「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 次へ＞- In the detection method, the skin of a mouse such as preferably a separately bred C3H mouse or the like whose hair cycle is at a resting stage is coated with the medicine to be tested without shaving its hair, the blackening degree of a coated part is used as an index, and the induction effect of the anagenetic period of the hair is detected.
ヘアサイクルが休止期である、好適には個別飼いのＣ３Ｈマウス等のマウスの皮膚に、毛剃りを行わずに被験薬剤を塗布し、当該塗布部分の黒化の程度を指標として、毛髪の成長期の誘導効果を検出する検出方法を提供するこにより、上記の課題を解決し得ることを見出した。 - 特許庁 - Then the model 4 which is an object to be tested for wind resistance is fixed on the most downstream side so that the model 4 may work in an interlocking way with the aerodynamic characteristic detecting means 9.
次に、地盤面板３の上に、進行方向上流側から、乱流格子７、スパイヤー６、ラフネスブロック５の乱流境界層形成手段８を順に固定した後、最も下流側には耐風試験対象物である模型４を固定し、空力特性を検出する検出手段９と連動させて、耐風試験装置１を形成する。 - 特許庁 - In addition, time of ultrasonic propagation on each receiving element part 4a-4y is measured by means of a time measuring part 17 and attenuation rates on every receiving element parts 4a-4y are measured by means of an attenuation rate measuring part 19 and evaluation of an object to be tested can be safely and with high accuracy performed by means of an operation averaging part 18.
また、時間計測部（１７）によって各受信素子部（４ａ〜４ｙ）毎の超音波の伝播時間を計測するとともに、減衰率測定部（１９）によって受信素子部（４ａ〜４ｙ）毎の測定し、演算平均化処理部（１８）によって被検体（Ｈ）の評価を安全で且つ高精度に行う。 - 特許庁 - Also, the method for detecting the effect on immunity comprises a process of bringing the substance to be tested into contact with the immune cells and a process of detecting the protein of the vanilloid receptor family, expressed in the immune cells.
また、被検物質の免疫系に及ぼす影響を検出する免疫影響検出方法であって、前記被検物質と免疫細胞を接触させる工程と、前記免疫細胞に発現したバニロイド受容体ファミリーのタンパク質を検出する工程とを含む免疫影響検出方法を提供する。 - 特許庁 - The apparatus for testing the liquid crystal display element comprises a TFT (thin film transistor) array substrate to be tested; a modulator installed above the TFT array substrate and including a transparent electrode and electrophoretic film formed on the transparent substrate; and a camera installed above the modulator, for measuring brightness of an image.
液晶表示素子の検査装置は、検査対象の薄膜トランジスタアレイ基板と、該薄膜トランジスタアレイ基板の上部に設置され、透明な基板上に形成された透明電極及び電気泳動フィルムを含むモジュレータと、該モジュレータの上部に設置され、イメージの明るさを測定するカメラと、から構成される。 - 特許庁 - Then, whether the signal sent from the device 2 to be tested is the signal directly related to the test or the signal not directly related is determined by a reception signal preprocessing part 42, and the test signal reception processing part 43 and the additional signal reception processing part 44 are selectively operated according to the determined result.
そして、被試験装置２から送られた信号が試験に直接関連する信号であるか、或いは直接関連しない信号であるかを、受信信号前処理部４２により判定し、その判定結果に応じて上記試験信号受信処理部４３と付加信号受信処理部４４とを選択的に動作させるようにしたものである。 - 特許庁 - In an embodiment, the polyether-containing polyureaurethane, when at least partially cured and when tested as a lens with a hard coating on both surfaces (having a maximum center thickness of 2.2 mm), can have impact resistance of at least 148 feet per second as defined by The High Impact Test.
