「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 33 34 35 36 37 38 39 40 41 .... 58 59 次へ＞- A toroidal type continuously variable transmission 19a to be tested and a drive source 23 connected with a rotary shaft 22 of the toroidal type continuously variable transmission 19a are arranged.
評価対象であるトロイダル型無段変速機１９ａと、このトロイダル型無段変速機１９ａの回転軸２２に連結される駆動源２３とを備える。 - 特許庁 - Noise characteristics of the secondary electron image which is caused by an image detection system is determined and optimal parameters for image processing are decided based on the noise characteristics according to the object to be tested.
画像検出系に起因した２次電子画像のノイズ特性を求め、この特性をもとに被検査対象に応じて最適な画像処理パラメタを決定する。 - 特許庁 - The digital parameter adjuster communicates with one or a plurality of components of the electronic system to be tested, and add operating parameters such as a clock frequency and voltage to the components.
デジタルパラメータ調整器は、被試験電子システムの１つまたは複数のコンポーネントと通信して、例えばクロック周波数・電圧などの動作パラメータを、当該コンポーネントに加える。 - 特許庁 - Test values can be measured on the generated test image inside the recorder and an image quality report can be generated on the tested recorder.
試験値は記録装置内部の作成された試験画像において測定することができ、そして画像品質レポートは試験された記録装置において作ることができる。 - 特許庁 - A beam splitter 24 is arranged obliquely to a visual field axis 34 of the image gathering device 12, and guides the light beam from the light source 22 toward a part of a body to be tested.
ビームスプリッタ２４が、イメージ収集装置１２の視界軸３４に対して斜めに配置されて、光源２２からの光線を被検体の一部分に向けて導く。 - 特許庁 - To provide an abnormality alarm for a residence which can be installed beautifully in a residence, whose daily testing operation confirmation is performed easily and which can be tested surely.
住宅内に美観良く設置可能で日常の試験動作確認も容易におこなうことができ、また、確実に試験可能な住宅用異常警報器を提供すること。 - 特許庁 - Thereby, a logic address from an ALPG 10 is converted to a physical address by the scrambler 12 and is supplied to a semiconductor memory 50 to be tested, and a test is performed.
これにより、ＡＬＰＧ１０からの論理アドレスがスクランブラ１２にて物理アドレスに変換されて、被試験半導体メモリ５０に供給され、試験が実行される。 - 特許庁 - To provide a memory device in which the number of chips to be tested at once in one wafer can be maximized by minimizing the number of pins allotted to one chip.
チップ１つに割り当てられるピン数を最小化することによって、１つのウェーハ内で一度にテストできるチップ数を最大化できるメモリ装置を提供すること。 - 特許庁 - The EEPROM 13 is an electrically data writable and erasable nonvolatile memory, and on the test stage of the one-chip microcomputer 1, the tested result is written.
ＥＥＰＲＯＭ１３は、電気的にデータの書き込み及び消去が可能な不揮発性のメモリであり、１チップ・マイクロコンピュータ１のテスト段階において、そのテスト結果が書き込まれる。 - 特許庁 - In 2010, 34 companies from a variety of industry sectors road-tested the first draft and provided feedback on its practicality and usability, which informed a second draft.
2010 年、様々な産業部門から34 社が最初のドラフトのロードテストに参加し、実用性と有用性に関しフィードバックを行い、このフィードバックが第二次ドラフトに盛り込まれた。 - 経済産業省 - To provide a lightning test method, where a lightning surge voltage is applied to a ground terminal in equipment to be tested for allowing a lightning current to pass through from a power supply line grounded by an impedance circuit.
雷サージ電圧を被試験機器のアース端子に印加してインピーダンス回路で接地された電源線から雷電流が抜ける雷試験方法を提供する。 - 特許庁 - A first analysis part 15 acquires a measured value of path delay obtained from a result of a delay test on a circuit to be tested from a path delay information storage part 120.
第１の解析部１５は，パス遅延情報記憶部１２０から，テスト対象回路に対するディレイテストの結果から得られるパス遅延の実測値を取得する。 - 特許庁 - Tested by observation and reflection, these early notions failed in the long run to satisfy the more penetrating intellects of our race.
観察や省察によって検証してみると、こういう初期の概念は長期にわたっては、人類のもっと洞察力に富んだ知性を満足させることはできませんでした。 - John Tyndall『英国科学協会ベルファースト総会での演説』 - By faith, Abraham, being tested, offered up Isaac. Yes, he who had gladly received the promises was offering up his one and only son;
信仰によって，アブラハムは，試みを受けていた時，イサクをささげました。そうです，約束を喜びのうちに受けていた彼が，自分のひとり子をささげようとしたのです。 - 電網聖書『ヘブライ人への手紙 11:17』 - The method for detecting such environmental contaminant as an exogenic internal secretion disturbance substance that detects the environmental contaminant in a sample to be tested by measuring the environmental contamination-sensitive substance in an aquatic oviparous animal being exposed to water containing the sample to be tested as an index is provided, thus solving problems concerned.
