「Tested」を含む例文一覧(2940)
＜前へ 1 2 .... 23 24 25 26 27 28 29 30 31 .... 58 59 次へ＞- The test pattern signal is further supplied from the programmable logic device 150 to a plurality of devices DUT to be tested, and output signals from the devices DUT to be tested are compared with the logical value in the programmable logic device 150, and the compared results are stored in the programmable logic device 150 as test results.
テストパターン信号は、プログラマブルロジック装置１５０から、さらに複数の被試験デバイスＤＵＴに供給され、被試験デバイスＤＵＴからの出力信号は、プログラマブルロジック装置１５０で論理値と比較され、その比較結果は、試験結果として、プログラマブルロジック装置１５０に格納される。 - 特許庁 - The tester is provided with a reference voltage source, a voltage generation part for conducting calibration due to a voltage of the reference voltage source and for supplying a voltage to the tested object, and a voltage measuring part for conducting calibration due to the voltage of the reference voltage source and measuring an output of the tested object.
本装置は、基準電圧源と、この基準電圧源の電圧で校正し、被試験対象に電圧を供給する電圧発生部と、基準電圧源の電圧で校正し、被試験対象の出力を測定する電圧測定部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁 - Moreover, a detection circuit for detecting the life of this electrolytic capacitor 3a being a component to be tested is provided, and by detecting the life of the electrolytic capacitor 3a as a component to be tested, the life of each electrolytic capacitor 2a, 2b as an electric / electronic component to be an object of life evaluation is estimated.
さらに、この該被試験部品電解コンデンサ３ａの寿命を検出する検出回路を設け、被試験部品の電解コンデンサ３ａの寿命を検出することによって寿命評価対象となる電気・電子部品の電解コンデンサ２ａ，２ｂの寿命を推定する。 - 特許庁 - In other words, since the opening part of the holder 1 with the taper is made smaller downward by the taper part 10 with the area of the opening becomes narrower downward, the object to be tested 18 can be held at the inclined part of the taper part 10 by placing the object to be tested 18 from above.
すなわち、テーパ付ホルダー１の開口部は、テーパ部１０により下側に行くほど先細り、下側に行くほど開口面積が狭くなっており、上方から試験物１８をおくことにより、テーパ部１０の傾斜部分で試験物１８を保持することができる。 - 特許庁 - Chloride ion containing ^36Cl in a sample to be tested is separated from chloride ion containing ^36S by allowing a sample to be tested to be subjected to column chromatography using a strong basic anion exchange resin in which counter ion thereof is composed of an anion other than chloride ion as a filler.
対立イオンが塩化物イオン以外の陰イオンからなる強塩基性陰イオン交換樹脂を充填剤として被検試料を対象にカラムクロマトグラフィーを行うことにより、被検試料中の^３６Ｃｌ含有塩化物イオンを^３６Ｓ含有硫酸イオンから分離するようにした。 - 特許庁 - To provide an insert for an electronic component handling apparatus which can improve throughput or can downsize the apparatus by increasing the number of simultaneous measurement of electronic components to be tested per unit area, and further can suppress occurrence of a contact error caused by position deviation of the electronic components to be tested.
単位面積あたりの被試験電子部品の同時測定数の増加によりスループットの向上または装置の小型化が図られ、しかも、被試験電子部品の位置ずれに起因するコンタクトミスの発生を抑制し得る電子部品ハンドリング装置用のインサートを提供する。 - 特許庁 - The controller is structured to input a detected angular speed signal, and conduct a three-stage differential operation using damping of rigidity of the restraint system and a tested vehicle, spring rigidity, inertia of the tested vehicle, and inertia of a roller to calculate the torque current instruction.
この制御コントローラは、検出された角速度信号を入力し、拘束装置と被試験車両剛性のダンピング及びバネ剛性と、被試験車両の慣性と、ローラの慣性を用い、３階微分演算を実行してトルク電流指令を演算するよう構成したものである。 - 特許庁 - After a single test process system 130 tests an object process to be tested 100 and its result is stored in a trace log file 125, the program to be tested 100 calls an initializing function 111 for testing and common memory information is read in from a common memory information file 120.