１つの実施形態において、このポリエーテル含有ポリウレアウレタンは、少なくとも部分的に硬化されかつ両面に硬性コーティングを有する平面構造のレンズ（２．２ｍｍの最大中心厚さを有する）として試験される場合、高衝撃試験によって規定される場合に、１秒間あたり少なくとも１４８フィートの衝撃耐性を有し得る。 - 特許庁 - When testing the A-D conversion circuit 3, an input pulse Pin is inputted to a delay unit DU(1) on a first stage and operated in a test mode during which a sampling term TS is shorter than a real mode (actual use), so that the ring delay circuit 30 is tested and separately, the test clock CKT is inputted and operated to test the counter 36.
このＡ／Ｄ変換回路３の試験を行う時には、初段の遅延ユニットＤＵ（１）に入力パルスＰｉｎを入力し、サンプリング周期ＴＳが実モード（実使用）時より短いテストモードで動作させることで、リング遅延回路３０の試験を行い、これとは別に、テストクロックＣＫＴを入力して動作させることで、カウンタ３６の試験を行う。 - 特許庁 - While a constant voltage (signal level) A_0 is being inputted from a signal generation section 3 to a test target 2, a bias voltage B applied to the test target 2 is adjusted and an output voltage (signal level) D to be tested is controlled to a specific target range before testing the test target 2 by the testing apparatus 11.
信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧（信号レベル）Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁 - In this semiconductor device testing device, a waiting time proportional to the stopping time of a device power source up to the application timing of power source to the auxiliary circuit and the device to be tested is generated from the application timing, and the test is started after the delay of this waiting time, whereby the influence of the jitter generated in the auxiliary device is removed.
補助回路と被試験半導体デバイスに電源を印可したタイミングからその印可タイミングに至るまでにデバイス電源が停止していた時間に比例する待ち時間を発生させ、この待ち時間の遅延後に試験を開始させることにより補助回路で発生するジッタの影響を除去する構成とした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁 - The tire uniformity machine comprises a framework for receiving a tire to be tested, and a rotatable chuck assembly that is arranged in the framework and has a spindle being driven by a motor that is directly connected to the spindle for selective rotation, thus allowing the tire to be caught in the chuck assembly, and to be rotated by the motor.
タイヤ一様性機械は，試験されるタイヤを受け入れる骨組と，骨組内に配置され，選択的に回転させることのできる当該スピンドルに直接連結されたモータにより駆動されるスピンドルを有する回転可能なチャック組立体とを有し，これにより，タイヤはチャック組立体内でつかまえられ，モータにより回転させられる。 - 特許庁 - To obtain test basal paper capable of uniformly and firmly laminating itself with a to-be-tested coated film bearing a coating layer on the obverse side without developing a tunnel due to entraining air onto the reverse side, thus forming a favorable test element, and capable of evidently discriminating the presence/absence of the coating layer and its uniformity, and to provide a testing method using the paper.
表面側に塗布層を有する検査の対象とする塗布フィルムの裏面に空気巻き込みによるトンネルを生じることなく均質に密着して貼り合わせることができ、好ましい検査体が形成され、塗布層の有無および均質性の判別性を明瞭に判別できる検査用基紙およびそれを用いた検査方法を提供する。 - 特許庁 - A contact of a substrate member 32 fitted to an L-shaped arm member 23 which is slidable on a guide member 24 is pressed against the external terminal of the optical element package 20 which is exposed in the lateral hole 16 with the force of a spring 31 and a modulated signal inputted from a high-frequency coaxial cable 38 is supplied to the optical element package 20 to be tested.
案内部材２４上を摺動可能なＬ字型腕部材２３に取付けた基板部材３２の接点が発条３１の力で横穴１６に露出する光素子パッケージ２０の外部端子に圧着され、高周波同軸ケーブル３８から入力される変調信号を試験対象の光素パッケージ２０に供給する。 - 特許庁 - In the ultrasonic echo sounder transducer having the piezoelectric vibrator and the acoustic matching member (6) provided between the piezoelectric vibrator and an object to be tested, the piezoelectric vibrator or the vibrator case (10) including the piezoelectric vibrator and the acoustic matching member (6) are adhered and fixed with the adhesive layer (7) composed of resin in which spherical fillers (8) are distributed.
