「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • This method for discriminating the bacteria by their biochemical properties is provided by culturing a specimen to be tested, making a colony growing on a medium in contact with a substrate substance, holding them under an atmosphere of ≥40°C temperature and detecting the signals derived from substances generated from the above substrate substance by the enzymatic activity of the bacteria.
    生化学的性状による細菌の鑑別において、被検試料を培養して培地上に発育した孤立集落を基質物質と接触させ、４０℃以上の雰囲気に保持し、細菌が有する酵素活性により前記基質物質から生成した物質由来のシグナルを検出する。 - 特許庁
  • A testing device 1 in the fault information tracing device 10 is constituted of an execution format program 11, an execution history collection part 12 for forming history information, a trace memory 13 for storing the history information, and a debugging monitor 14 for making the contents stored in the memory 13 dumped to a device to be tested 2.
    本発明に係る障害情報トレーサ装置１００の試験装置１は、実行形式のプログラム１１、履歴情報を編成する実行履歴収集部１２、履歴情報を記憶させるトレースメモリ１３、その記憶内容を被試験装置２にダンプさせるデバッグモニタ１４から構成した。 - 特許庁
  • At the time of an initial operation, one absolute location is selected as an unadjusted steering location from a plurality of absolute locations, the unadjusted steering location is updated according to a sensor output change, a pair of recursion offsets are tested at the update location, the recursion offset outside the range of the absolute locations are eliminated and lastly left recursion offsets are latched.
    初期操作時には、未調整操舵位置として複数の絶対位置から一つを選択し、センサ出力変化に応じて未調整位置を更新し、該更新位置での１組の回帰オフセットをテストし、絶対位置の範囲外のものを除外し、最後に残った回帰オフセットをラッチする。 - 特許庁
  • When the film is loaded by aligning the perforation of the film with the index of the frame 15a, the offset amount of the picture of the film with respect to the window of the stereoscopic slide mount is fixed at the position relatively equal to the offset amount of the picture projected with respect to the focusing screens tested by the testing device.
    べースフレーム５１ａの指標とフィルムのパーフォレーションを位置合わせしてフィルムを装着すれば、ステレオスライドマウントの窓に対するフィルムの画面のオフセット量が、検定装置により検定した焦点板に対する投影画面のオフセット量と相対的に等しい位置に固定される。 - 特許庁
  • In a step of manufacturing the harness module 1, the wire is distributed to the guide body 3 in a state where the guide body 3 is arranged on the assembly stand 201 two-dimensionally, which is electrically connected to a terminal of the connector 7 or the like, and after potting is performed on the electrical connection portion, the harness module 1 is tested.
    ハーネスモジュール１の製造工程では、ガイド体３を組立台２０１上に平面的に配置した状態で、そのガイド体３に電線を配索するとともに、コネクタ７等の端子と電気接続し、その電気接続部にポッティングを行った後、ハーネスモジュール１の検査を行う。 - 特許庁
  • To provide a burn-in test program simulation device, its method, and a storage medium for simulating a burn-in test program for executing a burn-in test on an IC without using any actual device or any IC to be tested so as to shorten the evaluation time.
    本発明の課題は、ＩＣのバーンイン試験を実行するためのバーンイン試験プログラムを実装置及び被試験ＩＣを使用せずにシミュレーションすることで評価時間を短縮するバーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体を提供することである。 - 特許庁
  • The device test equipment 100 includes a stage 40 for mounting the device to be tested 130, a medium supply means 80 which supplies a medium consisting of a liquid or gas on the stage, and a temperature control means 30 which controls the stage temperature below freezing temperature of the medium.
    デバイス試験装置（１００）は、被試験デバイス（１３０）を搭載するためのステージ（４０）と、ステージ上に液体もしくは気体からなら媒介物を供給する媒介物供給手段（８０）と、ステージの温度を媒介物の凍結温度以下に制御する温度制御手段（３０）と、を備える。 - 特許庁
  • A parameter to be loaded by changed by referring to saved nonvolatile items required for registration to exclude the terminal from being registered in a base station and to move the terminal into the test stage of the idle mode, and the performance of the terminal is tested on the test stage of the idle mode.
