「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 34 35 36 37 38 39 40 41 42 .... 58 59 次へ＞- Thus, a time interval from reading of data from the memory cell to be tested to a bit line to the start of amplifying operation by a corresponding amplifier is made to be constant without depending on the position of the memory cell.
これにより、試験するメモリセルからビット線にデータが読み出されてから、対応するセンスアンプが増幅動作を開始するまでの時間間隔をメモリセルの位置に依存せず一定になる。 - 特許庁 - To provide a shape measuring device capable of improving measurement speed when measurement is performed by moving a detection part relative to a tested object and stopping the detection part at each measurement position.
検出部を被検物に対して移動させて測定位置毎に停止させて測定する場合の測定速度を向上させることができる形状測定装置を提供する。 - 特許庁 - At the conduction test, every time when the harness elementary wire is connected during a manufacturing process of the wire harness to be tested, an acceptance judgment of the wiring network is performed until final stage.
上記導通検査では、検査対象となるワイヤーハーネスの製造過程で上記ハーネス要素電線が接続される度に当該回路網の良否判別を最終段階まで行う。 - 特許庁 - A photosensitive material provided with a specific accumulation property to a neo vascular is administered to a person to be tested, the fluorescent images of the eyeground are observed and a part including the neo vascular is specified.
新生血管に対して特異的集積性を有する光感受性物質が被検者に投与され、眼底の蛍光像が観察され、新生血管を含む部位が特定される。 - 特許庁 - The telephone number of a portable telephone 1 connected with base station radio 4 to be tested is dialed from a fixed telephone set 9, and a paging signal is transmitted from the base station radio 4 by radio.
試験したい基地局無線装置４と接続する携帯電話１の電話番号を固定電話機９からダイヤルし、基地局無線装置４からページング信号を電波にて送信する。 - 特許庁 - To provide a test circuit and method in which an A/D converter mounted on a small-sized integrated circuit, which has neither a D/A converter nor a bulk memory, can be tested with small numbers of pins.
少ないピン数で、Ｄ／Ａ変換器及び大容量メモリを有しない小型集積回路上に実装されたＡ／Ｄ変換器のテストが可能なテスト回路及び方法を提供する。 - 特許庁 - In one embodiment, the overspeed protection systems can automatically be tested during the power plant machines (105, 145) are decelerated in speed from a no-load rated speed (FSNL).
本発明の一実施形態では、パワープラント機械（１０５、１４５）が無負荷定格速度（ＦＳＮＬ）から減速している間に過速度保護システムを自動的に試験することができる。 - 特許庁 - This embodiment have a technical effect that overspeed protection systems of power plant machines (105, 145) which have at least one shaft (137) is automatically tested (200).
本発明の実施形態は、少なくとも１つのシャフト（１３７）を備えるパワープラント機械（１０５、１４５）の過速度保護システムを自動的に試験する（２００）という技術的な効果を有する。 - 特許庁 - To mechanically and surely verify by simulation which verification item is actually tested.
本発明は、システムＬＳＩ検証装置において、シミュレーションによってどの検証項目が実際にテストされたかを機械的に、かつ、確実に確認できるようにすることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁 - With this configuration, the break of the torsion bars is tested with the test circuit by using the first and the second drawing out wirings formed for drawing out the coil.
かかる構成によれば、コイルの引き出しのために形成される第１および第２の引き出し配線を利用して、上記検査回路によりトーションバーの破断を検査することができる。 - 特許庁 - To provide an IC tester (semiconductor device-testing apparatus) which can restrict ringing generated when a response waveform from a DUT (semiconductor device to be tested) is multiple reflected in a transmission line between the DUT and a pin electronics.
ＤＵＴからの応答波形がＤＵＴとピンエレクトロニクス間の伝送路で多重反射して発生するリンギングを抑制することができるＩＣテスタを提供することにある。 - 特許庁 - To easily hold competition between application of communication route information of a device to be tested and input of a control command of a communicated party in test control of communication equipment.
通信装置の試験制御において、被試験装置の通信経路情報の印加と通信先の制御コマンドの入力との競合を容易に発生させることができるようにする。 - 特許庁 - This system also emits an excitation light L2 with a wavelength of 410 nm thereto, and captures the image of the autofluorescence emitted from the part 1 to be tested with a CCD image pickup device 107 to acquire the autofluorescence information.
