「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • A controller unit controls the super-magnetostrictive actuators respectively used for tensile / compressive and torsional operations, based on a tensile / compressive load and a torsional torque on the object to be tested, which are detected by a load / torque sensor, or based on a tensile / compressive displacement and a rotational displacement of the movable chuck, which are detected by a noncontact displacement gauge.
    制御装置は、荷重トルクセンサで検出された供試体の引張圧縮荷重および捻りトルク、または非接触変位計で検出された可動チャックの引張圧縮変位および回転変位に基づいて、超磁歪アクチュエータおよび捻り用超磁歪アクチュエータを制御する。 - 特許庁
  • The closed vessel is composed so that a gas enclosing body carried in from the outside of the vessel and capable of being broken is contained in the vessel, and the gas enclosing body in the closed body is broken to diffuse the gas in the closed vessel, and the presence or absence of gas leakage from the closed vessel is tested.
    容器内に、該容器の外部から破砕可能なガス封入体を収容して密閉容器を構成すると共に、この密閉容器内のガス封入体を破砕し、密閉容器内にガスを拡散させ、該密閉容器からのガスの漏出の有無を検査することを特徴とする。 - 特許庁
  • To provide a probe card capable of performing a testing process of a plurality of semiconductor elements (for instance, 4 elements) with same performance as that when one element is tested to a plurality of semiconductor elements formed on a semiconductor substrate; and to provide a testing method thereof.
    本発明によれば、一つの半導体基板に形成された複数個の半導体素子に対し、１個測定の場合と同等の性能をもって、複数個（例えば４個）同時に試験処理を行うことができるプローブカード及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • When the semiconductor device 30 is tested, a calibration data acquiring circuit 18 measures the jitter width of each test signal, controls the delay amount of each comparison variable delay circuit 12 and regulates the skew such that the position at a specific ratio of the jitter width overlaps among the test signals.
    半導体装置３０の試験に際して、キャリブレーションデータ取得回路１８は、各テスト信号のジッタ幅を測定し、各比較可変遅延回路１２の遅延量を制御して、各テスト信号のジッタ幅の特定比率位置が信号間で重なるようにスキュー調整を行う。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit, which can achieve high precision measurement of discrete static current consumption properties, even if two or more semiconductor integrated circuits are tested simultaneously on one wafer for their static current consumption.
    半導体集積回路装置の静的消費電流テストを、一枚のウェーハ上で、複数の半導体集積回路装置で同時に行っても、半導体集積回路装置個々の静的消費電流特性を、高い精度で測定できる半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁
  • The invention relates to the equipment for differentiation of the variety of rice by hybridization of a captured oligonucleotide with a nucleic acid derived from the rice to be tested comprising immobilized oligonucleotide, etc., on a substrate for detecting a polymorphism in a specific base sequence.
    捕獲オリゴヌクレオチドと被検米試料由来の核酸とのハイブリダイゼーションにより、米の品種を識別するための器具であって、特定の塩基配列における多型を検出するためのオリゴヌクレオチド等が、支持体に固定化されてなることを特徴とする米の品種識別器具。 - 特許庁
  • To provide semiconductor device testing equipment capable of supporting even a thin wafer without flexural deformation thereof, and which eliminates the need for moving a probe needle in contact with a back surface electrode of the wafer even when a semiconductor element to be tested is shifted; a testing method using the same; and a coaxial probe needle unit used for the same.
    薄いウエハでも撓みなく支持でき、測定される半導体素子が切り替わった場合でも、ウエハの裏面電極と接触するプローブ針を移動させる必要のない半導体測定装置及び測定方法並びに同軸プローブ針ユニットを提供すること。 - 特許庁
  • In a state in which the shaft core part 14b is loosely fitted into the vacant hole 3a of the electronic board 1, the contact electrode section 15 is brought into contact with the solder-coated pads 6a, 6b, and continuity state between the probes 12 or between the probe 12 and a ground terminal is tested by a probing test tool 28.
    軸心部１４ｂを電子基板１の空孔３ａに遊嵌させた状態で、半田被覆パッド６ａ，６ｂに接触電極部１５を接触させ、触針検査ツール２８によって、プローブ１２相互間又はプローブ１２とグランド端子間の導通状態が検査される。 - 特許庁
  • To provide a security medium that does not require a standard pattern and is not affected by variations in degree of similarity between a standard pattern and a pattern to be tested due to instrumental errors of an authenticity determiner, and also, is difficult to duplicate and has high security even while reducing an FMR and an FNMR.
