「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • To provide a method and a device for testing an electronic circuit device whereby the overall action of the electronic circuit device, the action of a single computing circuit chip, and the action of a single memory chip can be easily tested.
    電子回路装置の全体動作のテストと、演算回路チップの単体動作テストと、メモリチップの単体動作テストを容易に行うことができる電子回路装置のテスト方法、およびテスト装置を提供する。 - 特許庁
  • To achieve a semiconductor tester for correcting a timing error due to a fluctuation in an input capacitance of each terminal of a DUT when the DUT is tested, and improving a yield of the DUT during a test.
    ＤＵＴ試験にあたってＤＵＴの端子ごとの入力容量のバラツキに起因するタイミング誤差を補正し、試験におけるＤＵＴの歩留まりを向上させることができる半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁
  • Each test circuit chip 21 is connected to the probe terminal 12 via a wire provided for the inside of the card main body 11 and transmits and receives a signal to and from the LSI chip to be tested via the probe terminal 12.
    各テスト回路チップ２１は、カード本体１１の内部に設けられた配線を介してプローブ端子１２と接続されており、プローブ端子１２を介してテスト対象ＬＳＩチップと信号の授受を行う。 - 特許庁
  • The memory chip packaged in the package is tested with the internal test pattern (the first test mode) generated in the logic chip or the external test pattern (the second test mode) supplied from the outside according to the mode select signal.
    パッケージに実装されたメモリチップは、モード選択信号に応じて、ロジックチップ内で発生する内部試験パターン（第１試験モード）または外部から供給される外部試験パターン（第２試験モード）を使用して試験される。 - 特許庁
  • To provide a test method of cytotoxicity capable of directly and precisely measuring the cellular activity of a cultivated cell used for a test independently one by one and quantitatively determining the toxicity of a chemical substance to be tested for cytotoxicity with high precision.
    試験に用いる培養細胞の細胞活性を、直接、１個１個個別に、正確に計測でき、被毒性試験化学物質の毒性を高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法の提供。 - 特許庁
  • When the determining that the changing amounts of the characteristics of an internal circuit to be tested reach a prescribed value, the evaluation block 11 outputs a signal, to instruct switching of the destination of connection to the switches SW2 and SW3.
    評価ブロック１１は、その内部の被試験回路の特性の変化量が所定値に到達したと判断したときに、スイッチＳＷ２及びＳＷ３に接続先の切り替えを指示する信号を出力する。 - 特許庁
  • To provide a testing method and a device by which the contact area of a sample solution and the wall of a biochip is kept small and a reaction rate between a substance to be tested in a sample solution and a specific binding substance in the biochip is enhanced.
    サンプル液とバイオチップの壁面との接触面積を小さく保ち、且つ、サンプル液の被検物質とバイオチップの特異結合物質との反応速度を高める検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • A semiconductor device to be tested is mounted on a socket installed on a board of a burn-in testing apparatus and a voltage is applied to the semiconductor device while increasing the voltage up to a maximum testing voltage Vm in a stepped manner.
    バーンイン試験装置のボードに設けられたソケットに、試験対象の半導体装置を装着し、その半導体装置に対し、電圧を最大試験電圧Ｖｍまでステップ状に上昇させて印加していく。 - 特許庁
  • To allow a user to be tested in kinetic vision while enjoying it, and also to vary the measurement of visual ability not only by moving and displaying Landolt rings or numerals but by performing another display control.
    動体視力の測定を、楽しみながら行うことができるようにするとともに、ランドルト環や数字等を移動表示させるのみではなく、他の表示制御を行って視覚能力の測定に変化をつけること。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device testing apparatus changing no state of a signal imparted to a semiconductor device to be tested even if the test condition is changed when performing a test 2 immediately after a test 1.
    試験１の後に直ちに試験２を実行する場合に、試験条件の変更を行なっても、被試験半導体デバイスに与えている信号の状態が変化しない半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A determining means 140 inputs the output signal of the semiconductor device 500 to be tested, performs a determination by use of a part of the test pattern and a determining timing signal and outputs the determination result to the outside.