また波長４１０ｎｍの励起光Ｌ２を照射し、被検部１から発せられる自家蛍光をＣＣＤ撮像素子１０７で撮像して自家蛍光情報を取得する。 - 特許庁 - A control section 15 causes the pin numbers of tested pins to be stored in another memory 41a of the computer by correlating the storing order of the numbers with the stored order of the measured results stored in the memory 40a.
また、制御部１５は、試験が行われたピンのピン番号をコンピュータのメモリ４１ａ内に、メモリ４０ａに記憶されている測定結果と順序を対応付けて記憶させる。 - 特許庁 - To provide an anisotropic conductive sheet capable of obtaining superior conduction without damaging electrode terminals of a wafer, a conduction measuring instrument or the like due to applied load when the wafer of a semiconductor is tested.
半導体のウエハを検査するときに、該ウエハや導通計測器などの電極端子に負荷加重による損傷を与えずに、良好な導通を得る異方性導電シートである。 - 特許庁 - In this manufacturing method for the semiconductor device, a prototype chip is tested using the semiconductor device, and the semiconductor chips are mass-produced after analysis-evaluating a test result.
本発明の半導体装置の製造方法では、前記半導体装置を用いて、試作チップの試験を行ない、前記試験結果を解析評価した後に、半導体チップの量産を行なう。 - 特許庁 - In Fig. 1, an execution part 101 inputs the tested program 103 of a name which is set via a display and a keyboard 102, executes the program, and outputs the coverage result 104.
図１において、実行部１０１がディスプレイおよびキーボード１０２から設定された名称の被テストプログラム１０３を入力し、実行する事でカバレージ結果１０４を出力する。 - 特許庁 - Consequently, lead terminals of all devices 1 being mounted on the test tray 5 and having the need to be tested and the need for writing the programs and the data therein, are connected to the writer or the tester collectively.
従い５のテストトレーに搭載されているテストやプログラムやデータの書き込みなどが必要な１の全デバイスのリード端子が一括でライタもまたはテスタに接続される事になる。 - 特許庁 - To provide a temperature-testing device, capable of quickly performing an operation confirming test at the accurate temperature by directly setting a part of an object to be tested to the predetermined temperature.
試験対象の部品を直接、所定の温度にすることができ、正確な温度での動作確認試験をしかも速く行うことが可能な温度試験装置を提供すること。 - 特許庁 - A semiconductor wafer, which is to be tested comprises test wirings 4 and 5 so formed on dicing lines 3 as to correspond to the lines of chips 2, and testing terminals 6 and 7 connected to the test wirings 4 and 5, respectively.
被試験半導体ウェハは、各チップ２の列に対応してダイシングライン３に形成されたテスト配線４，５と、それぞれテスト配線４，５に接続されたテスト端子６，７とを備える。 - 特許庁 - To enhance the efficiency of a test by increasing the number of semiconductor devices that can be tested in a fixed time.
一定時間内に試験できる半導体装置の個数を増やすことにより、試験の効率を向上させることができる半導体試験装置の実行手順制御方式を提供すること。 - 特許庁 - To provide a testing apparatus testing the receiving performance of a communication terminal apparatus to be tested and judging whether the communication terminal apparatus is loaded with a selective combining function.
試験対象の通信端末装置の受信性能を試験することができるとともに、当該通信端末装置に選択合成機能が実装されているか否かを判断すること。 - 特許庁 - To enable light measurement suitable for improvement in space resolution to be performed by evaluating the physical quantity of a measurement object in an arbitrary point of a tested body.
被検体の任意の点における計測対象物質の物理量の評価を可能にすることにより空間分解能の向上を図るのに適した光計測ができるようにしたこと。 - 特許庁 - By this means, the optical pickup device can be tested using the reproduction signal, so that quality of the optical pickup device can be managed using a fixed evaluation method regardless of manufacturers.
これにより、再生信号により光ピックアップ装置を検査するようにでき、メーカーによらず一定の評価方法で光ピックアップ装置の品質管理が行えるようにしている。 - 特許庁 - This tester for an automobile comprises a torque detector 11 coupled to an automotive engine 10 of a material to be tested, an AC dynamometer 12, an inverter 13, and an AC power source 14.
この自動車用試験装置は、被試験体である自動車エンジン１０に連結されるトルク検出器１１と、ＡＣダイナモメータ１２と、インバータ部１３と、交流電源１４とを備えている。 - 特許庁 - This embodiment have a technical effect that an overspeed protection system of a power plant which has a shaft (137) and is integrated with a safety control system (190) is automatically tested.