    登録に必要な既に貯蔵された不揮発性アイテムを参照してローディングされるパラメータを変更して端末機が基地局に登録されることを排除し、アイドルモードのテスト状態へ進入し、前記アイドルモードのテスト段階で前記端末機の性能をテストすることを特徴とする。 - 特許庁
  • This building inspection support device 1 acquires photograph data formed by photographing a test position to be tested in a building via an I/F 9, and then, associates the photograph data with test position data showing the location of the test position to store them in a result data storage area 46 in a storage part 4.
    建物検査支援装置１が、Ｉ／Ｆ９を介して、建物の検査すべき検査箇所を撮像した撮像データを取得すると、その撮像データに、その検査箇所の位置を示す検査位置データを対応つけて、記憶部４の結果データ格納領域４６に記憶する。 - 特許庁
  • To provide a shape sensing lens meter with a means for calculating thickness of tested lens and longitudinal dimension curvature radius added, which enables prescription of more suitable glasses by obtaining more detailed lens data from the index comprising optical information based on refractive index and geometry information (thickness, longitudinal dimension curvature radius) on each measuring point of the lens.
    被検査レンズの厚み、前後面曲率半径を演算する手段を付加することにより、レンズの各測定位置での光学情報（屈折率をもとにした）と形状情報（厚み、前後面曲率半径）を合成した指標からより詳しいレンズの情報を得る。 - 特許庁
  • The test system is configured to execute a test of a device to be tested having an operation part for outputting an operation signal for specifying an operation in response to the operation, and a control part 22 for generating an image signal by changing an image according to an operation signal output by the operation part.
    本発明にかかるテストシステムは、操作に応じて、当該操作を特定する操作信号を出力する操作部と、操作部により出力された操作信号に応じて画像を変化させた画像信号を生成する制御部２２とを有するテスト対象装置のテストを実行する。 - 特許庁
  • Further, it is clarified that ingestion of the composition makes changes in clinical indices caused by the dioxins return to approximately normal numerical values with regard to clinical numerical values capable of analyzing functions of blood, liver, pancreas, kidney, and heart, when rats which are induced to suffer from acute toxication by the dioxins (TCDD) are tested.
    ダイオキシン（ＴＣＤＤ）で急性毒性を誘導したラットの実験においても、血液、肝臓、すい臓、腎臓、及び心臓機能を分析できる臨床数値から前記組成物の摂取がダイオキシンによる臨床指数の変化を正常数値に近くまで戻すことが分かった。 - 特許庁
  • Since vehicle speed and brake power can be tested using same rollers 21, 31 having simple structure for simply turning while mounting the wheels Wff, Wrf, structure of the tester for vehicle speed and brake power is simplified as compared with a conventional one.
    このため、同一ローラ２１，３１で車速試験と制動力試験とを実施することができ、さらにローラ２１，３１は車輪Ｗｆｆ，Ｗｒｆを載せて回転するだけの簡単な構造であるため、車速及び制動力の試験装置の構造が従来よりも簡単になる。 - 特許庁
  • Thereby, during self-refresh, it can be tested whether a self-refresh period is within the standard or not by performing write-in of data for a memory cell on a row address decided by a refresh counter in a state in which write-in of data for the memory cell can be performed by the circuit means.
    これにより、セルフリフレッシュ時に、前記回路手段によって前記メモリセルへのデータ書き込みを可能にさせた状態にてリフレッシュカウンタにより決められるロウアドレス上のメモリセルにデータ書き込みを行なうことにより、セルフリフレッシュ周期が規格内であるかをテスト可能にした。 - 特許庁
  • A virtual CPU 2 (program execution circuit) and a virtual RAM 3 (program storage circuit) are modeled on a computer by a hardware description language; the entire test program is stored in the virtual RAM 3; and a semiconductor integrated circuit modeled by a hardware description language of a test object is tested.
    仮想ＣＰＵ２（プログラム実行回路）と仮想ＲＡＭ３（プログラム格納回路）とをハードウェア記述言語によりコンピュータ上でモデル化し、テストプログラムの全てを仮想ＲＡＭ３に格納し、テスト対象のハードウェア記述言語でモデル化された半導体集積回路をテストする。 - 特許庁
  • The tape library test device transfers a medium sequentially from the top cell to the final cell on the basis of cell information that is predetermined in a tape library device to be tested, and measures a medium conveyance time required for each inter-cell transfer of the medium.
