「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 46 47 48 49 50 51 52 53 54 .... 58 59 次へ＞- When a lead 304 of a tested IC 302 is pushed on an upper end part 306A of the first contact 306 from upward, the contact 306 is depressed underneath (locking action), and a lower end part 306B of the first contact 306 is pushed on an elastic axis 307.
第１コンタクト３０６の上端部３０６Ａに上方から被検査ＩＣ３０２のリード３０４を押し付けると、コンタクト３０６は下方に沈み込み（ロッキング動作）、第１コンタクト３０６の下端部３０６Ｂが弾性軸３０７に押し付けられる。 - 特許庁 - In a test circuit, a counter circuit 22 generates a control signal based on the result of comparison made by means of a comparison circuit 21 which compares test results from a circuit 1 to be tested, and an already set expected value and the operations of tri-state buffers 23 are controlled by means of the control signal.
テスト対象回路（１）からのテスト結果と既設定の期待値とを比較する比較回路（２１）からの比較結果を基に、カウンタ回路（２２）が制御信号を生成し、この制御信号によりトライステートバッファ（２３）の動作を制御する。 - 特許庁 - To provide electronic equipment, particularly equipment for railway technologies that controls power equipment, that enables dielectrical capabilities of the electronic equipment to be tested in a laboratory and on site, and facilitotes provision of electrical safety connections which conform to a standard.
本発明は、試験室と現場で電子装置の誘電性能を試験することが可能で、基準に一致する電気的に安全な結線を作ることが簡単な、電子装置、特に電力機器を制御する鉄道技術用の電子装置に関する。 - 特許庁 - The unbalance correction device 6 can be installed onto the dynamic balancing machine for the crankshaft having a plurality of bearing devices 3, 4, 5, that are allocates at determined journals 20a, 20b, 20c of the crankshaft to be tested and support the axis of the crankshaft.
この発明は、被試験体であるクランクシャフトの所定のジャーナル２０ａ，２０ｂ，２０ｃに割り当てられて、クランクシャフトを軸受する多数の軸受装置３，４，５を有するクランクシャフト用動釣合い試験機に装着可能な不釣合い修正装置６である。 - 特許庁 - To provide an immunochromatographic apparatus by which a substance, to be tested, in a sample can be detected or quantitatively determined precisely and quickly by a method wherein a background coloring operation, a nonspecific color development and a prozone phenomenon which cause false positivity and false negativity in an analysis are suppressed.
分析時の偽陽性、偽陰性の要因となりうるバックグラウンド着色、非特異発色、プロゾーン現象を抑え、試料中の被験物質を正確にかつ迅速に検出又は定量することができるイムノクロマトグラフィー装置を提供する。 - 特許庁 - Each Contracting Party shall take the appropriate steps to ensure that there are on-site and off-site emergency plans that are routinely tested for nuclear installations and cover the activities to be carried out in the event of an emergency.
締約国は、原子力施設のための敷地内及び敷地外の緊急事態計画（適当な間隔で試験が行われ、かつ、緊急事態の際に実施される活動を対象とするもの）が準備されることを確保するため、適当な措置をとる。 - 経済産業省 - Blood is made to permeate into the hemocyte capturing membrane member as it is the whole blood to make blood components except hemocytes permeate into the impregnating member and is chromatographically developed on the carrier, and a complex of the substance to be tested and the first antibody is captured at the capturing section and colored.
血液を全血のまま血球捕捉膜部材に浸透させ、血球以外の血液成分を含浸部材へ浸透させて担体上にクロマト展開し、検査対象物質と第一抗体との複合体を捕捉部位で捕捉させて呈色させる。 - 特許庁 - To perform operation even if the terminal voltage of a tested body is zero bolt or near it and also achieve high-speed response by regenerating the electric power wasted as heat in the conventional electronic load and supply it to a commercial power source or the other devices to effectively use the electric power.
