「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 29 30 31 32 33 34 35 36 37 .... 58 59 次へ＞- There were two methods in the Yoro Code, each of which delivered a total of nine questions: in the first, three questions were drawn from the "Kyushosanjutsu" with each of the remaining documents other than "Rokusho" and "Tenjutsu" providing one of the other six; in the second, three questions were drawn from "Rokusho" and the remaining six from "Tenjutsu," so that the former method tested knowledge of basic arithmetic while the latter tested knowledge of advanced mathematics.
養老律令では方法が2通りあり、前者は『九章算術』3問と『六章』・『綴術』以外の残り6書から各1問の計9問から出題されるもの、後者は『六章』3問と『綴術』6問の計9問から出題されるもので、前者は基礎算術、後者は高等数学の知識を試した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス - This device is characterized by having a signal generator for inputting a white noise into the test object, an analytical means for executing frequency analysis of an output of the test object, and calculating a spectrum to be tested, and a determination means for determining the quality based on the spectrum to be tested of the analytical means.
本装置は、被試験対象に白色ノイズを入力する信号発生器と、被試験対象の出力を周波数解析し、被試験スペクトルを算出する解析手段と、この解析手段の被試験スペクトルに基づいて、良否を判定する判定手段とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁 - An input terminal 6A of the input and output terminal 6 is connected through a first connection line put through the clip main body 1 with an input side 8 of the IC to be tested, and the IC 7 to be tested is connected through a second connection line put through the clip main body 1 with an input side 12 of the opposite element 5.
入出力端子部６の入力端子６Ａはクリップ本体１中に通される第１接続線を介して被試験用ＩＣの入力側８に接続され、被試験用ＩＣ７はクリップ本体１中に通される第２接続線を介して対向素子５の入力側１２に接続されている。 - 特許庁 - A sample to be tested and a reagent are housed in the reaction tube 1 from a test sample storage part storing the sample to be tested and a reagent storage part storing the reagent, a reaction solution within the reaction tube 1 is measured, the reaction solution is removed from the reaction tube 1, and the reaction tube 1 is washed with a detergent having a pH value in a neural region.
被検試料を収納する被検試料収納部及び試薬を収納する試薬収納部からそれぞれ試料及び試薬を反応管１に分注し、反応管１内の反応液を測定後、反応液を反応管１から廃液し、その後、ｐＨが中性域にある洗剤により反応管１を洗浄する。 - 特許庁 - The subject means includes a washing for specific binding assay including biotin, a reagent for the specific coupling assay containing biotin, a labeled specific binding material or a labeled body analogous to the component to be tested, and a specific binding assay method of the component to be tested in a solution using the washing and/or the reagent.
・ビオチンを含有する特異的結合アッセイ用洗浄液、 ・ビオチンと、標識した特異的結合物質または標識した被検成分類似体とを含む特異的結合アッセイ用反応試薬、及び ・それらの洗浄液及び／又は反応試薬を用いた、溶液中の被検成分の特異的結合アッセイ方法。 - 特許庁 - This method comprises (1) the step of making a sample to be tested act on eukaryocytes capable of expressing the HCV core protein and (2) the step of assaying the proliferation of the eukaryocytes after making the sample to be tested act on the eukaryocytes.
この知見に基づく本発明は、C型肝炎ウイルスコア蛋白質の機能を阻害する物質のスクリーニング方法であって、（１）C型肝炎ウイルスコア蛋白質を発現し得る真核細胞に被検試料を作用させる工程、（２）被検試料作用後に前記真核細胞の増殖を測定する工程が含まれる。 - 特許庁 - To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.
ウェハプローバが発信するロケーション・データをＩＣ試験装置が読み取り、ＩＣ試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するＩＣテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもＩＣ試験装置でそのロケーション・データを解読することができるＩＣテストシステムを提供する。 - 特許庁 - The stepper 80 is configured that the holding arm 90 downwardly moves the probe 58 in response to the electrical signal to contact with the device 62 to be tested, and upwardly moves the probe 58 to separate the probe 58 from the device 62 to be tested, thereby performing a vertical movement of the probe 58 with higher frequency than 6 cycles per second.