    判定手段１４０は、被試験対象の半導体デバイス５００の出力信号を入力し、テストパターンの一部と判定用タイミング信号を用いて判定を行ない、判定結果を外部に出力する。 - 特許庁
  • This simulation system includes: a test result database storing test result data set with an output result of a tested device (DUT) model to a prescribed test item; and a framework operating the test plan program.
    シミュレーションシステムは、所定のテスト項目に対する被試験デバイス（ＤＵＴ）モデルの出力結果を設定した試験結果データを格納する試験結果データベースと、テストプランプログラムを動作させるフレームワークとを備える。 - 特許庁
  • To provide a monitoring device for blood flow conditions capable of reducing the burden to a subject to be tested, detecting a blood pressure stably, and displaying a blood flow rate in an artery and the distribution.
    被験体への負担を軽減することができ、安定して血圧を検出することができるとともに、動脈内を流れる血流速度およびその分布を表示することができる血流状態モニタ装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a new method for detecting proliferative activity of epidermal cell and dermis fibrocyte which is capable of easily and rapidly detecting proliferative activity of epidermal cell and dermis fibrocyte of a tested material.
    被験物質の表皮細胞及び真皮線維芽細胞増殖作用を簡便、かつ迅速に検出することができる、新規の表皮細胞及び真皮線維芽細胞増殖作用の検出方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an address control circuit in which expansion of the circuit scale is prevented and the circuit delay time is less when an IC memory operated at a high speed is tested in a semiconductor test device.
    本発明の課題は、半導体試験装置において、高速に動作するメモリＩＣの検査を行う際に、回路規模の拡大を防ぎ、回路遅延時間の少ないアドレス制御回路を提供することである。 - 特許庁
  • A reference clock is inputted to an IC 1 to be tested from a reference clock oscillator 2, and an output signal having a minutely deviated frequency is converted into binary digital output data by a digitizer 3 and memorized in A region in a memory 4.
    基準クロック発振器２から基準クロックを被試験ＩＣ１に入力し、周波数が微少に偏移した出力信号をデジタイザ３で２値のデジタル出力データへ変換し、メモリ４のＡ領域へ記憶する。 - 特許庁
  • In the family house, her brother-in-law (her older sister's husband) Takeo KIYOHARA, a shakan (dormitory dean) and PE teacher, mesmerized her, saying: "You have the power of toshi [clairvoyance]," and tested her, which brought forth such good results that he continued her training.
    実家では義兄（姉の夫）、中学校の舎監・体操教員であった清原猛雄に「お前は透視ができる人間だ」との催眠術をかけられたところ、優れた結果が出たため修練を続けることとなった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • The gas contamination sensor includes an ion source which produces ion beam from the sample of gas to be tested, a first and a second ion detectors while respective first and second ion detectors receive ion from ion beams deflected in different ranges.
    ガス汚染センサは、試験されるガスのサンプルからイオンビームを生成するイオン源と、第１及び第２イオンディテクタとを含み、第１及び第２イオンディテクタの各々は異なる範囲で偏向されたイオンビームからのイオンを受ける。 - 特許庁
  • The optical pickup device is tested by evaluating a reproduction signal using at least two or more types of test disks of a first test disk with one recording layer and a second test disk with two recording layers.
    記録層が１層である第１のテストディスクと、記録層が２層である第２のテストディスクとの少なくとも２種類以上のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査するようにする。 - 特許庁
  • To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which various semiconductor wafers are tested with an easy operation.
    本発明は、試験装置に関し、特にウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、簡易な操作により、種々の半導体ウエハを試験することができるようにする。 - 特許庁
  • Then by using the first wavefront information, the position of the central axis of the intentionally generated rotationally symmetric wavefront deformation, i.e., the position of the central axis of the wavefront of the light from the optical system to be tested is accurately found (step 119).
