「Tested」を含む例文一覧(2940)

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  • To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested.
    被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁
  • In the testing support device 1, normality determination is made by comparing an output signal obtained from the employment transmission processing apparatus 9 with the output signal of the tested transmission processing apparatus 8.
    試験支援装置１においては、運用通信処理装置９から得た出力信号と、試験対象通信処理装置８の出力信号とを比較することにより、正常性判断を行う。 - 特許庁
  • Next, a predetermined value is set for the argument, and a test pattern including the test program and the argument set with the predetermined value is created and supplied to the semiconductor circuit to be tested.
    次に、前記引数に所定の値を設定して、前記テストプログラムおよび前記所定の値が設定された引数を含むテストパタンを生成し、前記テスト対象の半導体回路に供給する。 - 特許庁
  • To provide a burn-in method for an integrated semiconductor laser device that can constantly hold temperatures of a plurality of semiconductor laser elements when they are to be tested respectively and can shorten a testing time.
    複数の半導体レーザ素子のそれぞれの試験時の温度を均一に保持し且つ試験時間を短くすることができる集積型半導体レーザ装置のバーンイン方法を提供すること。 - 特許庁
  • Elizabeth created file systems containing a large variety of unusual conditions (and some not so unusual ones) and tested each program by doing a backup and restore of those file systems.
    Elizabeth は多種多様の特異な状態(いくつかはあまり珍しくないものもあります) を含むファイルシステムを作成し、それらのファイルシステムのバックアップとリストアを行って、それぞれのプログラムのテストを行いました。 - FreeBSD
  • When you've tested all your modifications to ensure that they work properly and you're ready to apply your changes to the repository, follow this two-step process.
    自分で加えた全ての変更をテストし、全てがきちんと動作することを確認したら、その変更をリポジトリに反映する準備が整ったことになります。 次のふたつのステップを実行してください。 - Gentoo Linux
  • The method for measuring immunity of an influenza virus antigen using an anti-influenza virus antibody serves a sample to be tested having a specimen processed by neuraminidase for an antigen antibody reaction with the antibody.
    抗インフルエンザウイルス抗体を用いるインフルエンザウイルス抗原の免疫測定法において、ノイラミニダーゼで処理した検体を含有する被験試料を前記抗体との抗体抗原反応に供する。 - 特許庁
  • When they were introduced in 1965 to the Keihin-Tohoku Line, where distances between stations is longer than two kilometers, their suitability as commuting cars was tested by adjusting the gear ratio for a little bit more high-speed or by using MT54.
    ただ、昭和40年度から2キロ台の駅間距離のある京浜東北線での運用開始に際し、103系のギア比を少し高速よりにセッティングする事や、MT54による通勤電車の可能性を模索した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • To provide an economical pinhole inspecting device of a voltage application type for inspecting the presence of a sealed-packing container of an item to be tested of a fluid content containing gas for a pinhole, a seal defect and the like.
    気体を含有する流動性内容物の被検体の密封包装容器のピンホールの有無、シール不良など欠陥を検査する電圧印加方式の経済的なピンホール検査の提供。 - 特許庁
  • When a special packet monitor section 117 of the network terminal 102 at the side to be tested detects the special packet, a special packet decision section 118 instructs a return packet generating section 119 to generate a return packet.
    被試験側ネットワーク端末１０２では、特殊パケット監視部１１７が特殊パケットを検知したならば、特殊パケット判断部１１８が返信パケット生成部１１９に返信パケットの生成を指示する。 - 特許庁
  • On the test base, the tested paper is placed, while a transparent adhesive tape T is set on the cylindrical face of the roller, and when the roller is rolled on the test base, the paper powder is collected onto the adhesive face of the transparent adhesive tape.
