「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing the footprint of the semiconductor testing apparatus inside a semiconductor clean area, and thereby, reducing installation cost and device testing cost and time that accompany installation.
    半導体クリーンエリア内の半導体試験装置の占有面積を低減して、設置コストやそれに伴うデバイスのテストコスト及びテスト時間を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A measuring instrument 8 for measuring the quality of the testing ozone-treated water discharged from the testing ozone reactor 6 is arranged on the downstream side of the testing ozone reactor.
    試験用オゾン反応器６の下流側には、この試験用オゾン反応器６から流出した試験用オゾン処理水の水質を測定する試験用処理水水質測定器８が設けられている。 - 特許庁
  • The cold thermal shock testing device 1 stops fans 11, 16 at the time of a change in test environment and stops air circulation inside the high-temperature testing laboratory 2 and inside the low-temperature testing laboratory 3.
    冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え時に送風機１１，１６を停止し、高温試験室２内および低温試験室３内における空気の循環流を停止させる。 - 特許庁
  • To provide a testing material and a testing method capable of executing the objective evaluation in a short time with a simple operation without using a special instrument for testing the inadaptation of dentures.
    特別の機材を必要とすることなく簡単な操作で、短時間で客観的に評価することが可能な、義歯不適合を検査するための検査材および検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • The voice to specify a channel to output the voice signal for testing is superposed on a voice signal for testing and is output.
    本発明は、テスト用の音声信号に、テスト用の音声信号を出力するチャンネルを特定する音声を重畳して出力する。 - 特許庁
  • When electrically testing a chip, first testing is made in DC by using a regular power supply, then the capacitive coupling rate is measured.
    チップに対して電気的な検査を行う際、通常の電源を用いたＤＣテストを行い、次に容量結合比の測定を行う。 - 特許庁
  • To provide a system for performing design verification testing, which does not require so many resources for execution of testing and storage of verification tools as a conventional system.
    検査実行且つ検証ツールの格納に従来システムほど多くの資源を必要としない設計検証検査システムの提供。 - 特許庁
  • To provide a battery testing device and a battery testing method capable of appropriately verifying behavior when a battery is broken.
    電池が破損した場合の振る舞いを適切に検証することが可能となる電池試験装置及び電池試験方法を提供する。 - 特許庁
  • A defect information file from another testing apparatus is retrieved, and based on the content of the file, a new recipe for the circuit pattern testing apparatus 1 is created.
    また、他の検査装置で検査された欠陥情報ファイルを読み込み、その内容から当該検査装置用のレシピを生成する。 - 特許庁
  • To realize a semiconductor integrated circuit, a probe card, and a testing method of the semiconductor integrated circuit that can make the testing of the semiconductor integrated circuit performed at a low cost.
    試験を低コスト化できる半導体集積回路、プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法を実現する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing gas passing through a governor, capable of testing the passing gas in a short period of time, when closing the governor.
    本発明は、整圧器閉切り時の越しガス検査を短時間で実施可能な整圧器の越しガス検査方法を提供することにある。 - 特許庁
  • To diagnose and initialize the constitutional components necessary for testing among a plurality of constitutional components of a testing machine in a short time and without exception.
    試験装置の複数の構成要素のうち、試験に必要な構成要素の診断及び初期化を、短時間で、且つ漏れなく行う。 - 特許庁
  • To provide a memory testing device and a memory testing method which can simultaneously execute a plurality of memory tests only by simple address management.
    簡単なアドレス管理だけで複数個のメモリ試験を同時に実行できるメモリ試験装置およびメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁
  • The tester body comprises the tester controller and a testing unit, wherein the testing unit includes a pin assign converter, a pattern generator, and a waveform shaper.
    テスタ本体は、テスタコントローラ及び試験ユニットを有し、試験ユニットには、ピンアサインコンバータ、パターン発生器及び波形整形器が含まれる。 - 特許庁
  • Internal temperatures are adjusted every testing part, and the modules attached to the respective testing parts are tested.
    複数の試験部１００Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄごとに内部の温度調節を行い、各々の試験部に装着されたモジュールの試験を行う。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus for transportation trains capable of testing traveling/driving systems of transportation trains extracted from transportation lines.
    搬送ラインから引き出された搬送用電車の走行駆動系をテストすることができる搬送用電車のテスト装置を提供する。 - 特許庁
  • A fixed distance is provided between the image testing measuring unit and the inner hole testing measuring unit and has a common multiple of various tape reel standards.
