「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 44 45 46 47 48 49 50 51 52 .... 58 59 次へ＞- The host analyzer has a neural processing module for processing raw digital data supplied to the host analyzer by a first client analyzer, and for investigating the characteristics of the packet network targeted to be tested which is connected to the first client analyzer.
ホスト・アナライザは、第１のクライアント・アナライザによってホスト・アナライザに供給される生のデジタル・データを処理し、第１のクライアント・アナライザに接続された試験対象パケット網の特性を調べるニューラル処理モジュールを有する。 - 特許庁 - Thereby, the test pattern signal can be supplied at a high frequency from a test control device 100, and it is unnecessary for the test control device 100 to directly read out output signals from the test devices DUT to be tested.
このため、テスト制御装置１００から、高い周波数でテストパターン信号を供給することができ、また、テスト制御装置１００が被試験デバイスＤＵＴからの出力信号を直接読み込む必要が無くなる。 - 特許庁 - The input buffers BI1 to BI6 and output buffers BO1 to BO6 are tested in the same test step, by outputting the test output signal TD to the output terminal via the output buffer.
テスト出力信号ＴＤをセレクタＳ１〜Ｓ６と出力バッファとを経由して出力端子へ出力することにより、入力バッファＢＩ１〜ＢＩ６及び出力バッファＢＯ１〜ＢＯ６を同一のテストステップでテストを実施する。 - 特許庁 - To provide a livestock body temperature measuring system for four-footed animals, reduced in external factors hindering the system construction and facilitating offering data for individual animals to be tested.
本発明は、４足歩行を行う動物に対する体温測定システムを構築するうえで、障害を与える外的要因の削減を図り、個々の被測定動物に対するデータを容易に提供することを可能とすることを目的としている。 - 特許庁 - The wafer cassette to be tested 400 is installed on an electrode plate 110, wafer electrodes 121, 122 are installed in the prescribed cassette groove of the wafer cassette 400, and the wafer electrodes 121, 122 performing measurement by switches 131, 132 are selected.
電極板１１０上に被試験ウェーハカセット４００を設置し、ウェーハ型電極１２１、１２２をウェーハカセット４００の所定のカセット溝に設置し、スイッチ１３１、１３２で測定を行なうウェーハ型電極１２１、１２２を選択する。 - 特許庁 - To enable an automatic test of a semiconductor device by connecting a controller for performing conveyance control of a semiconductor device to be tested and sequence control according to a predetermined test procedure to a semiconductor testing apparatus through a simple interface.
被試験対象の半導体デバイスの搬送制御と所定試験手順に従ったシーケンス制御とを行うコントローラを、半導体試験装置に簡易なインターフェイスで接続し、半導体デバイスの自動試験を行えるようにする。 - 特許庁 - This adaptable non-contact type touch panel inspecting-testing method generates a contact pressure signal to a touch pad 100 by jetting an air current generated from an air nozzle 5, into a selected position of the touch pad 100 to be tested.
本発明はエアノズル５で発生する気流を、テストを受けるタッチパッド１００の選定された位置に噴くことにより、タッチパッド１００に触圧信号を発生させる適応可能な非接触式タッチパッド検査テスト方法である。 - 特許庁 - Performance of the terminal is tested on a test stage of an idle mode by virtually changing items required for registration such that the terminal excludes the registration and moves into the test stage of the idle mode.
端末機などが登録を排除し、アイドルモードのテスト段階に進入できるように、登録のために必要なアイテムを仮想的に変更し、前記アイドルモードのテスト段階で前記端末機の性能をテストすることを特徴とする。 - 特許庁 - When a seat cushion pad A is tested under a forced vibration test by applying a 50 kg iron plate with the amplitude of ±2.5 mm, it shows 4 in resonance power at 2-4 Hz and 50-70% of impact resilience rate.
シートクッションパッドＡは、５０ｋｇの鉄研形加圧板を負荷して振幅±２．５ｍｍにて行った強制振動試験により測定した２〜４Ｈｚにおける共振倍率が４以下でかつ反発弾性率が５０〜７０％である。 - 特許庁 - To make a plurality of tests mutually different in the setting of meas uring conditions (especially measuring points) performable, without changing measuring equipments, in an electromagnetic wave measuring test for measuring an electromagnetic wave emitted from a substance to be tested in an anechoic chamber.
電波暗室内で被試験体から放射される電磁波を測定する電磁波測定試験において、測定条件（特に測定点）の設定の異なる複数の試験を、測定装置を入れ替えることなく行えるようにする。 - 特許庁 - To provide a leak inspection method and a leak inspection device that can, when inspecting for leaks using pressure methods, precisely and reliably subtract the temperature-caused portion of change in the pressure of a fluid inside an object being tested.