被テスト対象プロセス１００のテストを単体テスト処理システム１３０によりテストし、その結果をトレースログファイル１２５に格納後、被テストプログラム１００よりテスト用初期化関数１１１がコールされ、共有メモリ情報を共有メモリ情報ファイル１２０より読み込む。 - 特許庁 - To provide a scenario generation device, program, and scenario generation method for generating a test scenario for testing about wheter or not a tested device normally operates even when the tested device operates based on not only a manual operation but also an external signal.
テスト被対象装置が人手の操作だけではなく外部信号に基づいて動作する場合であっても、そのテスト被対象装置が正常に動作するか否かについてテストするテストシナリオを生成することができるシナリオ生成装置、プログラム及びシナリオ生成方法を提供する。 - 特許庁 - Many report data prepared in the past are analyzed, a dictionary data base composed of dictionaries corresponding to each region to be tested is prepared and a Kana/Kanji conversion processing is performed by using the dictionary corresponding to the region to be tested of a medical image as the dictionary in diagnosing report preparation from it.
過去に作成された多数のレポートデータを解析し、各検査部位に対応した辞書からなる辞書データベースを作成し、その中から診断レポート作成時の辞書として医用画像の検査部位に対応した辞書を用いてかな漢字変換処理を行なうようにした。 - 特許庁 - Additionally, when the self-diagnosis program is executed, a pin of the IC device used by the device program is judged, and only the pin concerned is tested.
また、自己診断プログラムの実行の際には、デバイスプログラムで使用するＩＣ装置のピンを判断し、当該ピンのみを試験対象とする。 - 特許庁 - The motion of the object to be tested is detected by two-dimensional X-ray fluorescent radiographing images and is reconstructed to three-dimensional angiographic (X-ray) reconstruction images.
被検物の動きは、二次元Ｘ線蛍光透視画像で検出され、三次元血管造影（Ｘ線）再構成像へと再構成される。 - 特許庁 - In this friction testing device, two of four regular prism type test pieces are paired, and held in the test piece fixing means respectively so as to be tested.
この摩擦試験機では、４つの正四角柱状の試験片の２つを一組とし、それぞれ試験片固定手段に保持し、試験する。 - 特許庁 - The direct-current voltage containing a ripple component in conformity with a use condition is impressed to the testing direct-current capacitors 1, 2 to be tested.
これにより供試直流コンデンサ１および２に使用状態に則したリップル分を含む直流電圧を印加して試験することができる。 - 特許庁 - When the pin switch S1 is operated, whether the output of an amplifier varies or not is automatically tested with a function tester 62.
そして、このピンスイッチＳ１を操作したときに、実際にアンプの出力が変化するか否かをファンクションテスタ６２によって自動的に検査する。 - 特許庁 - Sequence for testing circuit block of discrete die is selected in order to optimize testing time of a set of dies to be parallel-tested.
個別のダイの回路ブロックをテストするためのシーケンスは、並列テストが実施されるダイのセットのテスト時間を最適化するために選択される。 - 特許庁 - To provide an intermediation board for measuring a power consumption when an IC package is combined with a device mainframe board of an electronic device so as to be tested.
ＩＣパッケージと電子機器の装置本体基板との組合せ試験に際して、消費電流の測定ができる中継基板を提供する。 - 特許庁 - To control a device to be tested at a desired temperature without installing a mechanism for controlling the flow rate of a refrigerant in individual temperature control blocks.
個々の温度制御ブロックに冷媒の流量を制御する機構を設けずとも被試験デバイスを所望の温度に制御可能にする。 - 特許庁 - To write and read data to and out of a tested circuit in substantially arbitrary order only by adding a simple circuit.
簡単な回路を追加するのみで実質的に任意の順序で被テスト回路に対するデータの書き込み／読み出し動作を行えるようにする。 - 特許庁 - Among the division cells, those which include coordinates representing patterns characteristics to be tested as a reference point are set as correction application cells.
前記分割セルのうち、検査対象となる模様の特徴を表す座標を基準点として含むものを補正適用セルとして設定する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory in which various static breakdown strength capability can be tested with a WLBI test.