被験試料を含む水に晒した水生卵生動物における環境汚染感応物質を指標として測定して、かかる被験試料中の環境汚染物質を検出する、外因性内分泌攪乱物質等の環境汚染物質の検出方法を提供することにより、上記の課題を解決し得ることを見出した。 - 特許庁 - The scan testing method for scan-testing a semiconductor integrated circuit having a plurality of blocks to perform functional operations comprises a step of exclusively isolating each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and a step of feeding a scan clock with deviated phase for each block to be tested.
機能動作を行なう複数のブロックを有する半導体集積回路をスキャンテストする方法であって、スキャンテスト時に複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションするステップと、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを供給するステップとを有することを特徴とするスキャンテスト方法を提示する。 - 特許庁 - This method for testing the expression-regulating factor of cysteinedioxygenase (CDO) associated with obesity is provided by administering a tested substance to test animals, extracting mRNA from a fat tissue and/or fat cells of the test animals, measuring the amount of CDO mRNA contained in the extracted mRNA and determining whether the tested substance is a substance capable of changing the expressing amount of the CDO mRNA or not.
試験用動物に被試験物質を投与し、試験用動物の脂肪組織及び／又は脂肪細胞からmRNAを抽出し、抽出したmRNA中に含まれるシステインジオキシゲナーゼ（CDO）mRNA量を測定し、被試験物質がCDOのmRNA発現量を変化させる物質であるかを決定する、肥満に関連するCDO発現調節因子の検査方法。 - 特許庁 - This IC tester has a plurality of the first printed circuit boards provided in every plurality of the pin lines of the object to be tested, and for converting the multistage voltages of the object to be tested into digital data to conduct computation, and the second printed circuit board for inputting a computation result in the first printed circuit board to conduct computation for all the pins.
本装置は、被試験対象の複数ピン系統ごとに設けられ、被試験対象の多段階電圧をデジタルデータに変換し、演算を行う複数の第１のプリント基板と、この第１のプリント基板の演算結果を入力し、全ピンに対する演算を行う第２のプリント基板とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁 - In the automatic testing system 1, the automatic testing device 20 selects an appropriate measuring device from among a plurality of measuring devices 21a, 21b, 21c provided according to test items to a device 10 to be tested, measures the device 10 to be tested through the use of a selected measuring device, collects and processes measurement data on it, and creates test result data.
この発明の自動試験システム１において、自動試験装置２０は、被試験機１０に対する試験項目に応じて、具備する複数の測定器２１ａ，２１ｂ，２１ｃから適切な測定器を選択し、選択した測定器を用いて被試験機１０を測定し、その測定データを収集処理して試験結果データを生成する。 - 特許庁 - In a detecting apparatus 1, a sinusoidal signal, whose frequency is varied gradually by a sinusoidal signal transmitter 53, is applied to the object to be tested, and an output signal from the object to be tested is detected by an FFT 52, and complex impedance values of the output signal are calculated with respect to a plurality of frequencies of the sinusoidal signal.
本発明に係る検出装置１は、試験体に、正弦波発信器５３によって周波数が徐々に変化する正弦波信号を試験体に印加すると共に、試験体からの出力信号をＦＦＴ５２によって検出し、正弦波信号における複数の周波数に対する出力信号の複素インピーダンスを算出する。 - 特許庁 - Further, this method for detecting a target nucleic acid in a tested specimen includes a step of refining nucleic acid which is the tested specimen, and a step of causing a nucleic acid amplification reaction to be made in a reaction liquid containing the refined nucleic acid for amplifying the target nucleic acid to determine the existence of nucleic acid amplification of the target nucleic acid in the reaction liquid by using the method.
更には、被検試料から核酸を精製するステップと、精製した核酸を含む反応液中で標的核酸を増幅する核酸増幅反応を行い、上記方法を用いて反応液における標的核酸の核酸増幅の有無を判定するステップとを備える、被検試料中の標的核酸の検出方法。 - 特許庁 - This prober interface device for the semiconductor testing device comprises split GNDs split in DUTs or in preset DUT groups and provided for GND layers on a multi-layered substrate having a prove needle, where a plurality of devices to be tested are tested.