本発明の実施形態は、シャフト（１３７）を備え、安全制御システム（１９０）と一体化されたパワープラント機械の過速度保護システムを自動的に試験するという技術的な効果を有する。 - 特許庁 - The surge output of a lightning surge generator 2 is connected to the equipment ground of the equipment 1 to be tested and the ground of the lightning surge generator 2 is connected to the other end of the impedance circuit 3.
雷サージ発生器２のサージ出力は被試験機器１の機器アースに接続され、雷サージ発生器２のグランドはインピーダンス回路３の他方の端に接続されている。 - 特許庁 - Reverse power flow to the incoming power supply system 1, while being discharged from the battery 41 to be tested, is prevented by using either of the two battery packs as a buffer tank for power.
２台の電池パックのうちの１台を電力のバッファタンクとして使用することで、検査電池４１の放電時における受電電源系統１への逆潮流を防止する。 - 特許庁 - To simplify a noise test capable of preventing surely breakage of an internal unit even when insulation between a noise application terminal of a device to be tested and the internal unit is imperfect, and having many test patterns.
被試験装置のノイズ印加端子と内部ユニットとの間の絶縁が不完全な場合にも内部ユニットの破損を確実に防止でき、しかも試験パターンの多いノイズ試験を簡易にする。 - 特許庁 - The liquid to be tested is treated by anti-f PSA monoclonal antibody which does not react with ACT-PSA to react with latex sensitizing antibody for PSA and then PSA is measured by a normal method.
被検液をＡＣＴ−ＰＳＡと反応しない抗ｆＰＳＡモノクローナル抗体で処理し、ＰＳＡに対する抗体を感作したラテックスと反応させた後常法でＰＳＡを測定する。 - 特許庁 - To provide a reliability testing device capable of preventing breakage of the testing device by blocking a member to be tested from a current detection means at high speed.
本発明は、被試験部材と電流検出手段とを高速に遮断することにより、試験装置を破損させることを防止することができる信頼性試験装置を提供する。 - 特許庁 - Thereby, reference voltage Vref is changed and tested, bit line voltage applied to an input, that is, characteristics of a ferroelectric capacitor C0 (or C1) are measured quantitatively.
これにより、参照電圧Ｖｒｅｆを変更してテストし、入力に印加されるビット線電圧、言い換えれば強誘電体キャパシタＣ０（またはＣ１）の特性を、定量的に測定する。 - 特許庁 - To provide a method for regenerating a gasket deformed by compression set due to long-time test at about 100°C so as to be again mounted on another HDD and tested.
１００℃程度の温度で長時間試験に供され圧縮永久変形したガスケットを再度他のＨＤＤに装着して試験を行ない得るように再生する方法を提供すること。 - 特許庁 - A rocking prevention plate 13 where a long hole is opened is mounted to the object 1 to be tested, and a rocking prevention rod 12 fixed to the arm 2 is passed through the long hole of the rocking prevention plate 13.
試験対象物１には長穴が開口された揺れ防止板１３が取り付けられ、揺れ防止板１３の長穴にはアーム２に固定された揺れ防止棒１２が通される。 - 特許庁 - In basic design of a program to be tested, a designer divides the program into two or more small modules, and the debugging system creates a program branch expected value information table 101 from this module hierarchy.
被テストプログラムの基本設計において、設計者は複数の小さなモジュールに分割し、このモジュール階層からデバッグシステムがプログラム分岐期待値情報テーブル１０１を作成する。 - 特許庁 - To provide a compact vehicle-testing device with simple structure where a measuring roller for placing a vehicle to be measured is connected to a hydraulic motor and the vehicle is tested by hydraulic control.
被測定車両を載置する測定ローラを油圧モータに連結し、油圧制御により車両の試験を行うようにした、構造が簡単、かつ小型の車両の試験装置を提供する。 - 特許庁 - Since the electric characteristics of the coil element 17 can be tested in such a state, a defective component can be replaced if its performance is found to be out of a specification.
この状態において、コイルエレメント１７の電気的特性を試験することができるので、仕様範囲外となった場合は、不良部品の交換により良品を得ることができるようになる。 - 特許庁 - To provide a test circuit, for example a BIST(Built-In Self Test) circuit, capable of testing any circuit to be tested (for example, a high speed semiconductor memory) easily with the actually working frequency.
