「Testing」を含む例文一覧(14414)
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静電気耐量を高めた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - CLEANING METHOD FOR PROBE PIN, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP
プローブピンのクリーニング方法及び半導体チップの試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND INFORMATION STORAGE MEDIUM
半導体集積回路のテスト方法及び情報記憶媒体 - 特許庁 - VOLTAGE GENERATING CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
電圧発生回路および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁 - This is a method(200)for making plural testing devices operational within the system.
システム内で複数の試験装置を使用可能にする方法(200)。 - 特許庁 - To enhance the reliability of electrical testing of semiconductor devices.
半導体装置の電気的検査の信頼性を向上させる。 - 特許庁 - SOLDER INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE TESTING APPARATUS USING THE SAME
はんだ検査方法およびその方法を用いた基板検査装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING DIGITAL RADIO SYSTEM
デジタル無線システム試験方法およびデジタル無線システム試験装置 - 特許庁 - CALIBRATION BOARD SET, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND CALIBRATION METHOD
キャリブレーションボードセット、半導体試験装置およびキャリブレーション方法 - 特許庁 - To provide a method for testing the Internet permitting to carry out impartial testing without necessitating large scale communication facilities.
大規模な通信設備を必要とせず、公平な試験を実施することを可能とするインターネット試験実施方法を提供する。 - 特許庁 - (iv) When it has conducted the testing procedures in violation of the Testing Procedure Rule that has been approved in accordance with the provisions in paragraph (1) of Article 52; or
四 第五十二条第一項の規定により認可を受けた試験事務規程によらないで試験事務を行ったとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - Before we move on to testing, there's one last important thing that needs to be setup.
テストに移る前に、最後の重要な設定があります。 - Gentoo Linux - You can ask Portage to allow the testing branch for particular packages but use the stable branch for the rest of the system.
特定のパッケージに対してtestingブランチの利用を許可するがシステムにはstableブランチを利用するようにPortageに指示することができます。 - Gentoo Linux - The IDE provides a useful utility for testing RESTful web services.
IDE には RESTful Web サービスのテストに便利なユーティリティーが備わっています。 - NetBeans - For testing purposes, you can drop the Facebook operation into the main method of a main class.
テスト目的で、Facebook 操作を main クラスの main メソッドにドロップできます。 - NetBeans - TESTING METHOD FOR A/D CONVERTING CIRCUIT AND A/D CONVERTING CIRCUIT
Ａ／Ｄ変換回路の試験方法、及びＡ／Ｄ変換回路 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TEST DEVICE FOR SIMULTANEOUSLY TESTING PLURAL SEMICONDUCTOR ELEMENTS
複数の半導体素子を同時にテストする半導体テスト装置 - 特許庁 - Deemed Accreditation of an Accredited Certification Body's Testing Laboratory located in Japan
登録認証機関の国内にある試験所のみなし登録 - 日本法令外国語訳データベースシステム - (ii) When the Accredited Foreign Testing Laboratory Operator received the Accreditation of Paragraph 1 by wrongful means.
二 不正の手段により第一項の登録を受けたとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - To contrive rationalization by sharing many kinds of necessary testing facilities.
多種類必要な試験設備を共有化し合理化を図る。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME
半導体記憶装置、及び該半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁 - REAL-TIME TRIGGER PERFORMANCE INDEX INDICATION DEVICE, AND TESTING AND MEASURING DEVICE
実時間トリガ性能指数指示装置及び試験測定機器 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND TESTING DEGREE OF DISPERSION
分散度測定試験方法及び分散度測定試験装置 - 特許庁 - IMAGE ACQUISITION METHOD, IMAGE ACQUISITION DEVICE, AND ARTICLE TESTING DEVICE
画像取得方法、画像取得装置及び物品検査装置 - 特許庁 - FRAME WORK SYSTEM AND METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF SERVER
サーバのパフォーマンスをテストするためのフレームワーク・システムおよび方法 - 特許庁 - To provide a testing method and a testing device capable of easily evaluating peeling resistance of a pressure sensitive adhesive tape to oblique bearing pressure.