    該画像検査測定器と該中孔検査測定器間には固定距離を具え、該固定距離は各種テープリール規格の公倍数である。 - 特許庁
  • To obtain an optical path line testing system capable of testing optical fiber cables not directly housed in a communication facility building.
    通信設備ビルに直接収容されていない光ファイバケーブルの試験を行うことができる光線路試験システムを提供する。 - 特許庁
  • To reduce the test time period by a convenient testing method about a method of testing the durability of exhaust purification devices for vehicles.
    車両用排気浄化装置の耐久試験方法に関し、簡便な試験方法によって試験期間を短縮できるようにする。 - 特許庁
  • METHOD FOR OBTAINING ELECTRICAL CHARACTERISTIC CORRELATION OF SOCKET IN ELECTRONIC PART-TESTING APPARATUS, HANDLER, METHOD FOR CONTROLLING HANDLER AND ELECTRONIC PART-TESTING APPARATUS
    電子部品試験装置におけるソケットの電気特性相関取得方法、ハンドラ、ハンドラの制御方法および電子部品試験装置 - 特許庁
  • To provide a pinhole-testing device and a pinhole testing method capable of surely measuring the presence of a pinhole existing in a thin film.
    薄いフィルムに存在するピンホールの有無の測定を確実に行えるピンホール試験装置およびピンホール試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an airtightness testing machine in which a plurality of types of airtight container can be tested using a single airtightness testing machine.
    複数種類の気密容器の気密試験を一台の気密試験機で効率良く行うことができる気密試験機を提供する。 - 特許庁
  • To provide a temperature variable adhesive strength testing machine capable of testing adhesive strength at an optional preset temperature without being influenced by a room temperature.
    室温に影響されることなく、任意の設定温度で粘着力試験が可能な温度可変粘着力試験機の提供。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor apparatus and its testing method for testing a circuit block (IP) at a high speed, using few external terminals.
    少ない外部端子を用いて高速に回路ブロック（ＩＰ）をテストすることができる半導体装置およびそのテスト方法を実現する。 - 特許庁
  • The present invention provides an improved IC tester for testing a testing object wherein a specific voltage is output with respect to an input voltage.
    本発明は、入力電圧に対して、比電圧を出力する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • (iii) If conducting services other than the testing procedures, there is no risk of causing unfairness to the testing procedures through such service.
    三　試験事務以外の業務を行っている場合には、その業務を行うことによって試験事務が不公正になるおそれがないこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Most new software titles,when committed, are added to the testing branch, meaning more testing needs to be done before it is marked as stable.
    ほとんどのコミットされた新しいソフトウェアのタイトルは、stableにされる前にもっとテストが必要だという意味のテストブランチに追加されます。 - Gentoo Linux
  • To provide a telephone exchange testing device suitable for testing a telephone exchange function to be performed in response to an API, and to provide its method.
    ＡＰＩに従って行われる電話交換機能の試験に適した電話交換機試験装置およびその方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device for pull-out testing of an eyeless needle which can perform a pull out test of a plurality of eyeless needles within short time, and to provide a testing method of the same.
    複数のアイレス針の引抜き試験を短時間で行うことができるアイレス針の引抜試験装置と方法を提供する。 - 特許庁
  • To miniaturize an optical pulse testing device (OTDR) by light-transmitting/receiving a testing light and a return light, and a monitor communication light, by means of a single unit.
    試験光及び戻り光と、モニタ通信光とを単体で送受光して、光パルス試験器（ＯＴＤＲ）の小型化を図る。 - 特許庁
  • To provide a drop testing machine reduced in the error caused by a change in a drop posture, reduced in the irregularity of a drop impact speed and having high reliability, and a drop testing method.
    精密機器に使用する実装基板等の落下試験では、高度な繰り返し再現性と精度が求められている。 - 特許庁
  • SHOCK/VIBRATION TESTING METHOD AND DEVICE USED FOR THE SAME, AND MOUNTING MECHANISM OF VIBRATION SENSOR USED FOR SHOCK/VIBRATION-TESTING DEVICE
    衝撃・振動試験方法、該試験方法に用いる衝撃・振動試験装置、及び該装置等に用いる振動センサの取り付け機構 - 特許庁
  • To acquire accurate synchronization, when triggering taking of another testing measuring apparatus by an event detected by some testing measuring apparatus.
    ある試験測定機器が検出したイベントにより、他の試験測定機器の取り込みをトリガする際に、正確な同期をとれるようにする。 - 特許庁
  • To provide a system for testing a semiconductor device, capable of reflecting a result of a sample test to another test, and to provide a method of testing.
