「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 27 28 29 30 31 32 33 34 35 .... 58 59 次へ＞- To provide a test apparatus testing appropriately a memory to be tested which performs simultaneously write-in and read-out of data for a plurality of blocks by multi-bank operation.
マルチバンク動作により複数のブロックに対して同時にデータの書き込み又は読み出しを行う被試験メモリを適切に試験する試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and device for correcting a pulse width timing error while a high-performance integrated circuit device is being tested by an automatic testing device(ATE).
自動式試験装置（ＡＴＥ）で高性能集積回路デバイスの試験中にパルス幅タイミング誤差を補正する方法および装置を提供する。 - 特許庁 - Sedimentary substance, bubbles and impurity are removed from the raw water 20 in a raw water adjusting tank 1 to be sent as tested water 22 to a water quality measuring device 40.
原水２０は、原水調整槽１で沈殿性の物質や気泡や夾雑物が除去され、被検水２２として水質測定機器４０に送られる。 - 特許庁 - The generated burn-in pattern signal is input into the semiconductor device of the tested object attached to a burn-in card 32 to conduct a burn-in test.
生成されたバーンインパターン信号は、バーンインカード３２に装着された被試験対象の半導体装置に入力されバーンイン試験が行われる。 - 特許庁 - To provide an insert excellent in positioning precision of an IC to be tested to a contact part, and in general purpose properties of constituting components.
被試験ＩＣのコンタクト部への位置決め精度に優れるとともに構成部品の汎用性に優れた電子部品試験装置用インサートを提供する。 - 特許庁 - A covering fluid syringe pump 69 and a sample-to-be-tested syringe pump 66 are driven by a motor 72 and a motor 70 which are adjusted by a data analyzer 60.
被覆流体シリンジポンプ６９及び試験試料シリンジポンプ６６は、データ解析器６０により調整するモータ７２、７０により駆動される。 - 特許庁 - The body 2 to be tested is housed in a test tank 1, and the test tank 1 is connected to a water supplying tank 4 through a hydraulic system pipe 5 and a return system pipe 8.
試験槽１内に被試験体２を収納し、試験槽１と給水タンク４を水圧系統配管５と戻り系統配管８により接続する。 - 特許庁 - The collected machine is conveyed to an inverse plant 5, tested and disassembled and non-reusable parts are exchanged with reusable parts or new parts.
回収された機械は、逆工場５に搬送されて試験され、分解され、再使用不可能な部品が再使用部品又は新品と取り替えられる。 - 特許庁 - In a method for testing the real page number bits in a cache directory 304, a specification 306 of a cache is retrieved in order to test the real page number bits of the cache directory associated with the cache to be tested.
テスト対象のキャッシュに関連付けられたキャッシュ・ディレクトリの実ページ番号ビットをテストするために、当該キャッシュの仕様が検索される。 - 特許庁 - The TBIB handler 10 which inserts or pulls an IC 1A to be tested into or out of a TBIB 1 is provided with an IC test circuit 2 and a burn-in board checker 3.
ＴＢＩＢ１へ被試験ＩＣ１Ａを挿入あるいは抜去するＴＢＩＢハンドラ１０は、ＩＣ試験回路２とバーンインボードチェッカ３とを備える。 - 特許庁 - To simply and highly sensitively determine the presence or absence of an ingredient originated from an animal and contained in a sample to be tested or the species of the animal from which the ingredient is originated.
被検試料中に含まれる動物に由来する成分の有無または同成分が由来する動物種を簡便に高感度で判定する。 - 特許庁 - The reagent is mixed into a solution to be tested and thereby the solution is made turbid; the strength of transmitted or scattered light is measured to measure the concentration of proteins.
この試薬を被検溶液に混入することで、被検溶液を混濁させ、透過光または及び散乱光強度を計測し、タンパク質濃度を計測する。 - 特許庁 - After all relative nodes are temporarily tested, a tree structure is saved and a new tree display showing nodes meeting the selected standard is generated.
一旦全ての関連ノードがテストされると、ツリー構造を保存するが、選択基準に合致するノードだけを示す新たなツリー表示が生成される。 - 特許庁 - On the other hand, selectors 122, 124 select a delay control signal being an output of a delay circuit 140, and output it to a bank (112) not to be tested.
一方、セレクタ１２２、１２４は、遅延回路１４０の出力である遅延制御信号を選択し、非試験対象のバンク１（１１２）に出力する。 - 特許庁 - To provide a testing device capable of preventing a noise from being applied onto a semiconductor chip or the like of a tested object, and capable of measuring an electric characteristic stably.
ノイズが被試験対象の半導体チップ等に加わることを防止し、安定的に電気的特性を測定できる試験装置を提供すること。 - 特許庁 - It is possible to similarly calibrate the quantity of flow on a plurality of serially connected flowmeters to be tested having different measuring ranges of the quantity of flow.
