「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 35 36 37 38 39 40 41 42 43 .... 58 59 次へ＞- The method for predicting biorhythm includes predicting biorhythm especially with high precision by collecting biological samples from an individual to be tested three times at intervals of 8 hours within 24 hours.
この生体リズム予測方法では、被検個体から24時間以内に8時間間隔で3回生体試料を採取することにより、特に高精度に生体リズムの予測を行うことができる。 - 特許庁 - To correct measurement results in wavefront aberrations of tested lenses by analytically obtaining system-inherent astigmatism and coma aberration components caused by system error of interferometers.
干渉計装置のシステム誤差に起因するシステム固有のアス収差成分やコマ収差成分を解析的に求めて、被検レンズの波面収差の測定結果を補正し得るようにする。 - 特許庁 - To provide a displacement gauge and a displacement measuring method capable of easily assuring a conjugate relation between a light source and an aperture diaphragm, and accurately measuring a change in a distance from an object to be tested, and to provide a thickness gauge.
光源と絞りの共役関係を容易に確保でき、かつ、検査対象との距離の変化を正確に計測できる変位計、変位測定方法および厚み計を提供する。 - 特許庁 - To enable evaluation which suppresses variations of test results, while shortening the time for evaluation, by holding generation of heat of a part to be tested within the appropriate limits.
タイヤのドラム耐久試験方法において、試験部位の発熱を適切な範囲に保つことにより、評価時間を短縮しつつ、試験結果のバラツキも抑える評価が可能とする。 - 特許庁 - To provide a method for predicting the mechanical characteristics of an aluminum alloy member that is manufactured by a powder metallurgy method also for a site that cannot be tested and evaluated by the conventional method.
粉末冶金法で製造されるアルミニウム合金製部材の機械的特性を、従来法による試験や評価ができない部位についても予測できる方法を提供する。 - 特許庁 - The screen transition is realized, plural screens can be tested according to the order of processing and displayed on a personal computer, and a document is outputted by a printer 108 connected to the personal computer.
画面遷移を実現させ、複数の画面を処理の順序に従ってテスト可能にし、かつパソコン上に画面表示するとともに、パソコン接続のプリンタ１０８で帳票出力を行う。 - 特許庁 - These bases are used to enable evaluation as to whether or not there is insertion or deletion of bases in the DNA sequence to be tested or determine the number of bases inserted or deleted.
これらを基にすることにより、被験DNA配列における塩基の挿入もしくは欠失の有無の評価、または挿入もしくは欠失された塩基数を判定することができる。 - 特許庁 - When executing a test for electrical connection of the power source supply wiring, only a switch connected to a power source terminal to be tested is "closed", and the other power source switches are "opened".
また、各電源供給配線の電気的接続試験を実施する場合には、試験対象の電源端子に接続されたスイッチのみを「閉」とし、その他の電源スイッチを「開」とする。 - 特許庁 - While the two memories 7 and 8 are alternatively switched by the multiplexers 5 and 6, the defect information of a memory (DUT) 10 to be tested detected by a logic comparator 3 is alternatively written.
マルチプレクサ５、６で２個の不良解析メモリ７、８を交互に切換えて、論理比較器３で検出した被試験メモリ（ＤＵＴ）１０の不良情報を交互に書き込んでいく。 - 特許庁 - To provide a water-quality monitoring apparatus using an aquatic organism requiring less frequent washing of a water tank compared to a conventional apparatus and for using a water to be tested containing suspended matter.
従来の装置と比較して水槽掃除の頻度が少なくてすみ、懸濁物質を含む被検水も利用可能な水生生物を用いた水質監視装置を提供する。 - 特許庁 - An electrolytic capacitor 3a is provided which is a component to be tested, and has a life shorter (an environment resistance lower) than each electrolytic capacitor 2a, 2b being an electric / electronic component of an object of life evaluation.
寿命評価対象となる電気・電子部品の電解コンデンサ２ａ，２ｂより寿命時間が短い（耐環境性の劣る）被試験部品の電解コンデンサ３ａを設ける。 - 特許庁 - To provide an evaluation method for dermatitis therapeutic agents that evaluates the promotion effect on the recovery of skin barrier function of an agent to be tested, for example, in xeroderma, atopic dermatitis by using a mouse having reduced skin barrier function as a model.
