「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 43 44 45 46 47 48 49 50 51 .... 58 59 次へ＞- To make currents for measuring on-resistance values to be made to flow to individual switch elements to be tested even when no exclusive external terminal is provided for leading out an internal common node to the outside of a semiconductor integrated circuit.
内部共通ノードを半導体集積回路の外部に引き出すための専用の外部端子を設けなくても、個々のテスト対象スイッチ素子に対してオン抵抗値を測定するための電流を流すことができるようにする。 - 特許庁 - To easily replace contacts for contact with IC terminals and eliminate the need for preparing IC sockets for every IC package in an IC testing apparatus for the electrical connection between ICs to be tested and IC terminals.
被試験ＩＣのＩＣ端子と電気的接続をとるためのＩＣ試験装置において、ＩＣ端子に接触させるための接触子を容易に取り替えることができ、ＩＣパッケージごとにＩＣソケットを作成しなくてもよいようにする。 - 特許庁 - Power source voltage generators (301A-301D) are disposed, corresponding to the plurality of semiconductor integrated circuit devices (1A-1D) to be tested simultaneously, and generate power source voltage for operating each semiconductor integrated circuit device.
電源電圧発生器(301A-301D)は、同時に検査される複数の半導体集積回路装置(1A-1D)に対応して設けられ、半導体集積回路装置毎に、半導体集積回路装置を夫々動作させるための電源電圧を発生する。 - 特許庁 - The semiconductor wafer or a sample 10 having a substrate 12 of a semiconducting material is tested by compressing a dielectric 14 between three electrically conductive contacts 6 and the top surface 16 of the substrate 12 of the semiconductor wafer or the sample 10.
半導体材料の基板１２を有する半導体ウエハまたはサンプル１０は、３つの導電性接触子６と半導体ウエハまたはサンプル１０の基板１２の上面１６との間の誘電体１４の圧縮により検査される。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device 10 having a structure in which a plurality of semiconductor chips are stacked, which can be tested without contact with a bump electrode BP_0 and increase in the load capacity of a penetrating-electrode TSV_0.
複数の半導体チップが積層された構造を有する半導体装置において、パンプ電極ＢＰ＿０に接触せずに、かつ、貫通電極ＴＳＶ＿０の負荷容量を増やさずにテストできる半導体装置１０を提供する。 - 特許庁 - At the same time, the heads of the posts 32 standing on the substrate 1 project from the notches 30 of the upper member 25; and when the hook 33 engages with the head, the springs 27 are held in the compressed state and a pressure is applied to the battery 5 to be tested.
同時に、上側部材２５のノッチ３０から、基板１上に立っているポスト３２が頭部を出すので、この頭部にフック３３を係合すると、スプリング２７は圧縮された状態に保持され、被験電池５に圧力が掛かる。 - 特許庁 - To provide a method of filling control in high pressure hydrogen test equipment and high pressure hydrogen filling equipment capable of applying pressure at a constant pressure rising rate without an excessive rise in temperature of an object to be tested, with a simple structure.
簡単な構成で、試験体の温度が過度に上昇することがなく、一定の昇圧率で圧力を印加することの出来る高圧水素試験設備や高圧水素充填設備での充填制御方法を提供する。 - 特許庁 - The CPU 1 determines the priority of each partial interlocking data based on the information to determine whether the each partial interlocking data is the interlocking data to be tested, and performs the controls in order starting at the partial interlocking data with higher priorities.
ＣＰＵ１は、各部分連動データが試験対象の連動データであるか否かの情報に基づいて当該各部分連動データの優先度を決定すると共に、優先度の高い部分連動データから順に制御を実行する。 - 特許庁 - When the actual soft endoscope image of the subject to be tested is obtained, the actual endoscope image is compared with the virtual endoscope image in the database to determina the virtual endoscope image having the highest similarity to the endscope image.
検査対象の実軟性内視鏡画像を取得すると、前記実内視鏡画像を前記データベース内の仮想内視鏡画像と比較して、前記内視鏡画像と最も類似度が高い仮想内視鏡画像を決定する。 - 特許庁 - To provide a burn-in device capable of making testing conditions even, by restraining dispersion of temperatures in a plurality of tested objects generating heat by an operation, and capable of enhancing thereby reliability for a burn-in test and an aging test.