本発明の目的は、ＷＬＢＩ試験において様々な静電耐圧能力を試験可能な半導体記憶装置を提供することである。 - 特許庁 - To provide an inexpensive RF test probe capable of ensuring consistent measurement of RF signals with minimum effect on a circuit to be tested.
テストされる回路に最小の影響を有する一方で、ＲＦ信号の一貫した測定を提供する安価なＲＦテストプローブを提供する。 - 特許庁 - To measure a wavefront aberration of a tested optical system, without being influenced by aberrations caused by a wavefront splitting element, while using it.
波面分割素子を用いながらもその波面分割素子に起因した誤差の影響を受けずに被検光学系の波面収差を測定する。 - 特許庁 - To provide a microscope by which the number of grounding cables is suppressed and also the electrostatic breakdown of a sample to be tested is surely prevented.
グランド線の本数が抑えられ、しかも確実に被検物試料の静電破壊を防止できる顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A primitive generating means 3 issues a primitive to a tested protocol 4a under the control of a control means 7 of the protocol test device 1.
プロトコル試験装置１の制御手段７の制御によりプリミティブ発生手段３から被試験プロトコル４ａに対してプリミティブを発行する。 - 特許庁 - A connection section 22 of the shaft-lock mechanism 7 is provided between the end face 6a for attaching the machine to be tested, installed at the coupling 6 and the shaft torque meter 5.
カップリング６に設けられた被試験機を取り付ける端面６ａと軸トルクメータ５との間に軸ロック機構７の結合部２２を設けた。 - 特許庁 - The diodes are tested (S2) at least before or after one of write operation, erase operation and read operation with respect to the memory cells.
メモリセルに対して書き込み動作、消去動作、読み出し動作のうちの１つを実行する少なくとも前又は後にダイオードがテストされる（Ｓ２）。 - 特許庁 - Thus, whether the signal wiring connected to the input terminal 31 is good or not is tested by analyzing the control signal TDO.
従って、制御信号ＴＤＯを解析することにより、入力端子３１に接続される信号配線の良否を試験することができる。 - 特許庁 - To provide a wavefront-aberration-measuring device capable of measuring wavefront aberration of a to-be-tested optical system with high precision, and to provide an exposure apparatus equipped with the same.
被検光学系の波面収差を高精度に測定可能な波面収差測定装置及びこれを備えた露光装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a distortion detecting optical cable capable of detecting even a minute crack of about 0.1 mm generated in an object to be tested for distortion such as mortar.
モルタル等の歪み測定対象物に生じた０．１ｍｍ程度の微小クラックをも検出可能な歪み検出用光ケーブルの提供。 - 特許庁 - Respective semiconductor chips of the resin sheet, which becomes electrically independent have their electrical characteristics tested, while still in the resin sheet, as it is.
電気的に独立となった前記樹脂シートの各半導体チップに対して、ステップＳ９において樹脂シートのまま電気的特性をテストする。 - 特許庁 - A test circuit conducting the starting test of the oscillation circuit where a quartz oscillator is oscillated is provided with an oscillator to be tested, and a control unit.
これは発振器の起動試験装置のＯＮ−ＯＦＦ回路が遅いため、規定された試験回数を行うのに時間がかかる問題があった。 - 特許庁 - To increase success rate of path delay test by enhancing the controllability of path delay test thereby making active a path to be tested stably and surely.
パス遅延テストの制御性を向上させてテストしたいパスを安定且つ確実にアクティブとして、パス遅延テストの成功率を高くすること。 - 特許庁 - To suppress repeated measurement of a frequent path included in a program to be tested, and to avoid unnecessary overhead in a program testing method.
プログラムのテスト方法において、テスト対象プログラムに含まれる頻出経路の繰り返しの計測を抑止し、無用なオーバーヘッドを回避する。 - 特許庁 - A measured value sensor 22 is arranged at the support 18 and the measured value sensor 22 is coupled to a head piece 36 of the torque wrench 12 to be tested.
支持体１８には測定値センサ２２が配置されており、この測定値センサ２２は検査すべきトルクレンチ１２のヘッドピース３６と結合される。 - 特許庁 - According to such a device test method, the electrical characteristics of the semiconductor device are tested with high precision without damaging the semiconductor device.