直列に接続された流量の測定範囲が異なる複数の被試験流量計についても同様にして流量校正が可能である。 - 特許庁 - To provide a method for testing a nonvolatile memory element which does not separately execute operations for masking failed bits when the nonvolatile memory element is tested on a wafer.
不揮発性メモリ素子をウェーハ上でテストするとき、フェールしたビットのマスキング動作を別途に行わない不揮発性メモリ素子のテスト方法の提供。 - 特許庁 - A test state display program 203 reads the test state information on all the machines to be tested for each interval designated by display interval information 206.
試験状況表示プログラム２０３は、表示間隔情報２０６で指定された間隔毎に全被試験機の試験状況情報を読み込む。 - 特許庁 - Result data tested by a memory testing system 11 is collected by a data storage-forward-distribution machine 12, and then distributed to a plurality of distributed analyzing machines 13 (131 to 13n).
メモリテストシステム１１で試験された結果データはデータ集配・分配マシン１２により収集されたのち、複数の分散解析マシン１３に分配される。 - 特許庁 - Operations of mass-produced semiconductor devices 20-22 are tested at block frequencies of respective blocks, based on the test vectors set for the respective blocks by using the tester 15.
ブロック毎に属するテストベクタに基づいて、テスタ１５がブロック毎のブロック周波数での半導体装置の量産品２０乃至２２の動作をテストする。 - 特許庁 - Improvement is added on the memory testing device which stores test results of the memory to be tested in a fail memory and counts the number of fails of the fail memory.
本発明は、被試験メモリの試験結果をフェイルメモリに格納し、このフェイルメモリのフェイル数をカウントするメモリ試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - To provide a vibration tester capable of enlarging the maximum loading size of a sample while maintaining the vibration frequency to be tested in a high range.
試験可能な振動の周波数を高い状態で維持させつつ供試品の最大搭載サイズを拡大することが可能な振動試験機を提供する。 - 特許庁 - The voltage between the terminals of the voltage accumulation circuit is kept constant, by turning on and off the bias-stabilizing switching elements, and thereby electricity is applied to the zero-volt object to be tested.
バイアス安定化スイッチング素子のオン，オフによって該電圧蓄積回路の端子間電圧を一定に保持してゼロ電圧被試験体を通電する。 - 特許庁 - In addition, in such a case, data inherent to the DUT can be serially extracted and tested to be able to shorten a test time.
また、この時、ＤＵＴ固有のデータをシリアルに取り出し検査を行うことができ、検査時間の短縮を図ることができるようにすることができる。 - 特許庁 - To accurately measure unnecessary radiation waves with decreased energy loss when the environmental temperature and humidity of an object to be tested are made to the predetermined conditions.
被試験体の周囲の温湿度を所定条件にする際のエネルギーロスを小さくしつつ精度の高い不要輻射波の測定を可能にする。 - 特許庁 - To provide a built-in self test controller and a programmable method by which the selection and modification of an algorithm applied to a related memory to be tested are attainable.
ビルト・イン・セルフ・テスト・コントローラと、関連するテストされるメモリに適用されるアルゴリズムの選択及び変更を可能にするプログラマブルな方法を提供する。 - 特許庁 - To make repairing and replacing operation for a part in contact with a body to be tested efficient by finding the necessity of the operation with rational standards.
被試験体との接触部などの修理・交換作業の必要性を合理的な基準で求め、当該作業の効率化を図ることを目的とする。 - 特許庁 - At least two packet generating sections 23A, 23B are included and by confirming communication therebetween, recovery of a transmission line to be tested is confirmed.
パケット生成部２３Ａ，２３Ｂは、最低２つを有し、その間での疎通確認を行うことにより、試験対象伝送路の復旧確認を行う。 - 特許庁 - A system clock signal 1c is inputted from the generator 18 to the IC 12 to be tested, and a clock signal A14 is inputted to the generator 11.
システムクロック発生器１８から被試験ＩＣ１２にシステムクロック信号１ｃが入力され、パターン発生器１１にクロック信号Ａ１４が入力される。 - 特許庁 - To provide a wind resistance testing device using no wind tunnel and a method for wind resistance test by which the stability of the wind resistance of a model which is an object to be tested for wind resistance can be confirmed.
風洞を用いない耐風試験装置と耐風試験対象物である模型の耐風安定性を確認する試験の方法を実現する。 - 特許庁 - Bar code marks BC having information such as ID numbers are displayed on a plurality of IC trays CR carrying ICs to be tested respectively.
被試験ＩＣを搬送する複数のＩＣトレイＣＲのそれぞれにＩＤ番号などを含む情報が設定されたバーコードマークＢＣを表示する。 - 特許庁 - To provide an eidoptometric instrument with which a wrong eye among right or left eyes can be prevented from tested and a test can be effectively performed in the test (eidoptometry).
遮眼具を用いた検査（測定）における左右の間違いを防止し、また、効率良く測定が行える視力測定装置を提供すること。 - 特許庁 - This invention relates to the improvement in the test head of the IC tester loaded with a performance board and the DUT board electrically connected to an object to be tested.