動作することによって発熱する複数の被試験体の温度のばらつきを抑制することによって試験条件を揃え、バーンイン試験およびエージング試験の信頼性を向上させることができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁 - When performing a test, the signals recorded in the data recording device 14 are reproduced by a plant data reproduction apparatus 23, and a reproduced operation amount signal and a reproduced state feedback signal are inputted to a control apparatus 21 to be tested.
試験時には、プラントデータ記録装置１４により記録された信号をプラントデータ再生装置２３によって再生し、再生操作量信号及び再生状態フィードバック信号を被試験制御装置２１に入力する。 - 特許庁 - To provide a function with which communication networks is automatically tested from a superordinate producer-independently managing network management center (NMC), for example at times when subordinate, producer-specific operation and maintenance centers (OMC) are not occupied.
通信ネットワークにおいて、たとえばメーカ固有の下位のオペレーションおよびメンテナンスセンタ（ＯＭＣ）が占有されていない時点などに、メーカに依存しない管理する側の上位のネットワークマネージメントセンタ（ＮＭＣ）からの自動的なテスト機能を実現する。 - 特許庁 - To provide a test device for testing the characteristics of each semiconductor chip by bringing a probe into contact therewith from both surfaces of a semiconductor wafer, in which each semiconductor chip can be tested by heating the semiconductor wafer to a desired temperature.
半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各半導体チップの特性を試験する試験装置において、所望の温度に半導体ウエハを加熱して各半導体チップを試験することができる試験装置を提案する。 - 特許庁 - Thus, with the semiconductor memory device and the method for testing whether the ODT resistor is on/off during the data read mode, whether the ODT circuit is on/off during reading of data is tested.
したがって、本発明によるデータ読出モードでＯＤＴ抵抗部のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法は、データが読出される間にＯＤＴ回路のオン／オフ如何をテストできる。 - 特許庁 - Also, by making only the wiring resistor 19 function as a shunt resistor even in the wafer state without the presence of the bonding wire 20, since a current control circuit 18 can be operated, the electric characteristics can be tested.
また、ボンディングワイヤ２０が存在しないウエハ状態でも、配線抵抗１９のみをシャント抵抗として機能させることで、電流制御回路１８が動作可能であるため、その電気的特性検査を行うことが可能となる。 - 特許庁 - To efficiently and automatically perform a regression test by automatically extracting a portion to be preferentially tested according to a changed part so as to avoid an excessive large number of test items when performing the test.
リグレッションテストを行う場合に、テスト項目が膨大になってしまわないように、変更した箇所に応じて優先的にテストすべき部分を自動的に抽出し、リグレッションテストを効率的、自動的に行うことを可能にすること。 - 特許庁 - At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.
被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁 - To provide a function that allows a subscriber terminal station device for executing restriction on incoming calls received by an exchange from a point of time, when a test of a speech channel is started until a point of time when the test is completed as to a channel to be tested in a subscriber system network.
加入者系ネットワークにおいて、被試験回線について通話路試験開始時点から完了時点までの間、加入者側端局装置から交換機の着信規制を実行させる機能を提供する。 - 特許庁 - The apparatus includes an external noise determining means 32 which controls a transmitting coil 15 to be in a prescribed state while an object to be tested does not exist therein, and determines the state of external noises based on fluxes detected by receiving coils 16, 17.
被検査物品が存在しない状態で、送信コイル１５を所定の状態に制御し、受信コイル１６，１７で検出される磁束に基づいて外部ノイズの状況を判定する外部ノイズ判定手段３２を備える。 - 特許庁 - To solve the problem that in a conventional self test, AD and DA converting circuits to be tested are used for testing and calibrating them at a low cost, while whether the self test method has a desired linearity or not can not be decided correctly when the converting circuits have opposite error characteristics mutually.
ＡＤ変換回路およびＤＡ変換回路のテストおよび較正を低コストに実施するため、被測定対象であるＡＤ変換回路とＤＡ変換回路を互いに利用したセルフテスト方式が提案されている。 - 特許庁 - An environmental testing device 1 includes a case 12 having an air-conditioned chamber 25 with a temperature and humidity regulating means housed, and a cover 15 comprising a testing chamber 14 with the object 9 to be tested adjacent to the air-conditioned chamber 25 housed.