従来電子負荷が熱として無駄に消費していた電力を商用電源や他の機器等に回生して電力の有効利用を図り、被試験体の端子電圧がゼロボルト又はその近傍でも動作するとともに高速応答をも可能とする。 - 特許庁 - An electrical connection device includes a probe assembly provided with a plurality of probes each of which is pressured to an electrode of a tested material and a connection piece assembly provided with a plurality of connection pieces contacted to the probes individually and contacted to the conductive part of the substrate individually.
電気的接続装置は、それぞれが被検査体の電極に押圧される複数のプローブを備えるプローブ組立体と、プローブに個々に当接されると共に基板の導電性部に個々に当接される複数の接続片を備えた接続片組立体とを含む。 - 特許庁 - When a return packet monitor section 115 of the test side network terminal 101 detects the return packet, a return packet decision section 116 decides the normality of the network terminal 102 at the side to be tested and the network 103 and informs a monitor control section 113 about the result.
試験側ネットワーク端末１０１では、返信パケット監視部１１５が返信パケットを検知したならば、返信パケット判断部１１６が被試験側ネットワーク端末１０２およびネットワーク１０３の正常性を判断し、その結果を監視制御部１１３に知らせる。 - 特許庁 - To provide a material testing apparatus, which can apply sufficient load to micro test specimen collected from an actual machine structure while conducting tests with high accuracy, and has a size-reducible mechanism so that the collected test specimen can be tested on site.
実機構造物において採取した微小な供試体に対して、高精度に試験することができながら十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行えるように小型化できる機構を有する材料試験機を提供すること。 - 特許庁 - In a disk test apparatus 10, first, format conditions (BPI and TPI) in accordance with a rank of a head incorporated in a disk apparatus 20 to be tested is set initially to the disk apparatus 20, and a disk test including an error rate test and a side erase test is performed.
ディスク試験装置１０は、先ずは、試験対象であるディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランクに応じたフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をディスク装置２０に最初に設定し、エラーレート試験やサイドイレーズ試験などを含むディスク試験を実施する。 - 特許庁 - To shorten the preliminary exhaust duration time, to detect a large quantity of leak, to make the sensitivity of a leak detector adapt to a detection according to the characteristic of the leak to be tested, and to remove the background noise of helium resulted from a primary pump by use of the same primary pump.
同じ一次ポンプによって、予備排気持続時間を短縮すること、大量の漏れを検出すること、テストすべき漏れの特性に応じて漏れ検出器の感度を適合させること、一次ポンプから来るヘリウムの背景雑音を取り除くことである。 - 特許庁 - To provide an inverter-testing device, capable of preventing a DC input capacitor and its peripheral circuit from deterioration or voltage breakdown, due to the application of voltage higher than the break withstand voltage applied to the DC input capacitor, which is likely to occur, when the inverter to be tested has made abnormal stop.
被試験インバータが異常停止したときに起こり得る、直流入力コンデンサへの耐圧以上の電圧印加による直流入力コンデンサおよびその周辺回路の劣化または耐圧破壊を防止することができるインバータ試験装置を提供する。 - 特許庁 - A hydraulic shovel 10 of the same class as the hydraulic shovel 20 and 30 is tested in-place with a specified operation pattern to detect the stress σ_1 of each part of front by a stress detector 4, and the stress σ_1 is corrected with a correction coefficient α and stress σA, after correction is obtained.
油圧ショベル２０,３０と同クラスの油圧ショベル１０を所定の動作パターンで場内試験して応力検出器４によりフロント各部の応力σ1を検出し、この応力σ1を補正係数αで補正して補正後の応力σAを求める。 - 特許庁 - To provide a test circuit of a semiconductor device in which fault can be recognized even when a switching circuit and a memory are broken down simultaneously, when output from plural memories incorporated in each semiconductor device is switched and tested using the same signal for test.
同一のテスト用信号を用いて各半導体装置に内蔵されている複数のメモリからの出力を切り替えて検査する際に、切り替え回路とメモリが同時に故障した場合でも、故障の認識が可能な半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁 - In1 a test head 18B, semiconductor devices D in odd-numbered rows and odd-numbered column1s among the semiconductor devices D mounted on the test board 1 after the completion of test in the test head 18A, and then semiconductor devices D in odd-numbered rows and even-numbered columns are tested.