乾燥肌、アトピー皮膚炎等で皮膚バリアー機能が低下したマウスをモデルとして、試験薬剤の皮膚バリアー機能回復促進作用を評価する方法を提供すること。 - 特許庁 - After processing (for example, exposure S24), the processed wafers are measured (S25), and whether or not the obtained measured values can be used for the condition decision of processing to be operated afterwards is tested (S27).
処理（例えば露光：Ｓ２４）後に、処理済みのウエハを測定し（Ｓ２５）、得られた測定値が、その後に行う処理の条件決定に用いてよいものか否かを検定する（Ｓ２７）。 - 特許庁 - To provide a device to be tested, a testing system, a testing method, and a program capable of testing a nonvolatile memory, an input part and a display part even though they are defective.
本発明は、不揮発メモリ、入力部、表示部に不良があってもテストを行える試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁 - When contact resistances r1, r2, r3 and r4 at the tips of the test probes 11, 12, 13 and 14 are large, the difference in the measuring values of characteristics before and after trimming becomes large, and the result of a wafer tested is judges as being defect.
テストプローブ１１，１２，１３，１４の針先の接触抵抗ｒ１，ｒ２，ｒ３，ｒ４が大きいときは、トリミングの前後の特性の計測値の差が大きくなり、ウエハテストの結果は不良と判断する。 - 特許庁 - A simultaneously measuring number control adapter 212 gives a monitor input signal indicating whether peripheral chips are being tested to each chip.
同時測定数制御アダプタ２１２は、各チップにモニタ入力信号を与えるが、このモニタ入力信号は、周辺のチップがテスト実行中であるかどうかの状態を示す信号である。 - 特許庁 - When a direct current voltage is applied to an electric power equipment 10 to be tested, a partial discharge signal generated from the electric power equipment is detected by having an alternating voltage overlapped.
被試験電力機器１０に直流電圧を課電する際に交流電圧を重畳させて当該電力機器から発生する部分放電信号を検出するようにした。 - 特許庁 - When electrical characteristics of the electronic component 12 are tested by using a tester 11, the tester 11 is electrically connected with the plane lead 13 of the electronic component 12 by the contact pin 14.
テスタ１１を用いて電子部品１２の電気的特性試験を行う際に、テスタ１１と電子部品１２の平面リード１３とをコンタクトピン１４により電気的に接続する。 - 特許庁 - The IC tester is improved, which IQ-modulates the I-signal and the Q-signal by an IQ-modulation module and which outputs the IQ-modulation signal to an object to be tested.
本発明は、Ｉ信号、Ｑ信号をＩＱ変調モジュールによりＩＱ変調し、ＩＱ変調信号を被試験対象に出力するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁 - In shadow reading facilities A being the destination of request for diagnostic reading and a hospital D being the request source for diagnostic reading, diagnostic reading reports are classified depending on kind of test and category of tested part and name of disease and are evaluated.
読影の依頼先である読影機関Ａ、読影の依頼元である病院Ｄにおいて、読影レポートを検査種別、検査部位、及び病名のカテゴリ別に分類して評価を行う。 - 特許庁 - By storing indices of various subjects, it is expected to find a parameter set which can realize a good image quality for a new person to be tested in the storage part 12.
様々な被検者について蓄積を行うことにより、新たな被検者に対しても良好な画質を実現するパラメータセットを記憶部１２内に見出しうることが期待されるようになる。 - 特許庁 - To surely prevent an object to be tested from being double beaten by dropping a retinal cone again that is dropped from a predetermined position towards the object and strikes on the object to rebound.
錘体を所定の位置から被試験材に向けて落下させ、被試験材に衝突して跳ね返った錘体が再び落下して被試験材を二度打ちすることを確実に防止する。 - 特許庁 - To provide a method capable of overcoming the condition that specimen cable cannot be placed in the vicinity of a D.C. high-voltage generating device and tested in various tests of extra high-voltage D.C. cables and efficiently implementing tests such as electric-current applying tests of D.C. cables.
超高圧直流ケーブルの種々の試験において、供試ケーブルを直流高電圧発生装置の近くに置いて試験をすることができなくなってきている。 - 特許庁 - A method for obtaining the marker for the neurodevelopment disorder and a method for determining the effects of the substance to be tested on the neurodevelopment disorder comprise using the cell.
また、このような細胞を使用して、神経発達障害のマーカーを取得する方法、および被検物質が神経発達障害に及ぼす効果を判定する方法を提供する。 - 特許庁 - When the testing of the one-chip microcomputer 1 is completed, the tested result which was written in the EEPROM 13 is erased, and a control program to be executed by the CPU 11 is written there.