    標準パターンを必要とせず、真贋判定器の器差による標準パターンと被検パターンとの類似度がばらつくことによる影響を受けず、ＦＭＲ及びＦＮＭＲを小さくしながらも、複製が困難でセキュリティ性の高いセキュリティ媒体を提供する。 - 特許庁
  • A testing data frame is transmitted to a target device to be tested, and frame state information of the transmitted data frame received via the target device is extracted, and the frame state information based on selected item information, out of the extracted frame state information, is selected as distribution information.
    試験用のデータフレームを被試験デバイスに対して送信し、送信したデータフレームを被試験デバイスを介して受信したデータフレームのフレーム状態情報を抽出し、この抽出したフレーム状態情報のうち選択項目情報に基づくフレーム状態情報を分布情報として選択する。 - 特許庁
  • To control temperature of a cooling liquid in an engine to desired temperature faster than conventionally, for an engine cooling liquid control unit which sends out a cooling liquid to an engine to be tested, by controlling the temperature of the cooling liquid and a testing system on an engine stand for testing engine on the stand.
    本発明は、冷却液の温度を制御して試験対象のエンジンに送り出すエンジン冷却液制御装置、およびエンジンの台上試験を行なうエンジン台上試験システムに関し、エンジンの冷却液温度を従来よりも高速に所望の温度に制御する。 - 特許庁
  • To provide a photometric device capable of calibrating in a short time without requiring repetition of sensitivity calibration in each wavelength of each optical sensor, even when a spectral sensitivity characteristic is changed with elapse of time, and measuring highly accurately characteristics such as chromaticity, illuminance or color rendering properties of light to be tested.
    分光感度特性が経時により変化したとしても、各光センサの波長毎の感度校正をし直す必要がなく、短時間にて校正することができ、高精度に被試験光の色度、照度、演色性などの特性を高精度にて測定することが可能な測光装置を提供する。 - 特許庁
  • This PCT conduction checker 1 includes a 4-pole plug part 9 inserted into a 4-pole plug insertion port, a 2-pole plug part 11 inserted into a 2-pole plug insertion port, a power supply section 12, and a contact electrode 13 for test to be brought into contact with a terminal to be tested.
    ＰＣＴ導通チェッカー１は、４極のプラグ挿入口に挿入される４極用プラグ部９と、２極のプラグ挿入口に挿入される２極用プラグ部１１と、電源部１２と、試験対象の端子に接触させる試験用接触電極１３とを備えている。 - 特許庁
  • To reduce an amount of correction from a predetermined default state when the initial open/closed states of an electrical switch, a switch, a relay, or the like comprising a power system are set before a monitor and control system is tested using a power system simulator.
    電力系統模擬装置を用いて監視制御システムの試験を行う際、電力系統を構成する開閉器、スイッチ、リレー等の開閉状態を設定するが、その初期設定状態を任意に設定する際に、あらかじめ決められたデフォルト状態からの修正を少なくする。 - 特許庁
  • (B) The material is tested by either of (a) acceleration test for promoting formation and consolidation of ettringite and (b) construction test for two years or more, then the ettringite content and compressive strength of the sample are measured, and the measured value satisfies [compressive strength (MPa)<-3.75×ettringite content (mass%)+15].
    （ロ）材料を、（a）エトリンガイト生成と固結を促進させる加速試験、（b）２年以上の施工試験、のいずれかの試験に供した後、その供試体のエトリンガイト含有率と圧縮強度を測定し、該測定値が［圧縮強度（MPa）＜−3.75×エトリンガイト含有率（mass％）＋15］を満足する。 - 特許庁
  • To provide a device mounted wafer for which an energization test of each device formed thereon can be reliably performed in an on-wafer state even if the wafer is a bonded wafer, to provide a device chip that can be reliably tested for energization in an on-wafer state, and to provide a method of manufacturing the same.
    張り合わせウェーハであっても、その上に形成された各デバイスをオンウェーハ状態で確実に通電検査を行うことができるデバイス搭載ウェーハの提供、オンウェーハ状態での通電検査を確実に行うことができるデバイスチップ及びデバイスチップの製造方法の提供を課題とする。 - 特許庁
  • When video signals are transmitted through component signals from the tuner to the monitor and the harness connection is checked and tested for the bathroom television, the tuner outputs signals to the monitor for test display using at least blue or red.