テスト回路（例えば、ＢＩＳＴ（Ｂｕｉｌｔ−Ｉｎ Ｓｅｌｆ Ｔｅｓｔ）回路）において、被テスト回路（例えば、高速の半導体メモリ）を実動作周波数で容易にテストする。 - 特許庁 - A concave lens 10 is inserted into a target optical system 6 corresponding to the change of a distance to a device body 1 from the eye to be tested E to form a target image at a fixed distance.
被検眼Ｅの装置本体１に対する距離の変化に対応して視標光学系６に凹レンズ１０を挿入して視標像が一定の距離に結像するようにした。 - 特許庁 - (e) A condition where the driving current flows in the tested semiconductor laser system and where no driving current flows in the semiconductor laser system for the wavelength monitoring is brought to maintain the condition for a period.
（ｅ）前記被試験半導体レーザ装置に駆動電流が流れ、前記波長モニタ用半導体レーザ装置に駆動電流が流れない状態にし、ある期間この状態を維持する。 - 特許庁 - To provide a test system for semiconductor having means for detecting a glitch contained in the output signal from a device being tested in order to evaluate the characteristics thereof accurately.
被試験デバイスの特性を正確に評価するために、被試験デバイスの出力信号に含まれるグリッチを検出するグリッチ検出手段を有する半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁 - Additionally the test sequence is dynamically determined for the die of a set of parallel-tested ones in response to feedback from a sensor monitoring the die in order to meet various secondary effects.
さらには、テストシーケンスは、様々な副次的効果に対処するためにダイをモニタするセンサによるフィードバックに応答して、並列にテストされるダイのセットのダイに対して、動的に決定される。 - 特許庁 - To accurately measure the intrinsic friction on the ice of an elastic material sample to be tested as objective data highly related to that of a product tire.
弾性材料サンプルによる試験をもって、そのサンプルに固有の氷上摩擦力を、製品タイヤのそれと高い相関をもつ客観データとして正確に測定することを可能とする。 - 特許庁 - A user can input the ID item of an automobile to be tested by system software and a fault library such as signs and service codes can be displayed by one operation mode.
システム・ソフトウェアにより、ユーザは、テストされる自動車の識別事項を入力することができ、また、一つの操作モードで、徴候あるはサービスコードなどの故障ライブラリを表示することができる。 - 特許庁 - This pollution detection means of food is equipped with an indicator coupled with a base material 20, and the indicator is communicated with juice from the food 12 to be tested on existence of a toxin.
食品の汚染検出手段は、基材２０に結合されたインジケータを備えており、該インジケータは、毒素の有無について試験すべき食品１２からの汁と連通している。 - 特許庁 - The next contact position is engaged sequentially with the lead of the tested device, when the terminal is about to rotate about an axis substantially perpendicular to a plane formed by the terminal.
その端子が、該端子によって形成された平面に略垂直な軸線の回りに回転しようとする時、次の接触位置が試験される装置のリードに順次係合される。 - 特許庁 - When a semiconductor device is tested, a selector 13 selects the output of a flip-flop 15 according to a selection signal and the conversion result is output directly to the outside of a semiconductor device.
半導体装置のテスト時には、セレクタ１３が選択信号に応じてフリップフロップ１５の出力を選択することにより、変換結果が直接半導体装置の外部に出力される。 - 特許庁 - A substrate where a trace 85 to be tested is stored is placed in a vacuum chamber 12 of a low pressure having grid electrodes 51 laid near the trace region 85 on each face of the substrate.
テストされるトレース（８５）を収容する基板は、基板の各面上のトレース領域（８５）近くに横たわるグリッド電極（５１）を備える低圧力の真空チャンバ（１２）中に載置される。 - 特許庁 - This means that there are more applications tested in the32-bit userland that just work "out of the box."
PowerPC64アーキテクチャのために、我々はMinimalインストールCDを提供します。 これは、システムをブートしネットワーク接続を準備し、Gentooのインストールを続行することを唯一の目的とする、小さく実用的なブート可能CDです。 - Gentoo Linux - , the addresses are separated by a comma);the line which addr1 matched will always be accepted, even if addr2 selects an earlier line; and if addr2 is a regexp , it will not be tested against the line that addr1 matched.
addr1にマッチした行は、たとえaddr2がより前の行にマッチした場合でも、常に処理対象となる。 addr2がregexp(正規表現) の場合には、addr1にマッチした行に対してはaddr2のマッチは行われない。 - JM
- 特許庁
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- 大規模オープンソース日英対訳コーパス
- この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。
- Gentoo Linux
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