「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 106 107 108 109 110 111 112 113 114 .... 288 289 次へ＞- METHOD AND PROGRAM FOR TESTING APPLICATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
アプリケーションプログラムをテストする方法及びプログラム及び記録媒体 - 特許庁 - To efficiently perform program testing by using symbolic execution.
シンボリック実行を用いてより効率的にプログラムのテストを行う。 - 特許庁 - To provide a technology for appropriately testing a protocol converter.
プロトコル変換装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING BUILT-IN ANALOGUE CIRCUIT
半導体集積回路および内蔵アナログ回路テスト方法 - 特許庁 - CAPTURING CARRIER, CAPTURING UNIT, CAPTURING APPARATUS AND CAPTURING-TESTING METHOD
捕集担体、捕集ユニット、捕集装置及び捕集・検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR PROVIDING LONG TERM STABILITY TO CELL FOR DIAGNOSTIC TESTING
診断検査用細胞に長期安定性をもたらす方法 - 特許庁 - To provide a thermic testing technique of electronic equipments capable of implementing thermic testing all over the place soever without requiring leased facility.
専用の設備を必要とせず、あらゆる設置場所でも温度試験を可能とする電子機器の温度試験方法を提供する。 - 特許庁 - IMAGE PROCESSOR, METHOD FOR TESTING WORK FLOW, AND TEST PROGRAM OF WORK FLOW
画像処理装置、ワークフローのテスト方法及び同テストプログラム - 特許庁 - HEAT RESISTANT MATERIAL TESTING DEVICE, HEAT RESISTANT MATERIAL TEST METHOD, AND TEST PIECE
耐熱材試験装置、耐熱材試験方法およびテストピース - 特許庁 - PHOTO-DETECTION ELEMENT AND LIGHT-EMITTING DEVICE TESTING APPARATUS USING THE SAME
光検出素子及びそれを用いた発光素子試験装置 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING ACTIVITY OF ACTIVE SLUDGE AND DECOMPOSABILITY OF WASTE WATER
活性汚泥の活性および廃水の分解性の試験方法 - 特許庁 - TEST SUPPORT DEVICE, AND TESTING METHOD OF LOW PRESSURE AIR CIRCUIT BREAKER
試験支援器具および低圧気中遮断器の試験方法 - 特許庁 - To provide a technique for suitably testing a speed conversion device.
速度変換装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING MULTI-STACK INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE
マルチ−スタック集積回路パッケージをテストする装置及び方法 - 特許庁 - To provide an easy-to-manufacture and inexpensive connector continuity testing tool.
製作が容易で安価なコネクタ導通検査治具を提供する。 - 特許庁 - RAY PATH TESTING SYSTEM AND LIGHT SOURCE POWER LEVEL MONITORING METHOD
光線路試験装置及び光源出力レベルの監視方法 - 特許庁 - VIRTUAL REFORMER AND FUEL CELL TESTING DEVICE USING THIS
仮想改質装置及びこれを用いた燃料電池試験装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HEAT INSULATION PERFORMANCE OF HEAT INSULATING MATERIAL
断熱材における断熱性能の検査方法と検査装置 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit for easy testing.
容易にテストを行い得る半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - TESTING DEVICE USING INTERACTIVE COMMUNICATION AND AUXILIARY DEVICE THEREFOR
双方向通信を利用した試験用装置とその補助装置 - 特許庁 - MATERIAL TESTING DEVICE AND ITS CONTROLLING METHOD
材料試験装置およびこの材料試験装置の制御方法 - 特許庁 - To reduce test patterns used in testing a decoding processor.
復号処理装置をテストする際のテストパターンの量を削減する。 - 特許庁 - SIGNAL GENERATING APPARATUS, TESTING INSTRUMENT, SIGNAL GENERATING METHOD, AND PROGRAM
信号生成装置、試験装置、信号生成方法、及びプログラム - 特許庁 - To provide a technique for testing a communication monitoring device appropriately.