    コンポーネント信号によってチューナ部からモニタ部に対して映像を送信するものにあっては、浴室に設置した際のハーネスの接続状態をチェックするテスト時に、モニタ部に、青と赤の内の少なくとも一方の色彩によるテスト用表示をさせる信号をチューナ部からモニタ部に出力するようにした。 - 特許庁
  • The sustained release medicinal composition contains tamsulosin or its pharmaceutically permissible salt and a support for the sustained release medicinal composition and has about 20-85% elution of tamsulosin when tested according to the second method of the Japanese pharmacopeia elution method (paddle method:200rpm).
    タムスロシンまたはその製薬学的に許容される塩、および徐放性医薬組成物用担体を含有し、日本薬局方溶出試験法第二法（パドル法：200rpm）により試験を行うとき、溶出開始7時間後のタムスロシン溶出率が約20%〜約85%であることを特徴とする徐放性医薬組成物。 - 特許庁
  • In analyzing a color material composition, a chromatography process of imposing a tested sample containing the color material composition onto a chromatography device for holding a substrate for separation containing cellulosic material and metallic oxide material and performing chromatography with a moving phase of liquid is performed.
    色材組成物を分析するのにあたり、色材組成物を含有する被験試料を、セルロース系材料と金属酸化物系材料とを含有する分離用基材を保持するクロマトグラフィー装置に対して負荷し、液体の移動相によりクロマトグラフィーを行うクロマトグラフィー工程を実施する。 - 特許庁
  • The measuring instrument body 20 is transferred to the tested lens 100 in the predetermined direction, a focusing state by the AF sensor 23a at a position where the contrast of the contrast image on the area sensor 22 becomes maximum is detected and the detected focusing state is measured and stored as the focal position correction amount.
    被検レンズ１００に対して測定装置本体２０を所定方向に移動し、エリアセンサ２２上のコントラスト像のコントラストが最大になる位置でのＡＦセンサ２３ａによる焦点調節状態を検出し、これを焦点位置補正量として測定して記憶する。 - 特許庁
  • When a pattern formed on a specimen is tested by using a scanned electron microscope, and optically aligning the specimen put on a specific position of the scanned electron microscope, light used for alignment is obliquely cast on the specimen and alignment is performed by using the obtained image information of the pattern.
    走査型電子顕微鏡を用いて試料に形成されたパターンを検査において、試料を走査型電子顕微鏡の所定の位置に載置する光学的なアライメントを行う際に、アライメントに用いる光を試料に斜めから照射して、これにより得られたパターンの画像情報を用いて行う。 - 特許庁
  • A burn-in pattern generating part 11 generates a control signal such as an RAS and CAS supplied to the semiconductor device of the tested object based on the flies 21, 23, generates an address signal based on the file 22, and generates the data signal based on the file 24.
    バーンインパターン発生部１１は、上記ファイル２１，２３に基づき被試験対象となる半導体装置に与えられるＲＡＳ，ＣＡＳ等のコントロール信号を生成し、上記ファイル２２に基づきアドレス信号を生成し、上記ファイル２４に基づきデータ信号を生成する。 - 特許庁
  • The receptor conformation sensing assay comprises reacting an estrogen receptor with the chemical substances to be tested, adding a sensing antibody with the 12 helix of the estrogen receptor as an antibody to the reaction product and detecting the binding ratio of the antibody to the 12 helix of the estrogen receptor.
    女性ホルモン受容体と被検化学物質とを反応させた後、女性ホルモン受容体の第１２へリックスを抗原とするセンシング抗体を添加して、前記抗体の女性ホルモン受容体第１２へリックスに対する結合割合を検出する受容体コンホメーションセンシングアッセイ。 - 特許庁
  • The identification information of an optical fiber to be tested included in an optical cable 10 is transmitted to a station communication device 50 through a specific optical fiber 18 for communication and a station optical switch 71 from a communication device 30 located on the side of a fusion part and is received by a system control part 81.
    光ケーブル１０に含まれる被試験光ファイバの識別情報は、融着部の側にある通信装置３０から、特定の通信用光ファイバ１８および局の光スイッチ７１を経て、局の通信装置５０へ送信され、システム制御部８１により受信される。 - 特許庁
  • Thereafter, the memory circuits 4 are tested on the wafer 2 and, in case either one of the memory circuits 4 on both sides of one logic circuit 6 is defective, the semiconductor chip of one memory IC is formed by joining the other defectless memory circuit 4 with the logic circuit 6.