圧電振動子と、前記圧電振動子と被検体との間に設けられた音響整合部材（６）とを有する超音波送受波器において、圧電振動子または圧電振動子を内包する振動子ケース（１０）と、音響整合部材（６）とを球状フィラー（８）を分散させた樹脂からなる接着剤層（７）で接着し、固定する。 - 特許庁 - The testing device includes: a test execution means that executes testing including one or more test items selected from among a plurality of test items as an object to be executed to a device to be tested concerning each of the test items by using one or more measuring instruments; and a test item display means that indicates a test image including one or more selected test items.
複数の試験項目から実行対象として選択された１つ以上の試験項目を含む試験を、試験項目毎に、１つ以上の測定器用いて、被試験器に対して実行する試験実行手段と、選択された１つ以上の試験項目を含む試験画像を表示する試験項目表示手段と有する。 - 特許庁 - This insert 16 is an insert which is arranged slightly movably on a tray which mounts an electronic component IC to be tested and is transferred in electronic component testing equipment, and equipped with a guide hole 1612 which comes in contact with a ball terminal of the electronic component IC and positions the terminal, and a guide core 161 which is arranged slightly movably to an insert main body.
被試験電子部品ＩＣを搭載して電子部品試験装置１内を取り廻すトレイＴＳＴに、微動可能に設けられるインサート１６であって、被試験電子部品のボール端子ＨＢに接触してこれを位置決めするガイド孔１６１２を有し、インサート本体に対して微動可能に設けられたガイドコア１６１を有する。 - 特許庁 - The method for extracting the peak of the waveform data comprises the steps of simplifying extracting process of maximum points and minimum points and the waveform data by a software of a PC 12 of a waveform processing means from the waveform data of a unit 17 to be tested acquired by a measuring instrument 13, re-extracting the maximum points and the minimum points, deleting the unwanted noises, and extracting the peak to be detected.
測定器１３により取得した被試験装置１７の波形データから、波形処理手段であるＰＣ１２のソフトウエアにより極大点および極小点の抽出処理、波形データの単純化、極大点および極小点の再抽出を行って不要ノイズを削除して目的とするピークを抽出する。 - 特許庁 - Only an ECU concerned in a coordinated motion which is a test object among a plurality of ECU's 100a, 100b, 100c, 100d constituting the electronic control system is activated by an enable signal from an enable signal generator 14, and a test signal from a test signal generator 15 is given only to the activated ECU, and the coordinated motion of the activated ECU is tested.
電子制御システムを構成する複数のＥＣＵ１００ａ，１００ｂ，１００ｃ，１００ｄのうちで、試験対象とする連携動作に関わるＥＣＵのみをイネーブル信号発生器１４からのイネーブル信号で活性化させ、活性化したＥＣＵに対してのみ試験信号発生器１５からの試験信号を与えて、活性化したＥＣＵの連携動作を試験するようにした。 - 特許庁 - The first signal and the second signal are drawn out once to the outside of the multichip module, and constituted so that bonding can be changed on the outside of the multichip module, and the first, second and third signals are controlled on the outside of the multichip module, and thereby a semiconductor chip which is a test object can be tested equivalently to a semiconductor device having a single body semiconductor chip.
第１信号と第２信号マルチチップモジュール外に一旦引き出し、マルチチップモジュール外で結合変更可能なように構成し、第１、第２、第３信号の制御をマルチチップモジュール外部で行なうことで、試験対象とすべき半導体チップを単体の半導体チップを持つ半導体装置と等価にテスト可能にする。 - 特許庁 - The burn-in device comprises board supports 27-32 for supporting in a chamber 10 burn-in boards 51 on which the device to be tested is mounted, a blower 26 for generating a circulated air flow in the chamber 10, a heat exchanger 600 for removing heat generated during burn-in, and at least one linear riser 500 arranged upstream from the board supports.
