「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 37 38 39 40 41 42 43 44 45 .... 58 59 次へ＞- To provide a system for volatilizing/supplying a volatile substance in which the performance of a filter, an adsorbing material or the like for separating/adsorbing the volatile substance can be tested stably for a long period of time.
揮発性物質の分離、吸着を行うフィルタや吸着材などの性能試験を長時間安定して行うことを可能にする揮発性物質の揮発供給システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a DUT board hardly affected by an electric power source/a ground bounce and hardly generating operation failure even in a high-speed operation and a low voltage in a tested LSI, and to provide a testing method using the DUT board.
被試験用ＬＳＩの動作が高速化かつ低電圧化しても電源／グランドバウンスの影響を受け難く、動作不良を起こし難いＤＵＴボード及びそれを用いるテスト方法を得ることである。 - 特許庁 - The photography system equipped with an X-ray generating part 1 and an X-ray detecting part 2 is turned around a subject to be tested 150 several times, and a projected data is formed in each turn at the prescribed heart beat phase.
Ｘ線発生部１とＸ線検出部２を備えた撮像系を被検体１５０の周囲で複数回回動させ、各回動において所定心拍時相における投影データを生成する。 - 特許庁 - The 1st state is set to the storage means 19 first to test the accuracy of analog/digital conversion and when the result of test is defective, the 2nd storage state is set to the storage means 19 and the accuracy of analog/digital conversion is tested again.
最初に記憶手段１９を第１の記憶状態としてＡ／Ｄ変換精度をテストし、不良であった場合には記憶手段１９を第２の記憶状態として再テストする。 - 特許庁 - The voltage applying probe 54 and a voltage measuring probe 56 are connected to a voltage input pad 74 and a voltage measurement pad 76, respectively, which are disposed on the semiconductor device 70 to be tested.
電圧印加用プローブ５４及び電圧測定用プローブ５６が、被試験用の半導体装置７０に設けられた電圧印加パッド７４及び電圧測定パッド７６にそれぞれ接続される。 - 特許庁 - To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.
半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁 - To provide an image quality evaluation apparatus for applying disturbance to a device to be tested so as to evaluate the image quality that develops an objective discrimination method with reliability to detect all image faults visually recognizable.
妨害を供試機器に加えて画質評価を行う装置において、目視で認識できる全ての画像障害を検出する信頼性ある客観的判定手法の開発を目的とする。 - 特許庁 - Since the test pad of the bond pad extension is disconnected from the electric components when not tested, the test pad of the bond pad extension test does not give any additional parasitic effects to the corresponding electric circuit device.
テストしないとき、電気的構成要素からボンド・パッド延長部のテスト・パッドを切断できるので、ボンド・パッド延長部のテスト・パッドは、対応する電気回路デバイスに付加的な寄生効果を与えない。 - 特許庁 - Also, the light from the optical system to be tested in the state of being measured from which the intentional wavefront deformation is removed is wavefront divided for forming several images and second information is found (steps 116-118).
また、意図的な波面変形が除去された被測定状態における被検光学系からの光を、波面分割して複数の像を形成し、第２波面情報を求める（ステップ１１６〜１１８）。 - 特許庁 - When a test pattern is inputted to semiconductor memory devices 11, 12,..., 1n to be tested from an ALPG (algorithmic pattern generator) a pattern is inputted to a No-Go flag 20 from the semiconductor memory devices 11, 12,..., 1n.
試験対象である半導体メモリデバイス１１，１２，…，１ｎにＡＬＰＧからテストパターンを入力すると、半導体メモリデバイス１１，１２，…，１ｎからＮｏ−Ｇｏフラッグ２０にパターンが入力される。 - 特許庁 - To provide an emergency operation controller capable of easily testing the emergency operation of each elevator in its actual installation environment when the elevator is simply tested for emergency operation.
管制運転の試験をエレベーター毎に簡単に実施するにあたり、エレベーター毎に簡単に実設備環境下で管制運転の試験を行うことが可能な管制運転制御装置を提供する。 - 特許庁 - In an EDS test, the test pads and the bonding pads are electrically coupled to each of corresponding probe pins of a test apparatus, so that the inner circuits and the test element group circuits are simultaneously tested.
ＥＤＳテスト時に、前記テストパッドと前記ボンディングパッドにはテスト装置の対応するプローブピンが各々電気的に連結され、その結果、前記内部回路と前記テスト素子グループ回路が同時にテストされる。 - 特許庁 - When the first testing device is connected to the system, this method includes the step of making the first testing device operatable with an interface(320) for the system, in which the first testing device can be connected to an object device to be tested.