    そして、第１波面情報を使用して、意図的に発生させた回転対称な波面変形の中心軸位置、すなわち、被検光学系からの光の波面の中心軸位置を精度良く求める（ステップ１１９）。 - 特許庁
  • To provide a test device for a semiconductor memory in which a test time can be shortened by interrupting logical comparison after the block when a defect is detected once in a noticing block, in a memory to be tested.
    本発明は、被試験メモリにおいて、注目ブロックで一度不良が検出されたら、以後そのブロックで論理比較を行なわないことにより試験時間の短縮が可能な半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide illumination equipment and a control method for illumination which can obtain stable illumination properties, without changes in brightness, regardless of the variation in the vertical direction when transporting an object to be tested and can attain energy saving.
    被検物搬送時の上下方向の変動に対して明るさに変化のない安定した照明特性を得られ、しかも、省エネルギー化を実現した照明装置及び照明制御方法を提供する。 - 特許庁
  • In this method, when a plurality of pneumatic tires is tested under the same travel condition by a plurality of tire indoor travel testers 1 and 2, the tire indoor travel testers 1 and 2 are adjusted using a tire 3 for adjustment.
    複数の空気入りタイヤを複数のタイヤ室内走行試験機１，２により同一走行条件下で試験を行う時に、調整用タイヤ３を用いてタイヤ室内走行試験機１，２を調整する方法である。 - 特許庁
  • The clock signal is supplied to the first flip-flop 2 via a phase control circuit 4, out of the first and second flip-flop 2, 3 provided in both ends of a tested circuit 1 desired to conduct the operation test.
    動作テストを行いたい被テスト回路１の両端に設けられた第１および第２のフリップフロップ２、３のうち、第１のフリップフロップ２に位相制御回路４を介してクロック信号が供給されるようにする。 - 特許庁
  • To provide an IC test device which can easily analyze defect by correcting the number of output stages by adjusting to latency setting for every pin of memories to be tested, and its control method and a storage medium.
    本発明の課題は、被試験メモリの各ピン毎のレイテンシ設定に合わせて出力段数を補正することにより、不良解析の容易なＩＣ試験装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁
  • As for the microwave-proofness of the film case, tested by filling the film case with water to its half capacity and then heating the case for five minutes in a microwave oven with a rated high frequency output 500 W, the rate of a size change is 20% or less.
    この際の電子レンジ適性としては、フィルムケース内に水を半分入れて、定格高周波出力５００Ｗの電子レンジにて５分間加熱した際に寸法変化率が２０％以下であった。 - 特許庁
  • A color sample 18 for reference for the erythema of skin reaction with a substance to be tested are provided in the vicinity of the gel body 16 for the tests of the transparent film 12 in such a way that the colors 18 for reference have such a degree of transparency as that the skin is observed through.
    透明フィルム１２の検査用ゲル体１６近傍には、被験物質により反応する皮膚の紅斑の色見本１８が、皮膚が透けて見える程度の透明性を有して設けられている。 - 特許庁
  • To protect a multilayer printed wiring board against damage caused by a contact probe and a check voltage applied from the probe even if a contact probe pressed against a test land breaks through the test land and an outer insulating base when the board is tested.
    基板検査時にテストランドに押し当てられた接触針がテストランド及び外層の絶縁基材を突き破っても、この接触針及び接触針からの検査電圧による基板破壊を防止する。 - 特許庁
  • A thin film layer is formed on a substrate to be mounted with a semiconductor device to be tested, and a plurality of temperature monitoring circuits are provided on this thin film layer to obtain the heat generation distribution of the device by signals from these circuits.
    試験を行なう半導体装置を実装する基板に薄膜層を形成し、この薄膜層に複数の温度モニタ回路を設け、この温度モニタ回路からの信号によって半導体装置の発熱分布を得る。 - 特許庁
  • To provide a test route verifying device which extracts an affected place based upon modification for a program test after program modification and verifies whether or not the affected place is tested.