環境試験装置１は、温湿度調整手段が収容された空調室２５を有する筐体１２と、空調室２５に隣接した被試験体９を収容する試験室１４を構成するカバー１５とを含んでいる。 - 特許庁 - To provide a flexible flat cable capable of preventing troubles such as short-circuit by coating and protecting a test point where a linear conductor is exposed, and able to be tested by easily removing the coating of the test point when performing a continuity confirmation test.
線状導体が露出しているテストポイントを被覆保護して短絡などのトラブルを防止でき、導通確認テストの際にはテストポイントの被覆を簡単に解除してテストを実施できるフレキシブルフラットケーブルを提供する。 - 特許庁 - The method for detecting the parasite is composed of: a light source for irradiating an object to be tested with the visible light having a specific wavelength; the filter for absorbing exciting light reflected irregularly; a camera for photographing the fluorescence from the parasite; an image processing apparatus; and a monitor.
被検体に対して特定波長の可視光を照射する光源、励起光の乱反射を吸収するフィルター、被検体からの蛍光を撮影するカメラ、画像処理装置、モニタからなる寄生虫の検出装置である。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.
半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁 - A tested object is discriminated on which side of the metal detection coil it is positioned by a control circuit of Fig. 2 to determine metal detection, or no reaction is made for the metallic material existing on the inspector side.
検査対象物は図２の制御回路で金属探知コイルのどちら側に位置するかを判別し金属検知の判定をすることが可能で、また検査者側に存在する金属物に対して反応を示さなくすることができる。 - 特許庁 - A test for an object to be tested using a tester provides improvement to a tester simulation device for simulating by a DUT model for simulating operation of the object and a test model for simulating operation of a tester.
本発明は、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の動作をシミュレーションするＤＵＴモデルと、テスタの動作をシミュレーションするテスタモデルとによりシミュレーションを行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - A load is repeatedly imposed on a tested body S by changing over a state where only an upper chamber 21A of a cylinder 20 is pressurized to a state where only a lower chamber 21B of the cylinder 20 is pressurized and vice versa by using a selector valve 48.
切換弁４８を用いて、シリンダ２０の上室２１Ａのみが加圧されている状態と、シリンダ２０の下室２１Ｂのみが加圧されている状態とを選択的に切り換えることにより試験体Ｓに繰り返し荷重を負荷する。 - 特許庁 - Setting in advance fault states expected for a supervised unit or tested unit 1 to a supervisory server 2 can inform a supervisor in voice through an automatic phone call on the occurrence of the fault.
被監視装置や被試験装置１において予め発生するであろう異常状態を監視サーバ２に設定しておくことにより、異常が発生した場合、自動的に監視者に電話をして音声により異常状態を通知する。 - 特許庁 - To provide a substrate jig board which simultaneously fixes a plurality of substrates to be tested, brings them to suitably respond to an in-line automatic conveyance, and prevents them from breaking even when a test head contacts therewith, and to provide a substrate test-use jig unit embedding the same.
複数の被検査基板を同時に定置させてインラインでの自動搬送に好適に対応させ、かつ、テストヘッドを接触させても割れないようにした基板治具ボードおよびこれを組み込んだ基板検査用治具ユニットの提供。 - 特許庁 - A capacitor 5 for waveform adjustment is connected in parallel with the circuit breaker 1 to be tested, the circuit breaker 1 is made to open in a state that a DC electric charge charged into a power-supply capacitor 2 is made to flow to the circuit breaker 1 via a reactor 4.
供試遮断器１に波形調整用コンデンサ５を並列に接続し、電源用コンデンサ２に充電された直流電荷をリアクトル４を介して供試遮断器１に流した状態で供試遮断器１を開極させる。 - 特許庁 - There is no need for the person T being tested to input the information consciously while viewing and listening to the video image, and the person T can concentrate on viewing and listening to the video image, so the living body information can be collected on which the change of feeling is reflected faithfully.