    その後、すべてのメモリ回路４に対してウェハー２上で試験を行い、ロジック回路６を挟む２つのメモリ回路４のうちの一方が不良品であった場合には、もう一方の良品のメモリ回路４とロジック回路６とを組にして１つのメモリＩＣの半導体チップを形成する。 - 特許庁
  • To provide a method for simply analyzing, in a high sensitivity, L-methionine contained in a tested sample by using a function-modified phenylalanine dehydrogenase having substrate specificity to L-methionine and a method capable of reducing measurement errors caused by an amino acid other than L-methionine occurring in a blood sample.
    L-メチオニンに対して基質特異性を有する改変型フェニルアラニン脱水素酵素を用いた、被検試料に含まれるL-メチオニンの高感度かつ簡便な分析方法、及び血液試料に存在するL-メチオニン以外のアミノ酸による測定誤差を抑制できる方法を提供する。 - 特許庁
  • This screening method for a useful yeast having an aimed phenotype includes the step of leading mutation for a tested yeast and the step of culturing the yeast after mutation induction in the presence of an organic acid which can diffuse into the yeast cell in its proton undissociated state.
    本発明は、目的とする表現型を有する酵母のスクリーニング方法であって、被験酵母に変異を誘導する工程、及び、前記変異誘導後の酵母を、プロトン非解離状態で酵母細胞内に拡散し得る有機酸の存在下で培養する工程を含む方法である。 - 特許庁
  • To specify a cause of damage in an evaluation after test using the recording operation evaluation apparatus of the magnetic recording medium of a head load/unload system, by avoiding the mixture of the damage of a head on a medium to be tested during loading and unloading.
    本発明の課題は、ヘッドロード・アンロード方式の磁気記録媒体の記録動作評価装置において、被試験媒体上におけるヘッドの導入（ロード）動作時の損傷と待避（アンロード）動作時の損傷の混在を避け、試験後の評価において損傷原因の特定を可能にすることにある。 - 特許庁
  • To solve a problem that when a third-generation portable telephone is tested, the invasion of an electromagnetic wave from the outside or the leakage of the electromagnetic wave from inside influences the accuracy of measurement whereby a pressing force is necessarily increased and a gap is necessarily reduced in a conventional electromagnetic wave shielding method, however, a locking mechanism becomes complicated in this case.
    第３世代の携帯電話機を試験する場合、外部からの電磁波の侵入又は内部からの電磁波の漏洩が測定精度に影響し、従来の電磁波シールド方法では、さらに押圧力を上げて隙間を少なくする必要があるが、ロック機構が複雑になる。 - 特許庁
  • A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.
    テスタ３６に設けられた検査順序設定部６２は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁
  • Information transmitted from the transmitter of another adjacent vehicle is evaded from being received, and identification information transmitted from the transmitter of its own vehicle is received by a receiving device 40, and compared with identification information preliminarily stored in a memory 37 so as to be tested.
    受信装置４０においては、隣接する他車両の送信装置から送信された情報が受信されることがなく、自車両の送信装置から送信される識別情報が受信され、メモリ３７に予め記憶されている識別情報と比較することで検査が行われる。 - 特許庁
  • To provide a tester which can achieve high precision measurement of discrete static current consumption properties, even if two or more semiconductor integrated circuits are tested simultaneously on one wafer for their static current consumption.
    半導体集積回路装置の静的消費電流テストを、一枚のウェーハ上で、複数の半導体集積回路装置で同時に行っても、半導体集積回路装置個々の静的消費電流特性を、高い精度で測定できる半導体集積回路装置の検査装置を提供すること - 特許庁
  • In this evaluation method of the anion-exchange resin for testing an ion exchange capacity relative to the anion-exchange resin taken out from ion exchange equipment, after polystyrene sulfonic acid having a molecular weight below 3,000 is adsorbed onto the anion-exchange resin taken out from the ion exchange equipment, the ion exchange capacity is tested.
    イオン交換装置から取り出されたアニオン交換樹脂についてイオン交換能を試験するアニオン交換樹脂の評価方法において、イオン交換装置から取り出されたアニオン交換樹脂に分子量３０００以下のポリスチレンスルホン酸を吸着させた後、イオン交換能を試験する。 - 特許庁
  • The images photographed by means of the two image pickup devices are processed by means of an image processor 11, and existence of a defect is determined if a part colored in black or white is detected in the tested object S, and subsequently, removal as a defective item is carried out by means of a defective item removing device 12.