圧力式の漏洩検査において、被検査対象内の流体の圧力変化における温度起因の変動分を高精度で確実に除去することの可能な漏洩検査方法および漏洩検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and a system that are effective when selection of the test mode of an information communication device to be tested is required in the house test for the information communication device comprising e.g. a central processing section, a storage section, a communication control section and a peripheral control section.
たとえば中央処理部、記憶部、通信制御部、周辺制御部から構成される情報通信機器の社内試験等を行う際に、機器の試験モード切替えが必要な場合に有効な装置、方式を提供する。 - 特許庁 - To reduce a temperature of a device to be tested having large self heat generation by a simple structure in a short time and increase its temperature quickly so as to enable temperature control without being affected by the self heat generation.
本発明は、自己発熱の大きい被試験デバイスを、シンプルな構造で短時間で温度降下させ、また温度上昇も早くして、自己発熱に影響されにくい温度制御ができる半導体試験装置のハンドラを提供する。 - 特許庁 - Determination means 222 determines the remaining life of the battery to be tested 1 based on the measured voltage value by the voltage measuring means 212 and correlation data which indicates the correlation between the voltage, the number of charging/discharging cycles and the battery capacity of the secondary battery.
判定手段２２２は、電圧測定手段２１２による測定電圧値と、二次電池の電圧、充放電サイクル数および電池容量の相関を示す相関データと、に基づいて被試験電池１の余寿命を判定する。 - 特許庁 - The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.
被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁 - Whether or not success/failure conditions specified as conditions for deciding success/failure based on the test result of an object to be tested in a test program are matched with success/failure decision conditions in test required specifications is determined for one test item.
一のテスト項目について、テストプログラムに被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、テスト要求仕様における合否判定条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁 - This particle collector is provided with a plate type test base 2 arranged on a test table 4, a member 3 for sticking tested paper to the test base, and a cylindrical roller 1, and a mechanism such as a motor driving the roller is arranged beneath the test table.
試験テーブル４上に備えられた平板状の試験台２と試験台に被試験紙を装着する部材３と、円筒上のローラ１を備え、試験テーブル下にはモータ等の前記ローラを駆動する機構が備えられている。 - 特許庁 - Continuously, this film is dried and solidified in a hood 5 which is set at a specified wind velocity by a wind velocity control part 3, and after dried, the number of films remaining behind in the measures is counted, and the presence or absence of an defoaming performance is tested by many or few of the number of films remaining behind.
続いて、風速制御部３によって一定風速とされたフード５内にて該膜を乾燥硬化させ、乾燥後、枡目８に残る膜の数をカウントし、膜残り数の多少によって消泡性能の有無を検査する。 - 特許庁 - Furthermore, the sum of voltages of the D+ data output signal and D- data output signal is tested, whereby the test can be performed in the same channel of the testing device, and a precise measurement can be thus performed, without being influenced by skew between channels.
また、Ｄ＋データ出力信号とＤ−データ出力信号との電圧の和をテストすることで、テスト装置の同一チャンネルでのテストが可能となり、 チャンネル間のスキューの影響を受けることなく高精度での測定が可能となる。 - 特許庁 - The apparatus 6 for restraining a vehicle comprises a pitching permitting device 7 arranged at the lower side of a vehicle 4 to be tested, permitting pitching of the vehicle 4 where a width direction line 9 containing the center G of gravity of the vehicle 4.
車両拘束装置６は、被試験車両４の下側に配置されるピッチング許容装置７を備え、被試験車両４の重心Ｇを含む幅方向線９を中心とする被試験車両４のピッチングを許容する。 - 特許庁 - The tray transfer device comprises a handler body, the loading part set on one side of the handler body for supplying a semiconductor element to be tested, the unloading part for receiving a tested semiconductor element in a tray transferred from the loading part, and a tray handling device for removing the semiconductor element left in the tray from the tray, while moving the tray from the loading part to the unloading part.
ハンドラ本体、テストしようとする半導体素子を供給するために前記ハンドラ本体の一側に設置されるローディング部、前記ローディング部から移送されたトレイに、テスト済み半導体素子を受納するためのアンローディング部、及び前記トレイを前記ローディング部から前記アンローディング部に移動させながら、前記トレイに残存する半導体素子を前記トレイから除去するためのトレイハンドリング装置（Ｔｒａｙ ｈａｎｄｌｉｎｇ ｄｅｖｉｃｅ）を備える構成とした。 - 特許庁 - The method for testing the function of suppressing increase in quantity of fat comprises (1) a first process of testing activity of a monoacylglycerol acyltransferase in a contact system of the monoacylglycerol acyltransferase with a material to be tested and (2) a process of evaluating the function of suppressing increase in quantity of the fat depending on difference obtained by comparing the activity tested by the first process with the activity in a control.