    本発明の課題は、プログラム変更後のプログラムテストにおいて、変更に基づく影響箇所を抽出すると共に、影響箇所のテストが行なわれたかを検証するテストルート検証装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • In this way, a braking action in one of two pairs of braking machines is maintained in operation of the operation apparatus 17, while a braking action of the other is released, and braking ability is tested by carrying out braking operation in each of the two pairs.
    これにより、操作具１７の操作時に上記両者の一方の制動作用を継続し、他方の制動作用を解除して、上記両者を一組ずつ制動動作して制動能力を検定する。 - 特許庁
  • A light source is turned on, a white reference image is inputted to an image sensor, an output signal of the image sensor is tested about the white reference image, and white reference data are set in each effective photodetector (step S305 and S310).
    光源を点灯してイメージセンサに白基準像を入力し、白基準像についてイメージセンサの出力信号を検査して有効受光素子ごとに白基準データを設定する（ステップＳ３０５及びＳ３１０）。 - 特許庁
  • The controller for testing 50 delivers operation commands to a device for driving load 60 acting as a tested device during an operating test, and receives predetermined data, indicating the status of the device for driving load 60 from the loads 60, as well.
    試験用コントローラ５０は、動作試験時、被試験装置である負荷駆動装置６０へ動作指令を出力するとともに、負荷駆動装置６０の状態を示す所定のデータを負荷駆動装置６０から受ける。 - 特許庁
  • A simulated structure 30 equipped with a frame 8, a shaker 7 and a reaction measuring unit 2 a is set on a foundation 6 where a vibration table 5 is set and only a structure 3 to be tested is mounted on the vibration table 5.
    フレーム８、加振機７および反力計測装置２とを備えた模擬構造物３０を、振動台５が設置された基礎６と同じ基礎６に設置し、振動台５には試験対象構造物３のみを載置する。 - 特許庁
  • An IC chip 20 is made up of a PLL(phase-lock loop) circuit 3 for supplying a system clock, a logic circuit 4 to be tested at an actual operation speed, and a BIST circuit 5 for compression-storing a test result as test result data 17.
    ＩＣチップ２０は、システムクロックを供給するＰＬＬ回路３、実動作速度によるテストされる論理回路４、及び、テスト結果をテスト結果データ１７として圧縮格納するＢＩＳＴ回路５で構成される。 - 特許庁
  • To realize a probe card and a method of testing a semiconductor device, capable of obtaining satisfactory contact with chips and electrode pads of a CSP at all times, when the chips and the CSP are tested in the form of a wafer.
    チップやＣＳＰをウエハ状態で試験する際に、各チップやＣＳＰの電極パッドと常に良好なコンタクトの得られるプローブカード及び半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • Each band-pass filter of the DUT tested device board 3 selects signals having different frequencies each from the multitone signal outputted from the AWG 11 of the tester 1 and supplies them to the input terminals of the LSI 2, respectively.
    ＤＵＴボード３の各帯域フィルタは、テスタ１のＡＷＧ１１から出力されるマルチトーン信号から各々異なる周波数の信号を選択し、前記ＬＳＩ２の入力端子にそれぞれ供給する。 - 特許庁
  • The operation mode control unit 4 is used when the sensor LSI 50 is tested, and outputs to the operation timing generation unit 5 a mode control signal Sms designating either an operation test mode or an intermittent operation test mode.
    動作モード制御部４は、センサＬＳＩ５０のテスト工程のときに用いられ、間欠動作テストモードと動作テストモードいずれかを指定するモード制御信号Ｓｍｓを動作タイミング生成部５に出力する。 - 特許庁
  • The driving circuit is tested by controlling ON-OFF of the driver transistors by the controlling circuit and turning on the switching element by a controlling signal before the driven circuits are formed on the same substrate after the driven circuit is formed.
    駆動回路を形成した後、同一基板上に複数の被駆動素子を形成する前に、コントロール信号によりスイッチ素子をオンし、制御回路によりドライバトランジスタのオンオフを制御して駆動回路をテストする。 - 特許庁
  • A measured vibration characteristic and the measured value of the variable element are read into a computing part to constitute a linear matrix equation to identify a structure matrix including an unknown structure parameter of the tested object, excepting the variable element.