プローブ針を備える多層基板により、複数個の被試験デバイスを試験する半導体試験装置のプローバインタフェース装置において、多層基板上のＧＮＤ層に対して各ＤＵＴ毎に分割した分割ＧＮＤ、若しくは所定のＤＵＴグループ単位毎に分割した分割ＧＮＤ、を備える半導体試験装置のプローバインタフェース装置。 - 特許庁 - When a test command code preset to a microprogram ROM part 11 is executed, execution control of the program is shifted to a test mode memory area block 41, and the functional block 3 to be tested is tested by an access control part 12 and a selector circuit 2 corresponding to an evaluation program written in the test mode memory area block 41.
予めマイクロプログラムＲＯＭ部１１に設定されたテスト用の命令コードが実行されると、プログラムの実行制御がテストモードメモリエリアブロック４１に移され、テストモードメモリエリアブロック４１に書き込まれている評価用プログラムにしたがって、アクセス制御部１２およびセレクタ回路２によってテスト対象とする機能ブロック３のテストが行われる。 - 特許庁 - In addition, the semiconductor integrated circuit used for the scan testing method has a separation means to isolate each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and an input terminal to input the scan clock with deviated phase for each block to be tested.
更に、このスキャンテスト方法に用いられる半導体集積回路であって、スキャンテスト時に複数の複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションする分離手段と、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを入力する入力端子とを有することを特徴とする半導体集積回路を提示する。 - 特許庁 - In an LSI test system for testing a plurality of LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 at one sitting, between the signal lines connecting the LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 and the LSI tester 100, each of delay units DLY1 through DLY4 with different delay times is provided to each LSY devices DUT1 through DUT4.
複数の被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４を一度にテストする半導体集積回路装置のテストシステムにおいて、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４とＬＳＩテスタ１００とを結ぶ信号線の間に、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４ごとにそれぞれ遅延時間の異なる遅延ユニットＤＬＹ１〜ＤＬＹ４を設ける。 - 特許庁 - When the transmission power control function of the mobile terminal is tested, a control part 24 reads out the step size from the terminal information storage means 22 and performs transmission power control measurement in the step size and then performs transmission power control measurement in another step size and thus, the transmission power control function is tested.
移動端末機の送信電力制御機能を試験するとき、制御部２４は、端末情報記憶手段２２からステップサイズを読み出し、そのステップサイズでの送信電力制御測定を実行し、その後、そのステップサイズ以外のステップサイズでの送信電力制御測定を実行することにより、送信電力制御機能の試験を行う。 - 特許庁 - A case in which a recombinant protein having an extracellular domain of semaphorin 6C is brought into contact with a protein having an extracellular domain of plexin A1 is compared with a case in which a recombinant protein having an extracellular domain of semaphorin 6C and a substance to be tested or the substance to be tested is brought into contact with the protein having an extracellular domain of plexin A1 and evaluated.
プレキシンＡ１の細胞外ドメインを有するタンパク質に、セマフォリン６Ｃの細胞外ドメインを有する組換えタンパク質を接触させた場合と、プレキシンＡ１の細胞外ドメインを有するタンパク質に、セマフォリン６Ｃの細胞外ドメインを有する組換えタンパク質及び被験物質、又は被験物質を接触させた場合とを比較・評価する。 - 特許庁 - The semiconductor testing apparatus 1 has auxiliary pattern generating sections 12a-12d for temporarily storing the test pattern P1 generated by the pattern generation section 11, reading the stored test pattern according to individual test states of the devices to be tested 20a-20d, and outputting it as a test pattern used for the test of the devices to be tested 20a-20d.
この半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を一時的に記憶し、被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの個別の試験状況に応じて、記憶した試験パターンを読み出して被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験に用いる試験パターンとして出力する補助パターン発生部１２ａ〜１２ｄを備えている。 - 特許庁 - This screening method judges whether a tested compound is an apoptosis-accelerating compound or an anti-apoptotic compound by measuring an interaction of p53 and NEDL1 under conditions of the presence and absence of the tested compound, and comparing the strengths of interactions of the p53 and NEDL1 in the presence and absence of the test compound.
被検化合物の存在下及び非存在下のそれぞれの条件下において、ｐ５３とＮＥＤＬ１との相互作用を測定し、被検化合物の存在下及び非存在下におけるｐ５３とＮＥＤＬ１との相互作用の強さを比較することにより、アポトーシス促進性化合物又は抗アポトーシス性化合物であるかを判断するスクリーニング方法。 - 特許庁 - A connection pattern control means 40a sets a connection pattern of the optical switch 25 against the connection pattern designated to the optical switch 10 to be tested such that the lights having the respective wavelengths emitted from respective output ports of the optical switch 10 to be tested are always injected to an input port of a wavelength combining part 30 previously determined in every wavelengths.
