「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 次へ＞- When an operator inputs via a keyboard 6 the application to be tested and a batch file, the CPU 7a of an IC card test apparatus 3 reads from an HDD 8 a profile and a batch file that correspond to the designated application A, and creates a batch file that is characteristic of the application A.
オペレータによってキーボード６を介してテストを実施するアプリケーションとバッチファイルが入力されると、ＩＣカード試験装置３のＣＰＵ７ａはＨＤＤ８から指定されたアプリケーションＡに対応するプロファイル、バッチファイルを読み出し、アプリケーションＡ固有のバッチファイルを作成する。 - 特許庁 - The high speed memory interfaces of the semiconductor devices are tested in such a manner that same signals of bidirectional high speed signal line are connected with each other between two semiconductor devices having the high speed memory interfaces and one semiconductor device is caused to perform a writing operation while the other semiconductor device is caused to perform a reading operation.
高速メモリインタフェースを持つ２つの半導体装置間において、双方向高速信号線の同じ信号同士を接続し、一方の半導体装置は書き込み動作をさせ、他方の半導体装置は読み出し動作させてこれら半導体装置の高速メモリインタフェースを試験する。 - 特許庁 - Meanwhile, a second authentication apparatus using the vein pattern of the finger is provided with a placing surface (8) of the object to be tested in which a position (8a) where the distal end side (3a) of the finger is placed is higher than a position (8b) where the proximal end side (3b) of the finger is placed.
一方、本発明にかかる、指の静脈パターンを利用した、第二の認証装置は、検査対象となる指(3)の先端側(3a)が置かれる位置(8a)が、該指の基端側(3b)が置かれる位置(8b)よりも高くなっている検査対象載置面(8)を備えていることを特徴とする。 - 特許庁 - At a time of start of the device, since an engine inlet structure part 9 of the test chamber 2 is heated by heat of exhaust gas introduced into a tube (heating part) 10 wound around the same from the pressure reducing compressor 8 via a branch duct 12, temperature of inlet of the engine E to be tested is raised in a short period of time.
装置の始動時に、テストチャンバ２のエンジン入口構造部９が、それに巻き付けたチューブ（加熱部）１０内に減圧用圧縮機８から分岐ダクト１２で導入される排気ガスの熱で加熱されるので、供試エンジンＥのエンジン入口温度の温度上昇が短時間に行われる。 - 特許庁 - A water level changing cylindrical body 12 is erected on an upper portion of a water storage tank 11 to be tested, a lifting pipe 16a constituting a water discharge pipe 16 is stored in the water level changing cylindrical body 12, a lead pipe 16b is connected to the lifting pipe 16a, and a downcomer 16c is connected to the lead pipe 16b.
被験貯水槽１１の上部に水位変動筒体１２を立設し、水位変動筒体１２内に排水管１６を構成する揚水管１６ａを収容し、揚水管１６ａには導出管１６ｂを接続し、導出管１６ｂには降水管１６ｃを接続する。 - 特許庁 - (4) If a person having any claim to, or in relation to, any goods of which samples have been selected and tested in pursuance of rules made under sub-section (1) or of an order passed under sub-section (2) desires that any further samples of the goods be selected and tested, such further samples shall, on his written application and on the payment in advance by him to the Court or officer of customs, as the case may be, of such sums for defraying the cost of the further selection and testing as the Court or officer may from time to time require, be selected and tested to such extent as may be permitted by with respect to which provision is not made in such rules, the Court or officer of customs may determine in the circumstances to be reasonable, the samples being selected in the manner prescribed under sub-section (1) or in sub-section (2), as the case may be.
(4)本条第(1)項により制定された規則により又は第(2)項により発出された命令に従って見本の抜き取り検査が行われた商品に、又はそのような商品に関係して、何らかの請求をなす者が当該商品の見本の追加的な抜き取り検査を希望する場合、そのように追加される見本につき、その者が裁判所又は税関職員(場合に応じ)に対する申請書の提出、及びかかる追加的な抜き取り検査の費用として裁判所又は税関職員が随時求める負担金額の前払いがあり次第、当該規則中に定めがない範囲に関し許容される限度で抜き取り検査が行われるものとし、判所又は税関職員は、相当の理由があれば、本条第(1)項又は第(2)項(場合に応じ)に基づき、所定の方式で選択する見本を決定することができる。 - 特許庁 - To provide a separation method for accurately separating chloride ion containing ^36Cl from chloride ion containing ^36S in a shorter time than that required for a conventional barium sulfate method; with high reproducibility not depending on the subjectivity, ability, or skill of an operator; even in a case that a chloride ion concentration of a sample to be tested is low.