バーンイン装置は被験装置を取り付けるバーンインボード５１をチャンバ１０内で支持するボード支持体２７〜３２と、チャンバ１０内に循環気流を発生させるためのブロワ２６と、バーンイン中に発生した熱を除去する熱交換器６００と、ボード支持体の上流に配置された少なくとも一つのリニアライザ５００とを有する。 - 特許庁 - A vehicle composite testing device 1 for placing wheels of the vehicle to be tested on the front and rear drive rollers 2, 2 to carry out the brake test or speed test is provided with a drive roller locking means 4 for stopping the front and rear drive rollers 2, 2 upon detecting the stop of the wheels by a lock detecting roller 4a arranged between the front and rear drive rollers 2, 2.
前後の駆動ローラ２、２上に被験車両の車輪を載置してブレーキテスト又はスピードテストをする式の車両複合試験装置１において、前記前後の駆動ローラ２、２間に配置されるロック検出ローラ４ａにより前記車輪の停止を検出して前記駆動ローラ２、２を停止する駆動ローラのロック手段４を設けた。 - 特許庁 - To provide a substrate testing device measuring and compensating a brightness through a detection compensation section without measuring the brightness of each panel, wherein the substrate is tested even without independent equipment through the detection compensation section integrated to the substrate without using substrate testing equipment for testing an organic light emitting display panel, and a method thereof.
各パネルの輝度を測定することなく、感知補償部を通じて輝度の測定と補償がすべて行われ、有機電界発光表示パネルを検査する基板検査装備を用いることなく、基板に集積された感知補償部を通じて、独立した装備がなくても基板検査が可能な基板検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - When 40 kinds of tea compounds isolated from green tea, oolong tea and black tea are tested, and as a result of zealous study with an enzyme COX-2 causing chronic inflammation and PGE2 as its product as targets, 18 kinds of tea compounds among the above tea compounds inhibited the expression of COX-2 and/or production of PGE2.
緑茶、烏龍茶、紅茶から分離された４０種類の茶化合物を供試し、慢性炎症に引き起こす酵素ＣＯＸ−２およびその産物であるＰＧＥ２を標的として鋭意研究を行った結果、１８種類の茶化合物がＣＯＸ−２の発現及び／又はＰＧＥ２の産生を抑制することを見出した。 - 特許庁 - By this, the second contact part 306C of the first contact 306 is connected to an electrode 309 of a circuit board 308 for test via a conducting film 311B of a second contact 311 arranged at a slit part 313 of an auxiliary plate 310, and the transmission of a test signal between a tested IC 302 and the circuit board 308 becomes possible.
これにより、第１コンタクト３０６の第２接触部３０６Ｃが補助プレート３１０のスリット部３１３に配置された第２コンタクト３１１の導電膜３１１Ｂを介して検査用基板３０８の電極３０９に接続され、被検査ＩＣ３０２と検査用基板３０８との間で検査用信号の伝送が可能となる。 - 特許庁 - The semiconductor-testing device includes: a test board including a plurality of test pins, where the semiconductor device to be tested is mounted; a test part for testing continuity between the plurality of test pins and a plurality of device pins; and a control part for identifying test pins continuous to the device pins from among the plurality of test pins to allocate test pins connected to the device pins by referring to coordinates of the device pins.
試験対象の半導体装置が搭載される、複数のテストピンを含むテストボードと、複数のテストピンと複数のデバイスピンとの導通を試験するテスト部と、複数のテストピンのうち、デバイスピンと導通するテストピンを特定し、デバイスピンの座標を参照してデバイスピンに接続するテストピンを割り当てる制御部とを有する。 - 特許庁 - To cooperatively control testing situation information and testing environment information and failure information management in a software testing environment constituted of a software testing work supporting device connected through a network to plural testing sites constituted of a testing server in which the objects to be tested of software are operating and plural testing terminals and a testing control terminal for controlling the objects.