脂肪量増加抑制能力の検定方法であって、（１）モノアシルグリセロールアシルトランスフェラーゼと被験物質との接触系内における前記モノアシルグリセロールアシルトランスフェラーゼの活性を測定する第一工程、及び（２）第一工程により測定された活性と対照における活性とを比較することにより得られる差異に基づき前記物質の脂肪量増加抑制能力を評価する第二工程、を有することを特徴とする脂肪量増加抑制能力の検定方法。 - 特許庁 - A CPU 1e analyzes the signal displaying the information of the generator according to the analytic indication inputted by the key input section 1d, the keyboard 2 and the mouse 3, and a governor adjusting the rotational speed of the generator is tested.
そうして、上記キー入力部１d,キーボード２およびマウス３により入力された解析指示に従って、ＣＰＵ１eは発電機の情報を表す信号の解析を行って、発電機の回転速度を調節する調速機の試験を行う。 - 特許庁 - Testing food material A is material A is dished out by a moderate weight according to the amounts of food ingested in the morning, noon and evening for the past several weeks of each subject as a tested subject, and testing food C for three days, that is, nine times in total is prepared.
試験用食品素材（Ａ）を、検査の対象となる被験者１人１人の過去数週間の朝昼晩の摂食量に基づいて、適度な重量に取り分けると共に、３日分・計９回の試験用食品（Ｃ）を作る。 - 特許庁 - A gas inlet 24 through which a gas to be tested is introduced into a cell chamber 23 and a collector electrode 22 protruding into the cell chamber 23 are disposed in a such a positional relationship that a line extending from the central axis of the gas inlet 24 does not intersect with the collector 22.
セル室２３に被検ガスを導入するガス導入孔２４の中心軸の延長線がセル室２３内に向けて突設されたコレクタ電極２２と交わることのない関係位置にガス導入孔２４とコレクタ電極２２とを配設する。 - 特許庁 - The testing facility terminal (13) automatically changes an interface (14) based on the transferred information to meet the electrical equipment (1) to be tested, carries out the electrical characteristics evaluation/test and transfers the test result via the network (10) to the host computer (11).
転送された情報から試験設備端末（１３）は、対象となる電気機器（１）に合わせてインターフェイス（１４）を自動的に変更し、電気特性評価試験を行い、試験結果をホストコンピュータ（１１）にネットワーク（１０）を介して転送する。 - 特許庁 - At tests, a false signal setting device 3 is connected to the signal transmitting medium to set a false signal by a false signal setting means 3A and transmit a setting signal to the false signal generating device connected to the control device to be tested.
そして、試験に際しては、信号伝送媒体に模擬信号設定装置３を接続し、模擬信号設定手段3Aによって模擬信号を設定し、試験対象とする制御装置に接続された模擬信号発生装置に設定信号を伝送する。 - 特許庁 - To provide a fully on-chip wafer level burn-in test circuit and a method thereof, which enables wafer burn-in to be tested by using an external supply voltage and an external signal (WBI) and generating a voltage for a stress screen within the chip.
本発明は、外部供給電圧と外部信号（WBI）を利用してストレススクリーン用電圧をチップ内部で発生してウェハバーンインテストを行うことを可能にしたフーリオンチップ・ウェハレベル・バーンインテスト回路及びその方法を提供することである。 - 特許庁 - Next, the device 1 transmits a direction to a false active call apparatus 7, and transmits a command to a tested transmission processing apparatus 8 in relation to the false active call same as the call transmitted to the employment transmission processing apparatus 9 based on the acquired input signal.
次に、取得した入力信号に基づいて、運用通信処理装置９に発せられた呼と同様の疑似呼を試験対象となる試験対象通信処理装置８に対して投入するように、疑似呼装置７に指令を送信する。 - 特許庁 - To provide a road surface water film reproducing system which is capable of stably forming on a virtual road surface a water film of a prescribed thickness which has the same speed as a desired speed of a vehicle to be tested, and reproducing a traveling state of the vehicle on the virtual road surface.
被試験車両の所望する速度と同じ速度を有する所定厚さの水膜を仮想路面上に安定的に形成し、該仮想路面上で被試験車両の走行状態を再現できる路面水膜再現装置を提供する。 - 特許庁 - Fluorescent lamps 14 and 15, which are illuminating light sources able to outgo illuminating light for illuminating a testing surface of a product to be tested, are covered with stain-proofing covers 20 detachably so that the outgoing surface of illuminating light can be prevented from contamination anyway.