接続パターン制御手段４０ａは、被試験光スイッチ１０に指定した接続パターンに対して、その被試験光スイッチ１０の各出力ポートから出射される各波長の光が常にその波長毎に予め決められている波長合波部３０の入力ポートに入射されるように、光スイッチ２５の接続パターンを設定する。 - 特許庁 - An interactive stub device includes a means 2 for analyzing a telegram sent to the outside from the program to be tested and detecting the necessary data item in order to test the program which performs a process using data given from the outside, and a means 4 for embedding a value of input data corresponding to the detected data item in the telegram to be sent to the program to be tested.
外部から与えられるデータを用いて処理を行うプログラムのテストのために、テスト対象プログラムから外部に送られる電文を解析して、必要とされるデータ項目を検出する手段２と、検出されたデータ項目に対応する入力データの値を、テスト対象プログラム側に送るべき電文に埋め込む手段４とを備える。 - 特許庁 - The testing system 1 is provided with: an acceleration adding part 12 for adding regularly changing acceleration to a device to be tested 2; a voltage measuring part 13 for measuring a voltage value outputted from the device to be tested 2; and an arithmetic processing part 14 for performing arithmetic processing for computing a characteristic value corresponding to the measured voltage.
本発明の試験装置１は、被試験デバイス２に対して規則的に変化する加速度を付与する加速度付与部１２と、被試験デバイス２から出力される電圧値を測定する電圧測定部１３と、測定した電圧値に対応する特性値を算出するための演算処理を行う演算処理部１４とを備えている。 - 特許庁 - Eddy current is generated in the tested material by an exciting coil while two detecting coils of an eddy current type sensor are arranged in parallel in the perpendicular direction to the conveyance direction of the tested material, induced voltage generated by this eddy current is detected by two detecting coils, and the scab is detected and determined based on the differential signal between these detection signals.
渦流式センサの2つの検出コイルを被検材の搬送方向に直角な方向に並置した状態で、励磁コイルによって被検材に渦電流を発生させ、この渦電流によって生じる誘起電圧を2つの検出コイルに検出させ、それらの検出信号の差分信号に基づいてヘゲの検出、確定を行う。 - 特許庁 - When a semiconductor storage 11 having a storage region 54, its peripheral circuit 53, and a control circuit 51 for performing write-in/erasion for the storage region 54 by the peripheral circuit 53 is tested, the peripheral circuit 53 and the storage region 54 are tested using an outside attached or incorporated microcomputer 16 for test.
記憶領域５４およびその周辺回路５３と、周辺回路５３によって記憶領域５４に対する書き込み・消去を行わせるための制御回路５１とを有する半導体記憶装置１１を検査するに際し、外付けまたは内蔵の検査用マイクロコンピュータ１６を用いて、周辺回路５３および記憶領域５４の検査を行なう。 - 特許庁 - As a result, the driving speed changing pattern of an endless belt 11 can be controlled according to the moving speed changing pattern of the robot 2, the moving performance of which is being tested on the endless belt 11.
これにより、エンドレスベルト１１の駆動速度変化パターンが、当該エンドレスベルト１１の上で移動性能が試験されているロボット２の移動速度変化パターンに応じて制御されうる。 - 特許庁 - A cover having no gap is formed by continuously joining a metal foil cover with a chassis to secure electromagnetic shielding and the electric characteristics can stably be tested and adjusted.
シャーシに対し金属箔カバーを連続的に接合し、隙間の無いカバーを形成することにより、電磁気シールドが確保され、安定した電気特性の試験調整を行うことが出来る。 - 特許庁 - As a defective memory cell MC can be replaced by the spare memory cell SMC, yield is improved, and as a plurality of memory chips 2-4 are tested in parallel, a test time may be short.
パッケージング後でも不良メモリセルＭＣをスペアメモリセルＳＭＣで置換できるので歩留りが向上し、複数のメモリチップ２〜４を並列にテストするのでテスト時間が短くて済む。 - 特許庁 - Based on the yield for each position of a chip in a tested semiconductor wafer, information indicative of a region where a probability to be defective is high is created as a latent defective region map.
既にテストされた半導体ウェハのチップの位置毎の収率に基いて、不良となる確率が高い領域を示す情報を前記潜在不良領域マップとして作成する。 - 特許庁 - To provide a variable power optical device which can fix illumination efficiency without the loss of an illumination light quantity even when observation magnification is changed while preventing sticking of dust on an object to be tested.