従来法である硫酸バリウム法よりも短時間で、作業者の主観や技量、熟練度に依存することなく高い再現性をもって、しかも被検試料の塩化物イオン濃度が希薄な場合であっても、^３６Ｃｌ含有塩化物イオンを^３６Ｓ含有硫酸イオンから確実且つ精度よく分離する。 - 特許庁 - This molecular beacon by utilizing the switching of the monomeric light emission and excimer light emission is provided by bonding a fluorescent organic group capable of forming an excimer with both 3' and 5' terminals of a single strand oligonucleotide to be hybridized with an oligonucleotide to be tested, and the method for detecting a complemental chain DNA sequence and the method for detecting an SNP by using the molecular beacon are also provided.
被検オリゴヌクレオチドとハイブリダイズさせる一本鎖オリゴヌクレオチドの3'及び5'両末端にエキシマー形成可能な蛍光性有機基を結合させ、モノマー発光とエキシマー発光のスイッチングを利用した分子ビーコン、及び該分子ビーコンを用いる相補鎖DNA配列検出方法ならびにSNP検出方法。 - 特許庁 - In this case, the kind, number and order of frequencies or frequency channels to be tested and test time are defined in the beginning of measurement and the measured values of the frequency channels can be provided without exchanging any protocol between the electric test device and the telecommunication equipment.
本発明の特徴は、計測の始めに、サンプルされるべき周波数または周波数チャネルの種類、数、順序およびテスト時間が定義されること、および、上記周波数チャネルにおける計測値が、上記電気テスト装置と上記電気通信装置との間でプロトコルを交換せずに得られることである。 - 特許庁 - The semiconductor tester (200) includes: the IC socket (205) having a seat (203) separated from a body; a placement means (1) for placing the to-be-tested IC (2) on the IC socket; and an elevation means (206) for separating the seat (203) from the IC socket (205), and elevating the IC socket (205).
本体から分離可能な台座（２０３）を有するＩＣソケット（２０５）と、前記ＩＣソケットに被試験対象のＩＣ（２）を配置する配置手段（１）と、前記台座（２０３）を前記ＩＣソケット（２０５）から分離上昇させる昇降手段（２０６）とを有することを特徴とする半導体試験装置（２００）である。 - 特許庁 - This apparatus has a connecting terminal 21, to which an electronic part 22 to be tested is detachably connected, a pressing tool 24 for pressing the electronic component 22 in a direction to the connecting terminal to connect the electronic component 22 to the connecting terminal 21, and a cooling device 27 set to the pressing tool 24 for cooling the electronic component 22.
試験すべき電子部品２２が着脱自在に接続される接続端子２１と、接続端子２１に電子部品２２を接続するように、この電子部品２２を接続端子方向に押し付ける押圧具２４と、押圧具２４に装着してあり、電子部品２２を冷却する冷却装置２７とを有する。 - 特許庁 - The method for searching the anti-alkylating agent that inhibits alkylation levels comprises measuring the expression level of fused gene having an alkylation-repairing gene that recognizes O^6methylguanine and adding a substance to be tested to an alkylated DNA of a host cell induced by the addition of an alkylating agent.
本発明の抗アルキル化物質の探索方法は、Ｏ^６メチルグアニンを認識するアルキル化修復遺伝子を有する融合遺伝子の発現量を測定し、アルキル化剤添加により引き起こされた宿主細胞のＤＮＡのアルキル化に被検物質を添加し、アルキル化量を抑制する抗アルキル化物質を探索することができる。 - 特許庁 - The probe card includes wiring and probes exclusively for a DC test for performing a DC test of one semiconductor chip on a wafer to be tested on which a plurality of semiconductor chips are formed and wiring and probes exclusively for an AC test for performing an AC test of another semiconductor chip.
本発明のプローブカードは、複数の半導体チップが形成された被試験ウエハの１つの半導体チップに対してＤＣ試験を行うためのＤＣ試験専用の配線及び探針と、他の１つの半導体チップに対してＡＣ試験を行うためのＡＣ試験専用の配線及び探針と、を有する。 - 特許庁 - This electrode prober 19 is arranged between an tested IC package 4 having a plurality of electrodes 8 and an IC mounting face 3 in an IC test device testing an operation of the IC package for conduction between respective electrodes 2 on the IC mounting face in the IC test device with the respective electrodes 8 in the IC package 4.