ソフトウェアの試験対象オブジェクトが動作する試験サーバと複数の試験端末とオブジェクトを管理する試験管理端末から構成される複数の試験サイトとネットワーク接続したソフトウェア試験作業支援装置から構成されるソフトウェア試験環境において、試験状況情報、試験環境情報、障害情報管理を連携して行う。 - 特許庁 - The burn-in test of the semiconductor device 302 to be tested is performed by supplying scan-in signals S102, memory test signals S103 and test mode control signals S101 from the test pattern generation means 301 to the semiconductor inspection device 100, time measurement is performed in the time measurement means 305 for the test result and the generation time of a defect/a fault is specified.
テストパターン発生手段３０１から半導体検査装置１００にスキャンイン信号Ｓ１０２、メモリテスト信号Ｓ１０３、テストモード制御信号Ｓ１０１を供給して被試験半導体装置３０２のバーンイン試験を行い、その試験結果は時間計測手段３０５で時間計測が行われ不良・故障の発生時間を特定する。 - 特許庁 - The preparation contains at least one sustained-release coated particle comprising a core having a surface and a film coating the surface of the core, the core contains the active ingredient while the film contains a coating base agent and a specific insoluble substance, and the preparation exhibits a specific elution ratio of the active ingredient when tested by the dissolution test.
表面を有する芯および該芯の表面を被覆する被膜よりなる少なくとも１個の徐放性被覆粒子を含み、該芯が該有効成分を含有し、該被膜が、コーティング基剤及び特定の不溶性物質を含み、該製剤が、溶出試験法によって測定した時に、該有効成分に関し、特定の溶出率を示す。 - 特許庁 - This fingerprint sensor is equipped with a detecting section (30) where a plurality of capacitance detection circuits (31) supplying signal transmission lines (37) with detection signals corresponding to the capacitances formed between themselves and surface portions of an object to be tested are arranged, and an amplifier circuit (40) which amplifies the detection signals output to the signal transmission lines.
本発明の指紋センサは、被験物表面との間に形成される静電容量に対応した検出信号を信号伝達経路（３７）に出力する静電容量検出回路（３１）を複数配置した検出部（３０）と、前記信号伝達経路に出力された前記検出信号を増幅する増幅回路（４０）とを備える。 - 特許庁 - The apparatus for testing the optical head device 106 controls one or more functions out of focusing servo control, tracking servo control and spindle servo control, using control circuits (a PCB mounted thereon a controller, a servo circuit, a digital circuit, etc.), of the optical disk drive apparatus 100 into which the device 106 to be tested is to be incorporated.
光学ヘッド装置１０６を検査するための検査装置において、検査装置のフォーカスサーボ、トラッキングサーボ、スピンドルサーボのうちいずれか１つ以上の制御機能を、検査対象の光学ヘッド装置１０６が組み込まれる光ディスク駆動装置１００の制御回路（コントローラ、サーボ回路、デジタル回路などを実装したＰＣＢ）を使用して実現するように構成した。 - 特許庁 - The optical concentration sensor comprises an optical cell which can contain a fluid 30 to be tested, at least one light source 22 for passing light through the fluid, at least one light detector 26 for detecting light transmitted through the fluid, and electronic circuit for monitoring a first output from the light detector and providing a second output related to concentration of the fluid.
光学濃度センサは、検査対象流体３０を収容可能な光セルと、流体に光を通過させる少なくとも１つの光源２２と、流体を透過した光を検出する少なくとも１つの光検出器２６と、光検出器からの第１出力を監視し、流体の濃度に関係する第２出力を得る電子回路とを有する。 - 特許庁 - Among a plurality of flexible printed circuit boards 2a to 2i for manufacturing a multilayer printed circuit board by layering them and hot-pressing them in a lump, the circuit board 2d to be mounted with a semiconductor chip 3 to be tested is loaded with the semiconductor chips 3, and further, the circuit board 2e for protection is bonded thereto, thereby forming test unit plates 4.