    ２つの撮像装置によって撮影された被検査物Ｓの映像は画像処理装置１１によって処理され、被検査物Ｓに黒色または白色の着色部分が検出されると欠陥があると判断され、不良品除去装置１２によって不良品として除去される。 - 特許庁
  • (2) As for Applications for which filings were previously made outside the Kingdom and were or would be tested abroad, the Directorate may benefit from the results of the test and adopt them if the test was performed in environmental conditions compatible with the environmental condition of the Kingdom.
    2. 以前王国外でなされ，かつ，王国外でテストされたか又はテストされることになっている出願については，そのテストが王国の環境条件に見合う環境条件において行われた場合は，局は，そのテストの結果を利用し，かつ，採用することができる。 - 特許庁
  • To obtain an apparatus and a method for measuring a semiconductor laser element capable of long-term monitoring an oscillation wavelength, in a state in which no wavelength change exists due to a change of a temperature to be tested even by using a low-cost constant-temperature oven sold in the market and accurately evaluating long-term reliability.
    市販の廉価な恒温槽を用いながらも、被試験温度の変化による波長変動が無い状態で発振波長を長期的に監視でき、長期的波長信頼性の高精度な評価が可能な半導体レーザ素子の測定装置及び測定方法を得る。 - 特許庁
  • Relative height adjustment between a lens 2 to be tested held on a suction holding stand 4, the disk-shaped rotator 51 and the V-shaped abutting body is performed by using the Z-axis moving stage 7A on the rotation holding part 5 side and the Z-axis moving stage 7B on the positioning holding part 6 side.
    吸引保持台４に保持された被検レンズ２と、円盤状回転体５１およびＶ字状当接体との相対的な高さ調整は、回転保持部５側のＺ軸移動ステージ７Ａと、位置決め保持部６側のＺ軸移動ステージ７Ｂとを用いて行われる。 - 特許庁
  • This IC socket has a socket body 300 where an IC to be tested is placed, the contacts 400 arranged in the socket body 300, elastic shafts 500 for locking the contacts 400 in the socket body 300, and coupling screws 600 for coupling each plate 310, 320, 330 of the socket body 300.
    被検査ＩＣを載置するソケット本体３００と、このソケット本体３００内に配置されるコンタクト４００と、ソケット本体３００内でコンタクト４００を係止する弾性軸５００と、ソケット本体３００の各プレート３１０、３２０、３３０を結合するための結合ネジ６００とを有する。 - 特許庁
  • Since the disconnection is detected without delay even when the earth lines 16 and 17 are disconnected while the auto-handler 1 is operating, the IC 40, which is to be tested, is prevented from being broken when the static-electricity is accumulated and discharged at components of the auto-handler 1.
    したがって、オートハンドラ１の稼働中に、アース線１６・１７が断線した場合にも、迅速に当該断線を検出できるため、オートハンドラ１の各構成部材に静電気が蓄積し放電することにより被試験体となるＩＣ４０が破損することを防止できる。 - 特許庁
  • This instrument has a confocal optical system 50 for irradiating the tested object 31 with illumination light from above and forming an image by reflected light therefrom, and an oblique image observation optical system 60 for obliquely irradiating the object 31 with illumination light and forming an image by reflected light therefrom.
    被検物３１に対して上方から照明光を照射し、その反射光を結像させるコンフォーカル光学系５０と、被検物３１に対して斜め方向から照明光を照射し、その反射光を結像させる斜方像観察光学系６０とを有する。 - 特許庁
  • A failure probability calculation section 220 acquires a failure rate related to a corresponding test item of each of a plurality of modules constituting the apparatus 110 to be tested, and calculates the failure probability of the plurality of modules based on the failure rate of each acquired module and the determination result information.
    故障確率算出部２２０は、被試験器１１０を構成する複数のモジュールそれぞれの対応する試験項目に関する故障率割合を取得し、取得した各モジュールの故障率割合と、判定結果情報とに基づいて、複数のモジュールの故障確率を算出する。 - 特許庁
  • The fine aggregate for concrete or mortar contains the fine aggregate, which is judged to be not harmless when tested in the alkali-aggregate reaction according to the alkali-silica reactivity test methods (JIS A 1145 and JIS A 1146), and 5-40 wt.% granular blast furnace slag having ≤0.3 mm particle size.