ステッパ８０は、電気信号に応答して、保持アーム９０でプローブ５８を下方に移動させて被試験デバイス６２にコンタクトさせ、保持アーム９０でプローブ５８を上方に移動させて被試験デバイス６２から離し、よってプローブ５８の上下移動を６サイクル毎秒より高頻度で行えるように構成される。 - 特許庁 - The apparatus includes: the second measurement module for testing the to-be-tested object, and outputting a code to a plurality of the signal lines in the trigger bus; and the third measurement module for testing the to-be-tested object, inputting the code from a plurality of the signal lines in the trigger bus, and implementing an operation corresponding to the code.
本装置は、被試験対象を試験すると共に、トリガバスの複数の信号線にコードを出力する第２計測モジュールと、被試験対象を試験すると共に、トリガバスの複数の信号線からコードを入力し、コードに対応した動作を行う第３計測モジュールとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁 - When a power supply 4 is powered up, the paint supplied to electrostatic atomizing apparatus 2 from a paint feeder equipment 3 is electrostatically atomized to form ion cloud space 5 in front by the ionized paint particulate and when a tested object is located in the ion space the static electricity of the tested object is developed to be visualized due to particulate ions of the paint.
電源４をスイッチオンすると、塗料供給装置３から静電霧化装置２に供給された塗料は静電霧化され、イオン化された塗料微粒子はイオン雲空間５をその前方に形成する、イオン空間に被試験体が位置すると、被試験体の静電気は塗料微粒子イオンによって現像可視化される。 - 特許庁 - The device test method includes a medium supply step which supplies the medium on the stage 40 for mounting the device to be tested 130, an arrangement step which arranges the device to be tested on the stage, and a temperature control step which controls the stage temperature, after the arrangement step, below the freezing temperature of the medium.
デバイス試験方法は、被試験デバイス（１３０）を搭載するためのステージ（４０）上に媒介物を供給する媒介物供給ステップと、ステージ上に被試験デバイスを配置する配置ステップと、配置ステップ後にステージの温度を媒介物の凍結温度以下に制御する温度制御ステップと、を含む。 - 特許庁 - A report output part 16 judges whether all test items are tested for every test from information indicating correspondence between the message to be stored in the message storage part 14, a test vector name to be stored in a test information storage part 15 and the test item to be tested by them and outputs its result by a report.
そして、レポート出力部１６は、このメッセージ記憶部１４に記憶されるメッセージとテスト情報記憶部１５に記憶されるテストベクトル名とそれによりテストされるテスト項目との対応を示す情報とからテスト毎にその全てのテストの項目がテストされているか否かを判定し、その結果をレポート出力する。 - 特許庁 - While the defect information of the DUT 10 is written into the memory 7 under the control of the CPU 1. the defect information of the DUT 10, that is tested previously and stored in the memory 8, is read by the CPU 2 and a defect analysis of the DUT 10, which was tested previously, is conducted.
試験用ＣＰＵ１の制御下でＤＵＴ１０の不良情報を第１不良解析メモリ７に書き込んでいる間に、第２不良解析メモリ８から前回試験したＤＵＴ１０の不良情報を不良解析用ＣＰＵ２に読み込んで、前回試験したＤＵＴ１０の不良解析をする。 - 特許庁 - This device comprises a light source part for outputting multiple light having known wavelengths, a device to be tested for inputting output light of the light source part, a light receiving part for inputting output light of the device to be tested, and a control part for controlling the light source part so as to receive multiple light having the known wavelengths simultaneously by the light receiving part.
波長が既知である複数の光を出力する光源部と、光源部の出力光を入力する被試験デバイスと、被試験デバイスの出力光を入力する受光部と、波長が既知である前記複数の光を前記受光部で同時に受光するように前記光源部を制御する制御部とからなる。 - 特許庁 - This device comprises a bad block determining part 15 for determining an unusable block (bad block) of a tested memory 20 on the basis of a result of comparison of contents of an output signal SG6 from the tested memory 20 and an expected value included in an expectation signal SG5, and storing a block address for specifying the block.
被試験メモリ２０からの出力信号ＳＧ６の内容と期待信号ＳＧ５に含まれる期待値とを比較する比較部１３の比較結果に基づいて、被試験メモリ２０の使用不可能なブロック（バッドブロック）の判定を行い、そのブロックを特定するブロックアドレスを記憶するバッドブロック判定部１５を備える。 - 特許庁 - To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.
テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁 - After a tested IC device 2 is transferred from the socket 40 of a test head 5, a pusher 30 is brought closer to or into contact with the socket 40 of the test head 5, before the next IC device 2 to be tested is transported to the socket 40, so that the pusher 30 presses the IC device 2 against the socket 40.