積層して一括に熱プレスすることによって多層プリント配線板を製造するための複数枚のフレキシブルプリント板２ａ〜２ｉのうち、試験対象の半導体チップ３を搭載するフレキシブルプリント板２ｄに当該半導体チップ３を装着し、更に保護用のフレキシブルプリント板２ｅを接着して試験ユニット板４を形成する。 - 特許庁 - In the verification processing part 13, the number of division of the test patterns and the location of its storage stored in the memory 11 for storing the test patterns are recognized on the basis of the division information, and read regions from the memory 11 for storing the test patterns are sequentially changed by a read region switch circuit 12 to read each test vector and verify the circuit to be tested 20 accordingly.
検証処理部１３では、分割情報からテストパターン格納用メモリ１１に格納された分割テストパターン数及びその格納位置を認識し、テストパターン格納用メモリ１１からの読出領域を読出領域切替回路１２によって順次切り替えて各テストベクタを読み出し、これにしたがって被テスト回路２０に対する検証を行う。 - 特許庁 - The scan test circuit has a forward rotation/backward rotation control circuit that is inserted and connected between a sequence circuit and a combination circuit included in a path to be scan-tested, and makes the scan data outputted from the sequence circuit rotate in the forward and the backward directions, at an arbitrary timing outside the sequential circuit.
本発明の実施の一形態に係るスキャンテスト回路は、順序回路と、スキャンテスト対象のパスに含まれる組合せ回路との間に挿入接続され、上記順序回路から出力されるスキャンデータを当該順序回路外部において任意のタイミングで正転及び反転させる正転／反転制御回路を備えているものである。 - 特許庁 - The failure simulation execution means reads out a net list of semiconductor integrated circuits to be tested from a net list storage section and forms a failure list, performs failure setting on the basis of this failure list, executes failure simulation through the use of a predetermined test pattern, and forms an undetected failure list composed of a list of failures undetected by the failure simulation.
故障シミュレーション実行手段は、テストする半導体集積回路のネットリストをネットリスト記憶部から読出して故障リストを生成し、この故障リストに基づいて故障設定を行い、所定のテストパターンを用いて故障シミュレーションを実行し、故障シミュレーションで未検出の故障のリストからなる未検出故障リストを生成する。 - 特許庁 - This noncontact tonometer measures intraocular pressure by compressing air in a cylinder with a piston, jetting the compressed air to a cornea to be tested and detecting the deformation of the cornea, and is provided with a moving means for reciprocating the piston within the cylinder and a locking detection means for detecting whether the piston is returned to a primary position of measurement.
ピストンによりシリンダ内の空気を圧縮し、圧縮した空気を被検眼角膜に吹き付け、角膜の変形状態を検出することにより眼圧を測定する非接触式眼圧計において、前記ピストンを前記シリンダ内で往復移動させる移動手段と、該ピストンが測定時の初期位置に戻っているか否かを検知するロック検知手段と、を備える。 - 特許庁 - The semiconductor tester having a termination function for terminating a DUT output signal outputted from an IC pin in a device to be tested has a load current reducing means for reducing a load current flowing to a terminating resistor corresponding to the current drive capacity of the output end of DUT to a prescribed value.
被試験デバイスのＩＣピンから出力されるＤＵＴ出力信号を所定の終端抵抗で終端する終端機能を備える半導体試験装置において、ＤＵＴの出力端の電流駆動能力に対応して終端抵抗に流れる負荷電流を所定に低減する負荷電流低減手段を備える、半導体試験装置。 - 特許庁 - To reduce the amount of operation required of a developer regarding screen transition and man hours for data inputs by adding a screen to be developed or tested into the process of screen transition, and, even if the screen uses data retained by a server, creating data for which a Web application is retained by the server.