１チップ・マイクロコンピュータ１のテストがすべて終了すると、ＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれていたテスト結果が消去され、そこにＣＰＵ１１が実行する制御プログラムが書き込まれる。 - 特許庁 - A lens 2 and a liquid crystal target 3 are arrayed on the optical axis of an eye to be tested E, a peripheral visual field 4 is provided on the surrounding of the target 3 and a light source 5 is provided in rear of the target 3.
被検眼Ｅの光軸上にレンズ２、液晶視標３が配列され、液晶視標３の周囲には周辺視野４が設けられ、後方には光源５が設けられている。 - 特許庁 - To provide an excrement property measuring instrument excelling in the hygienic aspect while being prevented from giving a physiological feeling of dislike to a tested person in checking the properties of feces.
大便の性状を確認するにあたり、衛生面に優れると共に、被験者に生理的な嫌悪感を与えることを防止した排泄物性状測定装置を提供すること - 特許庁 - For the recovery confirmation, outputs are connected to all bridges of the transmission line to be tested in one-to-one correspondence via an output selecting section 24 and the bridge to input a generated packet thereto is selected.
この復旧確認は出力選択部２４を介して試験対象伝送路の全ブリッジに出力を１対１に接続し、生成したパケットを入力するブリッジが選択される。 - 特許庁 - At a time when the international community’s unity in stabilizing the market is being tested, we strongly hope that other countries will also announce their pledges to make financial contributions to the IMF as soon as possible.
市場を安定させるための国際社会の結束が試されている今、他の国々からもIMFに対する資金貢献ができるだけ速やかに表明されることを切に期待します。 - 財務省 - The contact 92 has the elasticity in the direction vertical to the surface of the base 94, so that it can be elastically abutted on a connection terminal formed on a tested circuit during the test.
接触子９２は、基板９４の表面に対して垂直方向に弾性を有し、試験中、被試験回路に形成された接続端子に、弾性をもって接触することが可能となる。 - 特許庁 - A shield 2 provided by an electromotive device 10 which generates voltage for burn in test is stuck on a surface while corresponding to the semiconductor wafer 1 which is to be burn in tested in the state of wafer.
ウエハ状態でバーンイン試験対象である半導体ウエハ１に対応して、表面にバーンイン試験のための電圧を発生する起電デバイス１０が設けたシールド２を貼り付ける。 - 特許庁 - To achieve a highly reliable test by enabling to test at the most suitable operating ratio to a circuit margin of an circuit to be tested with an excellent efficiency against an electric power source noise in a short testing period of time.
電源ノイズに対応して効率良く、短い試験時間で、被検査回路の回路マージンに最適な動作率で試験を行うことを可能とし、信頼性の高い試験を実現する。 - 特許庁 - A subscriber test control means 11 transmits test information related with the test of a subscriber and the identification information of a test subscriber being a subscriber to be tested, and operates test control.
加入者試験制御手段１１は、加入者試験に関する試験情報及び試験対象となる加入者である試験加入者の識別情報を送信し、試験制御を行う。 - 特許庁 - To provide an event type test system reducing size of memory by compressing and storing event data for generating an event to be used for a test of a tested semiconductor device (DUT).
被試験半導体デバイス（ＤＵＴ）の試験に使用するイベントを生成するためのイベントデータを圧縮して格納することによりメモリのサイズを減少させるイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide a suction device for an electronic component testing device capable of ensuring a uniform pushing pressure at the time of pressing an electronic component to be tested in an adhered state by suction against the contact part of a test head.
被試験電子部品を吸着した状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付ける際の押圧力を均一化できる電子部品試験装置用吸着装置を提供する。 - 特許庁 - Since the inspection is performed using information on which the signal transition comes through, the LSI can be finally inspected (tested) precisely with high quality.
また、信号遷移がどの経路を通って出てくるかの情報を使って検査を行うことにより、最終的にＬＳＩを高精度且つ高品質な検査（テスト）を可能にするものである。 - 特許庁 - When the functional operation of the semiconductor circuit 30 itself is to be tested, the test data is fed to an input terminal TDI, and a test control signal is fed to control terminals TCK and TMS, and TRST.
半導体テスト回路３０自体の機能動作をテストする場合、テストデータを入力端子ＴＤＩに入力すると共に、テスト制御信号を制御端子ＴＣＫ，ＴＭＳ，ＴＲＳＴに入力する。 - 特許庁 - This structure is provided with a plurality of arrangements (arrangement A, B) of memory cells, a bus for input signals to be tested (line for analog signal) connected in parallel to each of the plurality of fetch cells.