試験が終了したＩＣデバイス２がテストヘッド５のソケット４０から移送された後、次の被試験ＩＣデバイス２がテストヘッド５のソケット４０に搬送されてくるまでの間、プッシャ３０をソケット４０に近接または接触させ、このプッシャ３０により被試験ＩＣデバイス２をソケット４０に押し付けるようにする。 - 特許庁 - In an evaluation device 2 for a battery to be tested 1, an electronic load/direct current power supply part 213 performs charging and discharging of the secondary battery to be evaluated, and voltage measuring means 212 measures the voltage value of the battery to be tested 1 after the lapse of a fixed time after discharging by the electronic load/direct current power supply part 213.
被試験電池１の評価装置２において、電子負荷／直流電源部２１３は、評価対象である二次電池の充放電を行ない、電圧測定手段２１２は、電子負荷／直流電源部２１３による放電後、一定時間経過後の被試験電池１の電圧値を測定する。 - 特許庁 - A determination unit 14 determines the reception frequency of a reception radio wave on the basis of designated test information to decide whether the reception frequency is a frequency to be tested or not and in a case where the reception frequency is not the frequency to be tested, it is decided whether the reception frequency is a known frequency or not.
判定部１４は、指定された試験情報を元に受信電波の受信周波数の判定を行って受信周波数が試験対象周波数であるか否かを判断し、受信周波数が試験対象周波数でない場合に、受信周波数が既知の周波数であるか否かを判断する。 - 特許庁 - Debugger software 2 is provided which outputs a command corresponding to user's operation in a computer 1 and the CPU board 11 to be tested which is connected to the computer 1 through an RS-232C cable 12 is provided with a ROM debugger program 7 which receives the command and transmits load break point memory data of a RAM user program 8 to be tested.
コンピュータ１にユーザ操作に対応したコマンドを出力するデバッガソフトウェア２を設け、コンピュータ１にＲＳ−２３２Ｃケーブル１２を介して接続された被試験ＣＰＵボード１１に、コマンドを受けて試験用のＲＡＭユーザプログラム８のロード・ブレイクポイント・メモリデータの送信を行うＲＯＭデバッガプログラム７を設ける。 - 特許庁 - The test system 1 includes: a test device 2; a tested device 3 connected to the test device 2 by a data communication line 5 and a power supply line 6, where a test program runs with power supplied from the test device 2; and a detection means 4 detecting operation current of the tested device 3.
本発明の試験システム１は、試験装置２と、試験装置２とデータ通信線５及び電源供給線６によって接続されており、試験装置２からの電源の供給によって試験プログラムが稼働する被試験装置３と、被試験装置３の稼働電流を検出する検出手段４と、を備える。 - 特許庁 - Furthermore, an electrical property which is represented by liquid molecules coupled to solid molecules making up the object to be tested, and another property which is represented by liquid molecules included in spaces among the solid molecules making up the object to be tested, are detected separately from each other, based on the calculated complex impedance values by using a calculating section 25.
また、演算部２５によって、算出した複素インピーダンスに基づいて、試験体を構成する固体分子と結合した液体分子によって示される電気的特性と、上記試験体を構成する固体分子の間隙に含まれる液体分子によって示される電気的特性とを、互いに分離して検出する - 特許庁 - A tested body 1 constituted to be equivalent to an isolator of the seismic base isolating device is pressurized by a pressurizing means 2 comprising a hydraulic cylinder, at a pressure equivalent to load applied to the isolator of the seismic base isolating device, and the deformation quantity of the tested body 1 is monitored through a gauge to monitor the degraded state of the isolator of the seismic base isolating device.
免震装置のアイソレータと同等に構成された被試験体1 を油圧シリンダからなる加圧手段2 で免震装置のアイソレータに印加される荷重と同等の圧力で加圧し、ゲージでこの被試験体1 の変形量を監視することにより免震装置のアイソレータの劣化状態を監視する。 - 特許庁 - When a test object to be vibrated Tp on a plane is tested, for instance, vibration units 1A and 1B are tightened on right and left sides of the test object to be vibrated Tp to be controlled under the vibration control part 4 to generate composition vibration such as reciprocation, rotation, compression, tension and torsion on the test object Tp so as to be tested.
