「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • The belt type load simulator comprises an endless flat belt 11 formed as a substitution road surface with which wheels of a vehicle to be tested come into contact by being wound around both-end support bodies and an intermediate support body, and a conveying drive device for conveying the endless flat belt 11.
    ベルト式ロードシミュレータは、両端支持体と中間支持体に巻き付けられて被試験車両の車輪が接触する代用路面として形成された無端フラットベルト１１と、この無端フラットベルト１１を移送駆動する移送駆動装置を備えている。 - 特許庁
  • Failure information for indicating a failure memory cell (x mark) at a data storage part 1a of a memory to be tested is read from a failure memory 2a, and is counted for each of column and row addresses to obtain failure memory cell count values 3d and 3e of the column and row addresses, respectively.
    被試験メモリのデータ記憶部１ａでの不良メモリセル（×印）を表わす不良情報を不良メモリ２ａから読み出し、行及び列アドレス毎にカウントして列アドレスの不良メモリセルカウント値３ｄ、行アドレスの不良メモリセルカウント値３ｅを得る。 - 特許庁
  • Further, if an input/output instruction appears during the execution of the tested instruction group by the logic simulator 5, the logic simulator 5 issues the input/output instruction to the instruction level simulator 2, which executes the input/output instruction.
    さらに、論理シミュレータ５での試験対象命令群の実行中に入出力命令が出現した場合に、論理シミュレータ５から命令レベルシミュレータ２へ入出力命令を発行し、命令レベルシミュレータ２で入出力命令を実行する構成としている。 - 特許庁
  • To provide a direct-current testing device capable of applying a stable constant voltage to a device to be tested (DUT), realizing high-density mounting by suppressing heat generation, and realizing miniaturization and cost reduction, and a semiconductor device equipped with the device.
    安定した一定の電圧をＤＵＴに印加することができ、発熱を抑えることにより高密度実装が可能であり、更には小型化及び低コスト化を実現することができる直流試験装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The VII-type and/or the IV-type collagen production control factor can be screened in such a way that a VII-type collagen production cell and/or a IV-type collagen production cell are brought into contact with an factor to be tested and that VII-type collagen and/or IV-type collagen which are produced by the cells are quantitatively determined.
    VII 型及び／又はIV型コラーゲン産生制御因子は、VII 型及び／又はIV型コラーゲン産生細胞を被験因子と接触させ、しかる後に当該細胞が産生するVII 型／又はIV型コラーゲンを定量することによりスクリーニングすることができた。 - 特許庁
  • (1) Applications for which no filings were previously made outside the Kingdom shall be tested by the Directorate or by any national or foreign institution specified by the Directorate, in accordance with" UPO Guidelines for the Conduct of Tests for Distinctness, Uniformity an Stability".
    1. 以前王国外でなされたことのない出願は，「識別性，均一性及び安定性についてのテストを行うための植物新品種保護国際同盟ガイドライン」に従って，局又は局により指定された王国の又は外国の機関によりテストされる。 - 特許庁
  • If a person having any claim to, or in relation to, any goods of which samples have been selected and tested in pursuance of rules under sub-section (1), or of an order under sub-section (2), desires that any further samples of the goods be selected and tested, such further samples shall, on his written application and on the payment in advance by him to the court or officer of customs, as the case may be, of such sums for defraying the cost of the further selection and testing as the court or officer may from time to time require, be selected and tested to such extent as may be permitted by rules made by the Central Government in this behalf or as, in the case of goods with respect to which provision is not made in such rules, the court or officer of customs may determine in the circumstances to be reasonable, the samples being selected in the manner prescribed under sub-section (1), or in sub-section (2), as the case may be.
    (1)による規則又は(2)による命令に従い見本を選択し，かつ，検査した商品に対して又は関して不服がある者が，更に追加見本を選択し，かつ，検査すべきことを希望する場合において，その者の申請書の提出があり，かつ，裁判所若しくは税関吏の随時必要とする追加選択検査費に充当する金額の裁判所又は場合に応じて税関吏に対する前納があったときは，本件について中央政府が制定した規則が許容し又はそのような規則に規定されていない商品については，裁判所若しくは税関吏がその状況下で適切であると決定することができる範囲で，前記追加見本を選択し，かつ，検査しなければならないものとし，見本は，(1)又は場合に応じて(2)に規定する方法により選択する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing communication transmission line which can efficiently execute a test or test control while reliably preventing the malfunction of an information processor connected to an active communication transmission line being a communication path to be tested, and to provide a test controlling method.