また、テストヘッド１８Ｂにおいて、テストヘッド１８Ａにおける試験が終了したテストボード１に搭載されている半導体装置Ｄのうち奇数列奇数行の半導体装置Ｄの試験をした後に、奇数列偶数行の半導体装置Ｄの試験を行う。 - 特許庁 - The characteristics of the substrate, i.e., the dopant concentration and thickness, are capable of being precisely controlled and tested before the LED device is manufactured so that the fraction of primary light that passes through the substrate without being converted is predictable and controllable.
基板の性質、すなわちドーパントの濃度及び基板の厚さは、ＬＥＤデバイスを製造する前に正確に制御すること及びテストすることができ、これにより変換されずに基板を通過する一次光の割合を予測し、制御することが可能となる。 - 特許庁 - To provide a test device and a test method with which the increase of temperature of a semiconductor device can be suppressed and test can be performed in short time without using any large scale cooling means even if a semiconductor device to be tested is a semiconductor device of high power.
試験対象とする半導体装置が高パワー半導体装置であっても、大規模な冷却手段を用いることなく、半導体装置の温度上昇を防ぎ、かつ、短時間で試験を行うことのできる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for detecting an endocrine-disturbing action of a substance to be tested, more particularly a method for detecting an endocrine-disturbing property capable of similarly detecting not only an estrogen- like action but also another hormone-like action or an anti-hormone action.
被検物質の内分泌撹乱作用を検出する方法、詳しくは、エストロゲン様作用の検出だけに留まらず、他のホルモン様作用または抗ホルモン作用も、同様に検出することができる被検物質の内分泌撹乱性を検出する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit device by which test items can be set more efficiently by setting the items based on test results and, consequently, an object to be measured can be tested efficiently.
試験結果に基づいて試験項目を設定することにより効率的に試験項目を設定することができ、その結果として効率的に被測定対象の試験をすることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - An input signal Sina output from the test terminal Padt1 and a clock signal Sclka output from the test terminal Padt2 are input to the test circuitry 3, and test results of the paths to be tested are output via the test terminal Padt3.
テスト回路部３はテスト端子Ｐａｄｔ１から出力される入力信号Ｓｉｎａとテスト端子Ｐａｄｔ２から出力されるクロック信号Ｓｃｌｋａが入力され、テスト対象のパスのテスト結果がテスト端子Ｐａｄｔ３を介して出力される。 - 特許庁 - To provide a liquid volatility measuring device capable of heating a liquid sample without the use of a wood alloy for heat transfer between a heating block and a sample to be tested by a Noack test to measure the volatility, and a liquid volatility measuring method using the device.
ノアック試験によって、加熱ブロックと試験される試料との間の熱伝達のためのウッド合金の使用を避けて、液体試料を加熱し、揮発度を測定することができる装置とそれを用いた液体の揮発度測定方法とを提供すること。 - 特許庁 - The device to be tested 2 is constituted of debugger soft 21 for introducing the history information, a trace memory dumped result file 22 filing the history information, a source file group 23 for the program 11, and a trace information analysis program 24 for outputting a corresponding position for fault analysis.
また、被試験装置２は、履歴情報を導入するデバッガソフト２１、履歴情報がファイルされたトレースメモリダンプ結果ファイル２２、プログラム１１のソースファイル群２３、障害解析のための該当箇所を出力するトレース情報解析プログラム２４から構成した。 - 特許庁 - The pair of tools for testing piping withstand pressure are provided inside a pipe 4 in a connected state with each other with a connecting component 3, and each of the tools is brought into close contact with an internal surface of the pipe to close a section 6 to be tested for the testing of withstand pressure.