第１の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第１の試験装置が試験対象デバイスに接続可能なシステムのインタフェース(320)と共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁 - To provide an operation test support device for efficient and stable debugging in an operation test of a device to be tested performed by a semiconductor integrated circuit tester on the basis of a test program.
テストプログラムに基づいて半導体集積回路試験装置が行う被測定デバイスの動作試験において、効率良く、安定したデバッグを行うための動作試験支援装置を提供する。 - 特許庁 - A control circuit 38, if the voltage of the apparatus 20 to be tested is larger than a predetermined voltage, generates a control signal for alternately conducting FET28, FET30 at fixed stopping intervals.
制御回路３８が、被試験装置２０の電圧が予め定めた電圧よりも大きいとき、ＦＥＴ２８、３０を、一定の休止期間を挟んで交互に導通するように制御信号を発生する。 - 特許庁 - A threshold voltage generator 10 receives the expected value data EXP and generates threshold voltage Vth having a voltage level according to the expected value data EXP in synchronization with the signal S1 to be tested.
しきい値電圧発生器１０は、期待値データＥＸＰを受け、当該期待値データＥＸＰに応じた電圧レベルを有するしきい値電圧Ｖｔｈを、被試験信号Ｓ１と同期して生成する。 - 特許庁 - To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit, by which macro and the like of a test object can be tested without adding an external connection pin for a test which is necessary for a test.
テスト時に必要となるテスト用の外部接続ピンを追加することなく、テスト対象のマクロ等をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁 - The relation between a leakage of a medium from inside an object to be tested and an electrical resistance value of the masking rubber is grasped beforehand and a permissible value of a change rate for judging the masking rubber 28 as abnormal is set beforehand.
被試験物内部からの媒体の漏れ量とマスキングゴムの電気抵抗値との関係を予め把握し、マスキングゴム２８に異常有りと判断する変化率の許容値を予め定めておく。 - 特許庁 - A test scenario analysis performing part 101 transmits message reception to the part 110 for simulating the service to be called when it is described in the test scenario 150 that a message is to be received from the program to be tested.
テストシナリオ解釈実行部１０１は、テストシナリオ１５０に被テストプログラムからのメッセージを受信する旨が記述されているときには、被呼出しサービス模擬部１１０にメッセージ受理を送信する。 - 特許庁 - To provide a tether cable capable of accurately performing nondestructive testing on the buckling or disorder of array of a power line or a tensile strength body, easy to be manufactured, and capable of being non-destructively tested for its whole length.
動力線と抗張力体の座屈や配列の乱れを正確に非破壊検査でき、製造が簡単でありテザーケーブルの全長にわたって非破壊検査が可能なテザーケーブルを提供する。 - 特許庁 - In a delay operation mode, a selection signal in accordance with a register value of a MRS register 130 is outputted, selectors 121, 123 select an external control signal, and output it to a bank 0(111) to be tested.
遅延動作モードの場合、ＭＲＳレジスタ１３０のレジスタ値に応じた選択信号が出力され、セレクタ１２１、１２３は、外部制御信号を選択し、試験対象のバンク０（１１１）に出力する。 - 特許庁 - A transition determination program 102 is built in, plural screen processing programs 109 can be tested according to a transition and a support (online document or batch document) 105 of a document output function is enabled.
遷移決定プログラム１０２を組み込んで、複数の画面処理プログラム１０９を遷移に沿ってテスト可能にし、かつ帳票出力機能のサポート（オンライン帳票、バッチ帳票）１０５を可能にする。 - 特許庁 - To design a probe card by which an increase in needle setting cost can be suppressed as much as possible, and all semiconductor chips that are formed by least number of indices on a wafer can be tested.
針立てコストの増加をできるだけ抑えつつ、できるだけ少ないインデックス数でウェハ上に形成されたすべての半導体チップに対するテストを行うことのできるプローブカードを設計する。 - 特許庁 - To provide a method for detecting a mutagen capable of more accurately performing the detection of the mutagen regardless of the coloration of a tested substance or presence or absence of a precipitated material, and reducing labor and time.
被験物質の着色、または析出物の有無に関わらず、変異原検出をより正確に行え、且つ労力と時間を軽減することができる変異原検出方法を提供すること。 - 特許庁 - To efficiently and inexpensively carry out a precise aging test, even when the number of semiconductor devices to be tested is increased, and even when a plurality of the semiconductor devices different in their specification are stored in one thermostatic oven.
試験すべき半導体素子の数が増えても、また、一つの恒温槽内に仕様の異なる複数の半導体素子を収容しても、精度のよいエージング試験を能率よく安価に行うことができる。 - 特許庁 - To provide a method for efficiently determining input data of an application program interface (API) to be performed, when a scenario is tested, and presenting the candidate of the API to be performed.