    被試験通信路である現用中の通信伝送路に接続されている情報処理装置の誤動作を確実に防止して、効率よく試験または試験制御を実行できる通信伝送路の試験方法及び試験制御方法を提供する。 - 特許庁
  • An input terminal of a sample hold circuit 6 for sample holding the voltage VM2 of the semiconductor element 4 to be tested in response to a timing signal immediately after the end of application of the current IT is connected to both ends of each semiconductor element 4 including the variable resistors 5.
    可変抵抗５を含む各被試験用半導体素子４の両端には電流ＩTの通電終了直後にタイミング信号を受けて被試験用半導体素子４の電圧ＶM2をサンプルホールドするためのサンプルホールド回路６の入力端子が接続されている。 - 特許庁
  • A switch element 129 being a through current cutting-off means cuts off a through current flowing into the ground voltage pad 126 through a reference voltage generating circuit 127 from a power source voltage pad 125 when a power source current at the standby time is tested of the data processing section 3.
    貫通電流遮断手段としてのスイッチ素子１２９は、電源電圧パッド１２５から基準電圧発生回路１２７を介して接地電圧パッド１２６に流れる貫通電流を、データ処理部３の待機時電源電流の検査の際に、遮断する。 - 特許庁
  • To provide a method for determining appropriate therapeutic procedure and/or prognosis for a patient diagnosed to be affected by a neurological disease, and to provide a method for identifying human subjects for placement in clinical drug trials of drugs being tested for the treatment of the neurological disease.
    神経疾患であると診断された患者の適当な治療法および／または予後を決定するための方法、および、神経疾患の治療について試験する薬物の臨床試験の対象患者となるヒト被験者を同定する方法の提供。 - 特許庁
  • Thus, since the comparison timing signals imparted to these logic comparators LC are delayed respectively by the delay times set in the answering variable delay circuits DY1-DY3, they are made to coincide with the timing of the read-out data read out from related memories to be tested.
    これによってこれら論理比較器に与えられる比較タイミング信号は対応する可変遅延回路に設定された遅延時間だけそれぞれ遅延されるから、関連する被試験メモリから読み出される読み出しデータのタイミングと合致させることができる。 - 特許庁
  • The module type test system includes a system controller 102 for controlling at least one site controller 104, and at least one site controller controls at least one test module 108 and a device (DUT 112) to be tested to which the module corresponds.
    モジュール式試験システムは少なくとも１つのサイトコントローラ１０４を制御するためのシステムコントローラ１０２を備え、少なくとも１つのサイトコントローラは少なくとも１つの試験モジュール１０８およびその対応する被試験デバイス（ＤＵＴ１１２）を制御する。 - 特許庁
  • A frequency sweep is performed by a frequency sweep oscillator 11, and measured values x(0), x(1), ..., x(n-1) is obtained through a detection circuit 13 and AD converters 19, 20 in each frequency step Δf as response output of a tested circuit 12.
    周波数掃引発振器１１によって周波数掃引を行い、被試験回路１２の応答出力として、周波数ステップΔｆ毎に検波回路１３とＡＤ変換器１９，２０を通して測定値ｘ（０），ｘ（１），・・・ｘ（ｎ−１）が得られる。 - 特許庁
  • (i) The construction of the machines, etc., which has passed the examination for the authorization of the type or the equipment, etc., with which the machines, etc., has been manufactured or tested are not in conformity to the standards provided for by the Ordinance of the Ministry of Health, Labour and Welfare set forth in paragraph (3) of Article 44-2.
    一　型式検定に合格した型式の機械等の構造又は当該機械等を製造し、若しくは検査する設備等が第四十四条の二第三項の厚生労働省令で定める基準に適合していないと認められるとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a pile loading test method and its loading test device capable of being tested by using a testing pile in a state to make it possible to actually use, simplifying the constitution, extending the flexibility of the test and contributing to shortening of the testing process and reduction of costs.