    テープライブラリ試験装置は、試験対象のテープライブラリ装置において予め定義されるセル情報に基づいて、先頭セルから順次媒体を最終セルまで移動させて、各セル間ごとに、媒体を移動させるのに要した時間である媒体搬送時間を計測する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor tester device for testing electronic devices with a fine electrode structure to be tested by keeping a good electric contact, and to provide a contact substrate for testing the semiconductor device, and a test method for the semiconductor device, the semiconductor device, and its manufacturing method.
    微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体試験装置、半導体装置試験用コンタクト基板、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a low-cost semiconductor test system which is application- specific where various types of test devices are made into modules which are coupled in a plurality of numbers while an algorithmic pattern generating(ALPG) module is mounted for generating an algorithmic pattern specific to the memory of a device which is to be tested.
    各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスのメモリに固有のアルゴリズミックパターンを発生するためのアルゴリズミックパターン発生（ＡＬＰＧ）モジュールを搭載し、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁
  • Then, the test conditions specified as conditions necessary for acquiring the test result of the object to be tested in the test program according to the acquired result storage position are extracted, and whether or not the extracted test conditions are matched with test conditions in the test required specifications is determined.
    そして、その取得された結果格納位置に従ってテストプログラムに被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出し、その抽出したテスト条件がテスト要求仕様におけるテスト条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁
  • The method includes steps of: thereafter heating or cooling the probe card to the set temperature; measuring a needle point position of the contact when the probe card is put under the set temperature; determining whether the measured needle point position is within a reference range; and determining a temperature for using the probe card in testing an object to be tested.
    その後プローブカードを設定温度に加熱又は冷却し、プローブカードが設定温度におかれているときの接触子の針先位置を測定し、測定した針先位置が基準範囲内にあるか否かを判定して、プローブカードを被検査体の試験に使用するときの温度を決定する。 - 特許庁
  • This integrated circuit is comprised of a track hold circuit 30 built in a device 20 to be tested, a means 36 for inputting a timing signal to the track hold circuit 30, and a means for outputting a signal from the track hold circuit 30 corresponding to the inputting of the timing signal of the means 36.
    被試験デバイス２０に内蔵されたトラック・ホールド回路３０と、トラック・ホールド回路３０へとタイミング信号を入力する手段３６と、手段３６のタイミング信号の入力に応じてトラック・ホールド回路３０から信号を出力する手段とを含んでなる集積回路を提供する。 - 特許庁
  • To provide: a synchronization system capable of carrying out individualized time synchronization with a tested apparatus (an opposite apparatus) that performs an opposite test and communications to establish a flexible opposite environment, and capable of reducing a development work quantity of a pseudo switching equipment (the communications apparatus); a synchronization method; a synchronization program; and a communications apparatus.
    対向試験や通信を行う被試験装置（対向装置）と個別の時刻同期を行い柔軟な対向環境を構築することができ、擬似交換機（当該通信装置）の開発作業量を削減することができる同期システム、同期方法、同期プログラム及び通信装置を提供する。 - 特許庁
  • Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.
    これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁
  • This method for screening the insulin resistance improving agent is characterized by selecting a KKLF gene expression inhibitory substance, KKLF (kidney enriched kruppel-like factor) expression inhibitory substance or KKLF function inhibitory substance as a candidate substance based on the KKLF gene or KKLF expression inhibitory activities, or KKLF function inhibitory activities of tested substances.
    被験物質の、KKLF遺伝子もしくはKKLFの発現抑制活性、又はKKLF機能抑制活性に基づき、KKLF遺伝子発現抑制物質、KKLF発現抑制物質又はKKLF機能抑制物質を候補物質として選択することを特徴とする、インスリン抵抗性改善剤のスクリーニング方法。 - 特許庁
  • A pulse current amplitude value applied to the write element of a magnetic head to be tested is set to a saturation state current value with which a magnetic field having sufficient magnitude to reverse all magnetic moment included in one bit area can be generated, test data is written, and asymmetry A_asym is measured.
    被試験磁気ヘッドのライト素子に印加するパルス電流振幅値を１ビット領域に含まれる磁気モーメントをすべて反転させるのに十分な大きさの磁界を発生させることが可能な飽和状態電流値に設定してテストデータを書き込み、非対称性Ａ_asymを計測する。 - 特許庁
  • This event type test system has a plurality of pin units assigned to a device pin to be tested, a test finishing signal generator for generating a signal for indicating finishing of the test for a corresponding pin unit independently of the other pin unit, and a system controller for controlling an entire operation of the event type test system.