    試験台上に被試験紙、ローラ円筒面上に透明粘着テープＴをセットし、試験台上でローラを転がすことにより、透明粘着テープの粘着面に紙粉を採取する。 - 特許庁
  • to provide, with respect to any goods which purport or are alleged to be of uniform number, quantity, measure, gauge or weight, for the number of samples to be selected and tested and for the selection of the samples;
    均等な数，量，寸法，容量又は重量を有するとされ若しくは主張される商品に関して，選択され，かつ，検査されるべき見本の数及び見本の選択を規定すること - 特許庁
  • The complex product is then transferred from one of the assembly cells to a computerized test cell 22, where the complex product is tested to ensure for the proper dimensioning and functioning of the complex product.
    複合製品は次いで、組立セルのうちの１つから、コンピュータ化された試験セル２２へと移送され、そこで複合製品は、複合製品の正しい寸法および機能を保証するために試験される。 - 特許庁
  • Coating, exposing, and developing conditions are varied and the treatment result under changed treatment conditions is tested with a line- width measuring apparatus, and a depending relation of the coating, exposing, and development is sought and the result is kept.
    塗布・露光・現像条件を振り、それぞれの処理条件が変化した際の処理結果を線幅測定器により検定し、塗布・露光・現像処理の依存関係を求め、その結果を保持する。 - 特許庁
  • A hydraulic shovel 30 of the same model as the hydraulic shovel 20 is tested in-place to detect operation pattern of the hydraulic shovel 30 and stress σ_2 of each part of front with a stroke sensor 31 and a pressure sensor 32.
    油圧ショベル２０と同機種の油圧ショベル３０を現場試験してストロークセンサ３１と圧力センサ３２により油圧ショベル３０の動作パターンとそのときのフロント各部の応力σ2を検出する。 - 特許庁
  • To easily and accurately rotate a rotor (body to be tested) and to increase operation efficiency regarding unbalance adjustment when an unbalanced position of the rotor is matched with a specific position.
    本発明の課題は、ロータ（被試験体）の不つりあい位置を所定位置に適合させる際に、容易、かつ、正確にロータを回転させ、不つりあいの調整に係る作業効率を高めることである。 - 特許庁
  • (2) The skills necessary to pass the trade skill tests set forth in the preceding paragraph (hereinafter referred to as "trade skill tests" in this Chapter) and the levels of knowledge thereon shall be specified by an Ordinance of the Ministry of Health, Labour and Welfare for each of the job categories to be tested.
    ２　前項の技能検定（以下この章において「技能検定」という。）の合格に必要な技能及びこれに関する知識の程度は、検定職種ごとに、厚生労働省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (7) The items to be tested and any other technical matters necessary for making a determination under paragraphs (1) and (2) of this Article shall be specified by an Ordinance of the Ministry of Health, Labour and Welfare, Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, and Ordinance of the Ministry of the Environment.
    ７　第一項及び第二項の判定を行うために必要な試験の項目その他の技術的な事項は、厚生労働省令、経済産業省令、環境省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • The dynamometer 11 and a computer 13 for controlling the dynamometer control the load applied on the vehicle 12 to be tested, while providing the electric inertial load thereto which is set for each of an acceleration step, a constant traveling step, and a deceleration step.
    ダイナモメータ１１とダイナモメータ制御用コンピュータ１３は加速ステップ、定常走行ステップ、減速ステップ毎に設定した電気慣性負荷を与えながら供試車両１２に与える負荷を制御する。 - 特許庁
  • The switching circuit 4 is electrically connected to the TBIB 1 on which the IC 1A to be tested is mounted, and a first test signal of the IC test circuit 2 and a second test signal of the burn-in board checker 3 are switched.
    切換回路４は、被試験ＩＣ１Ａが実装されたＴＢＩＢ１と電気接続し、ＩＣ試験回路２の第１の試験信号とバーンインボードチェッカ３の第２の試験信号を切り換える。 - 特許庁
  • To provide an optical fiber fusion part-measuring system that can surely test the fusion part of an optical fiber to be tested and can surely report the test result to a fusion connection work site.