    アルカリシリカ反応性の試験法（ＪＩＳ Ａ １１４５及びＪＩＳ Ａ １１４６）に基づいてアルカリ骨材反応に関して無害でないと判定される細骨材と、粒径０．３ｍｍ以下の高炉スラグ粉粒体５〜４０重量％とを含むコンクリート或いはモルタル用細骨材とした。 - 特許庁
  • In the system and method, parallel stress is applied to all DUTs in an arbitrary chip to shorten stress time, and then while preventing the generation of relaxation by holding the other DUTs of the chip at a stressed state, each DUT of the chip can be individually tested.
    本システムおよび方法は、任意のチップのＤＵＴの全ての並列ストレスを実施してストレス時間を短くし、それから、そのチップの他のＤＵＴをストレスがかかった状態に保ってリラクゼーションが起こるのを防ぎながら、そのチップの各ＤＵＴを個々に試験することができるようにする。 - 特許庁
  • A self-constitution type memory is provided in a chip, the self- constitution type memory or other memory and a logic circuit in the chip in which a test circuit is constituted in a normal memory are tested by a tester HDL, the memory used for constitution of the test circuit can be operated as a normal memory.
    自己構成型のメモリをチップ内に設けて、テスタＨＤＬによりその自己構成型のメモリまたは通常のメモリにテスト回路を構成してチップ内の他のメモリやロジック回路をテストし、テスト回路の構成に用いたメモリを通常のメモリとして動作できるように再構成するようにした。 - 特許庁
  • The reproduction object testing device 10 includes a measured motor 15 which is the motor corresponding to a motor 4 of the electric vehicle to be tested, and a synchronization control unit for controlling a rotation of the measured motor 15 according to rotational position information from a reference position of the motor 4.
    再現対象試験装置１０は試験対象電動車両のモータ４に対応するモータを被測定モータ１５とし、モータ４の基準位置からの回転位置情報に応じて被測定モータ１５を回転制御する同期制御部を有することを特徴とする。 - 特許庁
  • (8) In determining the order under the preceding paragraph, efforts shall be made to consider fully the international trends regarding the establishment of items to be tested relating to the evaluation of the safety of chemical substances, and other trends regarding the technical standards relating to the evaluation of the safety of chemical substances.
    ８　前項の命令を定めるに当たつては、化学物質の安全性の評価に関する試験の項目の設定についての国際的動向その他化学物質の安全性の評価についての技術上の基準に関する動向に十分配慮するよう努めなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • The system is provided for positioning of the repair and inspection equipment by using lightweight hollow chucklets for supporting a glass plate to be tested by an air-bearing, bringing the glass plate into contact with vacuum and balancing the glass plate on a rail along the center of mass to move the glass plate in parallel without warping it.
    テストされるガラス・プレートをエア・ベアリング支持し、かつバキューム接触させ、曲がりを伴うことなく平行移動のために質量中心に沿うレール上にバランスさせる軽量の中空チャックレットを使用することによって、修理と検査装置の位置合わせに供する。 - 特許庁
  • This device is provided with a test mode switching circuit 4 in which sense amplifier circuits 5a-5d in all operation blocks 2a-2d are activated independently of block selecting signals BS1-BS4 at the time of test mode where it is tested whether an operation current of a semiconductor memory 1 satisfies a standard requirement or not.
    半導体記憶装置１の動作電流が規格を満足しているか否かをテストするテストモード時に、外部から入力されるブロック選択信号ＢＳ１〜ＢＳ４に関係なく、すべての動作ブロック２ａ〜２ｄにおけるセンスアンプ回路５ａ〜５ｄを活性化させるテストモード切換回路４を備えた。 - 特許庁
  • The incident angle of the parallel light which is set at an intermediate position of the steel sheet 1 in both width and length directions, is determined from a shape of the above minute irregular flaw being an object to be detected in the width direction, a shape in the length direction and a shape of the body to be tested.
    平行光の入射角度は、鋼板１の長さ方向、幅方向の中間位置とされ、検出の対象となる前記微小凹凸疵の前記幅方向に沿った方向の形状、前記長手方向に沿った方向の形状、及び被検査体の形状から決定される - 特許庁
  • The invention relates to the method for detecting carcinoma comprising estimation of the presence of the carcinoma based on deletion or not or insertion or not of an A in the A10 region comprising ten sequential A on a 10nt to 19nt position in exon 3 of RFC 3 gene in a specimen separated from a person to be tested.
    癌の検出方法は、被検者から分離された被検試料中のRFC3遺伝子のエクソン３中の10ntから19ntの位置にある１０個の連続するAから成るA10領域中のAが１個欠失しているか否か又はAが１個挿入されているか否かに基づき癌の有無を予測することを含む。 - 特許庁
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