複数の電極８が形成された試験対象のＩＣパッケージ４と、このＩＣパッケージの動作試験を行うＩＣ試験装置のＩＣ取付面３との間に介挿され、ＩＣ試験装置のＩＣ取付面３の各電極２とＩＣパッケージ４の各電極８とを導通させる電極プローバー１９である。 - 特許庁 - To provide a sensitive immunological detection method capable of extracting actinidine, a kiwi allergen, from a sample to be tested such as food containing a kiwi allergen through the use of SDS and detecting the allergen in either state altered by SDS or not altered by SDS, and to provide a detection kit used for the same.
キウイアレルゲンを含む食品等の被検試料から、ＳＤＳを用いて、キウイアレルゲンであるアクチニジンを抽出し、上記アレルゲンがＳＤＳ変性／ＳＤＳ未変性のいかなる状態にあっても検出できる高感度な免疫学的な検出方法及びそれに用いられる検出キット等を提供すること。 - 特許庁 - The coverage analysis part instructs the control part not to extract coverage information about once tested logic elements, and the control part controls the logic simulation execution part in response to the instruction to stop extracting coverage information from the logic elements excluded from the extraction.
前記カバレッジ解析部は、一度テストされた論理素子に関するカバレッジ情報は抽出しない旨の指示を前記制御部に出し、前記制御部は、その指示に基づいて、前記論理シミュレーション実行部を制御して抽出しない対象の論理素子からのカバレッジ情報の抽出動作を中止させる。 - 特許庁 - The logic comparator where the expected values are consistent with the output data in all the output cycles of test patterns is detected further by a comparison result determination circuit, and the tested semiconductor circuit is a nondefective at the timing of the expected value input into the logic comparator, when the corresponding logic comparator exists.
さらに比較結果判定回路にて試験パターンの全出力サイクルにおいて出力データと期待値が一致している論理比較器を検出し、該当する論理比較器があればその論理比較器に入力された期待値のタイミングで被試験半導体回路が良品であることを判定する。 - 特許庁 - When a macro MACRO1 is cut out and tested, a signal is inputted in an internal circuit INT0 of the macro MACRO1 from an external input terminal 10, an internal circuit INT1 of the macro MACRO1 receives the signal and operates, and an output of the INT1 is delivered to a macro MACRO2 through a signal line 19.
マクロＭＡＣＲＯ１を切り出してテストする場合、外部入力端子１０からマクロＭＡＣＲＯ１の内部回路ＩＮＴ０に信号が入力され、それを受けてマクロＭＡＣＲＯ１の内部回路ＩＮＴ１が動作し、その出力を信号線１９を経由してマクロＭＡＣＲＯ２に受け渡す。 - 特許庁 - Since data inputted into the terminal 1 of the input/output circuit 10 is outputted from the terminal 2 via an output circuit 223 from an input buffer 13 and a gate control part 22 of an input/output circuit 20, the input/output circuits 10 and 20 can be tested through program processing without going through the internal bus B.
そして、入出力回路１０の端子１に入力されたデータが入力バッファ１３および入出力回路２０のゲートコントロール部２２のセレクタ２２２から出力回路２２３を介して端子２から出力されるので、プログラム処理による内部バスＢを介することなく入出力回路１０，２０のテストが可能になる。 - 特許庁 - To make air flow without generating deviation not to generate voltex in the upstream in the vicinity of a tested jet engine in an engine room, when the outside air of high flow velocity is taken in from an intake noise-suppressing chamber to conduct a test run.
ジェットエンジンテストセルにおいて、流速の速い外部空気を吸気消音室より取り入れて試験運転を行うに際し、エンジン室内における供試ジェットエンジン近傍上流側において渦が発生しないように空気が偏りなく流れるようにした吸気消音室用遮風体を提供すること。 - 特許庁 - The tested lens 5 is held at two rotational positions separated by 90° from each other in relation to a measuring light axis C and measured respectively, the resulting first and second aberration functions are classified into respective aberration functions corresponding to Seidel aberrations, to find the first and second aberration functions corresponding to the astigmatism therefrom.