    サンプルテストの結果を他のテストに反映させることができる半導体装置のテストシステムおよびテスト方法に関するものである。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device preventing mismatch of impedance due to a contactor of a socket, its testing device, and a testing method using it.
    ソケットのコンタクタによるインピータンスのミスマッチを防ぐ半導体装置及びそのテスト装置及びそれを用いるテスト方法を得ることである。 - 特許庁
  • To provide a material-testing machine for allowing important data and information on a testing state to be read easily and can be operated appropriately.
    試験状態に関する重要なデータや情報を容易に見ることができ、操作性の良好な材料試験機を提供する。 - 特許庁
  • QUENCH DUCT TESTING APPARATUS, MAGNETIC RESONANCE IMAGING DEVICE COMPRISING QUENCH DUCT TESTING APPARATUS, AND INFORMATION MANAGEMENT APPARATUS WHICH MANAGES STATUS OF QUENCH DUCT
    クエンチダクト検査装置、クエンチダクト検査装置を備える磁気共鳴イメージング装置、及びクエンチダクトの状態を管理する情報管理装置 - 特許庁
  • ARRAY TESTING DEVICE, METHOD OF MEASURING SUBSTRATE ONE LOCATION POSITION OF THE ARRAY TESTING DEVICE, AND METHOD OF MEASURING SPECIFIC POSITION COORDINATE IMAGED BY CAMERA ASSEMBLY
    アレイテスト装置と、該アレイテスト装置の基板一地点位置測定方法と、カメラアセンブリーに撮像された特定位置座標測定方法 - 特許庁
  • To provide a visceral fat obesity testing apparatus and method capable of simply and precisely testing the obesity degree by the visceral fat.
    簡易、且つ正確に内臓脂肪による肥満度合いを検査することができる内臓脂肪肥満検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a hardness testing machine capable of efficiently testing a thin sample or the like even if an electromagnetic brake is used.
    本発明の課題は、電磁ブレーキを使用していても、薄い試料等が効率良く試験できる硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁
  • To enable a power source short circuit testing to be performed, without having to provide a testing pad in a semiconductor device having power shutdown function.
    電源遮断機能を有する半導体装置において試験用パッドを設けることなく電源ショート試験の実施を可能にする。 - 特許庁
  • PRIMER SET AND PROBE FOR DETECTING POLYMORPHISM OF CYP2C8 GENE AND TESTING AGENT AND TESTING METHOD FOR THE METABOLIC ACTIVITY OF THE SAME
    ＣＹＰ２Ｃ８遺伝子の多型を検出するプライマーセット及びプローブ、並びに該酵素の代謝活性の検査薬及びその検査方法 - 特許庁
  • A testing mainframe 110 calculates the number of m-bit packets which can be simultaneously transmitted to the testing mainframe by a communication channel 116.
    試験メインフレーム１１０は通信チャンネル１１６によって試験メインフレームに同時に転送できるｍビットパケットの数を計算する。 - 特許庁
  • To prevent conduction failure between a testing device (probe needle) for a vertical testing device and a semiconductor chip (electrode pad), or dispersion of a contact resistance.
    垂直式試験装置の試験装置（プローブ針）と半導体チップ（電極パッド）との導通不良や、接触抵抗のバラツキを防止する。 - 特許庁
  • When we talk about unit testing, we mean testing that developers do to validate that individual units of an application's source code work properly.
    単体テストとは、アプリケーションのソースコードの各ユニットが適切に動作することを検証するために開発者が行うテストを意味します。 - NetBeans
  • To provide a testing device and a testing method for evaluating the expansive properties of steel pipe, in an expansive type oil well, in a precisely and effective manner.
    拡管型油井における鋼管の拡管性を精度良く、また、効率良く評価する試験装置及び試験方法を提供する - 特許庁
  • To provide a device and method for testing immunity which reduces omission of fault detection at the time of testing EMC of the immunity.
    ＥＭＣイミュニティ試験時の不具合検出漏れを減少させ、且つ省力化が可能なイミュニティ試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a delayed fault testing circuit and a method for the same for testing the delayed fault without decreasing detection rate of the delayed fault.
    本発明は、遅延故障検出率を低下させずに遅延故障試験する遅延故障試験回路及び方法を提供する。 - 特許庁
  • AUTOMATIC DROP SHOCK TESTING MACHINE AND METHOD THEREOF
    自動落下衝撃試験装置及び自動落下衝撃試験方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL INFORMATION MEDIUM
    光情報媒体の検査方法および光情報媒体検査装置 - 特許庁
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