    計測された振動特性と、可変要素の値とを演算部に取り込み、可変要素を除く、被試験物の未知構造パラメータを含む構造マトリクスを同定するための線形行列方程式を構成する。 - 特許庁
  • To provide a built-in self-test device for memory circuit which can test the timing specification such as setup time, hold-time, or the like prescribed for a memory to be tested by using plural timing signals having a prescribed phase difference.
    所定の位相差を持つ複数のタイミング信号を用いて、被試験メモリに規定されるセットアップタイムやホールドタイム等のタイミングスペックの試験を可能にしたメモリ回路用の組込み自己試験装置を提供する。 - 特許庁
  • In the raw water adjusting tank 1, the water level is kept constant by an overflow means, so that the tested water 22 is sent with a fixed flow and the flow can be adjusted by a slider or an orifice.
    原水調整槽１では越流手段１０により水位が一定に保たれるので、被検水２２は一定流量で送水されると共に、スライダー３ａやオリフィス１ａにより流量調整が可能である。 - 特許庁
  • The determination part 16 has a comparison part 24 and a detection part 26, and can determine existence of a failure in the circuit 22 to be tested based on the supply current measured by the supply current measuring part 14.
    判定部１６は、比較部２４および検出部２６を有し、電源電流測定部１４において測定された電源電流に基づいて、被試験回路２２の故障の有無を判定することができる。 - 特許庁
  • To evade the increase of chip size of a semiconductor device and to suppress the rise of manufacturing costs even when the scale of a BIST circuit is increased in accordance with the increase of the scale of a circuit to be tested in the semiconductor device.
    半導体装置の試験対象回路の規模増大に対応してＢＩＳＴ回路の規模も増加する場合においても、半導体装置のチップサイズの増大を回避し、製造コストの上昇を抑える。 - 特許庁
  • To improve the efficiency and accuracy of a test by preventing the interruption or a delay of the test and the abnormal determination of a test result even if a signal not directly involved in the test is transmitted and received to/from a device to be tested.
    被試験装置との間で試験には直接関与しない信号が送受信されても、試験の中断や遅延、試験結果の異常判定が発生しないようにして、試験の効率と精度の向上を図る。 - 特許庁
  • This sensor includes a body to be tested 1 having a sealed inner chamber 4 and a pressure gauge 3 for measuring the pressure in the inner chamber, and the inner chamber 4 is filled with gas and/or liquid to produce a pressure difference from the external world.
    密封された内室４を有する被試験体１と、内室の圧力を測定する圧力計３とを備え、内室４は外界との間に圧力差を生じるように気体及び／又は液体を充填する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing a projection optical system and a testing device or the like by which the optical performance of a liquid-immersion type projection optical system wherein a liquid is arranged on the side of an image surface can be tested accurately and easily.
    像面側に液体が配置される液浸式の投影光学系の光学性能を精確且つ容易に検査することができる投影光学系の検査方法及び検査装置等を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device provided with a package wherein a good result can be obtained when the semiconductor device incorporating a Peltier element is tested for temperature by using a test handler, concerning the semiconductor device with temperature control function.
    温度制御機能を有する半導体装置に関し、ペルチェ素子が組み込まれた半導体装置をテストハンドラで温度試験した場合に好結果が得られるパッケージを備えた半導体装置を提供しようとする。 - 特許庁
  • A decoder 22 decodes a composite video signal from a system 16 to be tested to produce a component video signal and to generate a color frame signal at start of each color frame of the composite analog video signal.
    デコーダ２２は、被試験システム１６からのコンポジット・ビデオ信号をデコードして、コンポーネント・ビデオ信号を発生すると共に、上記コンポジット・アナログ・ビデオ信号の各カラー・フレームの開始においてカラー・フレーム信号を発生する。 - 特許庁
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