被検物体へのゴミの付着を防ぎつつ、観察倍率を変更しても照明光量の損失なしに照明効率を一定にすることができる変倍光学装置を提供する。 - 特許庁 - Further, since a test probe, etc. can be brought into contact with the external terminals of the first chip and the second chip from the same side, the first chip and the second chip can be simultaneously tested.
また、第１チップと第２チップの外部端子に同じ側からテストプローブ等を接触させることができるため、第１チップと第２チップを同時にテストすることが可能になる。 - 特許庁 - A very small constant current source 2 for always applying such a very small d.c. constant current IM that heat eneration is ignored to a semiconductor element 4 to be tested is connected to the element 4.
被試験用半導体素子４には、当該素子の発熱が無視できる程度の微少な直流定電流ＩMを常時通電させるための微少定電流源２が接続されている。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic probe, by which ultrasonic flaw detection on an object to be tested can be performed even in a highly radioactive site, a contact medium can be used repeatedly and the operation before and after tests is simple.
高放射線場においても被検査体の超音波探傷が可能で、接触媒質を繰返し使用でき、かつ検査前後の作業が容易な超音波探触子を提供する。 - 特許庁 - To provide error correction method in current measurement for solving conventional problems that there is no other action for degradation in accuracy due to aged deterioration of CT used on current measurement in distribution line than replacement of the CT itself, and that measurement error cannot be measured unless the CT is removed to be tested.
配電線の電流計測にはＣＴを用いているが、そのＣＴの経年劣化による精度低下の対応としてはＣＴ本体を取り替えるしかない。 - 特許庁 - An input device 1 inputs an input 11 of a user as an error processing identifier 202 into a storage device 2 so that the part to be tested of a source program to be debugged can be designated.
入力装置１は、ユーザの入力１１を記憶装置２内にエラー処理識別子２０２として入力し、これによりデバッグ対象ソースプログラムのテストすべき箇所を指定する。 - 特許庁 - A test program generation device 20 converts a test pattern TP in such a predetermined format as to test a circuit to be tested into specific test programs A-C used by testers 31A-31C.
テストプログラム生成装置２０は、被テスト回路をテストするための所定の形式のテストパタンＴＰをテスタ３１Ａ〜３１Ｃで使用される固有のテストプログラムＡ〜Ｃに変換する。 - 特許庁 - An evaluation test apparatus comprises a plurality of first buffer amplifiers each applying a test load signal to each of a plurality of external terminals of a device (object to be tested) having the plurality of external terminals.
評価試験装置は、複数の外付端子を有するデバイス（被試験体）の前記複数の外付端子それぞれに、試験負荷信号を印加する複数の第１のバッファアンプを備えている。 - 特許庁 - To provide an IP simulator in which a load of a server is tested by creating a real environment wherein an error occurs in a packet without preparing a number of terminals.
多大な数の端末を用意することなく、パケットがエラーを生じる実際の環境を作り出すことにより、サーバの負荷試験を行うことが可能となるＩＰシミュレータを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory in which high speed defect relieving can be performed with low current consumption and without generation of excessive current when necessity of relieving a defect is tested.
低消費電流で高速な欠陥救済を可能とし、しかも欠陥救済の要否を検査する際に過大な電流が発生することがない半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁 - A loading part 10 and unloading part 20 of semiconductor element to be tested, a test tray T provided with a plurality of carriers for temporarily fixing the semiconductor element and a moving unit of the test tray are provided.
被テスト半導体素子のローディング部１０、アンローディング部２０、半導体素子を一時的に固定する複数のキャリアを備えたテストトレイＴ、テストトレイの移動ユニットを備える。 - 特許庁 - This testing system disturbs the sleep of an animal to be tested, placed in a rearing box by regulating an oxygen concentration and/or a carbon dioxide concentration in the rearing box.
本発明の実験システムは、飼育器内の酸素濃度及び／又は二酸化炭素濃度を調節することによって、飼育器内におかれた実験動物の睡眠を障害するものである。 - 特許庁
- 経済産業省
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- 特許庁
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- 日英対訳文対応付けデータ
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- 原題：”The Belfast Address”
邦題：『英国科学協会ベルファースト総会での演説』 - This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide.
(C) 2005 Ryoichi Nagae 永江良一
この翻訳は、クリエイティブ・コモンズ・ライセンス(帰属 - 同一条件許諾)の下でライセンスされています。
- 原題：”The Belfast Address”
- 電網聖書
- 電網聖書はパブリック・ドメインに置かれます。電網聖書は，The World English Bible (WEB)を土台とした新しい日本語訳です。この草稿は2002年3月3日版です。
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