    イベント型テストシステムは、被試験デバイスピンに割り当てられる複数のピンユニットと、対応するピンユニットについてのテストの終了を示す信号を他のピンユニットと独立して発生するテスト終了信号発生器と、イベント型テストシステムの全体的動作を制御するシステムコントローラとを有する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device, which can be tested for confirming the function of each semiconductor chip element and for confirming only the connecting state of a first semiconductor chip and a second semiconductor chip etc., even after the first semiconductor chip and the second semiconductor chip are jointed.
    第１の半導体チップと第２の半導体チップとを接合した後であっても、各半導体チップ単体での機能を確認するためのテストや第１の半導体チップと第２の半導体チップとの接続状態のみを確認するためのテストなどを行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • A crystal resonator is assembled (step 1), characteristic including a frequency temperature characteristic is subsequently tested (step 2), the frequency temperature characteristic of the crystal resonator is made a data code, marking is made at a prescribed position (step 3), and the crystal resonator is temporarily placed at the pocket of a guide plate (step 4).
    水晶振動子の組み立て後（ステップ１）、周波数温度特性を含む特性の検査を行い（ステップ２）、水晶振動子の周波数温度特性をデータコード化して、所定の位置にマーキングし（ステップ３）、ガイド板のポケットに水晶振動子を仮置きする（ステップ４）。 - 特許庁
  • The such-converted data signal and clock are performed data process by a main circuit 4, whereby when operations of the main circuit 4 are tested by a tester, a various-purpose logic tester operating in synchronism with the clock of a frequency f/N is directly connected to the main circuit 4, thereby inspecting it.
    このように変換されたデータ信号とクロックを主回路４でデータ処理を行うようにすることで、該主回路４の動作をテスタで検査するとき、周波数ｆ／Ｎのクロックに同期して動作する汎用のロジックテスタを主回路４に直接接続して検査することができる。 - 特許庁
  • The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.
    テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第１の端部を有し、試験される装置の少なくとも１つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device and a testing method thereof wherein complexity in configuration for testing can be reduced, in a circuit to be tested corresponding to a signal terminal in which inter-chip wiring is formed, and a test equivalent to the case of testing a single semiconductor chip can be performed.
    チップ間配線がなされた信号端子に対応するテスト対象回路について、テストを行うための構成が複雑化することを抑制しつつ、半導体チップ単体の場合と同等のテストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • A test container is fitted onto a section to be tested on the lining in the water, an ejector is actuated by a negative pressure generating unit to drain the water in the test container and keep the negative pressure condition in the test container, and a foaming liquid injection unit is actuated to squirt a foaming liquid at the lining face of the test container.
    水中ライニングの検査対象部分に検査容器を装着し、負圧発生ユニットによりエゼクタを作動させ、検査容器内の水を排出し、検査容器内を負圧状態に保ち、発泡液注入ユニットを作動し、検査容器内のライニング面に発泡液を噴射する。 - 特許庁
  • To provide a method for decreasing eluviation of heavy metals, especially lead, As and Cd in solid waste substance contaminated by heavy metals and can be classified as nonhazardous substances in the case where tested in a natural or simulated water eluviating condition.
    自然の又は模擬水溶脱条件下で試験した場合に廃棄物が重金属を溶脱せず、非有害物として分類され得るように、重金属で汚染された固体廃棄物における重金属、特に鉛、ＡｓおよびＣｄの溶脱を減少させる方法を提供すること。 - 特許庁
  • This method for detecting a material expressing an ecdysteroid activity is to measure expression of a reporter gene by bringing a compound to be tested to coexist with culture cells derived from lepidopterans containing a reporter plasmid DNA having >3 copies of ecdysteroid-responsive arrangements, a promoter and a firefly luciferase gene.
    ３コピー以上のエクジステロイド応答配列、プロモーターおよびホタルルシフェラーゼ遺伝子を有するレポータープラスミドDNAを含有する鱗翅目昆虫由来継代培養細胞に被検化合物を共存させ、レポーター遺伝子の発現を測定することによりエクジステロイド活性物質を検出する方法を開示する。 - 特許庁
  • In the test method of the semiconductor wafer, when the wafer is tested, a semiconductor device in which overcurrent flows is detected among a plurality of semiconductor devices formed on the semiconductor wafer, and then power supply to the semiconductor device in which the overcurrent flows is shielded automatically.