メモリ・セルの複数の配列（配列Ａ、Ｂ）と；複数の取り込みセル１０の各々に並列接続された被試験入力信号用バス（アナログ信号用ライン）とを具えている。 - 特許庁 - To provide a coagulation time measuring instrument having a function of evaluating PT(Prothrombin Time) itself by correcting the PT of a specimen to be tested based on its INR.
本発明の課題は、被検検体のＰＴを、そのＩＮＲ値を基に補正することによりＰＴそのものも評価できる機能を有した凝固時間測定装置を提供することである。 - 特許庁 - A circuit 300 which can be dealt with by a scanning test is tested by loading into a programmable device 200, both a scanning pattern and a self test circuit in which the total number of test patterns obtained automatically is the smallest.
自動で得られる総テストパターン数がもっとも少ない自己テスト回路とスキャンパターンの両方をプログラマブルデバイス２００にロードしてスキャンテスト対応回路３００のテストを行なう。 - 特許庁 - Hereby, in the test processes B-D, it is possible to reduce the test time by the time (tb, tc, td) required for the subsequent test items to be tested after the failure judgment.
この結果、検査工程Ｂ−Ｄにおいて、不良と判定された以降の検査項目にかかる時間（ｔｂ，ｔｃ，ｔｄ）の分だけ検査時間を短縮することができる。 - 特許庁 - The type of peripheral board to be tested is selected at a type-selecting section 32 of an operation input screen W2, and the combination of signal classifications of control signals is selected at a format-selecting section 34.
操作入力画面Ｗ２の機種選択部３２でテスト対象の周辺基板の機種を選択し、フォーマット選択部３４で制御信号の信号分類の組み合わせを選択する。 - 特許庁 - A disaster area is estimated on the basis of an occurrence rate of shutoff of communication calculated from the detected communication state of the tested device in each the selected area.
そして、選択された各領域における被試験装置の検出された通信状態から算出される通信の遮断の発生率に基づいて、災害領域を推定する。 - 特許庁 - The base unit 12 provides a pressing force acting on the semiconductor chip side from the wafer pressing plate 32 when a bump of a semiconductor chip to be tested is pressed onto the probe terminal of the probe sheet 13.
ベースユニット１２は、プローブシート１３のプローブ端子に、被試験対象の半導体チップのバンプが押し当てられるとき、ウエハ押圧プレート３２から半導体チップ側に作用する押圧を与える。 - 特許庁 - The false active call apparatus 7 supplies the false active call in response to the command, performs the testing of the tested transmission processing apparatus 8, and transmits the result of the processing to the testing support device 1.
疑似呼装置７は、当該指令を受けて疑似呼を投入し、試験対象通信処理装置８の試験を行ない、その処理の結果を試験支援装置１に送信する。 - 特許庁 - A data conversion part 2 modifies the input database generation information 11 and input data generation information 12 so that a confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested can be conducted.
データコンバート部２は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行うことができるように変更する。 - 特許庁 - A test circuit performs test operation of the circuits to be tested in parallel based on the test control information by designating test operation of each test control circuit 42 through a control terminal 32.
制御端子（３２）を介して各テスト制御回路（４２）にテスト動作を指示することにより、テスト回路は並列的にテスト制御情報に基づいて被テスト回路をテスト動作させる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit tester and its self- diagnosis method which enable self diagnosis, without the removal of an object to be tested, even in the middle of a test.
試験の途中においても被試験対象を取り除くことなしに自己診断を行うことができる半導体集積回路試験装置及びその自己診断方法を提供する。 - 特許庁 - Herewith, by changing the servo characteristic by software, the servo characteristic adapted to the control characteristic of the pick up to be tested is easily obtained, thereby enabling efficient pick up test.
これよりサーボ特性をソフト的に変更し、検査対象のピックアップの制御特性に合わせたサーボ特性を容易に得ることができ、効率の良いピックアップ検査が可能になるのである。 - 特許庁 - To complete inspections on the calibration of the quantity of flow of a flowmeter to be tested having a plurality of types of flow measuring ranges and measurement accuracy by one measuring operation of one piston prover.
複数種類の流量測定レンジを有する被試験流量計の流量校正や計測精度の検査を１台のピストンプルーバの１回の計測動作により完了させる。 - 特許庁