画面遷移の途中に開発やテストの対象となっている画面が含まれており、その画面がサーバ側に保持されているデータを使用する画面であっても、Webアプリケーションがサーバ側に保持されているデータを生成することにより、開発者にかかる画面遷移に伴う操作及びデータ入力の工数を削減することができるようにする。 - 特許庁 - This apparatus is characterized by having a DUT (device under test) simulation means for simulating behaviors of the tested object, a tester simulation means for simulating behaviors of the tester based on a test program, and a delay simulation means for delaying behaviors of transferring signals, by a certain amount of delay, between the DUT simulation means and the tester simulation means.
本装置は、被試験対象の動作をシミュレーションするＤＵＴシミュレーション手段と、テストプログラムに基づいて、テスタの動作をシミュレーションするテスタシミュレーション手段と、ＤＵＴシミュレーション手段とテスタシミュレーション手段との信号授受の動作を、遅延量により遅延させる遅延シミュレーション手段とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁 - The burn-in testing device 300 is provided with a test pattern generation means 301 for generating a test pattern for performing a burn-in test, a semiconductor device 302 to be tested, a scan judgement means 303, and a time measurement means 305 controlled by the output signals of the scan judgement means 303 and the output signals of a memory judgement means 304.
バーンイン試験装置３００は、バーンイン試験を行うためのテストパターンを発生するテストパターン発生手段３０１と、被試験半導体装置３０２と、スキャン判定手段３０３と、スキャン判定手段３０３の出力信号およびメモリ判定手段３０４の出力信号によって制御される時間計測手段３０５を備える。 - 特許庁 - A lightness adjusting means 110 draws the initial value of a lightness control value, based on the contents of electric control supplied from an LSI tester 101 to a semiconductor element 106 to be tested and image observing conditions drawn from the contents of control supplied from an electron beam system control means 108 to an electron beam system (a electron beam generating source 104 and a secondary electron detector 105).
明度調整手段１１０は、ＬＳＩテスタ１０１から被試験半導体素子１０６へ供給される電気的制御内容と、電子ビーム系制御手段１０８から電子ビーム系（電子ビーム発生源104、2次電子検出器１０５）への制御内容から導出される像観測条件とに、基づき明度の制御値の初期値を導出する。 - 特許庁 - A main frame 100 is equipped with: a tested program 101 used as a test object; an editor 102; this comparing data creation program 103; a working data storage area 110; and a processing result storage area 120 for a storage area of information outputted from each program other than working data such as form printing data.
メインフレーム１００は、テスト対象となる被テストプログラム１０１と、エディタ１０２と、比較用データ生成プログラム１０３とを備えるとともに、作業用データ格納領域１１０と、帳票印字用データ等、作業用データ以外に各プログラムから出力される情報の格納領域としての処理結果格納領域１２０とを備える。 - 特許庁 - This method for evaluating or screening the substance having preventive or treatment effect of the pollinosis comprises at least a process of evaluating whether a substance to be tested has an inhibitory effect against a pectin-decomposing enzyme and/or fungus, releasing the pectin-decomposing enzyme, and the method for producing the drug for the prevention or treatment of the pollinosis is also provided.
被検物質がペクチン分解酵素及び／又はペクチン分解酵素を放出する真菌に対して阻害活性を有するか否かを評価する工程、を少なくとも含む花粉症に対する予防又は治療作用を有する物質の評価方法及びスクリーニング方法、並びに、花粉症の予防又は治療のための薬剤の製造方法である。 - 特許庁 - To precisely and rapidly repeat a drop test for a number of test piece on an object to be tested or a number of the objects by the same shock loading by preventing a steel ball from hitting the objects two times regarding a drop testing apparatus for testing by dropping the steel ball from a specific height onto the object.
本発明は、鋼球を所定の高さから被試験体上に落下させて試験を行う落下試験装置に関し、被試験体への鋼球の２度当りを防止し、被試験体上の多数の試験物あるいは多数の被試験体に同じ衝撃加重による落下試験を精度良くかつ迅速に繰り返し行うことを目的とする。 - 特許庁 - The display operation device 1 generates a selected simulation fire reporting command (selective simulation test start request) for the selected fire receiver 2 to be tested, and receives only the selective simulation fire reporting signal (selective simulation test start response) from the corresponding fire receiver 2, whereby the selective simulation fire reporting test can be performed.