被検査物の被検査面を照明するための照明光を出射し得る照明光源である蛍光灯１４、１５における少なくとも照明光の出射面を汚損防止し得るように防汚カバー２０で交換可能に被覆する。 - 特許庁 - This detection array is provided with at least one solid base body and a specific affinity probe formed by immobilizing a plurality of kinds of specific affinity substances specifically binding with a plurality of kinds of tested substances onto the surface of the solid base body.
少なくとも１個の立体状基体と、複数種類の被検物質に対して夫々特異的に結合する複数種類の特異親和性物質を該立体状基体の表面に固相化された特異親和性プローブとを具備する検出用アレイ。 - 特許庁 - To provide a test handler which can easily correspond to reduction in part replacement period and various types of testers, and to decrease the production cost by markedly reducing the number of replaced parts in accordance with the conversion of semiconductor element to be tested.
被検査半導体素子の変換に従って交替される部品の数を著しく低減して生産コストの節減、部品交替時間の短縮及び多様なテスタータイプに容易に対応し得るテストハンドラーを提供することを目的とする。 - 特許庁 - Presence or absence of c.4957-4958InsA mutation in the EYS gene is tested in a DNA-containing sample collected from a retinitis pigmentosa patient by using the primer, probe and microarray which can detect c.4957-4958InsA mutation in the EYS gene.
ＥＹＳ遺伝子におけるｃ．４９５７＿４９５８ＩｎｓＡ変異を検出することができるプライマー、プローブ、及び、マイクロアレイを用いることにより、網膜色素変性症患者から採取されたＤＮＡ含有試料において、ＥＹＳ遺伝子におけるｃ．４９５７＿４９５８ＩｎｓＡ変異の有無を検査する。 - 特許庁 - In a PRPG 20, taps and seeds (set values) are set to generate a large amount of random input patterns, and the generated input patterns are inputted to reference semiconductor integrated circuits 32A, 32B, and 32C and a semiconductor integrated circuit 34 to be tested.
ＰＲＰＧ２０で、タップ及びシード（設定値）をセットして、ランダムな入力パターンを大量に発生し、基準の半導体集積回路３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃ、及びテスト対象の半導体集積回路３４へ発生した入力パターンを入力する。 - 特許庁 - To provide a test handler which can easily cope with reduction in part replacement period and various types of testers, and to decrease production cost by markedly reducing the number of parts replaced in accordance with the conversion of a semiconductor element to be tested.
被検査半導体素子の変換に従って交替される部品の数を著しく低減して生産コストの節減、部品交替時間の短縮及び多様なテスタータイプに容易に対応し得るテストハンドラーを提供することを目的とする。 - 特許庁 - This focal distance measuring instrument is equipped with a light source unit 2 for generating a collimated beam, a diffraction grating 3 for deflecting the collimated beam at a deflection angle θ, and an imaging element 4 for detecting the position of a spot beam into which the deflected beam is formed through a tested lens TL.
コリメート光を発生する光源ユニット２と、コリメート光を偏向角θで偏向させる回折格子３と、偏向した光が被検レンズＴＬを通して結像するスポット光の位置を検出する撮像素子４とを備えている。 - 特許庁 - The optical arrangement for a microscope is equipped with the beam splitter (1) arranged in a divergent and/or convergent beam path for separating an illumination light (2) that is produced by an illumination source from a detection light (3) that is emitted by a sample being tested.
照明源によって発生した照明光（２）と検査対象である試料から出る検出光（３）とを分離させるように発散光路および／または収束光路内に配置されるビームスプリッター（１）を備えた顕微鏡用光学装置。 - 特許庁 - The noncontact single side probe includes the probe to be brought into contact with a conductive line to be tested; a feeding part for applying AC power to the probe; and a sensing part for measuring electrical variation values of the probe.
検査対象導線に接触するための探針子と、前記探針子に交流電源を入力するための給電部と、前記探針子での電気的変化値を測定するための感知部を含んで接触式シングルサイドプローブを構成する。 - 特許庁 - The semiconductor memory 703 is tested by a test circuit 702, each test result of plurality of digits is held by a data-holding means 706 in the test circuit 702, and the digit of the defective data, concerning the failures in the semiconductor memory 703, is designated.
テスト回路７０２により半導体メモリ７０３のテストを行い、そのテスト回路７０２内のデータ保持手段７０６により、複数桁の各々のテストの結果を保持して、半導体メモリ７０３内の故障にかかる不良データの桁を指定する。 - 特許庁 - Test pattern data is generated based on this read out program data, and memory BIST is performed by comparing data read out after the test pattern data is written in a memory to be tested with expected value pattern data corresponding to the test pattern data.