    実際に使用される状態の試験杭を用いて試験することができ、構成が簡単で、試験の自由度を広げることができ、更には試験工程の短縮及びコストの削減に寄与する杭の載荷試験方法及び載荷試験装置を提供する。 - 特許庁
  • By adding a compound to be tested such as the trans type fatty acid, etc., to G-protein conjugate type receptor-holding cells, it is possible to perform a screening for detecting a substance showing an adverse effect on a living body or a substance correcting the adverse effect.
    活性化状態にあるＧ蛋白質共役型レセプター保有細胞に、トランス型脂肪酸などの被検化合物を添加することにより、生体に悪影響を及ぼす物質や、悪影響を是正する物質を検出するためのスクリーニングを行うことができる。 - 特許庁
  • To provide an apparatus for detecting an abnormality in water quality which prevents the generation of bubbles in a measuring tank, keeps the temperature of water to be tested within a predetermined range, and therefore prevents a false warning of "abnormality in water quality" from being caused by bubbles and/or low temperatures.
    測定槽内での気泡の発生を防ぎ、しかも被検水の温度を所定範囲に保持するので、気泡や低温などに起因する『水質異常』の誤警報を防止できる異常水質検出装置及び異常水質検出方法を提供する。 - 特許庁
  • Respective measured chips 109, 110 which are the two respective semiconductor integrated circuit chips tested at the same time on a semiconductor wafer 189 are so provided that the output-terminal pads 111, 112 of the chip 109 and the output-terminal pads 115, 116 of the chip 110 are disposed symmetrically and adjacent to each other.
    半導体ウエハ１８９上で同時に試験される２個の各半導体集積回路チップである各被測定チップ１０９、１１０を、互いに出力端子用パッド１１１、１１２、１１５、１１６側が隣り合うように対称配置して設ける。 - 特許庁
  • The augmentation specification specifies: (a) a function to be augmented, (b) the parameter of a function to be tested, (c) a test to be applied to the specified parameter, and (d) modification to be executed to the behavior of the function when the specified test is not satisfied by the specified parameter.
    増補指定は、（ａ）増補される機能、（ｂ）テストされる機能のパラメータ、（ｃ）指定されたパラメータに適用されるテスト、および（ｄ）指定されたテストが指定されたパラメータによって満足されない場合に機能の挙動に対して実行される変更を指定する。 - 特許庁
  • If the screening tester sets a product class code of the diode to be tested, a select bit code corresponding to it is stored in registers 5, 6, switches SW1-SW6, SW8-SW13 are switched, and a current amplification factor, corresponding to the product class, is set.
    選別機テスタから、テストを行うダイオードの品種コードを設定すると、それに対応するセレクトビットコードがレジスタ５，６に格納されてスイッチＳＷ１〜ＳＷ６，ＳＷ８〜ＳＷ１３が切り替えられ、各品種に応じた電流増幅率が設定される。 - 特許庁
  • This fluorescence detecting system emits an excitation light L1 with a wavelength of 750 nm to a part 1 to be tested of a subject previously administered with the fluorescent chemical agent, and captures the image of the chemical agent fluorescence emitted from the fluorescent chemical agent with a CCD image pickup device 107 to acquire the fluorescence image information.
    予め蛍光薬剤が投与された被検体の被検部１へ波長７５０ｎｍの励起光Ｌ１を照射し、蛍光薬剤から発せられる薬剤蛍光をＣＣＤ撮像素子１０７で撮像して蛍光画像情報を取得する。 - 特許庁
  • In a first server 12 included in a regular machine being really operated, a virtual directory 36 is independently arranged from a regular directory 34 in a hard disk 13, and data related to the program to be tested, which is registered in a job register part 22 by a user, is stored in the virtual directory 36.
    実運用されている本番機に含まれる第１サーバ１２において、ハードディスク１３に、本番ディレクトリ３４と別に、仮想ディレクトリ３６を設け、ユーザがジョブ登録部２２に登録したテスト対象のプログラムに係るデータは、仮想ディレクトリ３６に格納する。 - 特許庁
  • To efficiently perform a rough positioning without requring the switch operation by a photographer by switching a fundus observation state to an anterior ocular segment observation state on the basis of the presence of receipt of the reflected image of an index projected to the anterior ocular segment of an eye to be tested.
