「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 116 117 118 119 120 121 122 123 124 .... 288 289 次へ＞- To provide an apparatus for automatically creating a control program and testing method plans that automatically creates testing method plans for testing whether an automatically created program meets actually required functional specifications.
自動生成されたプログラムが実際に要求された機能仕様を満足しているか否かを試験するための試験方案を自動的に作成することができる制御プログラム及び試験方案自動作成装置を得る。 - 特許庁 - To provide a DDR-SDRAM interface circuit in which the loop-back test can be more exactly performed, and its testing method and its testing system.
ループバック試験をより正確に行うことが可能なＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、その試験システムを提供すること。 - 特許庁 - A semiconductor testing device 1 comprises the semiconductor testing device body 2, a plurality of replaceable adjustment tools 3a, and a switching device 4.
半導体試験装置１は、半導体試験装置本体２、複数の交換可能な調整用治具３ａ、及び切替装置４を備える。 - 特許庁 - By the coating film testing method, the defect of the coating film caused by a coating material thereof can be more easily discovered, and the testing can be performed more rapidly than SST (salt water spray testing).
このような塗膜検査方法によれば、その蛍光を検査することによりその塗料による塗膜の欠陥をより容易に発見することができ、ＳＳＴ検査（塩水噴霧試験）より速く検査することができる。 - 特許庁 - CIRCUIT FOR GENERATING PULSE, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
パルス発生回路およびパルス発生回路を用いた半導体試験装置、および半導体試験方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - To obtain a semiconductor testing apparatus by which a semiconductor testing operation can be performed at a frequency exceeding a maximum frequency for hardware.
本発明は半導体テスト装置に関し、ハードウェアにとっての最大周波数を超える周波数で半導体テストを行うことを目的とする。 - 特許庁 - To provide a testing device of internal engines that can perform the durability and performance test of different types of engines, using the same testing device.
同一の試験装置で異なる種類のエンジンの耐久および性能試験を行うことができる内燃機関の試験装置を提供する。 - 特許庁 - Black-box testing is the application of test data derived from the specified functional requirements without regard to the final program structure.
ブラック・ボックス法(black box testing)は,最終的なプログラム構造に関わりなく,特定の機能的要件から導き出されたテストデータを適用することである． - コンピューター用語辞典 - To provide a testing method of an elevator load weighing device capable of easily testing an action of a load weighing switch without a special device.
特別な装置を必要としなく、また、容易に秤スイッチの動作試験を行うことができるエレベータ秤装置の試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing method and a testing fixture capable of surely determining the occurrence status of a whisker even in a comparatively simple structure.
比較的簡易な構造でありながら、確実にウイスカ発生状況の判定を行える試験方法及び試験用治具を提供すること。 - 特許庁 - holder of the testing laboratory must establish and maintain the testing laboratory as an organisationally independent unit so that proper operation is guaranteed.
試験所の所有者は，適切な運営を保障するために組織的に独立したユニットとして試験所を設立，運営しなければならない - 経済産業省 - METHOD FOR TESTING ABILITY OF VISIBLE-RAY CYTOTOXICITY EXPRESSION, AND USE OF THE METHOD
可視光細胞毒性発現能力の検定方法、及びその利用 - 特許庁 - METHOD OF EVALUATING AND TESTING POLARITY INVERTING ABILITY OF DC POWER EQUIPMENT
直流用電力機器の極性反転性能評価試験方法 - 特許庁 - PREPARING METHOD OF SPECIMEN FOR MIXTURE APPROPRIATENESS TESTING AND KIT USED THEREFOR
配合適性試験用試料の調製方法及びそれに用いるキット - 特許庁 - COMMUNICATION SYSTEM, COMMUNICATION DEVICE, AND NORMALITY TESTING METHOD USED FOR THEM
通信システム、通信装置及びそれらに用いる正常性試験方法 - 特許庁 - SKEW-ADJUSTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE AND SKEW-ADJUSTING DEVICE
半導体デバイス試験装置のスキュー調整方法・スキュー調整装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD OF TESTING HUMIDITY IN SEALED MEMS DEVICE
封止されたＭＥＭＳデバイス内の湿度を検査するシステム及び方法 - 特許庁 - To provide techniques for suitably testing an emergency call controller.
緊急通報制御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁 - To determine a contact state between a pusher of a test handler and a testing device.
テストハンドラのプッシャとテストデバイスの間の接触状態を判定する。 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING HYDROPHILIZATION TIME OF COATING FILM SURFACE, AND DETERIORATION TESTING APPARATUS
塗膜表面の親水化時間評価方法および劣化試験装置 - 特許庁 - MATERIAL TESTING APPARATUS AND LOAD GENERATION METHOD THEREIN
材料試験装置における負荷発生方法および材料試験装置 - 特許庁 - X-RAY INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD FOR TESTING X-RAY REFLECTING MIRROR
Ｘ線干渉顕微鏡およびＸ線反射鏡の検査方法 - 特許庁 - To provide a testing carrier for securing high airtightness.