本発明は、パフォーマンスボートと、被試験対象に電気的に接続するＤＵＴボードとを搭載するＩＣテスタのテストヘッドに改良を加えたものである。 - 特許庁 - An average SNR and space correlation statistics for a kernel of selected image data are analyzed, and then existence of a high quality signal is tested.
選択された画像データのカーネル（５０）における平均ＳＮＲ及び空間相関統計を解析して、高品質信号が存在しているか否かをテストする。 - 特許庁 - This system is provided with the internal system 2 such as a printer, the copying machine and facsimile equipment to be tested and an external system 3 to be connected with the internal system 2.
本発明は、試験評価の対象となるプリンタ装置、複写機、ファクシミリ装置等の内部システム２と、これに接続される外部システム３とを有する。 - 特許庁 - To provide a substrate for testing electronic parts enabling the performance of a multitude of electronic parts at a high temperature to be tested at a low cost.
低コストで多数の電子部品の高温条件下での性能を試験することを可能とする電子部品の試験用基板を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A compensation rotary shaft 10 having a compensating weight 11 to offset the free moment of the crank shaft 5 of a tested body is provided in a vibration frame 1.
振動架台１に、被試験体であるクランクシャフト５のフリーモーメントを打ち消すための補償ウェイト１１を有する補償回転軸１０を設ける。 - 特許庁 - To automatically array a sleeve self-contained with a tested device to be loaded on a loading part of a handler.
テストするデバイスが内装されたスリーブを自動に整列して、ハンドラのローディング部にローディングさせ得るようにしたハンドラのデバイススリーブ自動ローディング装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test system capable of improving the efficiency of operation to connect a plurality of cables connecting a test device and a tested device to each other.
試験装置と被試験器とを接続する複数のケーブルを接続する際の作業効率を向上させることができる試験システムを提供する。 - 特許庁 - To test plural logic circuits at the same time to shorten a test time, when the plural logic circuits having the same function in an integrated circuit are tested.
集積回路内の同一機能を持った複数の論理回路をテストする際、これ等の複数の論理回路を同時にテストして、テスト時間を短縮する。 - 特許庁 - To provide a device for testing helium leakage that can eliminate a time to pull out a cap mounted on the convex part of an object to be tested having a convex part with an opening.
孔付凸部を有する被試験体の凸部に装着したキャップを抜き取る手間を省くことができるヘリウムリークテスト装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device incorporating an analog/digital converter, which can be tested while a permissible error is set in a short time at a low cost.
Ａ／Ｄコンバータを内蔵した半導体装置に対して許容誤差を設定してテストを行う場合、短時間かつ低コストで実現することを目的とする。 - 特許庁 - A bit Ci+1 of a CPU register is tested by a temporary register while designating an address and the conditional addition/subtraction of the coordinate of a second input vector Xij is executed.
ＣＰＵレジスタのビットＣ_i+1がアドレス指定されテンポラリレジスタでテストされ第２の入力ベクトルＸ_ijの座標の条件付き加減算が実施される。 - 特許庁 - To provide a multi-channel probe head with low input capacitance not requiring a standing connector on a device to be rested and connectable with the device to be tested.
被試験装置に常設的なコネクタを必要とせず、この被試験装置に接続できる低入力容量の多チャネル信号プローブ・ヘッドを提供する。 - 特許庁 - In this system, the failure diagnosing is performed by exchanging diagnostic information between the remote testing device 4A and the devices to be tested 4B through a communication network.
通信ネットワークを介して遠隔試験装置４Ａと被試験装置４Ｂとの間で診断情報を交換することにより故障診断を行う。 - 特許庁 - The pusher raises heat transmission efficiency between the pusher and the semiconductor device to be tested to attain an exact and prompt semiconductor test.
プッシャおよび被試験半導体デバイスの間の熱伝導効率を向上させ、正確で迅速な半導体試験を実現するプッシャを提供する。 - 特許庁 - To solve a problem wherein time is required as to lateral and diagonal-directional centering although longitudinal-directional centering is relatively easy, in a centering device for a vehicle to be tested.
被試験車両のセンタリング装置においては、前後方向のセンタリングは比較的容易であるが、左右、斜め方向のセンタリングについては時間を要している。 - 特許庁 - For example, it is required that the sample can be tested by a simple method at room temperature without entirely heating the microscope from a low temperature to a high temperature.
例えば、顕微鏡を低温から室温に全体的に加熱することなしに、簡単な方法において室温で試料を検査し得る必要がある。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and its test method, which change the number and combinations of memories which are simultaneously tested even after manufacture.
製造後であっても、同時にテストするメモリの数および組み合わせを変更することのできる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - Thereby, the multichip semiconductor integrated circuit allows the first semiconductor chip or the second semiconductor chip to be tested well through the rewiring layer.
これにより、マルチチップ半導体集積回路は、再配線層を介して第１の半導体チップ又は第２の半導体チップの検査を良好に行うことができる。 - 特許庁
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