested material such as a thick plate.
    厚板等の被検材の先尾端付近に存在する不感帯を最小にして、そこで発生しやすいヘゲを正確に検出し、特定すること。 - 特許庁
  • A read signal in this position in radial direction is obtained from the track number position of each of the identified servo areas and the servo area is tested by the read signal.
    さらに、特定された各サーボエリアのトラック番号位置からこの位置の半径方向の読出信号を得て、この読出信号によりサーボエリアの検査をする。 - 特許庁
  • This probe card for testing the electric characteristics of a tested body including a plurality of electrode pads includes a printed board, and the probe assembly joined to the printed board.
    複数の電極パッドを有する被検体の電気的特性をテストするプローブカードであって、プリント基板と、プリント基板に結合されるプローブ組立体を含む。 - 特許庁
  • Since these behaviors often happen when counterfeit bills are tested, the host computer registers the account on a monitoring database to monitor cancel frequency, rejection rate, and so on.
    これらの行為は、偽券のテスト時に生じることが多いため、ホストコンピュータは、この口座を監視データベースに登録し、取消頻度、リジェクト率などを監視する。 - 特許庁
  • The voltage conversion circuit 4 divides the voltage of an electric power source being tested 1 and outputs a differential voltage V1 between the divided voltage and a predetermined reference voltage.
    電圧変換回路部４は、被試験電源１の電圧を分圧しその分圧された電圧と所定の基準電圧との差動電圧を得る。 - 特許庁
  • To manage scribed tested results of respective chips corresponding to the position of a wafer, even without loading memory which is not required for original functions.
    本来の機能に必要のないメモリを搭載しなくても、スクライブされた各チップのテスト結果をウェハの位置に対応させて管理できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a method for easily and quickly assaying cutaneous sensitization of a substance to be tested in its small quantity without performing a complicated animal experiment.
    被験物質の皮膚感作性を、煩雑な動物実験を行うことなく、少量の被験物質で、簡便かつ迅速に検定する方法を提供すること。 - 特許庁
  • The processor is arranged to process the signals so as to assess a distortion of the magnetic fields sensed by the magnetic field sensors at the tested location.
    プロセッサは、検査される場所で磁界センサーによって検知される磁界のひずみを評価するために、信号を処理するように構成されている。 - 特許庁
  • At the time of testing, the signal SA is retained by the FF33 through the selectors 31, 32, and therefore the signal path between the circuit blocks 10A, 10B can be tested.
    テスト時に、信号ＳＡはセレクタ３１，３２を介してＦＦ３３に保持されるので、回路ブロック１０Ａ，１０Ｂ間の信号経路がテストできる。 - 特許庁
  • When necessity of relieving defect is tested, a low level is applied externally to the pad electrode PD, the n-channel field effect transistor TN0 is made an off-state.
    欠陥救済の要否を検査する場合、パッド電極ＰＤに外部からロウレベルが印加され、ｎ型電界効果トランジスタＴＮ０がオフ状態とされる。 - 特許庁
  • A microprocessor is programmed to become familiar with a plurality of identification marks through learning, and to analyze and detect seals within documents to be tested.
    マイクロプロセッサは、学習によって複数の識別マークに精通するように、かつ、試験文書内のシールを分析・検出するようにプログラムされている。 - 特許庁
  • An improved semiconductor test device performing test of an object to be tested by a test part to which electricity is supplied from a power source part is provided.
    本発明は、電源部より給電される試験部により、被試験対象の試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit device such as a semiconductor memory or the like which can be tested with a frequency exceeding the specifications of a tester and its test method.
    テスタの仕様を越えた周波数でテストすることができる半導体メモリなどの半導体集積回路装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • The tested object with high polarity is ionized in a thermal ionization process inside the heating tube 3, and then is moved to the reaction chamber 3.
    高い極性の被検体は、加熱チューブ３の内部での熱的イオン化過程によってイオン化され、高い極性の被検イオンは反応室３へと進む。 - 特許庁
  • Thereby, when plural non-volatile semiconductor memories are tested simultaneously, read-out operation of all chips can be performed simultaneously as well as write-in and erasion operation.
    そのため、複数の不揮発性半導体メモリを同時にテストする際、書き込み／消去動作と同じく、読み出し動作も全チップ同時に行うことが出来る。 - 特許庁
  • The test accuracy is enhanced when the driving characteristics of the DUT in the domain part 23 of the array substrate 22 are electrically tested by the tester body 47.
