「Testing」を含む例文一覧(14414)
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無停電電源設備および前記無停電電源設備の試験方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR TESTING AIR LEAK IN PNEUMATIC TIRE,
空気入りタイヤの空気漏れ試験装置及び空気漏れ試験方法 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for testing large-area substrates.
大面積基板を検査するための装置及び方法を記載する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING INSULATION MONITORING DEVICE
絶縁監視装置の試験装置及び絶縁監視装置の試験方法 - 特許庁 - To provide a material testing machine which saves energy.
省エネルギー化を図ることが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁 - SCANNING ELEMENT, SYMBOLIC DEVICE, AND METHOD FOR TESTING QUALITY OF COMBINED CIRCUIT
スキャン素子、論理装置および、組み合せ回路の良否テスト方法 - 特許庁 - TOROIDAL TYPE NON-STAGE TRANSMISSION AND TESTING APPARATUS THEREFOR
トロイダル型無段変速機及びトロイダル型無段変速機用試験装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING CHARGE/DISCHARGE OF BATTERY
電池の充放電試験装置および電池の充放電試験方法 - 特許庁 - CALL TESTING SYSTEM, AND COMPUTER AND TELEPHONE DEVICE IN THE SAME
通話試験システム、通話試験システムにおけるコンピュータ及び電話機 - 特許庁 - To provide a method and a device for testing an examined device.
被試験デバイスを試験するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - Write/read testing is carried out to extract a plurality of defective sectors.
ライト／リード試験を行って、複数の欠陥セクタを抽出する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE OF TESTING HYDRAULIC PRESSURE FOR PIPE WITH SMALL OR MEDIUM-SIZED BORE
中小口径管用水圧試験方法及びその試験器 - 特許庁 - To provide a data transmission system test device that can accurately conduct testing by using time information.
時刻情報を用いた試験を正確に行えるようにする。 - 特許庁 - Hereby, manufacturing cost of the temperature testing device 11 can be suppressed remarkably.
温度試験装置１１の製造コストは著しく抑制される。 - 特許庁 - IMAGE PROCESSOR, AND DEVICE AND METHOD FOR AUTOMATICALLY TESTING DIMENSION
画像処理装置、自動寸法検査装置、自動寸法検査方法 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR TESTING RAM REDUNDANT INTEGRATED CIRCUIT
ＲＡＭ冗長集積回路をテストするための方法およびシステム - 特許庁 - ATTACHING/REMOVING DEVICE, TEST HEAD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ATTACHING/REMOVING METHOD
着脱装置、テストヘッド、半導体試験装置及び着脱方法 - 特許庁 - METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING MEMORY CELL IN MULTIVALUE STORAGE DEVICE
多値記憶装置内のメモリセルをテストするための方法および回路 - 特許庁 - SUCTION STATE INSPECTION DEVICE, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE
吸着状態検査装置、表面実装機及び部品試験装置 - 特許庁 - In the testing mode, the control circuit turns ON the first switch circuit.