これにより、被験者Ｔは映像を視聴する際に、意識して情報を入力する必要が無く、映像の視聴に集中できるので、感情の変化を忠実に反映した生体情報を収集できる。 - 特許庁 - In an apparatus and a method in which a tilted strand connection part 22 in a small electric component 23 is tested, a testing tool 21 which can be moved simultaneously along two mutually orthogonal exes in a direction at right angels to the direction of a strand is provided.
小型電気素子における傾斜したストランド接続部を試験するための装置および方法は、ストランドの方向に直交する方向に互いに直交する２軸に沿って同時に移動可能な試験工具を備えている。 - 特許庁 - Then, a state determining means 23 monitors and determines internal information about the device 1 to be tested, so that application of the route update information to the route control table 11 and input of a control command to the port 5A are competed.
そして，状態判定手段２３が被試験装置１の内部情報を監視および判定することにより、経路制御表１１への経路更新情報の印加とポート５Ａの制御コマンドの入力との競合を発生させる。 - 特許庁 - When there is aberration in the eye E to be tested and a conjugated plane of the fundus before the vicinity of the conjugated plane, two sensor images Sa and Sb are displaced vertically and, as is shown in (b), the sensor image Sa is displaced downward and the sensor image Sb is displaced upward.
被検眼Ｅに収差があり、共役面の付近の手前に眼底の共役面がある場合に、２つのセンサ像Ｓａ、Ｓｂは上下にずれ、（ｂ）のようにセンサ像Ｓａが下方に、センサ像Ｓｂが上方にずれる。 - 特許庁 - By analyzing a source code to be tested, a change in an input/output interface can be reflected, and input-related information including an input value (test case) and an output value (expectation value) or input/output relationship information after the change is created.
テスト対象ソースコードを解析して、入出力インタフェースの変更を反映することができ、入力値（テストケース）と出力値（期待値）を含む入力関係情報又は変更後入出力関係情報を作成する。 - 特許庁 - To provide a senario creation program for creating a senario for enabling a virtual Web client to properly perform the transmission of a request message and the reception of a response message even in the case of imposing an access load on a Web server device to be tested.
試験対象のウェブサーバ装置にアクセス負荷を掛ける場合において、仮想ウェブクライアントがリクエストメッセージの送信とレスポンスメッセージの受信とを適切に行えるシナリオを作成できるようにするシナリオ作成プログラムを、提供する。 - 特許庁 - If a required number of test pins for tests increases according to test items, specified one is selected from among a plurality of integrated circuits and they are tested with cooperating the selected one semiconductor integrated circuit.
試験項目によって試験に必要なテストピン数が増えた場合には、複数の半導体集積回路のうち特定の１つを選択し、複数の試験装置が選択された１つの半導体集積回路を協調動作しながら試験する。 - 特許庁 - To inexpensively provide a drop and impact tester capable of subjecting an object to be tested to free fall, while maintaining a fixed dropping attitude and collide with a collision surface and obtaining accurate measurement data.
本発明は、試験物の落下姿勢を一定に保った状態で自由落下させて衝突面に衝突させることができ、正確な測定データを得ることができる落下衝撃試験装置を安価に提供することを課題とする。 - 特許庁 - In the similar way, after the delay time of another tested circuit 1401 is measured, a high-temperature heating is performed for a specified time while a second frequency signal having a frequency different from the first frequency signal is inputted.
同様にして、別の被試験回路１４０１の遅延時間を測定した後、第１の周波数信号とは異なる周波数を有する第２の周波数信号を入力した状態において一定時間高温加熱する。 - 特許庁 - To provide a bias supply device, capable of surely suppressing oscillations over a broad band, by certainly preventing connection between the inlet side and outlet side of a tested device, without affecting the existing measurement system.
既存の測定系には何ら影響を与えることなく、被試験デバイスの入力側と出力側との結合を確実に防止して、広帯域にわたって確実に発振を抑制することができるバイアス供給装置を提供する。 - 特許庁 - A defect-correcting apparatus accumulates in a database many defect correction methods, including those implemented in the past and detects defects, by checking a defect image with captured locations being tested on a wiring board against a defect-free reference image.
