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「Testing」を含む例文一覧(14414)
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METHOD AND DEVICE FOR TRANSFERRING AND
TESTING
SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
半導体基板を移送および検査するための方法および装置
- 特許庁
TESTING
METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE
半導体記憶装置の試験方法及びその半導体記憶装置
- 特許庁
DNA AFFINITY
TESTING
METHOD USING DNA CONJUGATE SUBSTANCE
DNAコンジュゲート物質を用いたDNA親和性の検査方法
- 特許庁
A pattern is formed on a processing film on a wafer for
testing
(Step S1).
検査用ウェハの被処理膜にパターンを形成する(ステップS1)。
- 特許庁
DISK DEFECT
TESTING
METHOD, DISK STORAGE DEVICE, AND READ CHANNEL CIRCUIT
ディスクの欠陥検査方法、ディスク記憶装置及びリードチャネル回路
- 特許庁
CULTURE MEDIUM, TOOL AND METHOD FOR
TESTING
MICROORGANISM
微生物検査用培地、微生物検査具および微生物数検査方法
- 特許庁
GASKET FOR HARD DISK APPARATUS, AND MANUFACTURING METHOD AND
TESTING
METHOD THEREOF
ハードディスク装置用ガスケット、その製造方法及びその検査方法
- 特許庁
ONLINE DEVICE
TESTING
BLOCK INTEGRATED INTO PROCESS CONTROL/SAFETY SYSTEM
プロセス制御/安全システムに統合化されるオンラインデバイス試験ブロック
- 特許庁
SEMICONDUCTOR
TESTING
DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体試験装置及び半導体集積回路の試験方法
- 特許庁
SEMICONDUCTOR
TESTING
DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体試験装置および半導体集積回路の試験方法
- 特許庁
TESTING
PROCESS/DEVICE/PROGRAM/PROGRAM RECORDING MEDIUM OF INFORMATION PROCESSING APPARATUS
情報処理装置の試験方法/装置/プログラム/プログラム記録媒体
- 特許庁
EXTERNAL TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS
TESTING
METHOD
半導体集積回路の外付けテスト回路及びそのテスト方法
- 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF
TESTING
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路、及び半導体集積回路のテスト方法
- 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR
TESTING
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DATA PROCESSING SYSTEM
半導体装置、半導体装置の試験方法、及びデータ処理システム。
- 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR
TESTING
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路および半導体集積回路のテスト方法
- 特許庁
MOS-FET DRIVE CIRCUIT, DRIVER CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR
TESTING
DEVICE
MOS−FET駆動回路、ドライバ回路及び半導体試験装置
- 特許庁
METHOD OF
TESTING
CORRELATION BETWEEN SOCKETS OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTER
半導体集積回路試験装置のソケット間相関試験方法
- 特許庁
SEMICONDUCTOR PACKAGE TEST BOARD CAPABLE OF
TESTING
FBGA PACKAGE EASILY
FBGAパッケージのテストを容易に行える半導体パッケージテストボード
- 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING STRUCTURE FOR CHECKING AND
TESTING
CRACK IN SEMICONDUCTOR CHIP
半導体チップのクラックのチェックテスト構造を有する半導体装置
- 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR PACKAGE, AND METHOD OF
TESTING
SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置、半導体パッケージ及び半導体装置の試験方法
- 特許庁
JITTER AMPLIFYING CIRCUIT, SIGNAL GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CHIP, AND
TESTING
DEVICE
ジッタ増幅回路、信号発生回路、半導体チップ、及び試験装置
- 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER
TESTING
DEVICE AND WAFER LEVEL CHIP SIZE PACKAGE
半導体ウェハの検査装置及びウェハレベルチップサイズパッケージの製造装置
- 特許庁
TEMPERATURE DETECTION CIRCUIT, ITS
TESTING
METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
温度検出回路およびその試験方法、並びに半導体装置
- 特許庁
COMPREHENSIVE DIAGNOSTIC
TESTING
FOR PERSONALIZED ANTICANCER CHEMOTHERAPY (PAC)
個別化抗癌化学療法(PAC)のための包括的な診断試験
- 特許庁
EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND EVENT TYPE SEMICONDUCTOR
TESTING
METHOD
イベント型半導体テスト装置およびイベント型半導体テスト方法
- 特許庁
To provide a method for
testing
a steroid responsiveness.