平面上の被振動試験物Ｔｐを検査する場合は、例えば、被振動試験物Ｔｐの左右に振動ユニット１Ａ、１Ｂを締結して振動制御部４の下に制御し、その被振動試験物Ｔｐに往復、回転、圧縮、引っ張り、捩り等の合成振動を発生させて試験する。 - 特許庁 - This testing system is constituted of a test control section (PC) 1 and a transmission-reception control section (TST) 2 and a multiple-frequency encoder (DUT) 4 to be tested is connected to an encoder connecting section (CON) 3.
試験制御部（ＰＣ）１と送受信制御部（ＴＳＴ）２とで構成され、符号器接続部（ＣＯＮ）３に試験用の符号器（ＤＵＴ）４が接続される。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus enabling easy and efficient evaluation for the drug sensitivity of microorganisms to be tested or of tumor cells, and identification of microorganisms.
被験微生物又は腫瘍細胞の薬剤感受性の評価や、微生物の同定を、簡易且つ効率よく行うことが可能な方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - Next, the ROM pre-charge signal RP is made an L level, and the data holding time of the dynamic ROM is tested by confirming that a holding capacitor potential Vc0 is an H level.
次に、ＲＯＭプリチャージ信号ＲＰをＬレベルにし、保持容量電位Ｖｃ０がＨレベルであることを確認することで、ダイナミックＲＯＭのデータ保持時間を検査する。 - 特許庁 - Therefore, an expensive chip tester is made unnecessary and the inspection time of the chip to be tested is shortened by simultaneous parallel inspection, whereby a considerable cost reduction effect is obtained in the chip test.
これにより、高価なチップテスターが不用になり、また同時並列検査によって被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果が得られる。 - 特許庁 - An AND region is calculated overlapping the position of a chip that becomes defective in a measurement test for a semiconductor wafer to be tested, and the latent defective region map.
被検査対象の半導体ウェハの実測テストで不良となったチップの位置と、前記潜在不良領域マップとが重なったＡＮＤ領域を算出する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit verifying device which speedily verifies the function of a device to be tested and a test pattern used for its test fast without using the actual device and a tester.
被試験デバイスの機能やその試験に用いるためのテストパターンを実際のデバイスやテスタを用いずに高速に検証する半導体集積回路検証装置の提供。 - 特許庁 - In the apparatus 20 for displaying the acceptability, an acceptability display-use LCD 22 is embedded in the top plate 82, and the lens tray 40 is disposed thereabove in which the lens to be tested 42 is loaded.
合否表示装置２０には、天板８２に合否表示用ＬＣＤ２２が埋設され、その上方に被検レンズ４２を装填したレンズトレー４０が装填される。 - 特許庁 - When the last tested pair chip 6 is mounted, a function test as an electronic circuit device is carried out, and when it is determined to be good, the electronic circuit device is completed.
最後の被試験ベアチップ６を実装した場合は、電子回路装置としての機能テストを行い、良品であると判定された場合は、電子回路装置の完成品とする。 - 特許庁 - An engine testing device 10 comprises: a dynamometer 14 for applying a load to an engine 12 to be tested; and a control device 20 that controls the engine 12 and the dynamometer 14.
エンジン試験装置１０は、試験対象であるエンジン１２に負荷を与えるダイナモメータ１４と、エンジン１２及びダイナモメータ１４を制御する制御装置２０とを備える。 - 特許庁 - The cable to be tested after being electrified with a DC voltage is grounded and then electrified with an AC voltage and the residual electric charges are measured.
そのために、ケーブルが一様に軽微な水トリー劣化なのか、局部的に極度に水トリー劣化、つまり長い水トリーが存在しているのか判定することが困難であった。 - 特許庁 - Image data, outputted from an image memory 1g of the circuit board 1 to be tested as the electronic circuit board, are fetched in a FIFO memory 2a of an inspection device 2 by one screen.
電子回路基板としての被検査基板１の画像メモリ１ｇから出力された画像データを検査装置２のＦＩＦＯメモリ２ａに１画面分取り込む。 - 特許庁 - To provide an apparatus, method, and program capable of precisely extracting an area belonging to a predetermined constitution section from the image of a subject being tested.
被検体の画像から所定の構成部位に属する領域を精度良く抽出することができる画像処理装置、画像処理方法、および画像処理プログラムを提供する。 - 特許庁 - A network device is first tested for regulatory organization's compliance on a standard network.
ネットワークデバイスは、標準規格のネットワークにおいて規制機関の準拠規定を満たしているか試験し、出力電圧を、最大許容ＣＭ電流が検出されるまで調節する。 - 特許庁 - To provide a shearing jig capable of highly accurately executing a shearing test by applying load an object to be tested without bringing about a problem of bending moment or unbalanced load and having a simple structure.