    被試験光ファイバの融着部の試験を確実に行うことができ、その試験結果を融着接続作業現場へ確実に通知することができる光ファイバ融着部測定システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide an image quality evaluation device that applies a disturbance to a device to be tested to evaluate the image quality and develops an objective discrimination method where missing of evaluation confirmation among consecutive disturbing frequencies hardly takes place.
    妨害を供試機器に加えて画質評価を行う装置において、連続した妨害周波数間の評価確認漏れが発生しにくい客観的な判定手法の開発を目的とする。 - 特許庁
  • When the communicating operation is tested, a reflection body 30 is placed in front of the VICS light beacon and transmit light is reflected and made incident on the receiving means 15 and 14, so that the communicating operation can be confirmed.
    通信動作テスト時に、このＶＩＣＳ光ビーコンの前に反射体30を置いて、送信光を反射させて受信手段に入射することにより、通信動作を確認することができる。 - 特許庁
  • To provide a method of determining, using a reference sequence extracting filter, whether or not there is insertion or deletion of bases in a DNA sequence to be tested or determining the number of bases inserted or deleted.
    基準配列抽出フィルターを用いて、被験DNA配列における塩基の挿入もしくは欠失の有無、または挿入もしくは欠失された塩基数を判定する方法の提供を課題とする。 - 特許庁
  • To detect the temporal change of a phase difference and to highly accurately provide the phase difference of a reference light and a light to be tested, in a method and a device for measuring interference to which a fringe scanning interference method is applied.
    フリンジスキャン干渉法が適用された干渉計測方法及び干渉計測装置において、位相差の時間変化を検知し、参照光と被検光との位相差を高い精度で求める。 - 特許庁
  • The corrosion resistance of anti-corrosion coating is tested by bringing a copper-based member into contact with a corrosive liquid containing a corrosive component and an anti-corrosion agent for copper, and generating corrosion in the anti-corrosion coating of the copper-based member.
    腐食性成分と腐食性成分とを含む腐食液に銅系部材を接触させ、銅系部材の防食皮膜に孔食を生じさせて防食皮膜の耐孔食性を試験する。 - 特許庁
  • To provide a sampling method for current value of power source of an integrated circuit and the device thereof capable of obtaining all information on current of power source when a test pattern is applied to a tested device.
    被試験デバイスにテストパタンを印加したときに流れる電源電流の全ての情報を余すことなく取得する集積回路の電源電流値のサンプリング装置及び方法の提供。 - 特許庁
  • To provide an alcohol testing device capable of surely preventing spoofing without the witness of a roll caller when breath alcohol of a crew is tested, and rationalizing roll call operation.
    乗務員の呼気中アルコール検査時に、点呼者の立ち会いを必要としないで確実になりすましを防止することができ、かつ、点呼業務の合理化を図ることができるアルコール検査装置を提供する。 - 特許庁
  • In the case of testing the breakdown voltage, the one of the units 17, which has the outside diameter size meeting to the inside diameter size of an ambient temperature contraction tube 5a to be tested is selected from the plurality of the units 17.
    耐圧試験を行なう際には、上記複数の電極ユニット１７の中から、試験対象となる常温収縮チューブ５ａの内径寸法に見合った外径寸法を有するものを選択する。 - 特許庁
  • While an application program 3 to be tested is automatically operated by an automatic operation program 4, a screen capture program 5 monitors whether an operation window of the application program 3 is updated in parallel therewith.
    自動操作プログラム４により試験対象のアプリケーションプログラム３を自動操作しながら、これと並行して該アプリケーションプログラム３の操作画面の更新の有無をスクリーンキャプチャプログラム５により監視する。 - 特許庁
  • Yarns may be tested by the customs-collector for length and count when he has reason to suspect or on information by any informant that the trade description is false.