シナリオをテストする際に、実行するアプリケーション・プログラム・インターフェース（ＡＰＩ）の入力データを効率的に決定し、更には、実行されるべきＡＰＩの候補を提示する方法、装置、及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide an exhaust gas cleaning catalyst the catalytic activity of which can be kept high even after the catalyst is tested for endurance by suppressing the solid solution of a transition metal into a carrier and to provide a method for manufacturing the exhaust gas cleaning catalyst.
担体中への遷移金属の固溶を抑制して、触媒耐久後も高い触媒活性を維持することができる排ガス浄化触媒及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To enable the hue of a color sample to be visually tested easily and accurately during printing and prevent the color sample after bookbinding from being seen through from the back and mixed with an outer color of a page.
色見本帖の印刷製本において、印刷時に色見本の色相目視検査を容易かつ正確にし、製本後に色見本が裏から透けて外の頁の色と交じり合わないようにすること。 - 特許庁 - Moreover, the movement tempo of the endless belt 11 and the action movement of the robot 2 are so harmonized that the former tempo may approach the latter tempo, and the moving performance of that robot 2 can be stably tested in that state.
そして、エンドレスベルト１１の動きのテンポがロボット２の動きのテンポに歩み寄るように、両者の動きのテンポの調和が図られ、この状態で当該ロボット２の移動性能が安定に試験されうる。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display panel which can be tested for lighting prior to mounting an IC chip even though a wiring pattern surrounding the IC chip on a liquid crystal substrate is very short.
液晶基板上のＩＣチップ回りの配線パターンが非常に短い場合でも、ＩＣチップ搭載前における液晶表示パネルの点灯試験を行うことができる液晶表示パネルを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of shortening time required for a gradation test of a device to be tested by shortening time for quality determination based on a differential value between positive output and negative output.
正極出力と負極出力との差分値に基づく良否判定にかかる時間を短縮して、被試験デバイスの階調テストに要する時間を短縮する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - This method for screening the multidrug-resistant protein MRP1 inhibitor comprises administering a specimen to be tested to human mrp1 gene-introduced unc-31;sdf-14 double mutant nematode, Caenorhabditis elegans, and detecting its resistant larva formation.
ヒトmrp1遺伝子を導入したunc-31; sdf-14二重変異体の線虫Caenorhabditis elegansに被検体を投与し、その耐性幼虫形成を検出することを特徴とする、多剤耐性蛋白質MRP1阻害剤のスクリーニング方法。 - 特許庁 - The tested minus ion water ordinarily has the pH of ≥12 and lies in a region where the propagation of bacteria is impossible (pH 10.5 by high alkaline bacteria), but is neutralized into weak acid when being contacted with skin.
試験したマイナスイオン水は、通常ではｐＨ１２以上を有し、菌の繁殖が不可能な領域（高アルカリ性菌でｐＨ１０．５）にあるが、肌に触れると弱酸性に中和される性質を持っている。 - 特許庁 - The applanation of the eye 15 to be examination is performed by blowing air from an air jetting device 14 and the image corresponding to the displacement of the part to be tested of the eye 15 to be examination accompanying it apperts on the optical axis 3.
空気噴射装置１４から空気を吹き付けて被検眼１５の圧平を行い、これにともなう被検眼１５の被検査部分の変位に対応する画像が光軸３上に現れる。 - 特許庁 - The model animal for testing pruritus caused by drying is provided, wherein the glabrous skin of a tested animal is dried and the pruritus is caused by physical stimulation on the glabrous skin.
試験動物の無毛皮膚を乾燥皮膚とし、前記乾燥皮膚に物理的な刺激を与えることにより掻痒が惹起され、乾燥による掻痒を試験するモデル動物を作製できることを見出した。 - 特許庁 - Cores in a many-core processor are periodically tested to obtain dynamic profiles including trend information on its maximum operating frequency, power consumption, power leakage, functional correctness, and other parameters.
多コア・プロセッサ中のコアは、最大動作周波数、電力消費、電力リーク、機能的な正しさおよびその他のパラメータについての傾向情報を含む動的プロファイルを取得するために定期的に試験される。 - 特許庁 - The control apparatus 40 acquires an ideal velocity characteristic of a control surface and the temperature of pressure oil of the actuators 11 and 12 to be tested and operating speed of the control surface when the actuators 11 and 12 are attached to the control surface.
制御装置４０は、舵面の理想的速度特性と、舵面にアクチュエータが取り付けられたときの、試験対象となるアクチュエータの圧油の温度及び舵面の作動速度とを取得する。 - 特許庁 - To provide a testing apparatus for film thickness unevenness by which thickness unevenness of a film formed on a member may be appropriately tested even when a phase characteristic of light may not be recognized.