テストモードにおいて、制御回路は、第１スイッチ回路をＯＮする。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MANY DEVICES UNDER TEST IN PARALLEL
多数の被試験素子を並列に検査するテストシステム及びテスト方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SECURITY HOLE AND RECORDING MEDIUM
セキュリティホール検査システム、セキュリティホール検査方法および記録媒体 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR TESTING OVERSPEED PROTECTION SYSTEM OF TURBOMACHINE
ターボ機械の過速度防止システムを試験するための方法及びシステム - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING PERFORMANCE OF GAS DETECTOR
ガス検知器性能試験装置およびガス検知器の性能試験方法 - 特許庁 - SOLID-STATE IMAGING DEVICE, AND ITS TESTING METHOD AND ADJUSTING METHOD
固体撮像装置およびその検査方法ならびに調整方法 - 特許庁 - BASE STATION SIMULATOR AND TRANSMISSION POWER CONTROL PERFORMANCE TESTING METHOD
基地局シミュレータ装置及び送信電力制御性能試験方法 - 特許庁 - FLIP-CHIP SEMICONDUCTOR PACKAGE FOR TESTING BUMPS AND METHOD OF FABRICATING SAME
バンプテストのためのフリップチップ半導体パッケージ及びその製造方法 - 特許庁 - FILTER MODULE FOR LOW TEMPERATURE LIQUID AND METHOD FOR TESTING INTEGRITY OF THE SAME
低温液体用フィルターモジュールおよびその完全性試験方法 - 特許庁 - HOLD-COLD SHOCK TESTING DEVICE AND ENVIRONMENT TEST SYSTEM INCLUDING THE SAME
冷熱衝撃試験装置およびこれを含む環境試験システム - 特許庁 - ATM EXCHANGE AND METHOD FOR TESTING LINE DEVICE FOR THE ATM EXCHANGE
ＡＴＭ交換機及びそれにおける回線装置の試験方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING AND EVALUATING ELECTRONIC PART
電子部品の試験評価方法、及び電子部品の試験評価装置 - 特許庁 - PLUG, COMMUNICATION TRANSMISSION/RECEPTION TESTING APPARATUS AND METHOD
プラグ、通信発着信試験装置および通信発着信試験方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD, SWITCH DEVICE, TRANSMISSION CHANNEL SWITCHING DEVICE, AND TESTING DEVICE
製造方法、スイッチ装置、伝送路切り替え装置、および試験装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ADHESIVENESS OF SURFACE OF TIRE LINER
タイヤライナの表面の接着能力を試験する装置および方法 - 特許庁 - To provide a transparent latch circuit capable of scan testing with a GSD.
ＧＳＤでスキャンテスト可能なトランスペアレントラッチ回路を提供する。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING BOND STRENGTH OF BONDING WIRE
ボンディングワイヤの接合強度試験装置及び接合強度試験法 - 特許庁 - QUALITY DECISION TESTING DEVICE AND METHOD OF COATING STATE OF SEALING AGENT
封口剤の塗布状態の良否判定検査装置および方法 - 特許庁 - the new nation is a testing ground for socioeconomic theories
新生国家は社会経済的な理論のための試験場である - 日本語WordNet - SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RADIO FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT
無線周波数集積回路を試験するためのシステムおよび方法 - 特許庁 - NETWORK TESTING METHOD AND SYSTEM AND ITS PROGRAM AND RECORD MEDIUM
ネットワーク試験方法およびシステム、ならびにそのプログラムと記録媒体 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR ELECTROSTATIC DISCHARGE TESTING OF DEVICE CHARGED MODEL
デバイス帯電モデルの静電気放電試験のためのシステム及び方法 - 特許庁 - MOTOR FUNCTION TESTING APPARATUS AND METHOD FOR COMPARING PHASES BETWEEN MOTOR WAVEFORMS
運動機能検査装置および運動波形間の位相比較方法 - 特許庁 - SPECIFIC COMPONENT TESTING DEVICE, DATA STORAGE METHOD AND DATA PROCESSING METHOD
特定成分検査装置、データ格納方法およびデータ処理方法 - 特許庁 - ROLLER USED FOR BRAKE/SPEED TESTING MACHINE AND ITS MANUFACTURING METHOD
ブレーキ／速度テスト用試験機に使用するローラ及びその製造方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD USING THE SAME
半導体試験装置およびこれを用いた半導体試験方法 - 特許庁 - DEVICE TEMPERATURE-STABILIZING SYSTEM AND SEMICONDUCTOR- TESTING APPARATUS PROVIDED WITH THE SYSTEM
デバイス温度安定システムと該システムを備えた半導体試験装置 - 特許庁 - TEG PATTERN, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE PATTERN
テグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子の検査方法 - 特許庁 - METHOD AND CIRCUIT FOR SELF-CALIBRATING AND TESTING QPSK TRANSCEIVER
ＱＰＳＫトランシーバの自己校正及び試験の方法並びに回路 - 特許庁 - METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT
半導体集積回路のテスト方法及びテストパターン発生回路 - 特許庁 - METHOD FOR SEPARATING MICROORGANISM AND METHOD FOR TESTING MICROORGANISM, USING THE SAME
微生物分離方法およびこれを用いた微生物検査方法 - 特許庁