過去に実施された欠陥修正手法を含む複数の欠陥修正手法をデータベースに蓄積し、配線基板の検査対象箇所を撮影した欠陥画像と、欠陥のない参照画像とを照合して欠陥を検出する。 - 特許庁 - An operation amount signal, a state feedback signal and a control signal which are generated during real operation of a control target plant 16 controlled by a tested control apparatus 11 are correlated with each other and recorded in a plant data recording apparatus 14.
試験済みの制御装置１１による制御対象プラント１６の実運転中に発生した操作量信号、状態フィードバック信号及び制御信号を相互に関連付けてプラントデータ記録装置１４に記録しておく。 - 特許庁 - The parts holder has pocket parts 416 in which untested or tested parts 420 are arranged in a freely detachable manner, blowoff passages 428, 430, 432 for guiding air into the pocket parts 416 and heaters 440 for heating the pocket parts.
試験前または試験後の部品４２０が着脱自在に設置されるポケット部４１６と、ポケット部４１６の内部に、空気を案内する吹き出し通路４２８，４３０，４３２と、ポケット部を加熱するヒータ４４０とを有する部品保持装置。 - 特許庁 - The coating amount of the microcapsules is in the range of 1-50 g/m^2, and the smoothness of the surface coated with the microcapsules is set at 20-600 sec when tested by a smoothness testing method using a Beck tester described in JIS-P8119.
マイクロカプセルの塗工量は１ｇ／ｍ^2から５０ｇ／ｍ^2の範囲にあり、マイクロカプセルの塗工面の平滑度がＪＩＳ−Ｐ８１１９記載のベック試験器による平滑度試験方法で２０〜６００秒の範囲に設定する。 - 特許庁 - To create an optimal schedule in consideration of a constraint condition in which "for some testing devices, different kinds of components can be set and tested together using the same testing device, the same tool and the same test condition".
「一部の試験装置については、同一の試験装置、同一の治具、同一の試験条件で、異なる種類の部品をセットにして一緒に試験を行うことが可能」といった制約条件を考慮して、最適なスケジュールを作成する。 - 特許庁 - A device to which network equipment to be tested is connected determines a state of the network equipment from a value of its address and reports a server device for controlling test of the network equipment of connection information indicating the determined state of the network equipment.
試験対象のネットワーク機器が接続される装置は、該ネットワーク機器の状態を、そのアドレスの値から判別し、判別したネットワーク機器の状態を示す接続情報をネットワーク機器の試験を制御するサーバ装置へ通知する。 - 特許庁 - An IC socket 100, mounted with an IC102 which is to be tested and transmits the signal required for testing, is provided with a plurality of IC housing parts where a plurality of ICs102 are housed for simultaneous testing in a socket body 101.
試験対象のＩＣ１０２を搭載して、試験に必要な信号を伝達するＩＣソケット１００であって、ソケット本体１０１内にＩＣ１０２を複数個同時試験可能に収納する複数のＩＣ収納部を設けた。 - 特許庁 - A test die having one coat hanger part is fabricated to test a material flow in the coat hanger part, and then a plurality of coat hanger parts 50 having the same size and form as the tested one are arranged to manufacture the extrusion die 4.
１つのコートハンガー部を備える検討用ダイを製作して、このコートハンガー部内における材料の流れを検証し、その後、検証したのと同サイズ同形状のコートハンガー部５０を複数並べて押出ダイ４を製作する。 - 特許庁 - When the process to be tested calls the external function, a dummy function 112 corresponding to the external function is executed and simulated operation wherein other processes are not concerned in the function of the external function is performed according to description contents from a sequence file 121.
被テストプロセスにて外部関数がコールされると、この外部関数に対応するダミー関数１１２が実行されシーケンスファイル１２１よりの記述内容に従い、外部関数の機能を他プロセスが関与しない模倣した動作を行う。 - 特許庁 - The livestock body temperature measuring system is so constructed that extension cable(s) for connecting a body temperature sensor and a signal transmission unit to each other is(are) eliminated and a means for displaying data on the animals to be tested by PDA(personal digital assistance) is constructed.
本発明は、体温センサー部と送信ユニット部間の接続用延長ケーブルの排除、及びＰＤＡによる被測定動物に関するデータの表示を行う手段を構築し、家畜体温測定システムを運用する。 - 特許庁
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