この１対の配管耐圧試験用治具は、連結部材３で互いに連結された状態で配管４の内部に設置され、その状態でそれぞれが配管の内周面に密接することにより試験対象部６を耐圧試験用に閉止する。 - 特許庁 - The laser output setting value and the recording pulse setting value when the best results are obtained for each part, are made as test results, and the test results and the model number of the disk 101 are written in a test result storage area 107 as disk information on a tested disk.
各箇所について最良の結果が得られたときのレーザ出力設定値および記録パルス設定値をテスト結果とし、このテスト結果とディスク１０１の型番とをテスト済みディスクのディスク情報としてテスト結果格納領域１０７に書き込む。 - 特許庁 - To prevent a printed board from becoming larger in size due to terminal electrodes for test with which conducting probes are brought into contact when a plurality of printed boards of hybrid integrated circuit devices, etc., is simultaneously manufactured by using a base material substrate and the manufactured printed boards are tested.
ハイブリッド集積回路装置等のプリント基板２の複数枚を、素材基板１を使用して同時に製作して、そのテストを行う場合に、通電用プローブを接触するテスト用端子電極７を設けることのためにプリント基板が大型化することを防止する。 - 特許庁 - In the LSI tester for testing whether an LSI for outputting an analog signal waveform is good or not, at least a part of an arithmetic processing part for processing an output signal from an LSI to be tested (DUT) is configured by logical synthesis based on an FPGA.
アナログ信号波形を出力するＬＳＩの良否をテストするＬＳＩテスタにおいて、被測定対象ＬＳＩ(ＤＵＴ)の出力信号を処理する演算処理部の少なくとも一部がＦＰＧＡによる論理合成で構成されたことを特徴とするもの。 - 特許庁 - Further, the operation control part 40 compares a signal on the lissajous plane which is generated in a process for adhering the eddy current probe 3 closely to a body to be tested with the lift-off allowable area A to evaluate lift-off quantity generated when pressing the eddy current probe 3 to an arbitrary curved surface.
さらに、演算制御部４０は、渦電流プローブを被検査体に密着させる過程で発生するリサージュ平面上の信号とリフトオフ許容領域Ａを比較して、任意曲面に渦電流プローブを押付けた際のリフトオフ量を評価する。 - 特許庁 - The cover glass 21 has a contact retaining means such that the cover glass 20 is kept contacted (attached) with a living tissue of the tested part even when the cover glass 21 moves in a horizontal (X or Y) or vertical (Z) direction to an objective optical system 14.
このカバーガラス２１は、対物光学系１４に対して水平方向（Ｘ，Ｙ方向）、垂直方向（Ｚ方向）に移動されても、被検部の生体組織に接触させた（くっついた）状態を維持することが可能な接触維持手段を設けている。 - 特許庁 - By applying the individual external power supply terminal of an LSI chip to be tested with a 0 V and maintaining the individual external power supply terminal of the other LSI chip in an open state to measure the characteristics of the power supply-side protective diode, connection tests on the common external terminals are performed.
テストを行う側のＬＳＩチップの個別外部電源端子に０Ｖを印加し、他方のＬＳＩチップの個別外部電源端子はオープン状態として、電源側保護ダイオードの特性を測定することにより、共通外部端子の接続試験を行う。 - 特許庁 - The gas measuring device has a minute flow generator 5 arranged via an on/off valve communicating with the inside of an object to be tested.
被試験物の内部に連通する開閉弁を介して配置される微小流量発生器５を備え、その発生器５の内部に、断面形状が長さ方向に略一定とされた微細管５０を設け、この微細管５０の一次側に所定の調整圧力を加えるようにした。 - 特許庁 - To reduce signal detection circuits and to perform accurate analysis without an influence of other channel components by solving the problem that the circuit scale is made large-sized by providing signal detection circuits for each channel frequency in order to analyze a signal to be tested which has an unknown channel frequency.