被検レンズ５を測定光軸Ｃに対し、互いに９０度だけ離れた２つの回転位置に保持して各々の測定を行い、得られた第１および第２の収差関数をザイデル収差に対応した各収差関数に分類し、その中でアス収差に対応した第１および第２アス収差関数を求める。 - 特許庁 - In this IC testing system, the chip arrayals to be tested at one time in a wafer prober 200 are made to correspond to the positions on rectangular coordinates for transmitting respective coordinates as character string data to an IC testing device 300, where the location data comprising the character string data are converted into the chip map data to generate the chip map using these chip map data.
ウェハプローバにおいて一度に試験するチップの配列を直交座標上の位置に対応させ、各座標を文字列データとしてＩＣ試験装置に伝送させ、ＩＣ試験装置ではチップマップ変換手段により文字列データから成るロケーション・データをチップマップデータに変換し、このチップマップデータを使ってチップマップを作成する。 - 特許庁 - The coil 12 or the applied electric power generating part 2 is controlled, and then the resonance condition is automatically tracked to be satisfactorily maintained by a resonance controlling part 3, while making the testing conditions during the test period about the test electric power applied to the resonance circuit not to be fixed, when the capacitor 11 is tested.
さらに、コンデンサ１１の試験時に共振回路に印加される試験電力などについての試験条件を試験時間中で一定とせず、共振制御部３によってコイル１２または印加電力生成部２を制御して自動的に共振状態を追尾し、その共振状態を良好に保持する。 - 特許庁 - The light transmission module comprises the carrier 10 mounting the laser diode element being pressed against a block 20 having a plane of high planarity by means of a springy electrode 23b and secured in place and then tested using a test stem for connecting leads led out from the electrode with an external device electrically.
平滑性の高い平面を有するブロック２０に、ばね性を有する電極２３ｂで、レーザダイオードを搭載したキャリア１０を押しつけて固定し、電極からリードを導き出して外部装置と電気的接続する試験用ステムを用いて試験をしたキャリアを用いて光伝送モジュールを構成する。 - 特許庁 - The operation timing generation unit 5 is used when the sensor LSI 50 is tested, and receives the mode control signal Sms output from the operation mode control unit 4, and outputs to the sensor unit 1 and the control unit 2 an operation control signal Sds to cause the sensor unit 1 to operate or to enter a standby state based on the mode control signal Sms.
動作タイミング生成部５は、センサＬＳＩ５０のテスト工程のときに用いられ、動作モード制御部４から出力されるモード制御信号Ｓｍｓが入力され、モード制御信号Ｓｍｓに基づいてセンサ部１の動作或いは待機させる動作制御信号Ｓｄｓをセンサ部１及び制御部２に出力する。 - 特許庁 - To completely prevent suffering a scratch by unintended contact with an inspection element or decline of reliability of an inspection result by effective utilization of compressed air, when a linear object to be tested of a nuclear fuel element is inserted into an inspection insertion hole formed close to the inspection element and a flow on the surface thereof or the like is inspected.
核燃料要素の直状被検査体を、検査素子に近接して形成された検査用挿通口に挿通して表面の疵等を検査する際、検査素子との不本意な接触で擦り傷を受けたり、検査結果の信頼性が低下することを圧縮エアの有効利用で絶滅可能とする。 - 特許庁 - There is the method for avoiding the inhibition of the nucleic acid amplification reaction due to gall components in the method for amplifying nucleic acid from microbes by removing the gall components in the culture liquid containing the microbes obtained from culture method as the tested sample and removing the gall components by centrifugal concentration and alkaline treatment.
菌体由来の核酸を増幅する方法において、培養法によって得られた菌体を含む増菌培養液を被検試料とし、遠心濃縮およびアルカリ処理により前記培養液中の胆汁成分を除去することによって、胆汁成分による核酸の増幅反応阻害を回避する方法。 - 特許庁 - For a line number and a data format type selected during operation of the line interface apparatus, test data is communicated through a path for processing signals of the selected data format type and a non-selected line number and normality of the apparatus is tested for the selected line number and data format type during operation.
回線インタフェース装置の運用中の選択された回線番号とデータフォーマット種類に対し、選択された運用中の回線番号とデータフォーマット種類に対し、選択データフォーマット種類と非選択回線番号の信号を処理する経路に試験データを疎通させ装置の正常性試験を行う。 - 特許庁 - The TCP handler 2 testing TCPs 50 having test pads 54c formed in the middle of each lead 53, includes: an insulation treatment device 7 for performing insulation treatment of the test pads 54c of the TCPs 50 after being tested; and a surface treatment device 8 provided in the preceding stage to perform insulation surface treatment of the test pads 54c.