    被検眼前眼部に投影された指標の反射像の受光の有無に基づき、眼底観察状態から前眼部観察状態に切換えることにより、撮影者がスイッチ操作を行わなくても大まかな位置合わせを効率的に行えるようにする。 - 特許庁
  • In a chamber 6, a wafer 1 to be inspected which is tentatively locked by a chuck holder 4 and a probe pin module 2 are pinched between upper and lower parts by a heating block 3, and are further pressed by a press 7 so that the entire probe pin 2 is completely brought into contact with a wafer to be tested.
    相互位置合わせ後、チャックホルダ４に仮止めした、切断前の半導体ＩＣウエハ１とウエハ・プローブ・ピン・モジュール２とをチャンバー６内に入れ、プレス７により半導体ＩＣウエハ１とウエハ・プローブ・ピン・モジュール２とを接触方向に加圧する。 - 特許庁
  • The semiconductor memory tester for determining whether a memory device to be tested is defective is provided with a measuring part for comparing the output of the target memory device with an expected value at timing based on a clock output from the target memory device.
    テスト対象メモリデバイスの良否判定を行う半導体メモリテスタであって、前記テスト対象メモリデバイスが出力するクロックに基づくタイミングで前記テスト対象メモリデバイスの出力と期待値とを比較する測定部を有することを特徴とするもの。 - 特許庁
  • When a message reception receiving part receives the message reception from the test scenario analysis performing part 101 and also receives the message from the part 102 for performing the program to be tested, a message waiting part 112 transmits the received message to the test scenario analysis performing part 101.
    メッセージ待合せ部１１２は、メッセージ受理受付部がテストシナリオ解釈実行部１０１からメッセージ受理を受信し、かつ、被テストプログラム実行部１０２からメッセージを受信すると、受信したメッセージを、テストシナリオ解釈実行部１０１に送信する。 - 特許庁
  • The gate circuit 230 blocks outputs, from the flip-flop circuit, of either of regular output data Q, Qb outputted to a circuit of a tested target and output data SIN for scanning outputted to a following flip-flop circuit according to an operation mode.
    ゲート回路２３０は、被テスト対象の回路に出力される正規の出力データＱ，Ｑｂおよび後段のフリップフロップ回路に出力されるスキャン用の出力データＳＩＮの何れかについて、動作モードに応じて当該フリップフロップ回路からの出力を阻止する。 - 特許庁
  • In this dynamic burn-in system for inputting a signal output from a signal generator 1 into the semiconductor device of a tested object stored in a burn-in vessel 2 to conduct the burn-in for the semiconductor device, the converter 3 is provided in an output side of the signal generator.
    信号発生器１が出力する信号をバーンイン槽２内に収納された被試験対象の半導体装置に入力し、半導体装置のバーンインを行うダイナミック・バーンイン装置において、上記信号発生器の出力側に変換器３を設ける。 - 特許庁
  • A changeover means 16 is provided on the partial channel of the supply system path of the test pattern signal applied on each semiconductor device, and the test pattern signal of the other channel is selected by the changeover means to be applied on the specied pin of the semiconductor device to be tested.
    各半導体デバイスに印加する試験パターン信号の供給系路の一部のチャンネルに切換手段１６を設け、この切換手段により他のチャンネルの試験パターン信号を選択して被試験半導体デバイスの特定のピンに印加する構成とした。 - 特許庁
  • The semiconductor device probing apparatus comprises: a housing configured to define a test chamber; a device holder 70 arranged in the housing and on which at least of one device 62 to be tested is to be loaded; and at least one probe stage 50 arranged in the housing.
    半導体デバイスプロービング装置は、試験チャンバを定めるように構成されたハウジング、ハウジング内に配置され、少なくとも１つの被試験デバイス６２を載せるように構成されたデバイスホルダ７０及びハウジング内に配置された少なくとも１つのプローブステージ５０を備える。 - 特許庁
  • To provide a performace board capable of controlling leakage of a signal to outside and inflow of noise, and securing low-loss/low-reflection and stable transmission characteristics, when electronic components under test are tested by utilizing a high frequency signal.