曲げモーメントや偏荷重の問題を招くことなしに供試体に負荷を加えて剪断試験の高精度な実行を可能とする簡易な構造の剪断治具を提供する。 - 特許庁 - To provide a memory control device, a memory control method, an information processing system, a program thereof and a storage medium thereof by which an FB-DIMM (Dual Inline Memory Module) memory is rapidly tested or initialized.
ＦＢ−ＤＩＭＭメモリを迅速にテストや初期化を行うメモリ制御装置、メモリ制御方法、情報処理システム、そのプログラム及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁 - A fundus observation apparatus 1 forms a plurality of three-dimensional images G(k) representing different parts of the fundus Ef by changing a fixed view position of an eye E to be tested.
眼底観察装置１は、被検眼Ｅの固視位置を変更することにより、眼底Ｅｆの異なる部位を表す複数の３次元画像Ｇ（ｋ）を形成する。 - 特許庁 - To perform smooth display without artifact while a signal to be tested is extremely close to or uniformly synchronized to a sampling clock of a real-time spectrum analyzer.
被試験信号が実時間スペクトラム・アナライザのサンプリング・クロックに非常に近いか又は一様に同期している際に、滑らかで、アーティファクトのない表示を行えるようにする。 - 特許庁 - A telecommunications testing apparatus, having a signal generator (7) which generates a speech-like composite signal, which is supplied to the input of a telecommunications apparatus (1) to be tested.
試験される電気通信装置（１）の入力に供給される音声に似た合成信号を発生する信号発生器（７）を有する電気通信試験装置。 - 特許庁 - According to this method, the stair pressurizing smoke control system can be tested in trial upon normal time while the ventilation and the night purge of respective living rooms can be effected in accordance with necessity.
これにより、平常時にも階段加圧煙制御システムを試用することが可能になるとともに、必要に応じて各居室の換気およびナイトパージが実施される。 - 特許庁 - To provide a method for bending test of wire harness wherein bending life span of the wire harness can be tested with an apparatus for the test that is compact and with a nimbly movement.
ワイヤーハーネスの屈曲寿命を、コンパクトかつ軽快な動作の試験装置によって試験することができるワイヤーハーネスの屈曲試験方法を提供すること。 - 特許庁 - The system comprises a base board management controller (BMC) inside an electronic system to be tested and a digital parameter adjuster communicating with the BMC for example through a bus of an I^2C base.
このシステムは、当該被試験電子システムの内部のベースボード管理コントローラ（ＢＭＣ）と、例えばＩ^２Ｃベースのバスを介して、これと通信するデジタルパラメータ調整器とを含む。 - 特許庁 - To provide a mount testing apparatus by which the propriety of land pattern design formed on a printed wiring board can be tested for a short time, and to provide its mount testing method.
プリント配線板上に形成されるランドパターンの設計の適否を短時間で試験することができる実装試験装置およびその実装試験方法を提供する。 - 特許庁 - The process of exchanging diagnostics information is coordinated or executed by SOAP modules 6a, 6b implemented in the remote testing device 4A and the devices to be tested 4B respectively.
診断情報交換処理は、遠隔試験装置４Ａと被試験装置４Ｂのそれぞれに実装されているＳＯＡＰモジュール６ａ、６ｂにより調整又は実行される。 - 特許庁 - All of 16 kinds of tested org. chlorine compounds exhibit significant decomposition within 13 days and decomposition speed is remarkably improved in comparison with a case where iron powder is used.
試験した１６種類の有機塩素化合物は全て１３日以内に有意な分解を示し、鉄粉使用の場合に比べて分解速度が著しく改善された。 - 特許庁 - A region of the Chlamydia trachomatis ltuB gene has been identified which is useful for performing amplification assays to determine specifically whether C. trachomatis is present in the sample being tested.
試験すべき試料中にChlamydia trachomatisが存在するかどうかを特異的に決定するための増幅分析を実施するのに有用なC. trachomatisのltuB遺伝子の１領域が同定されている。 - 特許庁 - Electrode subsets 142 may be tested by applying a test signal and monitoring the energy or a charge amount supplied during a prescribed time.
電極サブセット１４２が、試験信号を印加して、規定された時間中に供給されるエネルギーまたは電荷量を監視することによって試験されることが可能である。 - 特許庁
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