このような素子試験方法によれば、半導体素子に損傷が与えられず、且つ半導体素子の電気的特性が高精度に試験される。 - 特許庁 - To provide a technique for accurately determining the insulation resistance of an object to be tested in a thunder impulse withstand voltage test.
雷インパルス耐電圧試験において対象物の絶縁耐性を正確に判定することが可能な技術を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To test the packet throughput or the like of a router to be tested by forming the state of connecting the router in multiple stages.
試験対象のルータが多段接続された場合等の状態を作り出して当該ルータのパケット処理能力等についての試験を行う。 - 特許庁 - A pattern generator PG generates expected value data EXP showing an expected value of the signal S1 to be tested which is input to an I/O terminal P_IO.
パターン発生器ＰＧは、Ｉ／Ｏ端子Ｐ_ＩＯに入力される被試験信号Ｓ１の期待値を示す期待値データＥＸＰを発生する。 - 特許庁 - The corrosion testing device includes a thermohygrostat bath 1, a salt water discharge mechanism 2, a cleaning mechanism 3, and a moving rack 4 to test a body 5 of which corrosion is tested.
恒温恒湿槽１，塩水吐出機構２，洗浄機構３および移動架台４から構成され、被腐食試験体５を試験する。 - 特許庁 - A personal computer (PC) 61 functioning as a simulated server or a signaling tester 62, being associated therewith supplies simulated positioning instructions to an object to be tested.
模擬サーバを構成するパーソナルコンピュータ（ＰＣ）６１或いはそれと連携するシグナリングテスタ６２から検査対象品に模擬測位指示を与える。 - 特許庁 - The reaction plate is incubated, and the reaction product is tested for biologically measuring a related interaction effect of the compound.
この反応プレートをインキュベートし、そして反応生成物を、上記化合物の関連相互作用効果の生物学的測定のために試験する。 - 特許庁 - A packet monitoring part 12 acquires a packet received by an interface 11 of an apparatus 10 to be tested, and transfers the packet to an ARP (Address Resolution Protocol) request detecting part 13.
試験対象装置１０のインタフェース１１が受信したパケットをパケット監視部１２が取得し、ＡＲＰリクエスト検知部１３に渡す。 - 特許庁 - This apparatus includes a load wheel assembly including a load wheel, connected to a load sensor for detecting the force applied to the load wheel by a tire to be tested.
試験されるタイヤによりロードホイールに賦課される力を検出する負荷センサに接続された、ロードホイールを含むロードホイールアセンブリを含む。 - 特許庁 - This leak detector is provided with a vacuum vessel 1 capable of rising and lowering and a measurement base 5 to be tested forming a closed space in cooperation with the vacuum vessel 1.
昇降可能な真空容器１と、この真空容器１と協同で閉鎖空間を形成する被試験計測台５とを備える。 - 特許庁 - The comparison unit is made to be a state in which it is distinguished from a state of the comparison unit during normal operation of the memory device, while the memory device is tested.
比較ユニットは、メモリ装置のテスト中、メモリ装置の通常作動中の当該比較ユニットの状態とは区別される状態にされる。 - 特許庁 - To provide a charging/discharging test device which can perform discharging at high-accuracy constant current, even if the voltage of an object to be tested is in the vicinity of zero, and can perform reverse-polarity charging, as necessary.
被試験体の電圧がゼロ近傍においても高精度定電流で放電でき，必要に応じて逆極充電できる。 - 特許庁 - The device for tester simulation is the one that adds an improvement on a simulator for the tests on objects to be tested by testers, based on test patterns.
本発明は、テストパターンに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - The test circuit preferably supplies the test signal to the circuit to be tested when the charge of the prescribed amount is accumulated in the power source capacitor.
テスト回路は、電源用キャパシタに所定量の電荷が蓄積されたときに、テスト信号を被テスト回路に供給することが好ましい。 - 特許庁 - The sample solution is dripped into the specific sector 16 of the biochip 10, and the substance to be tested in the sample solution is detected by the specific binding substance.
バイオチップ１０の特定領域１６内にはサンプル液が滴下され、サンプル液中の被検物質が特異結合物質で検出される。 - 特許庁
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