    ここに開示された半導体ウェーハ及びそれのテスト方法は、テスト時、半導体ウェーハ上に形成された複数個の半導体装置のうち過電流が流れる半導体装置を検出し、 過電流が流れる半導体装置の電源供給を自動的に遮断する。 - 特許庁
  • Concretely, the validity of a material to be tested as the treating agent of the bone or cartilage diseases is evaluated based on the effects on the expressed amount or activity of at least ≥1 glutamic acid transmission signal molecule selected from a glutamic acid transporter, glutamic acid receptor and serine transporter, or serine racemase.
    具体的には、グルタミン酸トランスポーター、グルタミン酸レセプター、セリントランスポーターから選ばれる少なくとも１つ以上のグルタミン酸伝達系シグナル分子、あるいはセリンラセマーゼの発現量又は活性に対する作用に基づいて、被験物質の骨・軟骨疾患治療薬としての有効性を評価する。 - 特許庁
  • To enable sure application of test signals from desired signal levels, even when applying test signals with low amplitude to an object to be tested, by especially applying a test device of integrated circuits formed on a semiconductor wafer, with respect to the test device.
    本発明は、試験装置に関し、特に半導体ウエハ上に形成された集積回路の試験装置に適用して、小さな振幅により試験信号を試験対象に印加する場合でも、確実に所望する信号レベルにより試験信号を印加することができるようにする。 - 特許庁
  • Values of ≧1.5 - <2.3 for erythema/eschar or for edema in at least 2 of 3 tested animals from grading at 24, 48 and 72 hours after patch removal or, if reactions are delayed, from grading on 3 consecutive days after the onset of skin responses (when not included in the irritant category above).
    試験動物3匹のうち少なくとも2匹で、パッチ除去後24、48および72時間における評価で、または反応が遅発性の場合には皮膚反応発生後3日間連続しての評価結果で、紅斑／痂皮または浮腫のスコア値が≧1.5-＜2.3である（上述の刺激性区分には分類されない場合） - 経済産業省
  • We employed five indices in our analysis: the entry rate; the exit rate; the Tokyo Stock Price Index (TOPIX); the lending rate 21); and the index of wages. We statistically tested causal connections (Granger causality test) between indices by applying the vector auto regression (VAR) model to long-term chronological data for each index.
    分析対象として、「開業率」、「廃業率」、「東証株価指数」、「貸出金利」、「賃金指数」という5種類の指標を採用し、各々の長期時系列データを用いてVARモデルを適用することで、各指標間の因果関係を統計的に検証した（Grangerの因果性テスト）。 - 経済産業省
  • Furthermore, it is necessary to provide information about hepatitis to examinees to ensure that all those tested understand their hepatitis test results, and all health care workers involved in hepatitis treatment should be provided with the opportunity to receive training to ensure they have up-to-date knowledge regarding hepatitis testing.
    さらに、肝炎ウイルス検査の結果について、受検者各自が正しく認識できるよう、肝炎の病態等に係る情報提供を行うとともに、肝炎医療に携わる者に対し、最新の肝炎ウイルス検査に関する知見の修得のための研修の機会を確保する必要がある。 - 厚生労働省
  • It was created by artificially hybridizing 'Yamada Ear' and 'Dwarf Watashibune' at Hyogo Prefectural Agricultural Experiment Station (now Hyogo Prefectural Agriculture, Forestry and Fishery Technology General Center) in Yashiro Town, Kato County, Hyogo Prefecture (present-day Kato City) in 1923, and its adaptability to the production areas was tested in sake rice production regions (presently, sake rice testing areas) in 1928.
    1923年に兵庫県加東郡社町（現：加東市）の兵庫県立農事試験場（現：兵庫県立農林水産技術総合センター）で「山田穂」「矮性渡船」を人工交配させて誕生し、1928年に酒造米生産地（現酒米試験地）で産地適応性の試験が行われた。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • A start test program selection means 21 started from an input device 1 decides a test program able to be tested from information stored in a device mount information storage section 31, obtains scheduling information from a start information storage section 32 for parallel execution to generate start information.