表示操作装置１は、試験対象とする火災受信機２を選択した選択模擬火災発報指令（選択模擬試験開始要求）を発生し、これに呼応した火災受信機２からの選択模擬火災発報信号（選択模擬試験開始応答）のみを受信するようにして、選択模擬火災発報試験ができるようにした。 - 特許庁 - A constituting element extracting part 11 inputs the data of a program specification B prepared based on a program A to be tested by a reverse engineering tool 90, and executes analysis following the data description format of a program specification B to be prepared by the reverse engineering tool 90, and extracts the constituting elements of the program A defined in the program specification B.
構成要素抽出部１１は、リバースエンジニアリングツール９０によってテスト対象のプログラムＡをもとに作成されたプログラム仕様書Ｂのデータを入力し、このリバースエンジニアリングツール９０が作成するプログラム仕様書Ｂのデータ記述形式に則った解析を行ない、このプログラム仕様書Ｂに定義されたプログラムＡの構成要素を抽出する。 - 特許庁 - The distortion detecting optical cable includes at least distortion detecting optical fibers in a cable sheath buried in an object to be tested for distortion, wherein, a plurality of projections composed of synthetic resin or adhesive which is different from that of the cable sheath are disposed on the outer surface of the cable sheath at predetermined intervals along the longitudinal direction.
歪み測定対象物に埋設されるケーブル外被内に、少なくとも歪み検出用光ファイバが設けられた歪み検出用光ケーブルであって、ケーブル外被外面に、長手方向に沿って所定間隔毎に、ケーブル外被と異なる合成樹脂又は接着剤からなる複数の突起部が設けられたことを特徴とする歪み検出用光ケーブル。 - 特許庁 - To provide a superconducting electromagnet cooling device capable of controlling the circulation flow rate of a supercritical pressure helium (SHe) supplied to a superconducting electromagnet in a wide range in the same facility, capable of testing the circulation flow rate of an exhaust gas compressor in a wide range even when the exhaust gas compressor for the refrigerator is tested, and enabling the availability of data containing operating points.
同一設備で超電導電磁石に供給する超臨界圧ヘリウム（ＳＨｅ）の循環流量を広範囲に調整でき、かつ、逆に冷凍機の排気圧縮機を試験する場合にも、排気圧縮機の循環流量を広範囲に試験でき、動作点を振ったデータを入手することができる超電導電磁石冷却装置を提供する。 - 特許庁 - A first optical signal 20 for test is introduced to the merging optical waveguide 14 from an aperture 140 for introduction, and an optoelectronic circuit board 1 can be tested by whether a first optical module 12A receives the first optical signal for test propagated in the first optical waveguide 13A from the merging optical waveguide 14 or not.
導入用開口１４０から第１の検査用光信号２０を合流光導波路１４に導入し、合流光導波路１４から第１の光導波路１３Ａを伝播する第１の検査用光信号２０を第１の光モジュール１２Ａが、受信したか否かによって光電子回路基板１の検査を行うことができる。 - 特許庁 - Tea compounds of 40 kinds isolated from green tea, Oolong tea and black tea are tested, and as a result of zealous study with an enzyme COX-2 causing chronic inflammation and PGE2 as its product as targets, 18 kinds of tea compounds among the above tea compounds are found to inhibit the expression of COX-2 and/or production of PGE2.
緑茶、烏龍茶、紅茶から分離された４０種類の茶化合物を供試し、慢性炎症に引き起こす酵素ＣＯＸ−２およびその産物であるＰＧＥ２を標的として鋭意研究を行った結果、１８種類の茶化合物がＣＯＸ−２の発現及び／又はＰＧＥ２の産生を抑制することを見出した。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