リード５３の中間にテストパッド５４ｃが形成されたＴＣＰ５０を試験対象とするＴＣＰハンドラ２において、試験後のＴＣＰ５０のテストパッド５４ｃを絶縁処理する絶縁処理装置７と、その前段に、テストパッド５４ｃの絶縁下地処理を行う下地処理装置８とを設ける。 - 特許庁 - To provide a method for avoiding inhibition in a nucleic acid amplification reaction, by which the inhibition of the nucleic acid amplification reaction due to gall components can be avoided, in concentrating a tested sample to increase the detection sensitivity of the amplification reaction in genetic screening of microbes obtained by a culture method, and to provide a nucleic acid amplification method using the method.
培養法によって得られた菌体について遺伝子検査を実施する場合において、検出感度を上げるために被検試料を濃縮し、かつ培地中に含まれる成分、特に胆汁成分による核酸増幅反応の阻害を回避する方法と前記方法を用いた核酸増幅法を提供すること。 - 特許庁 - A primer for detecting a Megasphaera bacterium containing a specific base sequence and a primer for detecting a Megasphaera bacterium containing another specific base sequence are subjected to a PCR reaction using a DNA to be tested as the template, a PCR amplification product after the reaction is electrophoresed so as to detect existence or absence of a Megasphaera bacterium by a DNA band pattern.
特定の塩基配列を含むメガスファエラ（Megasphaera）属細菌の検出用プライマーと、別の特定の塩基配列を含むメガスファエラ（Megasphaera）属細菌の検出用プライマーとを、被検DNAを鋳型としてPCR反応を行い、反応後のPCR増幅産物を電気泳動し、DNAバンドのパターンによりメガスファエラ（Megasphaera）属細菌の有無を検出する。 - 特許庁 - The testing device 101 includes a stage 120 on which the force sensor 113, the object to be tested, can be placed, a driving part 130 capable of moving the force sensor 113 via the stage 120 to 6 directions of each axis rotation of X, Y, Z axes, and a loading part 140 capable of loading the force sensor 113 placed on the stage 120.
試験装置１０１は、被試験体である力センサ１１３を載置可能なステージ１２０と、ステージ１２０を介して力センサ１１３をＸ・Ｙ・Ｚ軸の各軸回転の６方向に移動可能な駆動部１３０と、ステージ１２０上に載置された力センサ１１３に加重可能な加重部１４０と、を備えている。 - 特許庁 - To provide work conveying housing equipment which prevents breakage of a work and shutdown of it by completely storing the work to be tested in a testing work housing and can check quickly the status that the work was stored completely, and provide grinding equipment provided with it.
検査対象となるワークを検査用ワーク収納部内に完全に収めることによりワークの破損およびワーク搬送収納装置の停止を防止すると共に，ワークを完全に収めた状態を迅速に確認することが可能なワーク搬送収納装置，およびそのワーク搬送収納装置を備えた切削装置を提供する。 - 特許庁 - The burn-in board is provided with both a mounting substrate to which the device to be tested is mounted and a positioning substrate mounted to the mounting substrate for positioning the temperature adjusting board by fitting the rocket pins provided for the temperature adjusting board lowered from above at burn-in test.
また、バーンインボードは、被試験デバイスが取り付けられる取り付け基板と、前記取り付け基板に取り付けられた位置決め基板であって、バーンイン試験の際に、上方から下降してくる前記温度調整ボードに設けられた前記ロケットピンが嵌入し、温度調整ボードの位置決めをするための位置決め基板と、を備えている。 - 特許庁 - The eccentricity measuring means 5 measures the amount of eccentricity of the optical system to be tested 1, while carrying out corrections, based on the degree of the angle between the center axis 3a of a spindle 3 and the center axis of the body tube 1a calculated from the amount of fluctuation of the body tube 1a measured by the body tube fluctuation measuring means 6.
偏心測定手段５は、鏡筒振れ測定手段６が測定した鏡筒１ａの振れ量から算出される鏡筒１ａの中心軸がスピンドル３の中心軸３ａに対してなす角度の度合いに基づいて補正を行って被検レンズ系１の偏心量を測定する。 - 特許庁 - The wavelength of the test light outputted from the light source 120 is swept over a predetermined wavelength range under control of a control part 126 and the backscattered beams are detected and totalized during the period of the wavelength sweeping by the analyzing part 125, so that the optical cable is tested based on the result.