高い気密性を確保することが可能な試験用キャリアを提供する。 - 特許庁 - To perform easily and surely testing a single unit of a storage device.
記憶装置の単体テストが簡単、かつ確実に行えるようにする。 - 特許庁 - HYDRAULIC TESTING DEVICE FOR PIPE JOINT SECTION AND HYDRAULIC TEST METHOD USING THE SAME
管継手部の水圧試験装置とこれを用いた水圧試験方法 - 特許庁 - POWER CONVERTER AND TESTING METHOD USING THE SAME
電力変換装置及びこの電力変換装置を用いた試験方法 - 特許庁 - EXTERNAL WALL FOULING ACCELERATED TEST METHOD AND EXTERNAL WALL FOULING ACCELERATED TESTING DEVICE
外壁汚れ促進試験方法及び外壁汚れ促進試験装置 - 特許庁 - PHASE CALCULATING METHOD, PHASE CALCULATING DEVICE METHOD OF TESTING FOR THE DEVICE
位相算出方法、位相算出装置及びその装置の試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM
集積回路のテスト方法、集積回路および集積回路テストシステム - 特許庁 - APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR TESTING CIRCUIT BOARD
回路基板試験装置、回路基板試験方法、及び回路基板試験プログラム - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR TESTING LEAKAGE RESISTANCE OF PIPING
配管の耐漏洩性試験装置および配管の耐漏洩性試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING TEST RESULT THEREOF
半導体集積回路試験装置及びその試験結果操作方法 - 特許庁 - TESTING METHOD AND DEVICE FOR ABSORPTION CHARACTERISTIC OF BODY FLUID ABSORBENT ARTICLE
体液吸収性物品の吸収特性の試験方法および装置 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING HARDWARE CIRCUIT BLOCK DESCRIBED IN HARDWARE DESCRIPTION LANGUAGE
ハードウエア記述言語が記述したハードウエア回路ブロックをテストする方法 - 特許庁 - To perform an effective demonstration, even in the case of the absence of a testing machine body.
試験機本体がない場合でも効果的なデモンストレーションを行う。 - 特許庁 - ROLLER FOR BENDING STRENGTH TEST OF CONCRETE AND TESTING APPARATUS USING THE SAME
コンクリートの曲げ強度試験用ローラおよびこれを用いた試験装置 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING MAGNETIC DISK DEVICE, TESTING/ADJUSTING DEVICE, AND CARRYING CONTAINER
磁気ディスク装置の製造方法、試験／調整装置及び搬送容器 - 特許庁 - INTEGRATED CIRCUIT DEVICE HAVING BUILT-IN DLL CIRCUIT, AND ITS TESTING PROCESS
ＤＬＬ回路を内蔵する集積回路装置及びその試験方法 - 特許庁 - UNIVERSAL COUPLING FOR MEMBER SUPPORTING AND TENSION AND TORSION TESTING MACHINE USING THE SAME
部材支持用自在継手及びそれを用いた引張り・ねじり試験機 - 特許庁 - To shorten testing time at an output circuit of a semiconductor device.
半導体装置の出力回路における試験時間を短縮する。 - 特許庁 - This testing device employs anisotropic electrical conductive sheet.
本発明の検査装置は、前記異方導電性シートを用いたものである。 - 特許庁 - LIFETIME PREDICTION TEST METHOD OF POLYMER MEMBRANE, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM
高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラム - 特許庁 - To conduct a precise vibration test even if a machine is a multi-axial vibration-testing machine.
多軸の振動試験機であっても、正確な振動試験を行う。 - 特許庁 - The semiconductor testing device is further provided with a relief judgment circuit 60.
半導体試験装置は、救済判定回路６０をさらに備える。 - 特許庁 - DURABILITY PERFORMANCE TEST METHOD OF STEERING DEVICE OF VEHICLE AND TESTING DEVICE
車両のステアリング装置の耐久性能試験方法及び試験装置 - 特許庁 - TESTING TRANSFER NIP OF PRINTING DEVICE USING TRANSFER FIELD UNIFORMITY MAP
転写領域均一性マップを用いた印刷装置の試験転写ニップ - 特許庁 - TEST MODULE AND TESTING METHOD FOR MEASURING COLOR AND LIGHT INTENSITY
光の色及び強度を測定するためのテストモジュール及び試験方法 - 特許庁 - METHOD, SYSTEM AND DEVICE FOR TESTING RADIO BASE STATION DEVICE
無線基地局装置の試験方法および試験システム並びに試験装置 - 特許庁 - A reference parabolic antenna is prepared in addition to the parabolic antenna of a testing object.
試験対象のパラボラアンテナに加え、基準のパラボラアンテナを用意する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR TESTING EXPANSION FATIGUE OF CLOTH
布帛の伸縮疲労試験装置および布帛の伸縮疲労試験方法 - 特許庁