    関税徴収官が疑うべき理由を有するとき，又は取引表示が虚偽である旨の通報人の情報があったときは，関税徴収官は，糸について長さ及び番手を検査することができる。 - 特許庁
  • The balancing machine 10 is provided with a removably belt-attaching mechanism 5 for laying detachably the belt 3 onto the body W to be tested by moving vertically a belt locking member 51 for locking the belt 3.
    この横型釣合い試験機１０に、ベルト３を係止するベルト係止部材５１を、上下に移動させることにより、ベルト３を被試験体Ｗに着脱するベルト着脱機構５を備えた。 - 特許庁
  • In a first inspection unit 3, a light diffusing plate 4, arranged below a transparent conveyor belt 2 and a first lighting apparatus 5 radiating light beams from the upper side are arranged, and the tested object is illuminated from both of the upper and lower sides.
    第１検査部３において透明なコンベアベルト２の下側に光拡散板４を置き上方から光を照射する第１照明器５を配置し、上下から被検査物を照明する。 - 特許庁
  • The probe includes a mechanical fixture for placement at a location to be tested, and one or more magnetic field generators, which are attached to the mechanical fixture and are arranged to generate respective magnetic fields.
    プローブは、検査されるべき場所に置くための機械固定具と、その機械固定具に取り付けられ、かつそれぞれの磁界を生成するように構成された、１つ以上の磁界生成器と、を含む。 - 特許庁
  • A control circuit 17 imposes negative feedback to the main amplifier 11 via the diode D_2 and the negative-feedback resistance R_fb when the current I_d flowing in the tested device 1 exceeds a current limit value I_2 (I_2>I_1).
    制御回路１７は、被測定デバイス１に流れる電流Ｉ_d が電流制限値Ｉ_2 （Ｉ_2 ＞Ｉ_1 ）より大きい場合、ダイオードＤ_2 及び負帰還抵抗Ｒ_fb を介してメインアンプ１１へ負帰還をかける。 - 特許庁
  • A gas inflow limiting hole 23 is formed in a hermetically sealed container capable of storing a detection material therein and a gas inflow limiting film 24 allowing a tested gas to permeate therethrough is disposed so as to cover the limiting hole 23.
    検知材が収容可能な密封容器に、ガス流入制限孔２３を形成し、ガス流入制限孔２３を覆うように被検ガスの透過が可能なガス流入制限膜２４を配置する。 - 特許庁
  • To enhance a thin-film transistor array substrate in test efficiency by a method wherein test patterns are checked to screen out defective chips before a drive circuit and pixel transistors are tested through a pulse response method.
    パルス応答法を用いて駆動回路及び画素トランジスタの検査を行う前に、テストパターンの検査を行って不良品チップのスクリーニングを行い、検査効率を向上することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide an apparatus that can estimate an energy consumption quantity based on the motion energy reflecting a tested person's weight or his individual regions' complicated motion that follows an optional and positional physical motion.
    任意の定置的な身体運動にともなうエネルギー消費量を、被験者の体重や身体各部位の複雑な運動を反映した運動エネルギーに基づいて推定できる装置を提供する。 - 特許庁
  • An optical characteristic measuring apparatus corrects a measurement value according to a change in an exit pupil distance by defocusing and, when an optical system to be tested has anamorphic characteristics, corrects the measurement value in mutually different orthogonal directions.
    デフォーカスによる射出瞳距離変化に応じて測定値を補正し、被検光学系がアナモフィックな特性を有している場合は、互いに異なる直交方向で測定値を補正する。 - 特許庁
  • When or after a stress current is applied, a resistance between the heat dissipating/resistance measuring pads 3, 4, 5, 8, 9, and 10 is measured, whereby a resistance change in the tested wiring layer can be partially investigated.
    ストレス電流印加中もしくは印加後に各放熱兼抵抗測定用パッド間の抵抗値を測定することにより、被試験配線層の抵抗変動を部分的に調査することが可能となる。 - 特許庁
  • In the refrigerator before its shipment, since water is hardly supplied to an icemaking tray, the step of rotating the tray without load is omitted, and the refrigerator is tested from next step.