部材表面に形成された皮膜の膜厚むらを、光の位相特性を認識することができない場合においても適切に検査することが可能な膜厚むらの検査装置を提供する。 - 特許庁 - In another embodiment, the overspeed protection system can automatically be tested by adjusting the speed of the shaft (137) while being operated at a no-load rated speed.
本発明の別の実施形態では、無負荷定格速度で動作しながらシャフト（１３７）の速度を調整することによって、パワープラント機械の過速度保護システムを自動的に試験することができる。 - 特許庁 - A driver's aid device 5 displays a travelling speed pattern 12, a driving pattern for evaluating the performance of a vehicle to be tested 6 on a chassis dynamometer, on a driver's aid display device 4.
シャシーダイナモメータにおける被試験車両６の性能評価を行うための運転パターンである走行速度パターン１２をドライバーズエイド表示装置４上に表示させるドライバーズエイド装置５である。 - 特許庁 - To perform accurate testing and measurement without an influence of unnecessary electromagnetic waves and the like by eliminating input/output of the unnecessary electromagnetic waves and the like, in a device for testing and measuring a machine to be tested within a shield box.
シールドボックス内の被試験機機を試験・測定する装置において、不要な電磁波等の出入りをなくして、不要な電磁波等の影響をうけることなく、正確な試験・測定をおこなう。 - 特許庁 - The jaw heating element of the handpiece 12 with which a thermal tissue operation system 10 is provided is consecutively tested by applying a testing heater power signal to the jaw heating element betweentimes of individual thermal tissue operations.
熱組織手術システム１０の備えるハンドピース１２のジョー加熱素子は、個別の熱組織手術の合間に試験用ヒーター電力信号をジョー加熱素子に印加することにより継続的にテストされる。 - 特許庁 - On the surface of a probing pad section for wiring to be tested or inspected at a prescribed position, an identifying means which makes the probing pad distinguishable from the peripheral insulating resist is constituted of a distinguishable insulating resist.
本発明は、所定位置の試験検査対象配線のプロービングパッド部表面に、識別絶縁レジストを構成し、当該プロービングパッド部周囲の周辺絶縁レジストと区別する識別手段を構成する。 - 特許庁 - The contact unit 2 has a base block 20, and a plurality of contact parts 21 attached respectively independently and position-regulatably onto the base block 20 to be arrayed along a tape longitudinal direction of the object to be tested.
コンタクトユニット２は、基台２０と、この基台２０に、被試験物のテープ長手方向に配列されるように、それぞれ独立して位置調整可能に取り付けられた複数のコンタクト部２１とを有する。 - 特許庁 - To provide a vibration method for selectively applying vertical and lateral vibration to a lens to be tested without remounting the lens (including a body) removed from a test table.
試験台にマウントした被試験レンズ（ボディを含む）を外して再マウントしなくても、当該レンズに対して上下方向及び左右方向での振動を選択して加えることができる加振方法を提供すること。 - 特許庁 - The combined power system simulator 3 is controlled by a simulator controlling computer 8 and tests the apparatus to be tested 7 in accordance with conditions set by the simulator controlling computer 8.
複合型電力系統シミュレータ３は、シミュレータ制御用コンピュータ８によって制御されかつシミュレータ制御用コンピュータ８によって設定された条件に従って、被試験装置７の試験を行う。 - 特許庁 - An analytical processing part 15 of the analyzer collates pieces of the transmission/reception data received from the two devices 1 to be tested and analyzes a processing of each host protocol processing part 5 in mutual communication.
解析装置の解析処理部１５は、二つの試験対象装置１から受け取った送受信データをつきあわせて、相互通信における各上位プロトコル処理部５の処理を解析する。 - 特許庁 - To shorten a temperature rise and fall time of a tested object by efficiently creating a low temperature and high temperature state, in a tank of an electronic component temperature testing device that uses Peltier elements.
ペルチェ素子を用いた電子部品の温度試験装置において、低温および高温の槽内状態を効率よく作り出すことにより、被試験物の温度上昇、下降時間を短縮する。 - 特許庁 - Because the test execution part 100 explicitly outputs a path inside the program executed with a test on the basis of the test scenario onto a flow chart, the already tested path can be visually grasped.
また、試験実行部１００は、試験シナリオに基づいて試験を実行したプログラム中のパスを、フローチャート上に明示して出力するようにしたので、試験済みのパスを視覚的に把握することができる。 - 特許庁 - A simulator 11 provided with at least one microprocessor 14 sends an input simulation signal E to a unit 1 being tested at present and receives an output signal S from the unit 1 as reaction.
少なくとも１つのマイクロプロセッサ１４を備えたシミュレータ１１は、入力シミュレーション信号Ｅを試験中のユニット１に送り、反応としての出力信号Ｓをそのユニットから受信する。 - 特許庁
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