    高周波信号を用いて被試験電子部品をテストする際にも、低損失・低反射で安定した伝送特性を確保することが可能であると共に、信号の外部への漏洩及びノイズの流入を抑制することが可能なパフォーマンスボードを提供する。 - 特許庁
  • To realize a high accurate test while shortening the test time significantly using a conventional inexpensive tester without requiring any expensive semiconductor tester and to eliminate the need of a reference voltage generator for each type of semiconductor integrated circuit to be tested.
    高価な半導体試験装置を必要とせず、従来の安価なテスタを用いて、テスト時間の大幅な削減と、高精度試験を可能とするとともに、基準電圧発生器を、被検査半導体集積回路の種類毎に用意する必要の無いようにする。 - 特許庁
  • To enable preventing malfunction caused by a noise or the like and to enable coping with a trend for a thinner gate oxide film, in a semiconductor memory which can be tested in a state of a finished product incorporating the memory.
    本発明は、パッケージングされた最終製品の状態でテストを行うことが可能な半導体メモリにおいて、ノイズなどによる誤動作を防止し得るとともに、ゲート酸化膜の薄膜化にも十分に対応できるようにすることを最も主要な特徴としている。 - 特許庁
  • To provide a magnetic field shielding device which is easy to bring in and take out a tested object, can observe an internal situation easily, is small and light, and is advanced with a high magnetic field shielding ratio, and a biomagnetic field measuring apparatus and a biomagnetic field measuring method which use the magnetic field shielding device.
    検査対象の搬入、搬出が容易であり、内部の状況を容易に観察でき、小型、軽量で、大きい磁場遮蔽率をもつ高性能な磁場遮蔽装置及びこれを用いる生体磁場計測装置、生体磁場計測方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.
    試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁
  • In this semiconductor testing device 11, a control part 10 forms a pattern file use frequency table in a pattern file use frequency table memory part 18 and determines the use frequencies of pattern files in the process of testing a preset number of semiconductors to be tested.
    半導体試験装置１１において、制御部１０は、パタンファイル使用頻度テーブル記憶部１８に、パタンファイル使用頻度テーブルを作成し、予め設定された個数分の被試験対象の半導体を試験する過程で、パタンファイルの使用頻度を求める。 - 特許庁
  • To provide a flowmeter module that provides for real time measurement of the mass flow rates of various gaseous pollutants based on the actual exhaust flow rate, and does not require any correction of a vehicle to be tested.
    実際の排気ガス流量に基づく様々なガス状汚染物質の質量流量のリアルタイムの測定を規定するものであり、且つ試験を受けるべき車両に対して何の修正も要求しないように成した流量計モジュールを提供するものである。 - 特許庁
  • A prescribed density of plasma 7 is generated between an electrode 13 on the display substrate 11 including the TFT array of a tested circuit and a testing electrode 16, and a testing signal is transmitted between the electrode 13 and the testing electrode 16.
    被試験回路であるＴＦＴアレイを含むディスプレイ基板（１１）上の電極（１３）と試験電極（１６）との間に所定の密度を有するプラズマ（７）を生成し、このプラズマ（７）を介して電極（１３）と試験電極（１６）との間に試験信号を伝送させる。 - 特許庁
  • A composition is preferably used for evaluating the bondability of a tested substance to the GPCR, with the composition made by adding dithiodipyridine to a base solution containing fusion protein comprising chaperonin subunits or chaperonin subunit joint bodies joined to a desired GPCR at the N-end side thereof.
    所望のＧＰＣＲのＮ末端側にシャペロニンサブユニット又はシャペロニンサブユニット連結体が連結された融合タンパク質を含む基本溶液に、ジチオジピリジンを添加してなる組成物が、被検物質のＧＰＣＲに対する結合性評価に好ましく用いられる。 - 特許庁
  • Adding to instructions to TEPCO, MHLW instructed TEPCO 22 master contractors to survey workers whose dosimetry assessment of internal radiation exposure dose had not been completed and to have these workers tested without delay.