この読み出されたプログラムデータに基づいてテストパタンデータを生成し、被テスト対象メモリがテストパタンデータを書き込んだ後で読み出されたデータと、当該テストパタンデータに相当する期待値パタンデータとを比較することによりメモリＢＩＳＴを行う。 - 特許庁 - To provide a test method by which an optimized test is performed for a plurality of semiconductor memories to be tested and considerable number of devices can be saved out of devices discriminated as defective devices which are rejected by a conventional test method.
複数の被試験半導体記憶装置に対して最適化された試験を行ない、従来の試験方法では救済することができず不良品と判定されたものの中から、かなりのものを救済することが可能な試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a clip tester for extremely improving reliability of verification by generating pseudo failure at timing corresponding to operation timing of a circuit to be tested, and to provide a clip testing device, a clip testing method and a clip testing program.
被試験回路の動作タイミングに対応したタイミングで擬似故障を発生させることができ、もって、検証の信頼性を極めて向上させることができるクリップテスタ、クリップ試験装置、クリップ試験方法、およびクリップ試験プログラムを提供する。 - 特許庁 - The flow rate of the non-combustible fluid may be correlated to the flow rate of a combustible fluid through the flow restrictor 12 from a fuel storage section 14 to estimate the flame height of the lighter incorporating the tested flow restrictor 12.
不燃性流体の流量を、燃料貯蔵区画１４から流量制限器１２を通る可燃性流体の流量に関係付けて、試験された流量制限器１２を取り付けたライターの炎の高さを推定することができる。 - 特許庁 - The dynamometer 17 includes: a drive electric motor 1; a flywheel 3 connected to the drive electric motor 1 and storing kinetic energy equivalent to that during the driving; and a torque meter 6 detecting the braking force of the brake 4 to be tested which brakes the rotation of the flywheel 3.
駆動電動機１と、駆動電動機１に連結され、走行時と等価の運動エネルギーを蓄えるフライホイール３と、フライホイール３の回転を制動する被試験ブレーキ４の制動力を検出するトルクメータ６とからなるダイナモメータ１７である。 - 特許庁 - In the visual inspection device 3 for visually inspecting a printed board 4 tested by an automatic tester 2, the image of a defective place photographed by the automatic tester 2 and the data showing the defective place are read to be displayed on a display 34.
自動検査装置２によって検査されたプリント基板４を目視で検査する目視検査装置３において、自動検査装置２で撮影された不良箇所の画像とその不良箇所を示すデータを読み出してディスプレイ３４に表示させる。 - 特許庁 - The problem is overcome by measuring the conductivity of the suspension liquid of the fecal matter to be tested as an index, and converting a measurement value of the fecal occult blood marker by using a measurement value of the index for control so as to adjust to measurement of the fecal occult blood marker.
すなわち便潜血マーカーの測定に合わせて、上記指標となる被検糞便懸濁液の伝導度を測定し、該指標の測定値をコントロールとして便潜血マーカーの測定値を換算することにより課題が達成される。 - 特許庁 - The optoelectronic circuit board can be tested by whether a light receiving device 4 has received a part of the optical signal 2 as a second optical signal 21 for test from the branch optical waveguide 15 through an aperture 150 for taking-out or not.
分岐光導波路１５から取出用開口１５０を介してその光信号２の一部を、第２の検査用光信号２１として、受光装置４が受信したか否かによって光電子回路基板１の検査を行うことができる。 - 特許庁 - An effect as the therapeutic agent of a tested substance against type 2 diabetes is evaluated using as an index an action onto a specified amino-acid sequence, using a mouse having a recombination pancreatic β cell expressing stably a protein having the specified amino-acid sequence.
特定のアミノ酸配列を有する蛋白質を安定的に発現する組み換え膵β細胞を有するマウスを用い、特定のアミノ酸配列に対する作用を指標として、被験物質の２型糖尿病治療薬としての効果を評価する。 - 特許庁 - The electromagnetic waves emitted from the directional antenna 1 is a signal non-modulated or modulated and the directional antenna 1 mounted to the arm of the XYZ linear type arm robot 3 can be irradiated at an arbitrary position of the apparatus 2 to be tested with the electromagnetic waves.
指向性アンテナ１から発せられる電磁波は、無変調または変調のかかった信号であり、ＸＹＺ直行型アームロボット３のアームに取り付けた指向性アンテナ１は、被試験機器２の任意の位置に電磁波を照射することができる。 - 特許庁
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