    出荷前の冷蔵庫は製氷皿に水が供給されていることはほとんどないため、製氷皿を空にする空回転工程を省略し、次の工程からテストを行うように構成した。 - 特許庁
  • Also, a four-terminal coupler 8, by which at least the part of reflected light from a part to be tested is separated from the optical path of light from the light source of the optical unit 3 is arranged at the inside of the imaging device 4.
    また、被検部からの反射光の少なくとも一部を光学ユニット３の光源からの光の光路から分離する４端子カプラ８を、画像化装置４の内部に配置している。 - 特許庁
  • To quickly discover the failure of peripheral equipment, and to improve the workability of system maintenance by executing a test program so that each peripheral equipment is tested successively from a site where failure rate is higher.
    各周辺装置について故障率の高い部位から順に試験するように試験プログラムを実行することにより、周辺装置の故障を迅速に発見しシステム保守の作業性を向上させる。 - 特許庁
  • The pattern includes an effective line to space ratio and can be tested, by using a microscope or a stepper system, or can be measured directly using a detector for the zeroth-order diffraction measurement.
    このパターンは、効果的なライン対スペース比を含み、顕微鏡またはステッパ・システムを使用して試験することができ、または０次回折測定用の検出器を使用して直接測定することができる。 - 特許庁
  • The test circuit 100 is provided with a first clock generator 101, a second clock generator 102, the circuit 103 to be tested, a built-in self test circuit 104 for performing the test, and a tester synchronization circuit 105.
    テスト回路１００は、第１のクロックジェネレータ１０１と、第２のクロックジェネレータ１０２、テスト対象回路１０３と、テストを行う組み込み自己テスト回路１０４と、テスタ同期回路１０５を備える。 - 特許庁
  • A logic card 11 undergoing live wire insertion is tested before being incorporated in a common bus 7, and only when it is confirmed as normal, control for incorporating an inserted logic card in a bus is performed.
    活線挿入された論理カード１１に対し、共通バス７に組み込む前に試験を行い、正常であることが確認された場合にのみ挿入した論理カードをバスに組み込む制御を行なう。 - 特許庁
  • A probe card needle is simultaneously brought into contact with a testing bonding pad of the plurality of semiconductor chip regions adjacent to each other, and normalities or abnormalities of the plurality of semiconductor chip region are simultaneously tested.
    互いに隣接する複数の半導体チップ領域の試験用ボンディングパッドにプローブカード針を同時に接触させて、複数の半導体チップ領域の正常又は異常を同時に試験する。 - 特許庁
  • Also, the test circuit 20 includes a plurality of vias and contacts to be tested denoted by a symbol 3 and a plurality of wiring patterns, denoted by a symbol 5, formed by sequentially electrically connecting the vias and the contacts in series.
    又該テスト回路２０は、テスト対象になる符号３の複数のビアやコンタクトを含み、又これらを電気的に直列に順次接続した符号５で示す複数の配線パターンを含む。 - 特許庁
  • Next, the window 42 of the search area 40 selected based on the step size is tested by high speed search by calculating correlation between the template and the selected window and guiding a correlation coefficient.
    次に、テンプレートと選択されたウィンドウとを相関計算し相関係数を導出することで、段階サイズに基づいて選択された探索領域（４０）のウィンドウ（４２）が高速探索でテストされる。 - 特許庁
  • A test device 1 of a semiconductor integrated circuit comprises the input/output circuit 2, the tested circuit 3 formed of a SRAM, a logic circuit 4, a test circuit 5, a multiplexer MUX1, and a multiplexer MUX2.
    半導体集積回路の試験装置１には、入出力回路２、ＳＲＡＭからなる被試験回路３、論理回路４、試験回路５、マルチプレクサＭＵＸ１、及びマルチプレクサＭＵＸ２が設けられている。 - 特許庁
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