    東京電力への指導に加え、元方事業者２２社に対し、内部被ばくの測定評価が終了していない者を調査の上速やかに受検させること及び関係請負人を含めた安全衛生管理体制を確立することについて指導（平成23年7月22日） - 厚生労働省
  • If any of the doctests fail, then the synthesized unit test fails, and a failureException exception is raised showing the name of the file containing the test and a (sometimes approximate) line number.Optional argument module provides the module to be tested.
    何らかの doctest の実行に失敗すると、この関数で生成した単位テストは失敗し、該当するテストの入っているファイルの名前と、(場合によりだいたいの) 行番号の入ったfailureException 例外を送出します。 オプション引数 module には、テストしたいモジュールの名前を指定します。 - Python
  • Since we do not want to interfere with the current locale setting we thusemulate the behavior in the way described above.To maintain compatibility with other platforms, not only the LANG variable is tested, but a list of variables given as envvars parameter.
    Python では現在のロケール設定に干渉したくないので、上で述べたような方法でその挙動をエミュレーションしています。 他のプラットフォームとの互換性を維持するために、環境変数 LANGだけでなく、引数 envvars で指定された環境変数のリストも調べられます。 - Python
  • To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.
    被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁
  • Therefore, because the probe pin can be easily and precisely inserted into a connector terminal hole 1a, not only whether an assembly of the terminal 2 is good or bad can be precisely tested, but also a conduction test can be appropriately performed, and as a result an inspection work is improved by that share.
    そのため、コネクタ端子孔１ａにプローブピンを容易にかつ的確に差し込むことができるので、端子２の組み付けの良否を的確に検査できるばかりでなく、導通検査をも的確に行うことができ、それだけ検査作業が向上する。 - 特許庁
  • In measurement of the light emission, the sample is made to flow in the flow passage, and reaches the focal area of the objective lens after the self-fluorescence of the foreign substance disappears after a predetermined time passes after irradiating the exciting light, and the light emission from the substance to be tested is detected there.
    発光の計測に於いては、試料は流路内に流通され、励起光が照射されてから所定時間経過後、夾雑物の自家蛍光が消滅してから、対物レンズの焦点領域に到達し、そこで、被検物質からの発光が検出される。 - 特許庁
  • In addition, the optical pulse testing device suppresses output light intensity of DFB-LD 2-1 to 2-N up to a degree not generating induced brillouin scattering in a fiber to be tested 18, and increases the intensity of total testing light pulses by wavelength-multiplexing each output light (testing light).
    また、ＤＦＢ−ＬＤ２−１〜２−Ｎの出力光強度を、被試験ファイバ１８において誘導ブリルアン散乱を生じない程度にまで抑えるとともに、各出力光（試験光）を波長多重することでトータルの試験光パルスの強度を増加させる。 - 特許庁
  • A rotor angle θ of the simulated motor is obtained from a rotary speed command ω to be inputted into a motor simulation operating control unit 11, and currents id, iq on d, q axes are obtained on the basis of output currents iu, iw of an inverter 1 to be tested and the angle θ.
    モータ模擬運転制御部１１に入力される回転速度指令ωから模擬モータの回転子角度θを算出し、被試験体のインバータ１の出力電流ｉｕ、ｉｗと角度θを基に、ｄ、ｑ軸上の電流ｉｄ、ｉｑを求める。 - 特許庁
  • Afterwards, when an incoming signal inputted from the telephone switchboard 2 via the telephone line 2a is detected, the telephone line 2a is switched into busy state and after the lapse of the 'speaking time', a non-busy state is recovered so that the telephone switchboard 2 can be tested.
    その後、電話交換機２から電話回線２ａを介して入力される着信信号が検出されたときに電話回線２ａを通話状態に切り替え、「通話時間」が経過したときに非通話状態に戻すことで電話交換機２を試験する。 - 特許庁
  • To provide an apparatus for a memory device by which the delay of a main portion of a memory can be tested by adding only a simple circuit without using any expensive device, a memory development period can be shortened, and development cost can be reduced.
    高価な装備を使用せずに簡単な回路のみを追加することで、メモリにおける主要部分の遅延をテストすることができ、メモリの開発期間を短縮させるとともに、開発費用を節減させることができるメモリ素子のテスト装置を提供する。 - 特許庁
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