制御部１２６による制御の下に、波長可変光源１２０から出力される試験光の波長が所定の波長範囲に亘って掃引されるとともに、解析部１２５においては、この波長掃引の期間において後方散乱光が検出されて積算され、この積算結果に基づいて光線路が試験される。 - 特許庁 - A test pattern is prepared by a data converting part 2 based on the logic simulation result, a test controller 4 makes the device 5 tested based on the test pattern, a waveform displaying part 6 superposes waveforms of a data of the device 5 and the logic simulation data to be displayed, and both waveforms are automatically compared to be evaluated.
デ−タ変換部２によって論理シミュレーション結果に基づきテストパターンを作成し、テストコントローラ４はテストパターンに基づきデバイス５をテストさせ、波形表示部６はデバイス５のデータ及び論理シミュレーションデータの波形を重ね合わせて表示すると共に、両者の波形を自動比較して評価するようにする。 - 特許庁 - To provide an opening timing detecting device for an intake valve in an engine tested for detecting the opening timing of the intake valve even in an assembled state of an intake manifold, improving the productivity in an assembling process of an engine, and improving work efficiency.
吸気マニホールドを組み付けた状態であっても吸気バルブの開タイミングを検出することを可能にして、エンジンの組み立て工程における生産性を向上させたり、作業能率の向上を図ることが可能となるテスト対象エンジンにおける吸気バルブの開タイミング検出装置を提供する。 - 特許庁 - When ICs 1 are collectively tested in a state housed in a feed pallet 2, a windshield plate 7 for preventing the flying-out of the IC is used in a test part 3 to prevent the flying-out of the IC 1 from the positioning part on the way of push-up operation or the positional shift thereof to stably test the extremely small and lightweight IC 1.
ＩＣ１を搬送パレット２に収納した状態で一括テストを行なうに際し、テスト部３にＩＣ飛び出し防止用の風止板７を用いることにより、押し上げ動作途中での位置決め部からのＩＣ１の飛び出しや位置ずれを防止し、極小・軽量ＩＣ１のテストを安定して行なう。 - 特許庁 - (2) The measuring device 1 for the conditions and behaviors of the flow of fluids has the gas supply device 2, the visualized model 3 for the object to be tested whose internal passage is observable from outside, and a pigment mixer 4 for mixing the water-soluble pigments with a gas supplied from the supply device 2 to the visualized model 3.
（２）ガスの供給装置２と、試験対象物の、内部流路が外部から観察可能とされた可視化モデル３と、ガス供給装置２から可視化モデル３に供給されるガスに水溶性の顔料を混合する顔料混合装置４と、を有する流体の流れ性状測定装置１。 - 特許庁 - A material to be tested (asphalt mixture 200) is placed in a ring-like space between a bottom form 100, an outer form 104 held by an outer holding plate 108 and a restrictive plate 106 held by an inner holding plate 110, and compacted by an oscillating compacting apparatus 206 from an upper part so that a compaction ring 204 is rotated.
底型枠１００と、外側押え板１０８で押さえた外型枠１０４と、内側押え板１１０で押さえた拘束板１０６との間の、リング状の空間に被試験材料（アスファルト混合物２００）を打ち込み、その上から締固めリング２０４が回転するように振動締固め装置２０６で締め固める。 - 特許庁 - The wire harness W is laid on a test jig 1, having the movable parts (a seat cushion part 3, a seat back part 6) which is operable substantially similarly to the driver's seat on which the wire harness W is actually laid, and the bending life time, until the wire harness W reaches disconnection is tested by operating each movable part reciprocatingly in parallel.
ワイヤーハーネスＷが実際に敷設される運転シートと略同動作が可能な可動部位（シートクッション部３，シートバック部６）を有する試験治具１に、ワイヤーハーネスＷを敷設し、各可動部位を併行して往復動作させて、ワイヤーハーネスＷが断線に至るまでの屈曲寿命を試験する。 - 特許庁 - The ultrasonic flaw detector 1 which tests a weld line (object to be tested), disposed in a pipe arrangement (suspected body) 2 non-destructively, comprises the ultrasonic testing section 4 which moves on the pipe arrangement 2, while emitting ultrasonic waves; and a position measuring section, which specifies the position of the ultrasonic testing section 4 in relation to the pipe arrangement 2.