チャネル周波数が不明の被試験信号を解析するために、チャネル周波数毎に信号検出回路を装備すると回路規模が大きくなってしまうので、信号検出回路を削減し、かつ、他のチャネル成分の影響を受けないで正確に解析する。 - 特許庁 - A plurality of featured values p_1 to p_m are extracted from an acquired image for an object to be tested, and a feature extraction image is prepared from each feature value, and a feature extraction array F_e having those plurality of feature extraction images as components is created.
検査対象物についての取得画像より複数の特徴量ｐ_１〜ｐ_ｍを抽出し、それぞれの特徴量より特徴抽出画像を作成し、これらの複数の特徴抽出画像を成分に持つ特徴抽出配列Ｆ_ｅを作成する。 - 特許庁 - This is the test device with which respective pixels in the organic EL panel are tested from the electric signals obtained by driving the organic EL panel, and it is constituted so that a drive monitoring part 4 to monitor the test driving signals applied to the organic EL panel is provided.
有機ＥＬパネルの検査装置は、有機ＥＬパネルを駆動して得られる電気的信号から有機ＥＬパネル中の各画素を検査する検査装置であって、有機ＥＬパネルに印加する検査駆動信号を監視する駆動監視部４を備える構成とする。 - 特許庁 - A module-after- correction test part 3 conducts the confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested by using the input database generation information 31 and input data generation information 32 and outputs the results as a database dump list 37 and an output information dump list 38.
修正後モジュール試験部３は、入力データベース作成情報３１、入力データ作成情報３２を用いて試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト３７、出力情報ダンプリスト３８として出力する。 - 特許庁 - This hand-held fundus camera for photographing the fundus of the eye to be tested includes: a photographing optical system provided with a photographing means for photographing the fundus illuminated by photographing illuminating light; and a rotating means for rotating the photographing means around the axis of a photographing optical axis.
被検眼眼底を撮影する手持ち式の眼底カメラにおいて、撮影用の照明光により照明された眼底を撮影する撮影手段が配置された撮影光学系と、撮影手段を撮影光軸の軸回りに回転する回転手段と、を備える。 - 特許庁 - The tester is provided with an A/D converter for inputting the output of the object to be tested, a memory for storing the output of the A/D converter, and a digital comparator for comparing the output of the A/D converter with a comparison voltage data.
本装置は、被試験対象の出力を入力するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器の出力を格納するメモリと、Ａ／Ｄ変換器の出力と比較電圧データとを比較するデジタルコンパレータとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁 - A module-before-correction test part 1 conducts a confirmation test of a program (before correction) to be tested by using input database generation information 11 and input data generation information 12 and outputs the results as a database dump list 17 and an output information dump list 18.
修正前モジュール試験部１は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を用いて試験対象プログラム（修正前）１５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト１７、出力情報ダンプリスト１８として出力する。 - 特許庁 - To provide a coupling circuit which is capable of preventing quality degradation, i.e. throughput reduction, of a power-line carrier communication signal transmitted between a device to be tested and an opposite device at a lighting surge breakdown test of an information and communication technology (ICT) device for power-line carrier communication.
電力線搬送通信用ＩＣＴ機器の雷サージ耐力試験において、被試験装置と対向装置間を伝送される電力線搬送通信信号の品質劣化を生じさせない、すなわちスループットの劣化防止が可能な結合回路を提供する。 - 特許庁 - An error rate detecting part 20 identifies the pattern of a signal level in the measured signal which is inputted via a tested device 50, compares identification pattern data indicating the identification result with a reference pattern held by a reference pattern generating part 10, and then calculates an error rate.
誤り率検出部２０は、被試験デバイス５０を介して入力した被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、その識別結果を示す識別パターンデータと基準パターン発生部１０が保持する基準パターンとを比較してエラーレートを算出する。 - 特許庁 - A method of screening a regulator in formation of a complex of prohibitin 2 (PHB2) and a peroxisome proliferator-activated receptor γ/coactivator (PGC1α), including: selecting a material to be tested which promotes or inhibits formation of the complex of the PHB2 and the PGC1α.