通信監視装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR PREDICTING AMOUNT OF WEAR OF SPACER, SYSTEM OF SAME, AND TESTING APPARATUS
スペーサ摩耗量予測方法、そのシステム、および試験装置 - 特許庁 - The chip testing device consists of a plurality of testing units including a selector, a flip-flop unit, the first buffer, a display and the second buffer.
セレクター、フリップフロップユニット、第一緩衝器、表示装置及び第二緩衝器を含む複数のテストユニットから構成される。 - 特許庁 - To provide a sensitization development testing method for chemicals.
化学物質の感作性発現検定方法を提供すること。 - 特許庁 - To save labor when testing station service equipment.
駅務機器に関する試験を省力化することを目的とする。 - 特許庁 - PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING THEM
パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁 - WHEEL SUPPORT DEVICE OF VEHICLE TESTING MACHINE AND ITS WHEEL SUPPORT SYSTEM
車両試験機の車輪支持装置及びその車輪支持システム - 特許庁 - The method(200) includes a step(202) for deciding, if a first testing device or a second testing device is connected to the system.
本方法(200)は、第１の試験装置または第２の試験装置がシステムに接続されているか否かを判定するステップ(202)を含む。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING AS WELL AS COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING SEMICONDUCTOR TESTING AND PROCESSING PROGRAM
半導体テスト装置、半導体テスト方法、および半導体テスト処理プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD
半導体装置試験装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - IMAGE PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, SOFTWARE OPERATION TESTING METHOD, SOFTWARE OPERATION TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM TO WHICH THE PROGRAM IS RECORDED
画像処理装置、情報処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - EXECUTION METHOD OF PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR TEST OF SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS
半導体試験装置の半導体試験用プログラム実行方法 - 特許庁 - SEQUENCE CONTROL CIRCUIT, PATTERN GENERATING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
シーケンス制御回路、パターン発生装置、及び半導体試験装置 - 特許庁 - POWER GENERATION TESTING DEVICE OF CELL FOR SOLID OXIDE FUEL CELL
固体酸化物形燃料電池用セルの発電試験装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR WAFER AND TESTING METHOD OF FERROELECTRIC MEMORY DEVICE
半導体ウエハ、および強誘電体メモリ装置の試験方法 - 特許庁 - PLL SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD AND DEVICE THEREFOR
ＰＬＬ半導体装置並びにその試験の方法及び装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PROGRAM FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TESTING THE SAME
半導体集積回路試験用プログラムのデバッグ方法及び装置並びに半導体集積回路試験用プログラムのデバッグプログラム - 特許庁 - To prevent condensation in a testing device that performs low-temperature tests.
低温試験を行う試験装置において、結露を防止する。 - 特許庁 - SYSTEM FOR TESTING MAINTENANCE BETWEEN LAN CONNECTION DEVICES AND LAN CONNECTION DEVICE
ＬＡＮ接続装置間の保守試験方式およびＬＡＮ接続装置 - 特許庁 - CELL HOLDING METHOD, CELL TESTING METHOD AND CELL TREATING DEVICE
細胞保持方法、細胞試験方法及び細胞処理装置 - 特許庁 - ADDRESS PATTERN GENERATING DEVICE AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE
アドレスパターン発生装置及び半導体集積回路試験装置 - 特許庁 - RAM TEST CIRCUIT, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND RAM TESTING METHOD
ＲＡＭテスト回路、情報処理装置、及びＲＡＭテスト方法 - 特許庁 - HOSE CLOSURE MECHANISM AND HOSE PRESSURE RESISTANCE TESTING DEVICE USING THE SAME
ホース閉鎖機構およびこれを用いたホースの耐圧試験装置 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING SCAN CHAIN AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT
スキャンチェーンの形成方法および集積回路の試験方法 - 特許庁 - The calibration may be implemented at a factory during final testing.
工場での最終試験中に較正が実施可能である。 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE FOR TESTING WIRING DEFECTS IN PANEL
パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MAIN CIRCUIT PHASE DETECTION
主回路検相試験装置および主回路検相試験方法 - 特許庁
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