超音波探傷装置１は、配管（被検体）２に配された溶接線（検査対象物）を非破壊的に検査する超音波探傷装置であって、超音波を発して配管２上を移動する超音波探傷部４と、超音波探傷部４の配管２に対する位置を特定する位置計測部とを備えている。 - 特許庁 - A pad 32 externally applied with a control potential Vex and a plate lime driving circuit 33 are provided, and concerning each memory cell, a reference potential Vref is varied variously by varying the control potential Vex variously, storage data is read out, and margin of a potential of a bit line in the case that storage data is outputted to a bit line is tested.
外部から制御電位Ｖexを印加するパッド３２及びプレート線駆動回路３３を設け、各メモリセルについて、制御電位Ｖexを種々変化させることにより、基準電位Ｖrefを種々変化させて、記憶データの読出しを行い、ビット線に記憶データが出力された場合におけるビット線の電位のマージンを試験する。 - 特許庁 - To execute required tests, even with a small-capacity tester by forming a common testing electrode such that when it is brought into contact with a tested printed circuit board, independent wiring networks will not form an electrically closed circuit through the common testing electrode.
被検査電極よりも大きなピッチの検査用電極を有し、小容量のテスターにより被検査プリント基板について所要の検査を実施することができ、設計および製造が容易なプリント基板検査用治具基板を提供すること、並びに当該検査用治具基板を用いるプリント基板検査方法を提供すること。 - 特許庁 - The device and method for testing the integrated circuit comprised of at least two circuit parts operated by at least two different clock signals at normal operation are provided, and the circuit operated by the plurality of clock signals is tested for a minimum time by minimum test vectors.
通常動作において、少なくとも２つの異なるクロック信号によって動作する少なくとも２つの回路部分からなる集積回路をテストするための装置および方法を提供し、さらに、複数のクロック信号によって動作する回路を、最小限の時間で、かつ、最小限のテストベクトルによってテストする。 - 特許庁 - A test auxiliary device (BOST device) is disposed near a test circuit board for giving and receiving a signal to and from the semiconductor integrated circuit to be tested, and the testing D/A converter circuit and testing A/D converter circuit of the test auxiliary device, a measurement data memory and an analyzing part are respectively mounted on separate circuit boards.
被試験半導体集積回路と信号のやり取りを行うテスト回路基板の近傍にテスト補助装置（ＢＯＳＴ装置）を設け、このテスト補助装置の試験用Ｄ／Ａ変換回路と試験用Ａ／Ｄ変換回路と、測定データメモリと、解析部とをそれぞれ別の回路基板に搭載する。 - 特許庁 - Pieces of log information, each of which consists of ID information and order information about a response message which each virtual web client receives from a web server device to be tested, are rearranged according to predetermined requirements for rearrangement and displayed in a display device so that it is possible to easily select an arbitrary response of an arbitrary virtual client.
各仮想ウェブクライアントが試験対象のウェブサーバ装置から受信したレスポンスメッセージについて識別情報及び順番情報からなるログ情報を、所定の並替条件にて並べ替えて表示装置に表示することによって、任意の仮想クライアントの任意のレスポンスを簡単に選択できるようにする。 - 特許庁 - The reference light and measurement light are superposed by luminous flux composition means 105, and when the optical path length different between reflected light from a face (a) of a tested material 104 and reflected light from the reflector 107 is within a coherence length of the light source, interference occurs and an interference signal is detected by a photoelectric detector 106.
参照光と測定光とは光束合成手段１０５で重なり合うが、被検物１０４の面ａからの反射光と反射鏡１０７からの反射光との光路長差が光源のコヒーレンス長以内であれば干渉を生じ、光電検出器１０６で干渉信号が検出される。 - 特許庁 - This method is performed by arranging a flow passage for flowing a sample including a focal area of an objective lens and a means for irradiating to the sample with the exciting light on the upstream side of the focal area, and preparing the sample including a substance to be tested of adding a light emitting substance having the light emitting service life longer than the self-fluorescence.
本発明の方法では、対物レンズの焦点領域を含む試料を流通させるための流路と、焦点領域の上流にて試料に励起光を照射する手段とが設けられ、自家蛍光よりも長い発光寿命を有する発光物質が付加されている被検物質を含む試料が準備される。 - 特許庁