    起動試験プログラム選択手段２１は、入力装置１から起動を受けると、装置実装情報記憶部３１の情報から起動可能な試験プログラムを決定し、起動情報記憶部３２から並列実行するためのスケジューリング情報を得て、起動情報を作成する。 - 特許庁
  • A pulse current amplitude value applied to the write element of a magnetic head to be tested is set to an un-saturation state current value with which a magnetic field having magnitude in which magnetic moment included in one bit region does not become a saturation state is generated, test data is written, and asymmetry A_asym is measured.
    被試験磁気ヘッドのライト素子に印加するパルス電流振幅値を１ビット領域に含まれる磁気モーメントが飽和状態とならない大きさの磁界を発生させる未飽和状態電流値に設定してテストデータを書き込み、非対称性Ｂ_asymを計測する。 - 特許庁
  • Then, the surface of the object to be tested 2 and the ultrasonic probe 1 are adhered tightly via a third metal (silver sheet 3c), which is a different material from the first and second metals which form films thereon, and a predetermined temperature and load are applied to this adhered portion for a certain period of time, and then the load is removed.
    その上で、被検査体２の面及び超音波探触子１に成膜した第１及び第２の金属とは異なる材質の第３の金属（銀シート３ｃ）を介して密着させ、この密着部に所定の温度及び荷重を一定時間印加した後、荷重を開放する。 - 特許庁
  • A control signal outputted to command a test from communication equipment arranged at the receiving point side of the communication path to be tested is received and decoded by an installation type testing device, and a control instruction corresponding to the control signal is transmitted to a communication controller arranged at a transmitting side.
    被試験通信路の受信ポイント側に配置された通信機から試験を指令するために発出された制御信号は、設置型試験装置により受信解読され、その制御信号に対応する制御命令が送信側に配置された通信制御装置に伝達される。 - 特許庁
  • To provide a facsimile test system capable of improving examination efficiency, and reducing examination cost, by automatically performing an operational direction, a measurement and the like to a facsimile device, without needing manual operation at the side of a facsimile device to be tested and also a special device for examination.
    被試験装置であるファクシミリ装置側で人の操作が不要で、且つ試験用の特別な装置を必要とせず、ファクシミリ装置に対する動作指示、測定等を自動的に行い、試験効率の向上と試験コストの低減を図るファクシミリ試験システムを提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method for evaluating steering stability which enables the precise evaluation of the steering stability of a tire mounted to a vehicle by fluctuating the friction of a damper of the vehicle to which the tire to be tested is mounted, in a tire steering stability test.
    タイヤの操縦安定性能試験において、被検体のタイヤを装着した車両のダンパーのフリクションを変化させて車両に装着されたタイヤの操縦安定性能の評価を精度良く行うことを可能にする操縦安定性能評価方法を提供する。 - 特許庁
  • In the phase noise-measuring apparatus that has a PLL circuit and an analysis section for measuring the phase noise of a device to be tested by a PLL detection method, the noise difference of the phase noise by a voltage- controlled oscillator in the PLL circuit is stored at the analysis section in advance to correct a phase noise measurement value.
    ＰＬＬ回路と解析部とを備えて、ＰＬＬ検波法により被試験デバイスの位相雑音を測定する位相雑音測定装置において、前記ＰＬＬ回路の電圧制御発振器による位相雑音の誤差分を解析部に予め記憶して、位相雑音測定値を補正する。 - 特許庁
  • Since the test circuit is provided on the other test wafer 210 separated from the test object wafer 10 on 1 to 1 of the test object chip CP, a number of the chips CP can be simultaneously tested in parallel during the wafer test without increasing the area of the test object chip CP.
    試験回路を、試験対象チップＣＰと１対１に、試験対象ウェハ１０とは別のテストウェハ２１０上に備えるので、試験対象チップＣＰの面積を増加させることなく、ウェハテスト時において、同時に多数個のチップＣＰを並列にテストすることができる。 - 特許庁
  • Scores to which peak intensity is added are determined by searching for paths on the basis of a peak list in which the mass and intensity of peaks derived from peptides to be tested are collected to specify each amino acid as selecting paths having large scores and tracing them backward and determine amino acid sequences.
    そして、被検ペプチドに由来するピークの質量と強度とを集めたピークリストに基づいて経路探索を実行することでピーク強度を加算したスコアを求め、スコアの大きなものを選択して経路を逆に辿りながら各アミノ酸を特定し、アミノ酸配列を求める。 - 特許庁
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