プロヒビチン２（ＰＨＢ２）とパーオキシゾーム増殖因子活性化受容体γ・コアクチベーター（ＰＧＣ１α）との複合体の形成を促進又は阻害する被験物質を選択することを含む、ＰＨＢ２とＰＧＣ１αとの複合体の形成の調節剤のスクリーニング方法。 - 特許庁 - An input signal is applied to the input test terminals common to the drivers, and the outputs from the respective output terminals are measured simultaneously, so that both the liquid crystal driver chips are tested simultaneously with one time probing.
そこで、両液晶ドライバ１４b,１４cに共通する入力テスト端子１７bに入力信号を印加して夫々の出力テスト端子１８a,１８cからの出力を同時に測定して、両液晶ドライバチップ１４b,１４cを１回のプロービングで同時にテストする。 - 特許庁 - To solve the problem that a line interface apparatus for converting data into data formats of a plurality of different access point transmission lines and communicating with an access point device via a line interface corresponding to a predetermined transmission format can not be tested during operation.
データを複数の異なる接続先伝送路のデータフォーマットへ変換を行い、所定の伝送路フォーマットに対応した回線インタフェースを介して接続先装置と通信を行うための回線インタフェース装置の試験を運用中に実行できない問題である。 - 特許庁 - In the testing apparatus for the temperature characteristic of the electronic component, the characteristic of the electronic component is tested in a state that the electronic component is maintained at a prescribed temperature, the electronic component is brought into contact with a temperature control unit which is maintained at the prescribed temperature, and the temperature of the electronic component is controlled.
電子部品を所定温度に維持した状態で該電子部品の特性を試験する電子部品の温度特性試験装置において、前記電子部品を所定温度に維持された温度調節ユニットに接触させ、該電子部品の温度を制御する。 - 特許庁 - A frequency of the signal output from the signal generator 1 is made N times by the converter 3, and a burn-in signal output from the converter 3 is input into the semiconductor device of the tested object stored in the vessel 2 to conduct the fast dynamic burn-in.
そして、変換器３により、上記信号発生器１が出力する信号の周波数をＮ倍にし、変換器３が出力するバーンイン信号をバーンイン槽２内に収納された被試験対象の半導体装置に入力して高速ダイナミック・バーンインを行う。 - 特許庁 - The quality of the engine starting device is tested by a trial starting of the engine starting device 2 during the engine 1 running, and the starting of the engine 1 with the engine starting device 2, whose test is judged as rejectable, is prohibited or the automatic stop of the engine 1 is prohibited.
エンジン１の運転中にエンジン始動装置２を試動させることによりエンジン始動装置２の良否をテストし、テストにより不良と判定されたエンジン始動装置２によるエンジン１の始動を禁止するか、又は、エンジン１の自動停止を禁止する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device testing apparatus, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor devices, when the timing of a test pattern signal applied on a specied pin by each semiconductor device to be tested must be selected to timing which is suitable for each device.
被試験半導体デバイス毎に特定のピンに印加する試験パターン信号のタイミングを各デバイスに適したタイミングに選定しなければならない場合に、複数の半導体デバイスを同時に試験することを可能にした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁 - A semiconductor testing system 1 includes: a test board 2 on which a semiconductor device 4 of an object to be tested is mounted; and a semiconductor testing device 3 which outputs test signals of the semiconductor device 4 to the test board 2.
本発明の一形態に係る半導体試験システム１は、試験対象の半導体装置４が搭載される試験ボード２と、試験ボード２に半導体装置４の試験信号を出力する半導体試験装置３と、を備える半導体試験システムである。 - 特許庁 - The intensity of transmitted light and/or the intensity of scattered light are/is measured of the tested solution before and after a reagent is mixed therein for changing the optical characteristics of the solution owing to a specific constituent, and the concentration of the specific constituent in the solution is found from the measured values.
特定成分に起因して被検溶液の光学特性を変化させる試薬を混入する前後の被検溶液の透過光強度および／または散乱光強度を計測し、これらの計測値から被検溶液中の特定成分の濃度を求める。 - 特許庁