    アレイ基板22の表示領域部23における被検査対象デバイスの駆動特性をアレイテスタ本体47にて電気的に検査する際の検査精度が向上する。 - 特許庁
  • To provide a sensor element having an outside pump electrode not exposed directly to a gas mixture to be tested, and formed as simply as possible.
    外側ポンプ電極が試験すべきガス混合物に直接に晒されておらず、同時にできるだけ簡単に形成されているセンサー素子を提供する。 - 特許庁
  • The device for testing piping includes at least one drive unit and at least one testing unit and can be inserted into piping to be tested.
    本発明の配管検査装置は、少なくとも１個の駆動ユニットと少なくとも１個の検査ユニットとを有し、検査対象の配管内に挿入可能である。 - 特許庁
  • To perform a drop test having improved reproducibility by dropping an object to be tested in a state close to free drop while maintaining attitude when starting to drop.
    試験対象物を落下開始時の姿勢を保持したまま自由落下に近い状態で落下させ、再現性の良い落下試験を行うことを可能とする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test system which can cope flexibly with large capacity of a semiconductor device to be tested without burdening a high cost.
    高いコストの負担を伴うことなく、試験対象となる半導体装置の大容量化等に柔軟に対応しうる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁
  • If the termination condition is not satisfied, an arithmetic operation on the set of locational codes is performed to directly index a next cell to be tested.
    終了条件が満たされていないときは、判定される次のセルを直接インデックス付けするために、位置コードの組に算術オペレーションが実行される。 - 特許庁
  • The redundant unit RWL1 can be tested before programming of restoration information in the redundant circuit 1, moreover, the circuit is not made complex so much.
    冗長回路１における修復情報のプログラミングの前に、冗長ユニットＲＷＬ１をテスト可能であり、しかも回路はたいして複雑にはならない。 - 特許庁
  • (4) Items to be tested, test methods and other matters necessary for the carrying-out of the growing tests set forth in paragraph (2) of this Article shall be specified by the Ordinance of the Ministry of Agriculture, Forestry and Fisheries.
    ４　栽培試験の項目、試験方法その他第二項の栽培試験の実施に関して必要な事項は、農林水産省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Some of the more uncommon system architectures are not fully compatible with Linux 2.6, and some users prefer the tried-and-tested Linux 2.4 kernel.
    あまり一般的でないいくつかのアーキテクチャでは、2.6はまだ完全に動きません。 また、実績があり、よくテストされたLinux2.4カーネルを好むユーザーもいるでしょう。 - Gentoo Linux
  • If you believe the package does work file a bug at our bugzilla website.missing keyword means that the application has not been tested on your architecture yet.
    もしパッケージが動作すると信じているならbugzillaにバグを提出してください。 missing keywordはあなたのアーキテクチャでは未だテストされていないことを意味します。 - Gentoo Linux
  • If the length of an argument is two characters, the argument is tested to see if it is executable (unfortunately, any register which contains a non-zero value appears executable).
    引数の長さが 2 文字であれば、その引数が実行可能(ゼロでない値を含むすべてのレジスタは実行可能なように見えます)かどうかテストされます。 - JM
  • At self diagnostic test, the memory macro 1 can be tested with an internal clock signal iCLK and a second latency value information L1 optimal to the memory macro.
    また自己診断試験時にはメモリマクロに最適な内部クロック信号ｉＣＬＫや第２レイテンシ値情報Ｌ１でメモリマクロ１の試験を実行することができる。 - 特許庁
  • Then, the transmitter 14 judges the tested result from returned test packets 17a-17c, decides the priority classes of communication packets 18a, 18c,..., and performs communication afterwards.
    その試験結果を、返送されてきた試験結果パケット１７ａ〜１７ｃより判断して、通信パケット１８ａ，１８ｃ，…の優先クラスを決定し、以降通信をなす。 - 特許庁
  • To execute simulation for an operation confirmation test of a function to be tested, without having to influence other functions, in a plant monitor and control system.
    プラント監視制御システムにおいて、システム内の他の機能に影響を与えることなく試験対象機能の動作確認試験のためのシミュレーションを行う。 - 特許庁
  • To evaluate the performance of a lens to be tested in a short time, without adding a separate optical observation system, and without reducing the magnification of an image magnifying detection optical system.
    別の観察光学系を付加することなく、さらに、像拡大検出光学系の倍率を下げることなく、被検レンズの性能を短時間で評価する。 - 特許庁
  • The first analysis part 15 acquires a predicted value of the path delay obtained through timing analysis on the circuit to be tested from a predicted value storage part 130.
    第１の解析部１５は，予測値記憶部１３０から，テスト対象回路に対するタイミング解析により得られるパス遅延の予測値を取得する。 - 特許庁
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