本発明は、ステロイド応答性の検査方法の提供を課題とする。
- 特許庁
METHOD FOR
TESTING
ADHESION STRENGTH OF LOCK BOLT AND GROUT AND TEST PIECE THEREOF
ロックボルトとグラウトの付着強度試験方法およびその供試体
- 特許庁
SEMICONDUCTOR LASER MODULE
TESTING
APPARATUS AND METHOD THEREFOR
半導体レーザモジュール試験装置および半導体レーザモジュール試験方法
- 特許庁
NONDESTRUCTIVE
TESTING
METHOD OF CORROSION DEGREE OF REBAR IN CONCRETE STRUCTURE
コンクリート構造物内の鉄筋腐食程度の非破壊検査方法
- 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE MODULE AND
TESTING
METHOD OF THEM
半導体装置、半導体装置モジュールおよびこれらの試験方法
- 特許庁
METHOD FOR
TESTING
CARBON TETRACHLORIDE-LIKE TOXICITY THAT CHEMICAL SUBSTANCE HAS
化学物質が有する四塩化炭素様の毒性の検定方法
- 特許庁
IC
TESTING
APPARATUS AND TIMING ADJUSTING METHOD FOR OUTPUT SIGNAL THEREFROM
IC試験装置及びその出力信号のタイミング調整方法
- 特許庁
To inhibit the malfunction of a temperature
testing
device caused by the probe pin.
プローブピンが原因となる温度試験装置の不具合を防止する。
- 特許庁
SIGNAL MEASUREMENT APPARATUS, SIGNAL MEASUREMENT SYSTEM AND SEMICONDUCTOR
TESTING
DEVICE
信号測定装置、信号測定システムおよび半導体試験装置
- 特許庁
TIMING SIGNAL GENERATOR AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
TESTING
DEVICE
タイミング信号発生装置及び半導体集積回路試験装置
- 特許庁
COMPOSITE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS CONNECTION
TESTING
METHOD
複合半導体集積回路装置、及びその接続試験方法
- 特許庁
CLEANING METHOD, CLEANING PLATE, AND SEMICONDUCTOR WAFER
TESTING
APPARATUS
クリーニング方法及びクリーニングプレート並びに半導体ウエハ試験装置
- 特許庁
ATTACHMENT FOR SOCKET AND SEMICONDUCTOR DEVICE
TESTING
APPARATUS HAVING THE SAME
ソケット用アタッチメント及びそれを有する半導体デバイス試験装置
- 特許庁
(3)
Testing
and inspection as necessary at each stage of processing
(3) 調製の各段階における必要性に応じた試験及び検査
- 厚生労働省
A complete monopoly on brca
testing
in the united states.
アメリカにおけるbrca検査の 排他的独占権を維持しようとしており
- 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
There's been
testing
in random samples of the population.
一般人口の中で確率標本に基づき検査が行われました
- 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
He begins by explaining how science works through the
testing
of hypotheses
科学というものは仮説の検証をすることによって進歩し
- 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
A complete monopoly on brca
testing
in the united states.
アメリカにおけるBRCA検査の 排他的独占権を維持しようとしており
- 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
After extensive research and
testing
of different materials like rubber
より広範な研究とゴムのような 様々な素材を試した結果
- 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
We'll reopen level r, start
testing
julia and the rest of the infected patients.
ジュリアと感染者達に対して レベルRでのテストを 再開できる
- 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Mr. joshua, I would not describe your product
testing
as perfected.
ジョシュア氏 私はあなたの製品テストを 完成するとは言ってないわ
- 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Actually this is one of the components of it that we've just recently been
testing
実際 その部品の一つで ここ最近試験中なのですが--
- 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Testing
. One, two, three, four. How am I coming through?
ただ今マイクの試験中, アー, アー, アー, アー, 声の通りはいかがですか.
- 研究社 新和英中辞典
It may be appropriate to reject a model prior to any field
testing
.
現場試験以前にはモデルを受け入れないことが適切であろう。
- 英語論文検索例文集
Kimoto et al. (2004) have strengthened the concept through their interactions and
testing
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Kimotoら(2004)は,対話や試験を通じてこの概念を補強してくれた。
- 英語論文検索例文集
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