粘着テープの斜向面圧に対する耐剥離性を簡単に評価できる試験法、および、試験装置を提供すること。 - 特許庁 - DATA TRANSFER UNIT, DATA TRANSFER METHOD, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
データ転送装置、データ転送方法および半導体試験装置 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND RECORDING MEDIUM
半導体装置のテスト方法及びシステム並びに記録媒体 - 特許庁 - CORNEAL SHAPE ANALYSIS APPARATUS OBTAINED BY UNIFYING PUPIL TESTING APPARATUS
瞳孔検査装置を一体化した角膜形状解析装置 - 特許庁 - PARTICLE COMPRESSION TESTING MACHINE AND SAMPLE TABLE FOR THE SAME
粒子圧縮試験機及び粒子圧縮試験機用試料台 - 特許庁 - EXPOSURE SYSTEM, METHOD OF TESTING EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE
露光システム、露光装置のテスト方法及びデバイス製造方法 - 特許庁 - To provide a technique for suitably testing a layer-2 switch device.
レイヤ２スイッチ装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁 - VOLTAGE GENERATION DEVICE AND DIRECT CURRENT TESTING DEVICE USING THE SAME
電圧生成装置およびそれを用いた直流試験装置 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING LIVER TUMOROUS LESION IN MAMMAL
哺乳動物における肝臓腫瘍性病変の検定方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR EDDY CURRENT FLAW DETECTION TESTING
渦電流探傷試験方法及び渦電流探傷試験装置 - 特許庁 - AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HIGH PRESSURE TANK, AND DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST
高圧タンクの気密試験方法および気密試験用装置 - 特許庁 - IN-SITU PERMEABILITY TESTING DEVICE AND IN-SITU PERMEABILITY MEASURING SYSTEM
原位置透水試験装置および原位置透水性計測システム - 特許庁 - MATERIAL TESTING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF
材料試験装置における制御方法および材料試験装置 - 特許庁 - AUTOMATIC TESTING DEVICE, AUTOMATICALLY TESTING METHOD AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH CONTROL PROGRAM FOR AUTOMATIC TEST RECORDED THEREON
自動テスト装置、自動テスト方法及び自動テスト用制御プログラムが記録されたコンピュータにより読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - MEDIUM TEST AUXILIARY UNIT FOR REPEATER AND METHOD FOR TESTING MEDIUM
中継器用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DESTRUCTIVELY TESTING JIG CLAMPER
治具クランパ破壊試験装置及び治具クランパ破壊試験方法 - 特許庁 - DRAWING ADHESIVE RESISTANCE TESTING DEVICE FOR LOW SHEAR RIGID PIPE MATERIAL
低せん断剛性管材の引抜き付着抵抗試験装置 - 特許庁 - TESTING DEVICE FOR PRESCRIBED TEST ITEM WITH REFERENCE TO APPARATUS TO BE MEASURED
被測定装置に対する所定試験項目の試験装置 - 特許庁 - To simplify a gear testing apparatus and to reduce its design costs.
歯車試験装置の単純化及び設計費の軽減を図る。 - 特許庁 - A test assembly 2000 is designed for testing product circuitry of a product die 2011.
製品ダイ2011の製品回路をテストするためのテストアセンブリ2000。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR PARTIAL DISCHARGE TESTING OF AN INSULATION COMPONENT
絶縁コンポーネントの部分放電テストのための方法及びシステム - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING BUILT-IN TERMINAL FOR TEST AND ITS TESTING METHOD
試験用端子内蔵半導体装置およびその試験方法 - 特許庁 - To provide testing real page number bits in a cache directory.
キャッシュ・ディレクトリ内の実ページ番号ビットのテストを提供する。 - 特許庁 - DISTRIBUTION GOODNESS-OF-FIT TESTING DEVICE, CONSUMABLE ITEM SUPPLY TIMING DETERMINATION DEVICE, IMAGE FORMATION APPARATUS, DISTRIBUTION GOODNESS-OF-FIT TESTING METHOD, AND PROGRAM
分布適合度検定装置、消耗品補給タイミング判定装置、画像形成装置、分布適合度検定方法及びプログラム - 特許庁 - To correct the measurement data of a material testing machine in a simple manner.
材料試験機の計測データの補正を簡単に実施する。 - 特許庁
- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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